Gesichtsanalyse

Für die Gesichtsanalyse gibt es insgesamt 114 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Gesichtsanalyse die folgenden Kategorien: Wortschatz, Reifen, Solartechnik, Längen- und Winkelmessungen, analytische Chemie, Vakuumtechnik, Zerstörungsfreie Prüfung, Schweißen, Hartlöten und Niedertemperaturschweißen, Glasfaserkommunikation, Kraftstoff, Optik und optische Messungen, Straßenfahrzeug umfassend, Struktur und Strukturelemente, Anwendungen der Informationstechnologie.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Gesichtsanalyse

GB/T 13592-1992 Begriffe rund um die Oberflächenanalyse
GB/T 11196-2004 Schnittanalyse- und Messverfahren für Flugzeugreifen
GB/T 32055-2015 Mikrostrahlanalyse.Elektronensonden-Mikroanalyse.Methoden zur Elementkartierungsanalyse mittels wellenlängendispersiver Spektroskopie
GB/T 26954-2011 Zerstörungsfreie Prüfung von Schweißnähten. Wirbelstromprüfung von Schweißnähten durch komplexe Ebenenanalyse
GB/T 22461-2008 Chemische Oberflächenanalyse. Wortschatz
GB/T 42658.4-2023 Richtlinien für die Probenhandhabung, -vorbereitung und -montage für die Oberflächenchemieanalyse, Teil 4: Melden von Informationen zur Herkunft, Vorbereitung, Handhabung und Montage von Nanoobjekten vor der Oberflächenanalyse
GB/T 29556-2013 Chemische Oberflächenanalyse. Schneckenelektronenspektroskopie und Röntgenphotoelektronenspektroskopie. Bestimmung der lateralen Auflösung, des Analysebereichs und des vom Analysator betrachteten Probenbereichs
GB/T 21007-2007 Chemische Oberflächenanalyse. Informationsformate

AT-ON, Gesichtsanalyse

ONORM M 1113-1982 Technische Oberflächen; Methoden der Oberflächenanalyse Surjaces techniqu.es; Methoden zur Untersuchung von Oberflächen

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Gesichtsanalyse

GJB 224-1986 Methode zur Querschnittsanalyse von Luftfahrtreifen
GJB 982.5-1990 Testmethode für Luftfahrtbremsreifen. Querschnittanalysetest

British Standards Institution (BSI), Gesichtsanalyse

BS ISO 18115-3:2022 Chemische Oberflächenanalyse. Vokabular – Begriffe, die in der optischen Schnittstellenanalyse verwendet werden
21/30385921 DC BS ISO 18115-3. Chemische Oberflächenanalyse. Wortschatz. Teil 3. Begriffe, die in der optischen Schnittstellenanalyse verwendet werden
BS EN 61290-11-2:2005 Optische Verstärker – Prüfverfahren – Parameter der Polarisationsmodendispersion – Analysemethode der Poincaré-Kugel
BS EN 1711:2000 Zerstörungsfreie Prüfung von Schweißnähten – Wirbelstromprüfung von Schweißnähten durch komplexe Ebenenanalyse
BS EN ISO 17643:2015 Zerstörungsfreie Prüfung von Schweißnähten. Wirbelstromuntersuchung von Schweißnähten durch komplexe Ebenenanalyse
BS EN 61725:1997 Analytischer Ausdruck für tägliche Sonnenprofile
BS ISO 20579-4:2018 Chemische Oberflächenanalyse. Richtlinien zur Probenhandhabung, -vorbereitung und -montage. Bereitstellung von Informationen zur Geschichte, Vorbereitung, Handhabung und Montage von Nanoobjekten vor der Oberflächenanalyse
BS ISO 14975:2000 Chemische Oberflächenanalyse – Informationsformate
BS ISO 14975:2001 Chemische Oberflächenanalyse. Informationsformate
BS ISO 11039:2012 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Messung der Driftrate
DD ISO/TR 15969:2001 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Messung der Sputtertiefe
BS DD ISO/TR 15969:2001 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Messung der Sputtertiefe
BS PD ISO/TR 15969:2021 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Messung der Sputtertiefe

American Society for Testing and Materials (ASTM), Gesichtsanalyse

ASTM E673-98E1 Standardterminologie in Bezug auf die Oberflächenanalyse
ASTM E673-01 Standardterminologie in Bezug auf die Oberflächenanalyse
ASTM E673-02 Standardterminologie in Bezug auf die Oberflächenanalyse
ASTM E673-02b Standardterminologie in Bezug auf die Oberflächenanalyse
ASTM E673-02a Standardterminologie in Bezug auf die Oberflächenanalyse
ASTM E673-03 Standardterminologie in Bezug auf die Oberflächenanalyse
ASTM E1829-14(2020) Standardhandbuch für den Umgang mit Proben vor der Oberflächenanalyse
ASTM E1829-02 Standardhandbuch für den Umgang mit Proben vor der Oberflächenanalyse
ASTM E1829-97 Standardhandbuch für den Umgang mit Proben vor der Oberflächenanalyse
ASTM E1829-09 Standardhandbuch für den Umgang mit Proben vor der Oberflächenanalyse
ASTM E1078-14(2020) Standardhandbuch für die Probenvorbereitung und -montage in der Oberflächenanalyse
ASTM E1829-14 Standardhandbuch für den Umgang mit Proben vor der Oberflächenanalyse
ASTM E1078-14 Standardhandbuch für die Probenvorbereitung und -montage in der Oberflächenanalyse
ASTM E1078-97 Standardhandbuch für Verfahren zur Probenvorbereitung und -montage in der Oberflächenanalyse
ASTM E1078-02 Standardhandbuch für die Probenvorbereitung und -montage in der Oberflächenanalyse
ASTM E1577-95(2000) Standardhandbuch für die Berichterstattung über Ionenstrahlparameter, die in der Oberflächenanalyse verwendet werden
ASTM E1078-09 Standardhandbuch für die Probenvorbereitung und -montage in der Oberflächenanalyse
ASTM E1577-04 Standardhandbuch für die Berichterstattung über Ionenstrahlparameter, die in der Oberflächenanalyse verwendet werden
ASTM E1577-11 Standardhandbuch für die Berichterstattung über Ionenstrahlparameter, die in der Oberflächenanalyse verwendet werden
ASTM E1880-12 Standardpraxis für die Gewebekryosektionsanalyse mit SIMS
ASTM E1880-06 Standardpraxis für die Gewebekryosektionsanalyse mit SIMS

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Gesichtsanalyse

KS C IEC 61725-2005(2020) Analytischer Ausdruck für tägliche Sonnenprofile
KS D ISO 18115:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular
KS D ISO 18115-2006(2021) Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular
KS D ISO 18115-2006(2016) Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular
KS D ISO TR 15969-2011(2021) Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Messung der Sputtertiefe
KS D ISO TR 15969-2011(2016) Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Messung der Sputtertiefe
KS D ISO 14975:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Informationsformate
KS D ISO 14975-2011(2016) Chemische Oberflächenanalyse – Informationsformate
KS D ISO 14975-2011(2021) Chemische Oberflächenanalyse – Informationsformate
KS D ISO TR 15969:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Messung der Sputtertiefe

YU-JUS, Gesichtsanalyse

JUS H.G3.120-1987 Reagenzien. Oxalsäure-Dihydrat. Technische Anforderungen

International Organization for Standardization (ISO), Gesichtsanalyse

ISO 18115-3:2022 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular – Teil 3: Begriffe, die in der optischen Grenzflächenanalyse verwendet werden
ISO/DIS 20579-2:2024 Chemische Oberflächenanalyse
ISO 18118:2022 Chemische Oberflächenanalyse
ISO/CD 20289:2017 Chemische Oberflächenanalyse
ISO/CD 20579-2:2023 Chemische Oberflächenanalyse
ISO/CD 24237:2023 Chemische Oberflächenanalyse
ISO 18134-3:2015 Feste Biobrennstoffe – Bestimmung des Feuchtigkeitsgehalts – Ofentrockenmethode – Teil 3: Feuchtigkeit in allgemeinen Analyseproben
ISO 18115:2001 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular
ISO 20579-4:2018 Chemische Oberflächenanalyse – Richtlinien zur Probenhandhabung, -vorbereitung und -montage – Teil 4: Berichterstattung über Informationen zur Geschichte, Vorbereitung, Handhabung und Montage von Nanoobjekten vor der Oberflächenanalyse
ISO 14975:2000 Chemische Oberflächenanalyse – Informationsformate
ISO 18117:2009 Chemische Oberflächenanalyse – Handhabung von Proben vor der Analyse

German Institute for Standardization, Gesichtsanalyse

DIN 28400-6:1980-10 Vakuumtechnik; Begriffe und Definitionen, Oberflächenanalysetechniken
DIN 28400-6:1980 Vakuumtechnik; Begriffe und Definitionen, Oberflächenanalysetechniken
DIN EN 1711:2000 Zerstörungsfreie Prüfung von Schweißnähten – Wirbelstromprüfung von Schweißnähten durch komplexe Ebenenanalyse; Deutsche Fassung EN 1711:2000
DIN EN ISO 17643:2015-12 Zerstörungsfreie Prüfung von Schweißnähten – Wirbelstromprüfung von Schweißnähten durch komplexe Ebenenanalyse (ISO 17643:2015); Deutsche Fassung EN ISO 17643:2015
DIN EN 61725:1998-03 Analytischer Ausdruck für tägliche Sonnenprofile (IEC 61725:1997); Deutsche Fassung EN 61725:1997
DIN EN 14774-3:2010 Feste Biobrennstoffe – Bestimmung des Feuchtigkeitsgehalts – Ofentrockenverfahren – Teil 3: Feuchtigkeit in allgemeinen Analyseproben; Deutsche Fassung EN 14774-3:2009
DIN EN ISO 17643:2015 Zerstörungsfreie Prüfung von Schweißnähten – Wirbelstromprüfung von Schweißnähten durch komplexe Ebenenanalyse (ISO 17643:2015); Deutsche Fassung EN ISO 17643:2015

RO-ASRO, Gesichtsanalyse

STAS 11195-1987 OBERFLÄCHENMITTEL Analysemethode
STAS 90-1988 WEIZENMEHL Analysemethoden
STAS 756/3-1985 MEHLPASTEN Analysemethoden

未注明发布机构, Gesichtsanalyse

BS EN 1711:2000(2004) Zerstörungsfreie Prüfung von Schweißnähten – Wirbelstromprüfung von Schweißnähten durch komplexe Ebenenanalyse
DIN EN ISO 17643 E:2013-07 Non-destructive testing of welds Eddy current testing of welds by multi-plane analysis (draft)
DIN EN ISO 18134-3 E:2013-10 Determination of Moisture Content of Solid Biofuels Oven-Drying Method Part 3: Comprehensive Analysis of Moisture in Samples (Draft)
BS ISO 14975:2000(2012) Chemische Oberflächenanalyse – Informationsformate

NATO - North Atlantic Treaty Organization, Gesichtsanalyse

ANEP-33-1993 Kampfsystemdatenmodell für die Schnittstellenanalyse (ED 1)

Professional Standard - Machinery, Gesichtsanalyse

JB/T 10658-2006 Zerstörungsfreie Prüfung Wirbelstromprüfung von Schweißnähten durch komplexe Ebenenanalyse

VE-FONDONORMA, Gesichtsanalyse

NORVEN 13-24-1965 Weizenmehlanalyse und Testmethoden

European Committee for Standardization (CEN), Gesichtsanalyse

EN ISO 17643:2015 Zerstörungsfreie Prüfung von Schweißnähten – Wirbelstromprüfung von Schweißnähten durch komplexe Ebenenanalyse (ISO 17643:2015)
EN 14774-3:2009 Feste Biobrennstoffe – Bestimmung des Feuchtigkeitsgehalts – Ofentrockenmethode – Teil 3: Feuchtigkeit in allgemeinen Analyseproben
EN 1711:2000 Zerstörungsfreie Prüfung von Schweißnähten – Wirbelstromprüfung von Schweißnähten durch komplexe Ebenenanalyse, Änderung A1: Dezember 2003

Association Francaise de Normalisation, Gesichtsanalyse

NF A89-530:2000 Zerstörungsfreie Prüfung von Schweißnähten – Wirbelstromprüfung von Schweißnähten durch komplexe Ebenenanalyse.
NF A89-530/A1:2004 Zerstörungsfreie Prüfung von Schweißnähten – Wirbelstromprüfung von Schweißnähten durch komplexe Ebenenanalyse.
NF A89-530*NF EN ISO 17643:2015 Zerstörungsfreie Prüfung von Schweißnähten – Wirbelstromprüfung von Schweißnähten durch komplexe Ebenenanalyse
NF X42-075:1990 BIOTECHNOLOGIE. LEITFADEN ÜBER BEWÄHRTE PRAKTIKEN IN DER MIKROBIOLOGISCHEN ANALYSE UND FORSCHUNG IM BEREICH DER TIERGESUNDHEIT.

Danish Standards Foundation, Gesichtsanalyse

DS/EN 1711/A1:2004 Zerstörungsfreie Prüfung von Schweißnähten – Wirbelstromprüfung von Schweißnähten durch komplexe Ebenenanalyse
DS/EN 1711:2002 Zerstörungsfreie Prüfung von Schweißnähten – Wirbelstromprüfung von Schweißnähten durch komplexe Ebenenanalyse

Lithuanian Standards Office , Gesichtsanalyse

LST EN 1711-2000 Zerstörungsfreie Prüfung von Schweißnähten – Wirbelstromprüfung von Schweißnähten durch komplexe Ebenenanalyse
LST EN 1711-2000/A1-2004 Zerstörungsfreie Prüfung von Schweißnähten – Wirbelstromprüfung von Schweißnähten durch komplexe Ebenenanalyse

ES-UNE, Gesichtsanalyse

UNE-EN ISO 17643:2016 Zerstörungsfreie Prüfung von Schweißnähten – Wirbelstromprüfung von Schweißnähten durch komplexe Ebenenanalyse (ISO 17643:2015)

Standard Association of Australia （SAA）, Gesichtsanalyse

AS ISO 17643:2020 Zerstörungsfreie Prüfung von Schweißnähten – Wirbelstromprüfung von Schweißnähten durch komplexe Ebenenanalyse
AS ISO 18115:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular
AS ISO 14975:2006 Chemische Oberflächenanalyse – Informationsformate

AENOR, Gesichtsanalyse

UNE-EN 61725:1998 ANALYTISCHER AUSDRUCK FÜR TÄGLICHE SOLARPROFILE.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Gesichtsanalyse

JIS K 0147:2004 Chemische Oberflächenanalyse – Vokabular
JIS K 0142:2000 Chemische Oberflächenanalyse – Informationsformate

International Electrotechnical Commission (IEC), Gesichtsanalyse

IEC 61290-11-2:2005 Optische Verstärker – Prüfverfahren – Teil 11-2: Polarisationsmodus-Dispersionsparameter – Poincaré-Kugel-Analyseverfahren

The American Road & Transportation Builders Association, Gesichtsanalyse

AASHTO TP 63-2007 Standardtestmethode zur Bestimmung der Spurrillenanfälligkeit von Heißasphalt (HMA) mit dem Asphalt Pavement Analyser (APA)
AASHTO T 340-2010 Standardtestmethode zur Bestimmung der Spurrillenanfälligkeit von Heißasphalt (HMA) mit dem Asphalt Pavement Analyser (APA)

Society of Automotive Engineers (SAE), Gesichtsanalyse

SAE ARP1821A-2001 Methoden zur Analyse der Bodenflotation von Flugzeugen
SAE ARP1821A-2016 Methoden zur Analyse der Bodenflotation von Flugzeugen
SAE ARP1821C-2022 Methoden zur Analyse der Bodenflotation von Flugzeugen

SAE - SAE International, Gesichtsanalyse

SAE ARP1821B-2016 Methoden zur Analyse der Bodenflotation von Flugzeugen

AASHTO - American Association of State Highway and Transportation Officials, Gesichtsanalyse

TP 63-2009 Standardtestmethode zur Bestimmung der Spurrillenanfälligkeit von Heißasphalt (HMA) mit dem Asphalt Pavement Analyser (APA)
T 340-2010 Standardtestmethode zur Bestimmung der Spurrillenanfälligkeit von Heißasphalt (HMA) mit dem Asphalt Pavement Analyser (APA)
TP 63-2007 Standardtestmethode zur Bestimmung der Spurrillenanfälligkeit von Heißasphalt (HMA) mit dem Asphalt Pavement Analyser (APA)
TP 63-2003 Standardmethode zur Bestimmung der Spurrillenanfälligkeit von Asphalteinbaumischungen mit dem Asphalt Pavement Analyser (APA)

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Gesichtsanalyse

EN 61290-11-2:2005 Optische Verstärker Testmethoden Teil 11-2: Polarisationsmodus-Dispersionsparameter Poincaré-Kugel-Analysemethode