太赫兹辐射原理与若干
本专题涉及太赫兹辐射原理与若干的标准有53条。
国际标准分类中，太赫兹辐射原理与若干涉及到辐射测量、无损检测、声学和声学测量。
在中国标准分类中，太赫兹辐射原理与若干涉及到电离辐射计量、Ｘ射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器、金属无损检验方法、基础标准与通用方法、试验机与无损探伤仪器综合。
国际标准化组织，关于太赫兹辐射原理与若干的标准
- ISO 11929-4-2022 电离辐射测量的特性极限（判定阈值、检测极限和覆盖间隔极限）的测定.基本原理和应用.第4部分:应用指南
- ISO 11929-4:2020 电离辐射测量特性限值（判定阈值、检测限值和覆盖区间限值）的测定基本原理和应用第4部分:应用指南
- ISO 11929-4-2020 电离辐射测量特性限值（判定阈值、检测限值和覆盖区间限值）的测定基本原理和应用第4部分:应用指南
- ISO 11929-2:2019 电离辐射测量用特性限值（决定阈值、探测限值和覆盖间隔限值）的测定.基本原理和应用.第2部分:高级应用
- ISO 11929-2-2019 电离辐射测量用特性限值（决定阈值、探测限值和覆盖间隔限值）的测定.基本原理和应用.第2部分:高级应用
- ISO 15708-2:2017 非破坏性测试 - 计算机断层扫描的辐射方法 - 第2部分:原理 设备和样品
- ISO 11929-7:2005 电离辐射测量的检测极限和判定阈值的测定.第7部分:基本原理和一般应用
- ISO 11929-8:2005 电离辐射测量的检测极限和判定阈值的测定.第8部分:不受样品处理影响的光谱测量展开的基本原理和应用
- ISO 11929-5:2005 电离辐射测量的检测极限和判定阈值的测定.第5部分:放射性物质积累期间过滤器计数测量的基本原理和应用
- ISO 11929-6:2005 电离辐射测量的检测极限和判定阈值的测定.第6部分:瞬变模式测量的基本原理和应用
- ISO 15708-1:2002 无损检测——辐射法——计算机断层摄影术第1部分:原理
- ISO 15708-1-2002 无损检验.辐射法.计算机断层扫描.第1部分: 原理
- ISO 11929-4:2001 电离辐射测量的检测极限和判定阈值的测定.第4部分:不受样品处理影响的线性刻度模拟速率计测量的基本原理和应用
- ISO 8529-2:2000 参考中子辐射第2部分:与表征辐射场的基本量有关的辐射防护装置校准原理
- ISO 11929-1:2000 电离辐射测量的检测极限和判定阈值的测定.第1部分:不受样品处理影响的计数测量的基本原理和应用
- ISO 11929-2:2000 电离辐射测量的检测极限和判定阈值的测定.第2部分:基本原理和在有样品处理影响的计数测量中的应用
- ISO 11929-3:2000 电离辐射测量的检测极限和判定阈值的测定.第3部分:不受样品处理影响的高分辨率伽马能谱法计数测量的基本原理和应用
，关于太赫兹辐射原理与若干的标准
- SANS 15708-1-2005 无损检验．辐射法．计算机断层摄影．第1部分：原理
韩国标准，关于太赫兹辐射原理与若干的标准
- KS A ISO 11929-2014 电离辐射测量的特性限制(判定门限.检测限及置信区间的限制).原理机应用
- KS A ISO 11929-2014 电离辐射测量的特性限制(判定门限.检测限及置信区间的限制).原理机应用
- KS A ISO 11929-7-2008 电离辐射测量的检测限值和决定范围的测定.第7部分:原理和一般应用
- KS A ISO 11929-6-2008 电离辐射测量的检测限值和决定范围的测定.第6部分:使用瞬变模式的测定原理及应用
- KS A ISO 11929-6-2008 电离辐射测量的检测限值和决定范围的测定.第6部分:使用瞬变模式的测定原理及应用
- KS A ISO 11929-5-2008 电离辐射测量的检测限值和决定范围的测定.第5部分:放射性物质积累期间过滤器系数的测定原理与应用
- KS B ISO 15708-1-2008 无损检验.辐射法.计算机断层扫描.第1部分:.原理
- KS B ISO 15708-1-2008 无损检验.辐射法.计算机断层扫描.第1部分:.原理
- KS A ISO 11929-3-2002 电离辐射测量的检测限值和决定范围的测定.第3部分:样本处理不影响高分解能γ光谱测定法计数检测原理和应用
- KS A ISO 11929-1-2002 电离辐射测量的检测限值和决定范围的测定.第1部分:无样本处理影响的技术测定原理与应用
- KS A ISO 11929-4-2002 电离辐射测量的检测限值和决定范围的测定.第4部分:样本处理不影响线形化合物速率计检测原理和应用
- KS A ISO 11929-2-2002 电离辐射测量的检测限值和决定范围的测定.第2部分:样本处理影响计数检测原理和应用
- KS A ISO 11929-1-2002 电离辐射测量的检测限值和决定范围的测定.第1部分:无样本处理影响的技术测定原理与应用
- KS A ISO 11929-3-2002 电离辐射测量的检测限值和决定范围的测定.第3部分:样本处理不影响高分解能γ光谱测定法计数检测原理和应用
- KS A ISO 11929-2-2002 电离辐射测量的检测限值和决定范围的测定.第2部分:样本处理影响计数检测原理和应用
- KS A ISO 11929-4-2002 电离辐射测量的检测限值和决定范围的测定.第4部分:样本处理不影响线形化合物速率计检测原理和应用
德国标准化学会，关于太赫兹辐射原理与若干的标准
- DIN ISO 11929 Bb.1-2014 电离辐射测量用特性限值(判断阈, 探测限值和置信区间限值)的测定. 基本原理和应用. 补充件1: 范例
- DIN EN 16016-2-2012 非破坏性试验.辐射方法.计算机断层扫描.第2部分:原理,设备和样品.德文版 EN 16016-2-2011
- DIN ISO 11929-2011 电离辐射测量用特征极限值的测定(阈值确定,探测极限和置信区间极限值).基本原理和应用(ISO 11929-2010)
法国标准化协会，关于太赫兹辐射原理与若干的标准
- NF A09-261-2-2011 辐射法无损探伤.计算机断层照相.第2部分:原理,设备和样本.
- NF M60-200-2010 电离辐射测量用特征极限值的测定(阈值确定,置信区间极限值和探测极限).基本原理和应用
- NF M60-200-8-2005 电离辐射测量的探测极限和判断阈值的测定.第8部分:基本原理和不受样品处理影响的光谱测量演变的应用
- NF M60-200-7-2005 电离辐射测量的探测极限和判断阈值的测定.第7部分:基本原理和一般应用
英国标准学会，关于太赫兹辐射原理与若干的标准
- BS EN 16016-2-2011 无损检验.辐射方法.计算断层照相法.原理,设备和样品
- BS EN 16016-2-2011 无损检验.辐射方法.计算断层照相法.原理,设备和样品
欧洲标准化委员会，关于太赫兹辐射原理与若干的标准
- EN 16016-2-2011 非破坏性试验.辐射方法.计算机断层扫描.第2部分:原理,设备和样品
