xps方法

本专题涉及xps方法的标准有6条。

国际标准分类中，xps方法涉及到分析化学。

在中国标准分类中，xps方法涉及到基础标准与通用方法。

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会，关于xps方法的标准

• GB/T 34326-2017 表面化学分析 深度剖析 AES和XPS深度剖析时离子束对准方法及其束流或束流密度测量方法

国际标准化组织，关于xps方法的标准

• ISO 16531-2020 表面化学分析 - 深度分析 - 离子束对准方法和相关的电流或电流密度测量 用于AES和XPS中的深度分析
• ISO 16531-2013 表面化学分析.深度剖析.原子发射光谱(AES)和光电子能谱(XPS)中深度剖析用电流或电流密度的离子束校正和相关测量方法
• ISO 16531:2013 表面化学分析——深度剖面——用于AES和XPS深度剖面的离子束对准和相关电流或电流密度测量方法

英国标准学会，关于xps方法的标准

• BS ISO 16531-2013 表面化学分析.深度剖析.在光电子能谱(XPS)和原子发射光谱(AES)的深度剖析中离子束校准和电流或电流密度的相关测量用方法
• BS ISO 16531-2013 表面化学分析.深度剖析.在光电子能谱(XPS)和原子发射光谱(AES)的深度剖析中离子束校准和电流或电流密度的相关测量用方法

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