Für die Rasterelektronenmikroskopische Messmethode gibt es insgesamt 5 relevante Standards.
In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Rasterelektronenmikroskopische Messmethode die folgenden Kategorien: Längen- und Winkelmessungen, Optische Ausrüstung, analytische Chemie, Oberflächenbehandlung und Beschichtung.
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