parasitäre Resonanzfrequenz

Für die parasitäre Resonanzfrequenz gibt es insgesamt 107 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst parasitäre Resonanzfrequenz die folgenden Kategorien: Umfangreiche elektronische Komponenten, Piezoelektrische und dielektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, Filter, Übertragungs- und Verteilungsnetze, Isoliermaterialien, Teile und Zubehör für Telekommunikationsgeräte, Wortschatz, Vibrations-, Schock- und Vibrationsmessungen, Mechanische Komponenten für elektronische Geräte, Diskrete Halbleitergeräte, Keramik.

Professional Standard - Electron, parasitäre Resonanzfrequenz

SJ/Z 9156-1987 Methoden zur Messung der Störresonanzfrequenz und des Ersatzwiderstands von Filterkristallelementen
SJ 2053-1982 Verfahren zur Messung unerwünschter Reaktionen von Quarzkristallresonatoren
SJ/Z 9160-1987 Piezoelektrische Keramikoszillatoren und Resonatoren zur Frequenzsteuerung und -auswahl
SJ 1751-1981 Nominelle Frequenzreihen für Stimmgabel- und Tablettenresonatoren
SJ/T 11210-1999 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten. Teil 4: Verfahren zur Messung der Lastresonanzfrequenz fL, des Lastresonanzwiderstands RL und der Berechnung anderer abgeleiteter Werte von Quarzkristalleinheiten bis zu 30 MHz
SJ/Z 9154.1-1987 Verwenden Sie die Nullphasentechnik im π-Netzwerk, um die Parameter der Quarzkristalleinheit zu messen. Teil 1: Grundlegende Methode zur Messung der Resonanzfrequenz und des Resonanzwiderstands von Quarzkristallelementen
SJ 2052-1982 Methoden zur Messung von Quarzkristallresonatoren und Ersatzschaltkreisparametern im Frequenzbereich bis 30 MHz – Übertragungsmethoden
SJ/T 11743.1-2019 Piezoelektrische und dielektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Glossar – Teil 1: Piezoelektrische und dielektrische ResonatorenIEC/TS 61994-1:2007,IDT

Association Francaise de Normalisation, parasitäre Resonanzfrequenz

NF EN 60444-9:2014 Messung von Quarzresonatorparametern – Teil 9: Messung parasitärer Resonanzen piezoelektrischer Resonatoren
NF EN 60444-7:2004 Messung der Quarzresonatorparameter – Teil 7: Messung der Quarzresonatoraktivität und Frequenzspalten
NF C93-621-9*NF EN 60444-9:2014 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 9: Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten
NF C96-627-1-3*NF EN 61338-1-3:2000 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 1-3: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen – Messverfahren der komplexen relativen Permittivität für dielektrische Resonatormaterialien bei Mikrowellenfrequenz.
NF B40-311:1989 Feuerfeste Produkte - Dichte, isolierende Formprodukte - Bestimmung der Resonanzfrequenz durch mechanische Einwirkung
NF C96-627-1-4*NF EN 61338-1-4:2006 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 1-4: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen – Messverfahren der komplexen relativen Permittivität für dielektrische Resonatormaterialien bei Millimeterwellenfrequenz
NF EN 60444-4:2001 Messung der Parameter von piezoelektrischem Quarz durch die Nullphasentechnik in der Pi-Schaltung - Teil 4: Verfahren zur Messung der Resonanzfrequenz an der Last fL und des Resonanzwiderstands an der Last RL und für die...
NF EN 60444-11:2011 Messung von Parametern von Quarzresonatoren - Teil 11: Standardisiertes Verfahren zur Bestimmung der Lastresonanzfrequenz fL und der effektiven Lastkapazität CLeff unter Verwendung automatischer Netzwerkanalysatoren und ...
NF EN 61338-1-4:2006 Dielektrische Resonatoren mit geführten Moden – Teil 1-4: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen – Verfahren zur Messung der komplexen relativen Permittivität von dielektrischen Resonatormaterialien, die bei Millimeterfrequenzen arbeiten...
NF C93-621*NF EN 60444-1 + A1:2000 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten mittels Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk – Teil 1: Grundlegende Methode zur Messung der Resonanzfrequenz und des Resonanzwiderstands von Quarzkristalleinheiten mittels Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk
NF C93-624*NF EN 60444-4:2001 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern mittels Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk – Teil 4: Verfahren zur Messung der Lastresonanzfrequenz fL, des Lastresonanzwiderstands RL und der Berechnung anderer abgeleiteter Werte der Quarzkristalleinheit

RU-GOST R, parasitäre Resonanzfrequenz

GOST 12692-1967 Resonense-Frequenzmesser. Methoden und Mittel zur Überprüfung
GOST 27496.2-1987 Elektrische Isoliermaterialien. Methoden zur Bestimmung der dielektrischen Eigenschaften bei Frequenzen über 300 MHz. Resonanzmethoden

Danish Standards Foundation, parasitäre Resonanzfrequenz

DS/IEC 122-2:1985 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl
DS/IEC 122-1:1985 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Teil 1: Standardwerte und Testbedingungen mit Änderung Nr. 1 (1983)
DS/EN 60444-4:1998 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern mittels Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk. Teil 4: Verfahren zur Messung der Lastresonanzfrequenz fL, des Lastresonanzwiderstands RL und der Berechnung anderer abgeleiteter Werte von Quarzkristalleinheiten,
DS/EN 61338-1-3:2000 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 1-3: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen – Verfahren zur Messung der komplexen relativen Permittivität für dielektrische Resonatormaterialien bei Mikrowellenfrequenz
DS/EN 61338-1-4:2006 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 1-4: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen – Verfahren zur Messung der komplexen relativen Permittivität für dielektrische Resonatormaterialien bei Millimeterwellenfrequenz
DS/EN 60444-1/A1:2001 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten mittels Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk – Teil 1: Grundlegende Methode zur Messung der Resonanzfrequenz und des Resonanzwiderstands von Quarzkristalleinheiten mittels Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk
DS/EN 60444-1:1998 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten mittels Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk – Teil 1: Grundlegende Methode zur Messung der Resonanzfrequenz und des Resonanzwiderstands von Quarzkristalleinheiten mittels Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), parasitäre Resonanzfrequenz

KS C IEC 60122-2:2003 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl
KS C IEC 60444-9-2016(2021) Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 9: Messung der Störresonanz von piezoelektrischen Kristalleinheiten
KS C IEC 60642:2018 Piezoelektrische Keramikresonatoren und Resonatoreinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Kapitel I: Normwerte und Bedingungen – Kapitel II: Mess- und Prüfbedingungen
KS C IEC 60642-2023 Piezoelektrische Keramikresonatoren und Resonatoreinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl Kapitel 1 Standardwerte und -bedingungen Kapitel 2 Mess- und Testbedingungen
KS C IEC 60377-2:2002 Empfohlene Methoden zur Bestimmung der dielektrischen Eigenschaften von Isoliermaterialien bei Frequenzen über 300 MHz – Teil 2: Resonanzmethoden
KS C IEC 60122-2-1:2011 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Abschnitt eins: Quarzkristalleinheiten für die Taktversorgung von Mikroprozessoren
KS C IEC 61338-1-4:2018 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp ─ Teil 1-4: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen ─ Messverfahren der komplexen relativen Permittivität für dielektrische Resonatormaterialien bei Millimeterwellenfrequenz
KS C IEC 61338-1-3:2018 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 1-3: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen – Messverfahren der komplexen relativen Permittivität für dielektrische Resonatormaterialien bei Mikrowellenfrequenz
KS C IEC 61338-1-4-2023 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp Teil 1-4: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen Verfahren zur Messung der komplexen relativen Permittivität dielektrischer Resonatormaterialien bei Millimeterwellenfrequenzen
KS C IEC 61338-1-3-2023 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp Teil 1-3: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen Verfahren zur Messung der komplexen relativen Permittivität dielektrischer Resonatormaterialien bei Mikrowellenfrequenzen

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, parasitäre Resonanzfrequenz

JJG(电子) 12037-1991 Verifizierungsvorschriften für das Messgerät für die Resonanzfrequenz von Lautsprechern DF5990A

IN-BIS, parasitäre Resonanzfrequenz

IS 11334-1984 Messmethoden für piezoelektrische Keramikresonatoren und Resonatoreinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl
IS 8011-1976 Verfahren zur Messung der Frequenz und des Ersatzwiderstands unerwünschter Resonanzen von Filterkristalleinheiten
IS 7957-1976 Grundlegende Methode zur Messung der Quarzkristallresonanzfrequenz und des äquivalenten Serienwiderstands im π-Netzwerk mithilfe der Nullphasentechnik

German Institute for Standardization, parasitäre Resonanzfrequenz

DIN 45105-4:1981 Quarzkristalleinheiten; Methoden zur Messung der Frequenz und des Ersatzwiderstands unerwünschter Resonanzen von Filterkristalleinheiten
DIN IEC 60642:1988 Piezoelektrische Keramikresonatoren und Resonatoreinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl; Standardwerte und Bedingungen; Mess- und Prüfbedingungen; Identisch mit IEC 60642, Ausgabe 1979
DIN EN 60444-9:2007-12 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Teil 9: Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten (IEC 60444-9:2007); Deutsche Fassung EN 60444-9:2007
DIN IEC 60642:1988-04 Piezoelektrische Keramikresonatoren und Resonatoreinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl; Standardwerte und Bedingungen; Mess- und Prüfbedingungen; Identisch mit IEC 60642, Ausgabe 1979
DIN EN 61338-1-4:2006-06 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp - Teil 1-4: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen - Verfahren zur Messung der komplexen relativen Permittivität für dielektrische Resonatormaterialien bei Millimeterwellenfrequenz (IEC 61338-1-4:2005); Deutsche Fassung EN 61338...
DIN EN 61338-1-4 Berichtigung 1:2007-02 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp - Teil 1-4: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen - Verfahren zur Messung der komplexen relativen Permittivität für dielektrische Resonatormaterialien bei Millimeterwellenfrequenz (IEC 61338-1-4:2005); Deutsche Fassung EN 61338...
DIN EN 61338-1-4 Berichtigung 1:2007 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp - Teil 1-4: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen - Verfahren zur Messung der komplexen relativen Permittivität für dielektrische Resonatormaterialien bei Millimeterwellenfrequenz (IEC 61338-1-4:2005); Deutsche Fassung EN 61338-1-
DIN EN 60444-4:1997 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern durch Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk – Teil 4: Verfahren zur Messung der Lastresonanzfrequenz f, des Lastresonanzwiderstands R und der Berechnung anderer abgeleiteter Werte von qu
DIN EN 60444-11:2011-06 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern – Teil 11: Standardverfahren zur Bestimmung der Lastresonanzfrequenz f<(Index)L> und die effektive Lastkapazität C<(Index)Leff> Verwendung automatischer Netzwerkanalysetechniken und Fehler ...
DIN EN 61338-1-3:2000-10 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp - Teil 1-3: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen; Messverfahren der komplexen relativen Permittivität für dielektrische Resonatormaterialien bei Mikrowellenfrequenz (IEC 61338-1-3:1999); Deutsche Fassung EN 61338-1-3:2000
DIN EN 61338-1-4:2006 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp - Teil 1-4: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen - Verfahren zur Messung der komplexen relativen Permittivität für dielektrische Resonatormaterialien bei Millimeterwellenfrequenz (IEC 61338-1-4:2005); Deutsche Fassung EN 61338-1-
DIN EN 60444-1:2000 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern durch Nullphasentechnik in einem Netzwerk – Teil 1: Grundlegende Methode zur Messung der Resonanzfrequenz und des Resonanzwiderstands von Quarzkristalleinheiten durch Nullphasentechnik in einem Netzwerk (IEC 60444
DIN EN 60444-4:1997-10 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern mittels Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk – Teil 4: Verfahren zur Messung der Lastresonanzfrequenz f<(Index)L>, des Lastresonanzwiderstands R<(Index)L> und die Berechnung anderer Ableitungen...

Defense Logistics Agency, parasitäre Resonanzfrequenz

DLA A-A-59416 A-2008 INDUKTOR, CHIP, FEST, HOHE SELBSTRESONANZFREQUENZ, OBERFLÄCHENMONTAGE

International Electrotechnical Commission (IEC), parasitäre Resonanzfrequenz

IEC 62980:2022 Parasitäres Kommunikationsprotokoll für die drahtlose Hochfrequenz-Energieübertragung
IEC 60642:1979 Piezoelektrische Keramikresonatoren und Resonatoreinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Kapitel I: Richtwerte und Bedingungen. Kapitel II: Mess- und Prüfbedingungen
IEC TR 60283:1968 Methoden zur Messung der Frequenz und des Ersatzwiderstands unerwünschter Resonanzen von Filterkristalleinheiten
IEC 60444-4:1988 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern mittels Nullphasentechnik in einem -Netzwerk; Teil 4: Verfahren zur Messung der Lastresonanzfrequenz FL Lastresonanzwiderstand RL und zur Berechnung anderer abgeleiteter Werte von Quarzkristalleinheiten
IEC 60122-1:1976 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Teil 1: Richtwerte und Prüfbedingungen
IEC 60377-2:1977 Methoden zur Bestimmung der dielektrischen Eigenschaften von Isoliermaterialien bei Frequenzen über 300 MHz. Teil 2: Resonanzmethoden
IEC 60642:1979/AMD1:1992 Änderung 1 – Piezoelektrische Keramikresonatoren und Resonatoreinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Kapitel I: Standardwerte und -bedingungen – Kapitel II: Mess- und Prüfbedingungen
IEC 61338-1-4:2005 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 1-4: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen – Verfahren zur Messung der komplexen relativen Permittivität für dielektrische Resonatormaterialien bei Millimeterwellenfrequenz
IEC TS 61994-1:2003 Piezoelektrische und dielektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Glossar – Teil 1: Piezoelektrische und dielektrische Resonatoren
IEC TS 61994-1:2007 Piezoelektrische und dielektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Glossar – Teil 1: Piezoelektrische und dielektrische Resonatoren
IEC 49/569/CDV:2002 Piezoelektrische und dielektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Glossar – Teil 1: Piezoelektrische und dielektrische Resonatoren
IEC 60122-3D:1989 Quarzkristalleinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl; Teil 3: Standardumrisse und Anschlussverbindungen; vierte Ergänzung zu IEC 60122-3:1977
IEC 60444-1:1986 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern mittels Nullphasentechnik in einem -Netzwerk; Teil 1: Grundlegende Methode zur Messung der Resonanzfrequenz und des Resonanzwiderstands von Quarzkristalleinheiten mittels Nullphasentechnik in einem Netzwerk

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, parasitäre Resonanzfrequenz

EN 60444-1:1997 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern durch Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk – Teil 1: Grundlegende Methode zur Messung der Resonanzfrequenz und des Resonanzwiderstands von Quarzkristalleinheiten durch Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk (beinhaltet
EN 60444-4:1997 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern mittels Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk Teil 4: Methode zur Messung der Lastresonanzfrequenz fL, des Lastresonanzwiderstands RL und der Berechnung anderer abgeleiteter Werte von Quarzkristalleinheiten,
EN 61338-1-4:2006 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp Teil 1-4: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen – Messverfahren der komplexen relativen Permittivität für dielektrische Resonatormaterialien bei Millimeterwellenfrequenz (einschließlich Berichtigung November 2006)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, parasitäre Resonanzfrequenz

GB/T 22319.9-2018 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 9: Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten

TR-TSE, parasitäre Resonanzfrequenz

TS 2154-1975 METHODEN ZUR MESSUNG DER FREQUENZ UND DES Äquivalenten Widerstands der unbestimmten Resonanz von Filterkristalleinheiten

British Standards Institution (BSI), parasitäre Resonanzfrequenz

BS EN 60444-1:1997 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten. Grundlegende Methode zur Messung der Resonanzfrequenz und des Resonanzwiderstands von Quarzkristalleinheiten mittels Nullphasentechnik in einem π-Netzwerk
BS EN 61338-1-3:2000 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp. Allgemeine Informationen und Testbedingungen. Messmethode der komplexen relativen Permittivität für dielektrische Resonatormaterialien bei Mikrowellenfrequenz
BS DD IEC/TS 61994-1:2007 Piezoelektrische und dielektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Glossar. Piezoelektrische und dielektrische Resonatoren
BS ISO 16063-32:2016 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern. Resonanzprüfung. Prüfung der Frequenz und des Phasengangs von Beschleunigungsaufnehmern mittels Stoßanregung
BS EN 60444-1:1993 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten. Grundlegende Methode zur Messung der Resonanzfrequenz und des Resonanzwiderstands von Quarzkristalleinheiten mittels Nullphasentechnik in einem $Gp-Netzwerk
BS EN 60444-4:1997 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten. Verfahren zur Messung der Lastresonanzfrequenz fL, Lastresonanzwiderstand RL und die Berechnung anderer ...
DD IEC/TS 61994-1:2007 Piezoelektrische und dielektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl. Glossar – Piezoelektrische und dielektrische Resonatoren
BS EN 61338-1-4:2006 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 1-4: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen – Messverfahren der komplexen relativen Permittivität für dielektrische Resonatormaterialien bei Millimeterwellenfrequenz
BS EN 60444-4:1993 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Verfahren zur Messung der Lastresonanzfrequenz fL, des Lastresonanzwiderstands RL und der Berechnung anderer abgeleiteter Werte von Quarzkristalleinheiten bis 30 MHz

KR-KS, parasitäre Resonanzfrequenz

KS C IEC 60642-2018(2023) Piezoelektrische Keramikresonatoren und Resonatoreinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Kapitel I: Normwerte und Bedingungen – Kapitel II: Mess- und Prüfbedingungen
KS C IEC 60642-2018 Piezoelektrische Keramikresonatoren und Resonatoreinheiten zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Kapitel I: Normwerte und Bedingungen – Kapitel II: Mess- und Prüfbedingungen
KS C IEC 60377-2-2018(2023) Methoden zur Bestimmung der dielektrischen Eigenschaften von Isoliermaterialien bei Frequenzen über 300 MHz – Teil 2: Resonanzmethoden
KS C IEC 61338-1-3-2018 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 1-3: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen – Messverfahren der komplexen relativen Permittivität für dielektrische Resonatormaterialien bei Mikrowellenfrequenz
KS C IEC 61338-1-4-2018 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp ─ Teil 1-4: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen ─ Messverfahren der komplexen relativen Permittivität für dielektrische Resonatormaterialien bei Millimeterwellenfrequenz
KS C IEC 61338-1-4-2018(2023) Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp ─ Teil 1-4: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen ─ Messverfahren der komplexen relativen Permittivität für dielektrische Resonatormaterialien bei Millimeterwellenfrequenz
KS C IEC 61338-1-3-2018(2023) Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 1-3: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen – Messverfahren der komplexen relativen Permittivität für dielektrische Resonatormaterialien bei Mikrowellenfrequenz

Lithuanian Standards Office , parasitäre Resonanzfrequenz

LST EN 60444-9-2007 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 9: Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten (IEC 60444-9:2007)
LST EN 60444-4-2001 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern mittels Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk. Teil 4: Verfahren zur Messung der Lastresonanzfrequenz f, des Lastresonanzwiderstands R und der Berechnung anderer abgeleiteter Werte von qua
LST EN 61338-1-4-2006 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 1-4: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen – Verfahren zur Messung der komplexen relativen Permittivität für dielektrische Resonatormaterialien bei Millimeterwellenfrequenz (IEC 61338-1-4:2005)
LST EN 61338-1-4-2006/AC-2007 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 1-4: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen – Verfahren zur Messung der komplexen relativen Permittivität für dielektrische Resonatormaterialien bei Millimeterwellenfrequenz (IEC 61338-1-4:2005)
LST EN 60444-1+A1-2001 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern durch Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk – Teil 1: Grundlegende Methode zur Messung der Resonanzfrequenz und des Resonanzwiderstands von Quarzkristalleinheiten durch Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk (IEC 60444-1:

ES-UNE, parasitäre Resonanzfrequenz

UNE-EN 60444-9:2007 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 9: Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten (IEC 60444-9:2007). (Von AENOR im August 2007 gebilligt.)
UNE-EN 61338-1-3:2000 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 1-3: Allgemeine Informationen und Testbedingungen – Messverfahren der komplexen relativen Permittivität für dielektrische Resonatormaterialien bei Mikrowellenfrequenz (Genehmigt von AENOR im August 2000.)
UNE-EN 61338-1-4:2006 Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 1-4: Allgemeine Informationen und Testbedingungen – Messverfahren der komplexen relativen Permittivität für dielektrische Resonatormaterialien bei Millimeterwellenfrequenz (Genehmigt von AENOR im April 2006.)
UNE-EN 60444-1/A1:1999 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern durch Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk – Teil 1: Grundlegende Methode zur Messung der Resonanzfrequenz und des Resonanzwiderstands von Quarzkristalleinheiten durch Nullphasentechnik in einem Pi-Netzwerk. (Bestätigt...
UNE-EN 60444-4:1997 MESSUNG VON EINHEITPARAMETERN VON QUARZKRISTALL DURCH NULLPHASENTECHNIK IN EINEM PI-NETZWERK. TEIL 4 VERFAHREN ZUR MESSUNG DER LASTRESONANZFREQUENZ FL, DES LASTRESONANZWIDERSTANDS RL UND DER BERECHNUNG ANDERER ABGELEITETER WERTE DER QUARZKRISTALLEINHEIT...
UNE-EN 60444-1:1997 MESSUNG VON EINHEITPARAMETERN VON QUARZKRISTALL DURCH NULLPHASENTECHNIK IN EINEM PI-NETZWERK. TEIL 1: GRUNDLEGENDE METHODE ZUR MESSUNG DER RESONANZFREQUENZ UND DES RESONANZWIDERSTANDS VON QUARZKRISTALLEINHEITEN DURCH NULLPHASENTECHNIK IN EINEM PI-NETZWERK (Gefördert von...

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, parasitäre Resonanzfrequenz

GB/T 29306.2-2012 Empfohlene Methoden zur Bestimmung der dielektrischen Eigenschaften von Isoliermaterialien bei Frequenzen über 300 MHz. Teil 2: Resonanzmethoden

未注明发布机构, parasitäre Resonanzfrequenz

BS EN 61338-1-4:2006(2007) Dielektrische Resonatoren vom Wellenleitertyp – Teil 1 – 4: Allgemeine Informationen und Prüfbedingungen – Messverfahren der komplexen relativen Permittivität für dielektrische Resonatormaterialien bei Millimeterwellenfrequenz

International Organization for Standardization (ISO), parasitäre Resonanzfrequenz

ISO 16063-32:2016 Methoden zur Kalibrierung von Schwingungs- und Stoßaufnehmern - Teil 32: Resonanzprüfung - Prüfung der Frequenz und des Phasengangs von Beschleunigungsaufnehmern mittels Stoßanregung

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, parasitäre Resonanzfrequenz

GB/T 20485.32-2021 Methoden zur Kalibrierung von Vibrations- und Stoßwandlern – Teil 32: Resonanzprüfung – Prüfung der Frequenz und des Phasengangs von Beschleunigungsmessern mittels Stoßanregung

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), parasitäre Resonanzfrequenz

JIS R 1660-2:2004 Messmethode für dielektrische Eigenschaften von Feinkeramik im Millimeterwellen-Frequenzbereich – Teil 2: Offene Resonatormethode

IEC - International Electrotechnical Commission, parasitäre Resonanzfrequenz

TS 61994-1-2007 Piezoelektrische und dielektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Glossar – Teil 1: Piezoelektrische und dielektrische Resonatoren (Ausgabe 2.0)