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半导体 迁移率

本专题涉及半导体 迁移率的标准有5条。

国际标准分类中，半导体 迁移率涉及到绝缘流体、金属材料试验、半导体材料、半导体分立器件。

在中国标准分类中，半导体 迁移率涉及到金属物理性能试验方法、半金属及半导体材料分析方法。

国家质检总局，关于半导体 迁移率的标准

• GB/T 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
• GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
• GB 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

美国材料与试验协会，关于半导体 迁移率的标准

• ASTM F76-08(2016) 测量电阻率和霍尔系数和测定单晶半导体中霍尔迁移率的标准试验方法

英国标准学会，关于半导体 迁移率的标准

• BS IEC 62951-2:2019 半导体器件 柔性可拉伸半导体器件 柔性器件电子迁移率、亚阈值摆幅和阈值电压的评价方法

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