杂质 质量
本专题涉及杂质 质量的标准有21条。
国际标准分类中，杂质 质量涉及到陶瓷、有色金属、化工产品。
在中国标准分类中，杂质 质量涉及到陶瓷、玻璃综合、建筑卫生陶瓷、压缩机、风机、工业气体与化学气体。
德国标准化学会，关于杂质 质量的标准
- DIN 51457-2017 陶瓷原材料和基础材料试验. 采用电感耦合等离子体(ICP OES)光发射光谱法和电热蒸发直接测定石墨粉末, 颗粒和团块中痕量杂质的质量分数
- DIN EN 15991-2016 陶瓷原料和基本材料的试验.电热蒸发(ETV)电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数;德文版本EN 15991-2015
- DIN EN 15979-2011 陶瓷原料和基本材料的测试.直流电弧激发发射光谱法直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数;德文版本EN 15979-2011
- DIN EN 15991-2011 陶瓷原料和基本材料的试验.电热蒸发(ETV)电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数;德文版
- DIN 51096-2008 陶瓷原材料和基本材料的测试.用感应耦合等离子体光学发射光谱测定法(ICP OES)和电热蒸馏器(ETV)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质的质量分率
- DIN 51088-2007 陶瓷原料和基本材料的测试.用发射光谱测定分析和直流电弧中的激励测定碳化硅粉末和颗粒碳化硅中金属微量杂质的质量分率
，关于杂质 质量的标准
- MSZ 71-1981 多环芳烃的石蜡杂质检测食品质量
英国标准学会，关于杂质 质量的标准
- BS EN 15991-2015 陶瓷原料和基本材料的测试.电热蒸发(ETV)电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数
- BS EN 15979-2011 陶瓷原料和基本材料的测试.直流电弧激发发射光谱法直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数
- BS EN 15991-2011 陶瓷原料和基本材料的测试.电热蒸发(ETV)电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数
欧洲标准化委员会，关于杂质 质量的标准
- EN 15991-2015 陶瓷和基本材料的检验.通过电感耦合等离子体光学发射光谱法(ICP OES)与电热汽化(ETV)的粉末和碳化硅的颗粒杂质质量分数的直接测定
- EN 15991-2011 陶瓷原料和基本材料的测试.电热蒸发(ETV)电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数
- EN 15979-2011 陶瓷原料和基本材料的测试.直流电弧激发发射光谱法直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数
法国标准化协会，关于杂质 质量的标准
- NF B41-105-2011 陶瓷原料和基本材料的试验.直流电弧激发的光谱仪(OES)对碳化硅粉末和颗粒内杂质质量分数的直接测定
- NF B41-106-2011 陶瓷原料和基本材料的测试.电热蒸发(ETV)电感耦合等离子体发射光谱法(ICP OES)直接测定碳化硅粉末和颗粒中杂质质量分数.
- NF E51-301-1-2010 压缩空气.第1部分:杂质和质量等级
国际标准化组织，关于杂质 质量的标准
- ISO 8573-1:2001 压缩空气 第1部分:杂质和质量等级
- ISO 8573-1:1991 一般用途压缩空气.第1部分:杂质和质量等级
