迁移率 单晶

本专题涉及迁移率 单晶的标准有8条。

国际标准分类中，迁移率 单晶涉及到金属材料试验、绝缘流体、半导体材料。

在中国标准分类中，迁移率 单晶涉及到半金属及半导体材料分析方法、金属物理性能试验方法、半导体二极管、半导体分立器件综合。

国家质检总局，关于迁移率 单晶的标准

• GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
• GB/T 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
• GB 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

美国材料与试验协会，关于迁移率 单晶的标准

• ASTM F76-08(2016)e1 测量单晶半导体电阻率和霍尔系数及测定霍尔迁移率的标准试验方法
• ASTM F76-08 测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法
• ASTM F76-08(2016) 测量电阻率和霍尔系数和测定单晶半导体中霍尔迁移率的标准试验方法
• ASTM F76-86(2002) 测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法
• ASTM F76-86(1996)e1 测量单晶半导体的电阻率、霍尔系数及霍尔迁移率的试验方法

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