Ionen im Massenspektrum

Für die Ionen im Massenspektrum gibt es insgesamt 23 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Ionen im Massenspektrum die folgenden Kategorien: analytische Chemie, Bodenqualität, Bodenkunde, Kriminalprävention.

International Organization for Standardization (ISO), Ionen im Massenspektrum

ISO/TS 22933:2022 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Methode zur Messung der Massenauflösung in SIMS
ISO 17109:2022 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie-Sputtertiefe S
ISO 20295:2018 Bodenqualität – Bestimmung von Perchlorat im Boden mittels Ionenchromatographie

Association Francaise de Normalisation, Ionen im Massenspektrum

NF ISO 23830:2009 Chemische Analyse von Oberflächen – Massenspektrometrie von Sekundärionen – Wiederholbarkeit und Konstanz der Skala relativer Intensitäten in der statischen Massenspektrometrie von Sekundärionen

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Ionen im Massenspektrum

JIS K 0153:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Wiederholbarkeit und Konstanz der relativen Intensitätsskala in der statischen Sekundärionen-Massenspektrometrie
JIS K 0164:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Methode zur Tiefenprofilierung von Bor in Silizium
JIS K 0158:2021 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Korrekturmethode für gesättigte Intensität in der dynamischen Sekundärionen-Massenspektrometrie mit Einzelionenzählung
JIS K 0163:2010 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Bestimmung relativer Empfindlichkeitsfaktoren aus ionenimplantierten Referenzmaterialien

British Standards Institution (BSI), Ionen im Massenspektrum

BS ISO 23830:2008 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Wiederholbarkeit und Konstanz der relativen Intensitätsskala in der statischen Sekundärionen-Massenspektrometrie
BS ISO 20295:2018 Bodenqualität. Bestimmung von Perchlorat im Boden mittels Ionenchromatographie

American Society for Testing and Materials (ASTM), Ionen im Massenspektrum

ASTM E1504-06 Standardpraxis für die Meldung von Massenspektraldaten in der Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS)
ASTM E1504-11(2019) Standardpraxis für die Meldung von Massenspektraldaten in der Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS)
ASTM E1162-87(2001) Standardpraxis für die Meldung von Sputtertiefenprofildaten in der Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS)
ASTM E1162-87(1996) Standardpraxis für die Meldung von Sputtertiefenprofildaten in der Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS)
ASTM E1504-92(1996) Standardpraxis für die Meldung von Massenspektraldaten in der Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS)
ASTM E1504-92(2001) Standardpraxis für die Meldung von Massenspektraldaten in der Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS)
ASTM E1635-95(2000) Standardpraxis für die Meldung von Bilddaten in der Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS)
ASTM E1635-06(2019) Standardpraxis für die Meldung von Bilddaten in der Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS)
ASTM E1504-11 Standardpraxis für die Meldung von Massenspektraldaten in der Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Ionen im Massenspektrum

GB/T 40109-2021 Chemische Oberflächenanalyse – Sekundärionen-Massenspektrometrie – Methode zur Tiefenprofilierung von Bor in Silizium
GB/T 41064-2021 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methode zur Bestimmung der Sputterrate in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie, Auger-Elektronenspektroskopie und Sekundärionen-Massenspektrometrie zur Sputtertiefenprofilierung unter Verwendung von ein- und mehrschichtigen Dünnfilmen

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Ionen im Massenspektrum

GB/T 32495-2016 Chemische Oberflächenanalyse.Sekundärionen-Massenspektrometrie.Methode zur Tiefenprofilierung von Arsen in Silizium

Professional Standard - Public Safety Standards, Ionen im Massenspektrum

GA/T 1320-2016 GC-MS-Untersuchungsmethoden für Fluoridionen in Urin und Blut in der Forensik