Hochleistungs-Messmikroskop

Für die Hochleistungs-Messmikroskop gibt es insgesamt 235 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Hochleistungs-Messmikroskop die folgenden Kategorien: Optische Ausrüstung, Schmierstoffe, Industrieöle und verwandte Produkte, Drähte und Kabel, Fluidkraftsystem, Thermodynamik und Temperaturmessung, Physik Chemie, Optik und optische Messungen, Luftqualität, analytische Chemie, Textilfaser, Chemikalien, Oberflächenbehandlung und Beschichtung, Längen- und Winkelmessungen, Elektrische Geräte, die unter besonderen Arbeitsbedingungen verwendet werden, Mikrobiologie, Mechanischer Test, Prüfung von Metallmaterialien, Umfangreiche Testbedingungen und -verfahren, Materialien für die Luft- und Raumfahrtfertigung, Zerstörungsfreie Prüfung, Metrologie und Messsynthese, Kernenergietechnik, Kohle, Holzverarbeitungstechnologie, Keramik, Baumaterial, Metallkorrosion, Nichteisenmetalle.

Professional Standard - Machinery, Hochleistungs-Messmikroskop

JB/T 9339-1999 Messmikroskop
JB/T 9349-1999 Messmesser für das Mikroskop des Werkzeugmachers

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Hochleistungs-Messmikroskop

JIS B 7153:1995 Messmikroskope
JIS K 3850-1:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
JIS M 8816:1992 Feste mineralische Brennstoffe – Methoden der mikroskopischen Messung von Mazeralen und Reflexionsgrad
JIS A 1481-4:2016 Luftqualität – Schüttgüter – Teil 4: Quantitative Bestimmung von Asbest mit gravimetrischen und mikroskopischen Methoden
JIS K 3850-3:2000 Messmethode für luftgetragene Faserpartikel – Teil 3: Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
JIS K 3850-2:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 2: Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie-Verfahren

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Hochleistungs-Messmikroskop

JJG 571-2004 Lesemikroskop und Messmikroskop
JJG 571-1988 Verifizierungsvorschrift für Messmikroskope

IN-BIS, Hochleistungs-Messmikroskop

IS 4329-1967 Spezifikation für messende (mobile) Mikroskope

International Organization for Standardization (ISO), Hochleistungs-Messmikroskop

ISO/TS 21383:2021 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Qualifizierung des Rasterelektronenmikroskops für quantitative Messungen
ISO 19056-3:2022 Mikroskope – Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften – Teil 3: Auflicht-Fluoreszenzmikroskopie mit inkohärenten Lichtquellen
ISO 4912:1981 Textilien; Baumwollfasern; Reifebewertung; Mikroskopische Methode
ISO 19056-1:2015 Mikroskope – Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften – Teil 1: Bildhelligkeit und Gleichmäßigkeit in der Hellfeldmikroskopie
ISO 19056-2:2019 Mikroskope – Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften – Teil 2: Beleuchtungseigenschaften im Zusammenhang mit der Farbe in der Hellfeldmikroskopie
ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO 9220:1988 Metallische Beschichtungen; Messung der Schichtdicke; Rasterelektronenmikroskop-Methode
ISO 21222:2020 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmodule für nachgiebige Materialien unter Verwendung des Rasterkraftmikroskops und der Zweipunkt-JKR-Methode
ISO/CD 22262-2:2011 Luftqualität – Schüttgüter – Teil 2: Quantitative Bestimmung von Asbest durch gravimetrische und mikroskopische Methoden
ISO/DIS 23124:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Messung der lateralen und axialen Auflösung des Raman-Mikroskops
ISO/FDIS 23124:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Messung der lateralen und axialen Auflösung eines Raman-Mikroskops
ISO 11952:2019 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen
ISO 11952:2014 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen
ISO 23420:2021 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
ISO 18337:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Oberflächencharakterisierung – Messung der lateralen Auflösung eines konfokalen Fluoreszenzmikroskops
ISO 8672:2014 Luftqualität – Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern mittels Phasenkontrast-Lichtmikroskopie – Membranfilterverfahren
ISO 8672:1993 Luftqualität; Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie; Membranfilterverfahren
ISO 13383-2:2012 Feinkeramik (Hochleistungskeramik, Hochleistungstechnische Keramik) - Mikrostrukturelle Charakterisierung - Teil 2: Bestimmung des Phasenvolumenanteils durch Auswertung mikroskopischer Aufnahmen
ISO 22262-2:2014 Luftqualität – Schüttgüter – Teil 2: Quantitative Bestimmung von Asbest mit gravimetrischen und mikroskopischen Methoden

American Society for Testing and Materials (ASTM), Hochleistungs-Messmikroskop

ASTM D5770-02 Standardtestmethode zur semiquantitativen Mikrobestimmung der Säurezahl von Schmierölen während der Oxidationsprüfung
ASTM D5770-96 Standardtestmethode zur semiquantitativen Mikrobestimmung der Säurezahl von Schmierölen während der Oxidationsprüfung
ASTM D5770-02(2007) Standardtestmethode zur semiquantitativen Mikrobestimmung der Säurezahl von Schmierölen während der Oxidationsprüfung
ASTM F728-81(1997)e1 Standardpraxis zur Vorbereitung eines optischen Mikroskops für Dimensionsmessungen
ASTM F72-95(2001) Standardspezifikation für Golddraht zum Bonden von Halbleiterleitungen
ASTM E3060-16 Standardhandbuch für die Messung unsichtbarer Partikel in der biopharmazeutischen Produktion mittels dynamischer (Fluss-)Bildmikroskopie
ASTM E2859-11(2017) Standardhandbuch zur Größenmessung von Nanopartikeln mittels Rasterkraftmikroskopie
ASTM E285-08(2015) Standardtestmethode für die Oxyacetylen-Ablationsprüfung von Wärmedämmmaterialien
ASTM E1813-96e1 Standardpraxis zum Messen und Berichten der Sondenspitzenform in der Rastersondenmikroskopie
ASTM E1813-96(2002) Standardpraxis zum Messen und Berichten der Sondenspitzenform in der Rastersondenmikroskopie
ASTM E1813-96(2007) Standardpraxis zum Messen und Berichten der Sondenspitzenform in der Rastersondenmikroskopie
ASTM E2859-11 Standardhandbuch zur Größenmessung von Nanopartikeln mittels Rasterkraftmikroskopie
ASTM E2859-11(2023) Standardhandbuch zur Größenmessung von Nanopartikeln mittels Rasterkraftmikroskopie
ASTM D5235-13 Standardtestverfahren zur mikroskopischen Messung der Trockenschichtdicke von Beschichtungen auf Holzprodukten
ASTM D5235-14 Standardtestverfahren zur mikroskopischen Messung der Trockenschichtdicke von Beschichtungen auf Holzprodukten
ASTM B748-90(1997) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM D5235-18 Standardtestverfahren zur mikroskopischen Messung der Trockenschichtdicke von Beschichtungen auf Holzprodukten
ASTM B748-90(2006) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM D5235-97 Standardtestverfahren zur mikroskopischen Messung der Trockenschichtdicke von Beschichtungen auf Holzprodukten
ASTM B748-90(2021) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM B748-90(2001) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM B748-90(2016) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM B748-90(2010) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
ASTM F3294-18 Standardhandbuch für die Durchführung quantitativer Fluoreszenzintensitätsmessungen in zellbasierten Assays mit Weitfeld-Epifluoreszenzmikroskopie
ASTM B487-20 Standardtestmethode zur Messung der Dicke von Metall- und Oxidbeschichtungen durch mikroskopische Untersuchung des Querschnitts
ASTM C1356-96(2001) Standardtestmethode zur quantitativen Bestimmung von Phasen in Portlandzementklinker durch mikroskopisches Punktzählverfahren
ASTM B651-83(2001) Standardtestmethode zur Messung von Korrosionsstellen in galvanisierten Oberflächen mit Nickel plus Chrom oder Kupfer plus Nickel plus Chrom mit dem Zweistrahl-Interferenzmikroskop
ASTM B651-83(1995) Standardtestmethode zur Messung von Korrosionsstellen in galvanisierten Oberflächen mit Nickel plus Chrom oder Kupfer plus Nickel plus Chrom mit dem Zweistrahl-Interferenzmikroskop
ASTM B651-83(2006) Standardtestmethode zur Messung von Korrosionsstellen in galvanisierten Oberflächen mit Nickel plus Chrom oder Kupfer plus Nickel plus Chrom mit einem Zweistrahl-Interferenzmikroskop
ASTM B651-83(2015) Standardtestmethode zur Messung von Korrosionsstellen in galvanisierten Oberflächen mit Nickel plus Chrom oder Kupfer plus Nickel plus Chrom mit einem Zweistrahl-Interferenzmikroskop
ASTM B651-83(2010) Standardtestmethode zur Messung von Korrosionsstellen in galvanisierten Oberflächen mit Nickel plus Chrom oder Kupfer plus Nickel plus Chrom mit einem Zweistrahl-Interferenzmikroskop
ASTM B588-88(2001) Standardtestmethode zur Messung der Dicke transparenter oder undurchsichtiger Beschichtungen mittels Doppelstrahl-Interferenzmikroskoptechnik
ASTM B487-85(1997) Standardtestverfahren zur Messung der Dicke von Metall- und Oxidbeschichtungen durch mikroskopische Untersuchung eines Querschnitts
ASTM C1356-07 Standardtestmethode zur quantitativen Bestimmung von Phasen in Portlandzementklinker durch mikroskopisches Punktzählverfahren
ASTM C1356-07(2012) Standardtestmethode zur quantitativen Bestimmung von Phasen in Portlandzementklinker durch mikroskopisches Punktzählverfahren

TH-TISI, Hochleistungs-Messmikroskop

TIS 1083-1992 Standard zur Messung der Schichtdicke mittels mikroskopischer Methode

(U.S.) Ford Automotive Standards, Hochleistungs-Messmikroskop

FORD FLTM EU-BA 053-1-2000 MIKROSKOPISCHE METHODE ZUR MESSUNG DER ENTKARBUNG AN FEDERSTÄHLEN

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Hochleistungs-Messmikroskop

KS I ISO 4407:2012 Hydraulikflüssigkeitstechnik – Flüssigkeitsverunreinigung – Bestimmung der Partikelverunreinigung durch die Zählmethode unter Verwendung eines optischen Mikroskops
KS D 2716-2008(2018) Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
KS D 2714-2006 Rastersondenmikroskop-Methode für Querkraftmikroskope
KS D 2716-2008 Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
KS D 8544-2006 Metallische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – Transmissionselektronenmikroskopie-Methode
KS E 4005-2007(2012) Tragbares Polarisationsmikroskop zur Probenahme und Bestimmung nicht brennbarer Stoffe in Kohle- und Gesteinsstaubgemischen
KS D 8544-2016(2021) Metallische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – Transmissionselektronenmikroskopie-Methode
KS E 4005-1981 Tragbares Polarisationsmikroskop zur Probenahme und Bestimmung nicht brennbarer Stoffe in Kohle- und Gesteinsstaubgemischen
KS D 0204-2007 Stahl – Bestimmung des Gehalts an nichtmetallischen Einschlüssen – Mikrografische Methode unter Verwendung von Standarddiagrammen
KS D ISO 9220:2009 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D ISO 9220-2009(2022) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D 8519-2009(2015) Metallische und oxidische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – mikroskopische Methode
KS D ISO 9220-2009(2017) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
KS D 0204-1982 Stahl – Bestimmung des Gehalts an nichtmetallischen Einschlüssen – Mikrografische Methode unter Verwendung von Standarddiagrammen
KS I ISO 13794-2008(2018) Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
KS I ISO 8672:2006 Luftqualität – Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie (Membranfiltermethode)
KS I ISO 8672:2021 Luftqualität – Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie – Membranfiltermethode
KS I ISO 8672-2006(2017) Luftqualität – Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie (Membranfiltermethode)

Professional Standard - Petrochemical Industry, Hochleistungs-Messmikroskop

SH/T 0336-1994 Bestimmungsmethode des Fettverunreinigungsgehalts (mikroskopische Methode)

British Standards Institution (BSI), Hochleistungs-Messmikroskop

BS ISO 19056-3:2022 Mikroskope. Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften – Auflicht-Fluoreszenzmikroskopie mit inkohärenten Lichtquellen
BS ISO 19056-2:2019 Mikroskope. Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften – Beleuchtungseigenschaften im Zusammenhang mit der Farbe in der Hellfeldmikroskopie
BS ISO 19056-1:2015 Mikroskope. Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften. Bildhelligkeit und Gleichmäßigkeit in der Hellfeldmikroskopie
BS EN ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
18/30339980 DC BS ISO 19056-2. Mikroskope. Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften. Teil 2. Beleuchtungseigenschaften im Zusammenhang mit der Farbe in der Hellfeldmikroskopie
21/30395346 DC BS ISO 19056-3. Mikroskope. Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften. Teil 3. Auflicht-Fluoreszenzmikroskopie mit inkohärenten Lichtquellen
BS EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
BS ISO 21222:2020 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmoduli für nachgiebige Materialien mittels Rasterkraftmikroskop und der Zweipunkt-JKR-Methode
19/30351707 DC BS ISO 21222. Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmoduli für nachgiebige Materialien mittels Rasterkraftmikroskop und der Zweipunkt-JKR-Methode
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
BS ISO 23420:2021 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
BS ISO 19749:2021 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
20/30395419 DC BS EN ISO 1463. Metall- und Oxidbeschichtungen. Messung der Schichtdicke. Mikroskopische Methode
BS ISO 22262-2:2014 Luftqualität. Schüttgut. Quantitative Bestimmung von Asbest durch gravimetrische und mikroskopische Methoden
BS EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
BS EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
BS ISO 21363:2020 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
20/30380369 DC BS ISO 23420. Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
BS ISO 18337:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Oberflächencharakterisierung. Messung der lateralen Auflösung eines konfokalen Fluoreszenzmikroskops
23/30420097 DC BS ISO 23124 Oberflächenchemische Analyse. Messung der lateralen und axialen Auflösung des Raman-Mikroskops
BS ISO 11952:2019 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen
BS ISO 8672:2014 Luftqualität. Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie. Membranfiltermethode
18/30351714 DC BS ISO 21363. Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie

Group Standards of the People's Republic of China, Hochleistungs-Messmikroskop

T/QGCML 1940-2023 Rasterelektronenmikroskop-In-situ-Hochtemperatur-Mechanikprüfgerät
T/CSTM 00003-2019 Dickenmessungen zweidimensionaler Materialien Rasterkraftmikroskopie (AFM)
T/CSTM 00799-2023 Bestimmung der Korngröße in Stahl – Hochtemperatur-Laser-Scanning-Konfokalmikroskop-Methode
T/GDASE 0008-2020 Bestimmung des Elastizitätsmoduls von Graphenfilmen
T/SPSTS 030-2023 Messung der Blattgröße von Graphenmaterial mittels Rasterelektronenmikroskopie

CZ-CSN, Hochleistungs-Messmikroskop

CSN 65 6337-1974 Bestimmung des Gehalts an mechanischen Verunreinigungen mithilfe eines Mikroskops
CSN ISO 1463:1993 Metall- und Oxidbeschichtungen. Messung der Schichtdicke. Mikroskopische Methode

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Hochleistungs-Messmikroskop

GB/T 29190-2012 Messmethoden der Driftrate des Rastersondenmikroskops
GB/T 6462-2005 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
GB/T 42659-2023 Oberflächenchemische Analyse Rastersondenmikroskopie Bestimmung geometrischer Größen mittels Rastersondenmikroskopie: Messsystemkalibrierung
GB/T 31227-2014 Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit mittels Rasterkraftmikroskop für gesputterte Dünnfilme
GB/T 32282-2015 Messung der Versetzungsdichte in Galliumnitrid-Einkristallen mittels Kathodolumineszenzmikroskopie
GB/Z 21738-2008 Grundlegende Strukturen eindimensionaler Nanomaterialien. Charakterisierung durch hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie
GB/T 27760-2011 Testmethode zur Kalibrierung der Z-Vergrößerung eines Rasterkraftmikroskops bei Verschiebungsniveaus im Subnanometerbereich unter Verwendung einatomiger Si(111)-Schritte
GB/T 8014.3-2005 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen – Die Methode zur Messung der Dicke von anodischen Oxidbeschichtungen Teil 3: Spaltstrahlmikroskop-Methode

VN-TCVN, Hochleistungs-Messmikroskop

TCVN 6035-1995 Textilien.Baumwollfasern.Bewertung der Reife.Mikroskopische Methode
TCVN 6504-1999 Luftqualität.Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie.Membranfilterverfahren

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Hochleistungs-Messmikroskop

IPC TM-650 2.2.14.1-1995 Partikelgrößenverteilung des Lotpulvers – Messmikroskop-Methode

KR-KS, Hochleistungs-Messmikroskop

KS D 2716-2023 Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
KS C ISO 19749-2023 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
KS C ISO 21363-2023 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
KS I ISO 8672-2021 Luftqualität – Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie – Membranfiltermethode

PT-IPQ, Hochleistungs-Messmikroskop

NP 3160-1986 Textil. Messung des Faserdurchmessers. Mikroskopische Projektionsmethode
NP 3563-1988 Textilien Baumwollfasern. Bewertung der Reife. Mikroskopische Methode

Association Francaise de Normalisation, Hochleistungs-Messmikroskop

NF G06-008*NF EN ISO 20705:2020 Textilien - Quantitative mikroskopische Analyse - Allgemeine Prüfprinzipien
NF EN ISO 20705:2020 Textilien – Quantitative Analyse mittels Mikroskopie – Allgemeine Prüfprinzipien
NF A91-110:2004 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode.
NF A91-110*NF EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
NF A91-108:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
NF T16-404:2020 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
NF X43-050:2021 Luftqualität – Bestimmung der Asbestfaserkonzentration mittels Transmissionselektronenmikroskopie – Indirekte Methode
NF X43-050:1996 Luftqualität. Bestimmung der Asbestfaserkonzentration mittels Transmissionselektronenmikroskopie. Indirekte Methode.
NF T70-360:2007 Energetische Materialien für die Verteidigung – Physikalisch-chemische Analysen und Eigenschaften – Messung der Eindringtiefe von Weichmachern und/oder Abschreckungsmitteln – Methode durch Mikroskopie
NF B41-204-2*NF EN ISO 13383-2:2016 Feinkeramik (Hochleistungskeramik, technische Hochleistungskeramik) – Mikrostrukturelle Charakterisierung – Teil 2: Bestimmung des Phasenvolumenanteils durch Auswertung mikroskopischer Aufnahmen
NF B41-206-6*NF EN 843-6:2009 Fortschrittliche technische Keramik – Mechanische Eigenschaften monolithischer Keramik bei Raumtemperatur – Teil 6: Anleitung für fraktografische Untersuchungen
NF X43-066-2*NF ISO 22262-2:2014 Luftqualität – Schüttgüter – Teil 2: Quantitative Bestimmung von Asbest durch gravimetrische und mikroskopische Methoden
NF A91-481*NF EN ISO 2128:2010 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten – Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop
NF A91-455-3:1999 Aluminium und Aluminiumlegierungen. Eloxieren. Teil 3: Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten. Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop.

FI-SFS, Hochleistungs-Messmikroskop

SFS 3458-1989 Plastik. Mikroskopische Bestimmung des schwarzen Rußgehalts in Polyethylen

工业和信息化部, Hochleistungs-Messmikroskop

SJ/T 11759-2020 Messung des Seitenverhältnisses von Photovoltaik-Zellenelektroden-Gitterlinien durch konfokale Laser-Scanning-Mikroskopie

Association of German Mechanical Engineers, Hochleistungs-Messmikroskop

VDI/VDE 2655 Blatt 1.1-2008 Optische Vermessung und Mikrotopographien – Kalibrierung von Interferenzmikroskopen und Tiefenmessnormalen zur Rauheitsmessung
VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Bestimmung geometrischer Größen mittels Rastersondenmikroskopen - Kalibrierung von Messsystemen
VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 Optische Messung der Mikrotopographie – Kalibrierung von konfokalen Mikroskopen und Tiefeneinstellnormalen zur Rauheitsmessung
VDI 3492-2004 Raumluftmessung - Raumluftmessung - Messung anorganischer Faserpartikel - Rasterelektronenmikroskopie-Methode
VDI 3492-2013 Raumluftmessung - Raumluftmessung - Messung anorganischer Faserpartikel - Rasterelektronenmikroskopie-Methode
VDI 3861 Blatt 2-2008 Emissionen aus stationären Quellen – Messung anorganischer Faserpartikel im Abgas – Rasterelektronenmikroskopie-Methode

SE-SIS, Hochleistungs-Messmikroskop

SIS SS-ISO 1463:1983 Metall- und Oxidschichten – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
SIS SS-ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
SIS SMS 2953-1971 Messung von Metall- und Oxidschichtdicken durch mikroskopische Untersuchung von Querschnitten

RO-ASRO, Hochleistungs-Messmikroskop

STAS 10552-1976 BESTIMMUNG DES DELTA-FERRIT-GEHALTS IM ABGESCHLOSSENEN METALL DURCH SCHWEISSEN AUSTENITISCHER STÄHLE Mikroskopische Methode
STAS 9070-1981 WOLLE Bestimmung des Faserdurchmessers und des Markfasergehalts mittels Tlie-Projektionsmikroskop

ZA-SANS, Hochleistungs-Messmikroskop

SANS 144:1982 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode

German Institute for Standardization, Hochleistungs-Messmikroskop

DIN 58959-4:1997 Qualitätsmanagement in der medizinischen Mikrobiologie – Teil 4: Anforderungen an lichtmikroskopische Untersuchungen
DIN EN ISO 9220:2022-05 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022
DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotechnologien - Methoden zur Vorbereitung und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Transmissionsrasterelektronenmikroskopie (TSEM)
DIN EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO/DIS 9220:2021); Deutsche und englische Version prEN ISO 9220:2021
DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021); Deutsche Fassung EN ISO 19749:2023
DIN EN ISO 21363:2022-03 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020); Deutsche Fassung EN ISO 21363:2022
DIN 22020-5:2005-02 Untersuchungen des Rohstoffes im Steinkohlenbergbau - Mikroskopische Untersuchungen von Steinkohle, Koks und Briketts - Teil 5: Reflexionsmessungen an Vitriniten / Hinweis: Neben dieser Norm behält die DIN 22020-5 (1986-09) bis 2005-07 ihre Gültigkeit -31.
DIN EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Mikroskopisches Verfahren (ISO 1463:2021); Deutsche Fassung EN ISO 1463:2021
DIN EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:1988); Deutsche Fassung EN ISO 9220:1994
DIN EN ISO 2128:2010-12 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen - Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten - Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop (ISO 2128:2010); Deutsche Fassung EN ISO 2128:2010

European Committee for Standardization (CEN), Hochleistungs-Messmikroskop

EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
EN ISO 9220:1994 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode (ISO 9220: 1988)
EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021)
prEN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)
prEN ISO 21363:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020)
EN ISO 13383-2:2016 Feinkeramik (Hochleistungskeramik, technische Hochleistungskeramik) – Mikrostrukturelle Charakterisierung – Teil 2: Bestimmung des Phasenvolumenanteils durch Auswertung von Mikroaufnahmen (ISO 13383-2:2012)

Danish Standards Foundation, Hochleistungs-Messmikroskop

DS/EN ISO 1463:1994 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
DS/EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
DS/ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
DS/EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2021)
DS/EN ISO 2128:2010 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten – Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop

PL-PKN, Hochleistungs-Messmikroskop

PN C05551-1987 Wasser und Abwasser Bestimmung der Phytoplanktonmenge mittels Inversmikroskop

RU-GOST R, Hochleistungs-Messmikroskop

GOST R 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope
GOST R 8.631-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Überprüfung
GOST 8.003-2010 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Mikroskope für den Werkzeugbau. Überprüfungsverfahren
GOST R ISO 27911-2015 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops
GOST R 8.636-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Kalibrierung
GOST 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methode zur Überprüfung
GOST R 8.630-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methoden zur Überprüfung
GOST R 8.700-2010 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Methode zur Messung der effektiven Höhe der Oberflächenrauheit mittels Rasterkraftmikroskop
GOST 8.593-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methode zur Überprüfung
GOST R 8.635-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methode zur Kalibrierung
GOST R 8.593-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methode zur Überprüfung
GOST R 8.697-2010 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Interpenarabstände in Kristallen. Verfahren zur Messung mittels Transmissionselektronenmikroskop

ES-UNE, Hochleistungs-Messmikroskop

UNE-EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2021)
UNE-EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
UNE-EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und -formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Februar 2022.)
UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen durch Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Mai 2023.)

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Hochleistungs-Messmikroskop

GB/T 40066-2021 Nanotechnologien – Dickenmessung von Graphenoxid – Rasterkraftmikroskopie (AFM)

PH-BPS, Hochleistungs-Messmikroskop

PNS ISO 21363:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie

Professional Standard - Nuclear Industry, Hochleistungs-Messmikroskop

EJ/T 20176-2018 Rasterkraftmikroskop-Messmethode zur Kantenschärfe von Diamantwerkzeugen

未注明发布机构, Hochleistungs-Messmikroskop

DIN EN ISO 1463 E:2020-06 Microscopic method for measuring coating thickness of metallic and oxide coatings (draft)
DIN EN ISO 21363 E:2021-09 Nanotechnology Measurement of Particle Size and Shape Distribution by Transmission Electron Microscopy (Draft)
DIN EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Partikelformverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie

Professional Standard - Commodity Inspection, Hochleistungs-Messmikroskop

SN/T 3231-2012 Bestimmung von Asbest in Talkum. Polarisiertes Lichtmikroskop und Röntgenbeugungsmethode
SN/T 3131-2012 Bestimmung von Asbest in Fahrradbremsgummis. Palarislichtmikroskop und Röntgenbeugungsmethode

AENOR, Hochleistungs-Messmikroskop

UNE-EN ISO 9220:1996 METALLISCHE BESCHICHTUNGEN. MESSUNG DER BESCHICHTUNGSDICKE. VERFAHREN MIT EINEM RASTERELEKTRONENMIKROSKOP. (ISO 9220:1988).
UNE-EN ISO 1463:2005 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2003)
UNE-EN ISO 2128:2011 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten – Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop (ISO 2128:2010)

Lithuanian Standards Office , Hochleistungs-Messmikroskop

LST EN ISO 9220:2001 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)
LST EN ISO 1463:2004 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2003)
LST EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2021)
LST ISO 8672:2001 Luftqualität. Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie. Membranfiltermethode
LST EN ISO 2128:2011 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten – Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop (ISO 2128:2010)

AT-ON, Hochleistungs-Messmikroskop

OENORM EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2021)
OENORM EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)
OENORM EN ISO 21363:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020)

CH-SNV, Hochleistungs-Messmikroskop

SN EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2021)
VSM 34130-1934 Eloxieren von Aluminium und Aluminiumlegierungen. Bestimmung der Dicke des anodischen Oxidfilms. Zerstörungsfreie Messungen mittels Strahlteilungsmikroskopie
VSM 18653.1-1965 Eloxieren von Aluminium und Aluminiumlegierungen. Bestimmung der Dicke des anodischen Oxidfilms. Zerstörungsfreie Messungen mittels Strahlteilungsmikroskopie

NO-SN, Hochleistungs-Messmikroskop

NS 1181-1979 Metall- und Oxidbeschichtungen – Messung der Dicke durch mikroskopische Untersuchung von Querschnitten

CU-NC, Hochleistungs-Messmikroskop

NC 90-01-50-1987 Metrologische Sicherheit. Methoden und Mittel zur Überprüfung von Instrumentierungsmikroskopen

TIA - Telecommunications Industry Association, Hochleistungs-Messmikroskop

TIA/EIA-455-45-B-1992 FOTP-45 Method for Measuring Optical Fiber Geometry Using a Laboratory Microscope (Withdrawn May@ 2003)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Hochleistungs-Messmikroskop

GB/T 34879-2017 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Metrologische Eigenschaften und Leitfaden zur Messunsicherheit für optische konfokale Mikroskope

YU-JUS, Hochleistungs-Messmikroskop

JUS U.M1.056-1993 Beton – Bestimmung der Inhaltsstoffe und des Faktors Porenabstand von Porenbeton mittels Linienmikroskopanalyse

IT-UNI, Hochleistungs-Messmikroskop

UNI 6500-1969 Anodische Oxidationsbeschichtung aus Aluminium und seinen Legierungen. Messung der Belagdicke mit einem optischen Mikroskop

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, Hochleistungs-Messmikroskop

SPB-M6-2-2010 08. Apr.: Kolloidale Wechselwirkungen zwischen Asphalten und verschiedenen Oberflächen, gemessen durch Rasterkraftmikroskopie (AFM)