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Split-Beam-Mikroskopie

Für die Split-Beam-Mikroskopie gibt es insgesamt 500 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Split-Beam-Mikroskopie die folgenden Kategorien: Wortschatz, Optische Ausrüstung, Luftqualität, analytische Chemie, Drähte und Kabel, Kraftstoff, Oberflächenbehandlung und Beschichtung, Nichteisenmetalle, Partikelgrößenanalyse, Screening, Längen- und Winkelmessungen, Kohle, Fluidkraftsystem, medizinische Ausrüstung, Mikrobiologie, erziehen, Physik Chemie, Optik und optische Messungen, Elektrische Geräte, die unter besonderen Arbeitsbedingungen verwendet werden, Optoelektronik, Lasergeräte, Textilfaser, Textilprodukte, Papier und Pappe, Metallkorrosion, füttern, Chemikalien, Fruchtfleisch, Baumaterial, Prüfung von Metallmaterialien, Umfangreiche Testbedingungen und -verfahren, Elektronische Anzeigegeräte, Metallproduktion, Kernenergietechnik, Medizinische Wissenschaften und Gesundheitsgeräte integriert, Kriminalprävention, Anorganische Chemie, Holzverarbeitungstechnologie, Schmierstoffe, Industrieöle und verwandte Produkte, organische Chemie, Glas, Plastik, Gefahrgutschutz.

International Organization for Standardization (ISO), Split-Beam-Mikroskopie

• ISO 22493:2008 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Vokabeln
• ISO 15932:2013 Mikrostrahlanalyse.Analytische Elektronenmikroskopie.Wortschatz
• ISO/TS 21383:2021 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Qualifizierung des Rasterelektronenmikroskops für quantitative Messungen
• ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
• ISO/CD 19214:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der scheinbaren Wachstumsrichtung drahtförmiger Kristalle mittels Transmissionselektronenmikroskopie
• ISO 25498:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Selektierte Elektronenbeugungsanalyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop
• ISO 25498:2018 Mikrostrahlanalyse - Analytische Elektronenmikroskopie - Elektronenbeugungsanalyse ausgewählter Bereiche unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
• ISO 19056-3:2022 Mikroskope – Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften – Teil 3: Auflicht-Fluoreszenzmikroskopie mit inkohärenten Lichtquellen
• ISO 23420:2021 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
• ISO 19214:2017 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der scheinbaren Wachstumsrichtung drahtförmiger Kristalle mittels Transmissionselektronenmikroskopie
• ISO 24639:2022 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse durch Elektronenenergieverlustspektroskopie
• ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methode zur Bewertung kritischer Abmessungen mittels CD-SEM
• ISO 2128:2010 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten – Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop
• ISO 2128:1976 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen; Bestimmung der Dicke anodischer Oxidschichten; Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop
• ISO 29301:2017 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
• ISO 16592:2006 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Richtlinien zur Bestimmung des Kohlenstoffgehalts von Stählen mithilfe einer Kalibrierkurvenmethode
• ISO 16592:2012 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Richtlinien zur Bestimmung des Kohlenstoffgehalts von Stählen mithilfe einer Kalibrierkurvenmethode
• ISO 19056-1:2015 Mikroskope – Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften – Teil 1: Bildhelligkeit und Gleichmäßigkeit in der Hellfeldmikroskopie
• ISO 10936-1:2017 Optik und Photonik – Operationsmikroskope – Teil 1: Anforderungen und Prüfverfahren
• ISO 17470:2004 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Richtlinien für die qualitative Punktanalyse mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektrometrie
• ISO 20263:2017 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der Grenzflächenposition im Querschnittsbild der Schichtmaterialien
• ISO 10936-1:2000 Optik und optische Instrumente - Operationsmikroskope - Teil 1: Anforderungen und Prüfverfahren
• ISO 29301:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Transmissionselektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
• ISO 4912:1981 Textilien; Baumwollfasern; Reifebewertung; Mikroskopische Methode
• ISO/TR 14880-5:2010 Optik und Photonik – Mikrolinsenarrays – Teil 5: Anleitung zum Testen
• ISO/CD 20263:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methode zur Bestimmung der Grenzflächenposition im Querschnittsbild der Schichtmaterialien
• ISO 8672:2014 Luftqualität – Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern mittels Phasenkontrast-Lichtmikroskopie – Membranfilterverfahren
• ISO 8672:1993 Luftqualität; Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie; Membranfilterverfahren
• ISO 18337:2015 Chemische Oberflächenanalyse – Oberflächencharakterisierung – Messung der lateralen Auflösung eines konfokalen Fluoreszenzmikroskops
• ISO 19463:2018 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalysegerät (EPMA) – Richtlinien zur Durchführung von Qualitätssicherungsverfahren
• ISO/CD 22262-2:2011 Luftqualität – Schüttgüter – Teil 2: Quantitative Bestimmung von Asbest durch gravimetrische und mikroskopische Methoden
• ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
• ISO 21222:2020 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmodule für nachgiebige Materialien unter Verwendung des Rasterkraftmikroskops und der Zweipunkt-JKR-Methode
• ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• ISO 9220:1988 Metallische Beschichtungen; Messung der Schichtdicke; Rasterelektronenmikroskop-Methode
• ISO 19056-2:2019 Mikroskope – Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften – Teil 2: Beleuchtungseigenschaften im Zusammenhang mit der Farbe in der Hellfeldmikroskopie
• ISO 14880-2:2006 Optik und Photonik – Mikrolinsenarrays – Teil 2: Prüfmethoden für Wellenfrontaberrationen
• ISO/CD 4407 Hydraulische Fluidtechnik – Flüssigkeitsverunreinigung – Bestimmung der Partikelverunreinigung durch die Zählmethode unter Verwendung eines optischen Mikroskops
• ISO 22489:2006 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Quantitative Punktanalyse für Massenproben mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie
• ISO 22489:2016 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Quantitative Punktanalyse für Massenproben mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie
• ISO 14880-4:2006 Optik und Photonik – Mikrolinsenarrays – Teil 4: Prüfmethoden für geometrische Eigenschaften
• ISO/DIS 23124:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Messung der lateralen und axialen Auflösung des Raman-Mikroskops
• ISO/FDIS 23124:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Messung der lateralen und axialen Auflösung eines Raman-Mikroskops
• ISO 7404-5:2009 Methoden zur petrographischen Analyse von Kohlen – Teil 5: Methode zur mikroskopischen Bestimmung des Reflexionsgrads von Vitrinit
• ISO/FDIS 29301:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
• ISO 29301:2023 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
• ISO 14595:2003 Analyse mit Mikrometern - Mikroanalyse mit Elektronensonden - Richtlinien für die Spezifikation von Referenzzertifizierungsmaterialien (CRM) (Erstausgabe)
• ISO 14595:2014 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Richtlinien für die Spezifikation zertifizierter Referenzmaterialien (CRMs)
• ISO 22262-2:2014 Luftqualität – Schüttgüter – Teil 2: Quantitative Bestimmung von Asbest mit gravimetrischen und mikroskopischen Methoden
• ISO 4407:2002 Hydraulische Fluidtechnik - Flüssigkeitsverunreinigung - Bestimmung der Partikelverunreinigung durch das Zählverfahren unter Verwendung eines optischen Mikroskops
• ISO 11952:2019 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen
• ISO 11952:2014 Oberflächenchemische Analyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen
• ISO 8255-2:1997 Optik und optische Instrumente – Mikroskope – Deckgläser – Teil 2: Qualität der Materialien, Standards der Verarbeitung und Art der Verpackung (zweite Auflage)
• ISO 8037-2:1997 Optik und optische Instrumente - Mikroskope - Objektträger - Teil 2: Materialqualität, Verarbeitungsstandards und Verpackungsart
• ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
• ISO 13067:2011 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Messung der durchschnittlichen Korngröße
• ISO 14880-3:2006 Optik und Photonik – Mikrolinsenarrays – Teil 3: Prüfverfahren für optische Eigenschaften außer Wellenfrontaberrationen
• ISO 17470:2014 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Richtlinien für die qualitative Punktanalyse mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektrometrie
• ISO 17751-1:2023 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 1: Lichtmikroskopische Methode
• ISO/FDIS 17751-1 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 1: Lichtmikroskopische Methode
• ISO 17751-1:2016 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle, anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 1: Lichtmikroskopische Methode
• ISO 14595:2003/Cor 1:2005 Analysieren mit Mikrometern - Mikroanalysieren mit Elektronensonden - Richtlinien für die Spezifikation von Referenzmaterialien (CRM) RECTIFICATIF TECHNIQUE 1 (Erstausgabe)
• ISO 15632:2021 Mikrostrahlanalyse – Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer (EDS) zur Verwendung mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) oder einem Elektronenstrahl-Mikroanalysegerät (EPMA)
• ISO 15632:2012 Mikrostrahlanalyse – Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer für den Einsatz in der Elektronensonden-Mikroanalyse
• ISO 11938:2012 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Methoden zur Elementkartierungsanalyse mittels wellenlängendispersiver Spektroskopie
• ISO 24173:2009 Mikrostrahlanalyse – Richtlinien für die Orientierungsmessung mittels Elektronenrückstreubeugung
• ISO 22309:2011 Mikrostrahlanalyse – Quantitative Analyse mittels energiedispersiver Spektrometrie (EDS) für Elemente mit einer Ordnungszahl von 11 (Na) oder höher
• ISO 18369-3:2006 Augenoptik - Kontaktlinsen - Teil 3: Messmethoden
• ISO 8037-2:1997/cor 1:2002 Optik und optische Instrumente – Mikroskope; Objektträger – Teil 2: Qualität des Materials, Standards der Verarbeitung und Art der Verpackung; Technische Berichtigung 1
• ISO 15632:2002 Mikrostrahlanalyse – Instrumentelle Spezifikation für energiedispersive Röntgenspektrometer mit Halbleiterdetektoren

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Split-Beam-Mikroskopie

• KS D ISO 22493:2012 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Vokabeln
• KS D ISO 16592:2011 Mikrostrahlanalyse – Elektronensonden-Mikroanalyse – Richtlinien zur Bestimmung des Kohlenstoffgehalts von Stählen mithilfe einer Kalibrierungskurvenmethode
• KS I ISO 4407:2012 Hydraulikflüssigkeitstechnik – Flüssigkeitsverunreinigung – Bestimmung der Partikelverunreinigung durch die Zählmethode unter Verwendung eines optischen Mikroskops
• KS E 4005-2007(2012) Tragbares Polarisationsmikroskop zur Probenahme und Bestimmung nicht brennbarer Stoffe in Kohle- und Gesteinsstaubgemischen
• KS E 4005-1981 Tragbares Polarisationsmikroskop zur Probenahme und Bestimmung nicht brennbarer Stoffe in Kohle- und Gesteinsstaubgemischen
• KS B ISO 10936-1:2006 Optik und optische Instrumente – Operationsmikroskope – Teil 1: Anforderungen und Prüfmethoden
• KS B ISO 10936-1-2006(2016) Optik und optische Instrumente – Operationsmikroskope – Teil 1: Anforderungen und Prüfverfahren
• KS D 2713-2006 Bewertung der räumlichen Auflösung von NSOM (Near-field Scanning Optical Microscope)
• KS D 2714-2006 Rastersondenmikroskop-Methode für Querkraftmikroskope
• KS M ISO 8254-3:2022 Papier und Pappe – Messung des Spiegelglanzes – Teil 3: 20°-Glanz mit einem konvergierenden Strahl, TAPPI-Methode
• KS I ISO 8672:2006 Luftqualität – Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie (Membranfiltermethode)
• KS M ISO 8254-1:2019 Papier und Karton – Messung des Spiegelglanzes – Teil 1: 75°-Glanz mit einem konvergierenden Strahl, TAPPI-Methode
• KS D 8544-2006 Metallische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – Transmissionselektronenmikroskopie-Methode
• KS D 8544-2016(2021) Metallische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – Transmissionselektronenmikroskopie-Methode
• KS D ISO 2128:2011 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten – zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop
• KS D ISO 16592-2011(2016) Mikrostrahlanalyse – Elektronensonden-Mikroanalyse – Richtlinien zur Bestimmung des Kohlenstoffgehalts von Stählen mithilfe einer Kalibrierungskurvenmethode
• KS B ISO 10936-1-2006(2021) Optik und optische Instrumente – Operationsmikroskope – Teil 1: Anforderungen und Prüfverfahren
• KS D 0204-2007 Stahl – Bestimmung des Gehalts an nichtmetallischen Einschlüssen – Mikrografische Methode unter Verwendung von Standarddiagrammen
• KS D ISO 9220:2009 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• KS D ISO 9220-2009(2022) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• KS D 8519-2009(2015) Metallische und oxidische Beschichtung – Messung der Schichtdicke – mikroskopische Methode
• KS D ISO 9220-2009(2017) Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• KS D 0204-1982 Stahl – Bestimmung des Gehalts an nichtmetallischen Einschlüssen – Mikrografische Methode unter Verwendung von Standarddiagrammen
• KS M ISO 8254-2:2019 Papier und Pappe – Messung des Spiegelglanzes – Teil 2: 75°-Glanz mit einem Parallelstrahl, DIN-Methode
• KS I ISO 8672-2006(2017) Luftqualität – Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie (Membranfiltermethode)
• KS B ISO 14880-2:2013 Optik und Photonik – Mikrolinsenarrays – Teil 2: Prüfmethoden für Wellenfrontaberrationen
• KS B ISO 14880-2:2008 Optik und Photonik – Mikrolinsenarrays – Teil 2: Testmethoden für Wellenfrontaberrationen
• KS D ISO 22309-2011(2016) Mikrostrahlanalyse－Quantitative Analyse mittels energiedispersiver Spektrometrie (EDS)
• KS D ISO 22489:2012 Mikrostrahlanalyse－Elektronensonden-Mikroanalyse－Quantitative Punktanalyse für Massenproben mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie
• KS C IEC 62629-12-1:2022 3D-Anzeigegeräte – Teil 12-1: Messmethoden für stereoskopische Anzeigen mit Brillen – Optisch
• KS I ISO 4407:2017 Hydraulikflüssigkeitstechnik – Flüssigkeitsverunreinigung – Bestimmung der Partikelverunreinigung durch die Zählmethode unter Verwendung eines optischen Mikroskops
• KS I ISO 4407-2017(2022) Hydraulikflüssigkeitstechnik – Flüssigkeitsverunreinigung – Bestimmung der Partikelverunreinigung durch die Zählmethode unter Verwendung eines optischen Mikroskops
• KS I ISO 8672:2021 Luftqualität – Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie – Membranfiltermethode
• KS D ISO 22309-2011(2021) Mikrostrahlanalyse－Quantitative Analyse mittels energiedispersiver Spektrometrie (EDS)
• KS D 8310-2001(2021) Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Masse pro Flächeneinheit (Oberflächendichte) von anodischen Oxidbeschichtungen (gravimetrische Methode) und Bestimmung der Dicke von anodischen Oxidbeschichtungen (nicht bestimmt).
• KS I ISO 13794-2008(2018) Umgebungsluft – Bestimmung von Asbestfasern – Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
• KS K ISO 17751-1:2019 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen Spezialfasern tierischen Ursprungs und deren Mischungen – Teil 1: Lichtmikroskopische Methode Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen Spezialfasern
• KS D ISO TR 17270:2007 Mikrostrahlanalyse – Analytische Transmissionselektronenmikroskopie – Technischer Bericht zur Bestimmung der experimentellen Parameter für die Elektronenenergieverlustspektroskopie
• KS D ISO 2128-2011(2016) Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten – zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop
• KS D ISO 2128-2011(2021) Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten – zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop
• KS D ISO 14594:2018 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Richtlinien zur Bestimmung experimenteller Parameter für die wellenlängendispersive Spektroskopie
• KS D ISO 22489:2018 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Quantitative Punktanalyse für Massenproben mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie
• KS E ISO 7404-5:2013 Methoden zur petrographischen Analyse von Steinkohle und Anthrazit – Teil 5: Methode zur mikroskopischen Bestimmung des Reflexionsgrads von Vitrinit
• KS E ISO 7404-5:2003 Methoden zur petrographischen Analyse von Steinkohle und Anthrazit – Teil 5: Methode zur mikroskopischen Bestimmung des Reflexionsgrads von Vitrinit
• KS D ISO 22309:2011 Mikrostrahlanalyse – Quantitative Analyse mittels energiedispersiver Spektrometrie (EDS)
• KS D 8310-2001(2016) Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Masse pro Flächeneinheit (Oberflächendichte) von anodischen Oxidbeschichtungen (gravimetrische Methode) und Bestimmung der Dicke von anodischen Oxidbeschichtungen (nicht bestimmt).
• KS D ISO 16592-2011(2021) Mikrostrahlanalyse – Elektronensonden-Mikroanalyse – Richtlinien zur Bestimmung des Kohlenstoffgehalts von Stählen mithilfe einer Kalibrierungskurvenmethode
• KS D ISO 15632:2012 Mikrostrahlanalyse – Instrumentenspezifikation für energiedispersive Röntgenspektrometer mit Halbleiterdetektoren

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Split-Beam-Mikroskopie

• JIS K 0149-1:2008 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Richtlinien zur Kalibrierung der Bildvergrößerung
• JIS K 3850-1:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
• JIS K 3850-1:2006 Bestimmung luftgetragener Faserpartikel – Teil 1: Optische Mikroskopie-Methode und Rasterelektronenmikroskopie-Methode
• JIS H 8680-3:1998 Prüfverfahren für die Dicke anodischer Oxidschichten auf Aluminium und Aluminiumlegierungen – Teil 3: Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop
• JIS K 0190:2010 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Richtlinien für die qualitative Punktanalyse mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektrometrie
• JIS A 1481-4:2016 Luftqualität – Schüttgüter – Teil 4: Quantitative Bestimmung von Asbest mit gravimetrischen und mikroskopischen Methoden
• JIS M 8816:1992 Feste mineralische Brennstoffe – Methoden der mikroskopischen Messung von Mazeralen und Reflexionsgrad
• JIS K 0189:2013 Mikrostrahlanalyse.Elektronensonden-Mikroanalyse.Bestimmung experimenteller Parameter für die wellenlängendispersive Röntgenspektroskopie
• JIS K 3850-3:2000 Messmethode für luftgetragene Faserpartikel – Teil 3: Methode der indirekten Transmissionselektronenmikroskopie
• JIS K 3850-2:2000 Messverfahren für luftgetragene Faserpartikel – Teil 2: Direkttransfer-Transmissionselektronenmikroskopie-Verfahren
• JIS B 9930:2006 Hydraulikflüssigkeitstechnik -- Flüssigkeitsverunreinigung -- Bestimmung der Partikelverunreinigung durch die Zählmethode unter Verwendung eines optischen Mikroskops
• JIS H 8680-3:2013 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen. Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten. Teil 3: Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop

British Standards Institution (BSI), Split-Beam-Mikroskopie

• BS ISO 25498:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Elektronenmikroskopie – Selektierte Elektronenbeugungsanalyse mit einem Transmissionselektronenmikroskop
• BS ISO 23420:2021 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
• BS ISO 19056-3:2022 Mikroskope. Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften – Auflicht-Fluoreszenzmikroskopie mit inkohärenten Lichtquellen
• 20/30380369 DC BS ISO 23420. Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Energieauflösung für die Analyse des Elektronenenergieverlustspektrums
• BS ISO 21466:2019 Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen durch CDSEM
• 21/30395346 DC BS ISO 19056-3. Mikroskope. Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften. Teil 3. Auflicht-Fluoreszenzmikroskopie mit inkohärenten Lichtquellen
• BS ISO 16592:2012 Mikrostrahlanalyse. Elektronensonden-Mikroanalyse. Richtlinien zur Bestimmung des Kohlenstoffgehalts von Stählen mithilfe einer Kalibrierungskurvenmethode
• BS ISO 10936-1:2017 Optik und Photonik. Operationsmikroskope. Anforderungen und Testmethoden
• BS ISO 19056-1:2015 Mikroskope. Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften. Bildhelligkeit und Gleichmäßigkeit in der Hellfeldmikroskopie
• 18/30344520 DC BS ISO 21466. Mikrostrahlanalyse. Rasterelektronenmikroskopie. Methode zur Bewertung kritischer Dimensionen mittels CD-SEM
• BS ISO 24639:2022 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie
• BS EN 14086:2003 Papier und Karton – Messung des Spiegelglanzes – 45°-Glanz mit Parallelstrahl, DIN-Methode
• 21/30404763 DC BS ISO 24639. Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Kalibrierungsverfahren der Energieskala für die Elementaranalyse mittels Elektronenenergieverlustspektroskopie
• BS ISO 8672:2014 Luftqualität. Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie. Membranfiltermethode
• BS ISO 20263:2017 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Grenzflächenposition im Querschnittsbild der Schichtmaterialien
• BS ISO 18337:2015 Chemische Oberflächenanalyse. Oberflächencharakterisierung. Messung der lateralen Auflösung eines konfokalen Fluoreszenzmikroskops
• BS ISO 29301:2010 Mikrostrahlanalyse – Analytische Transmissionselektronenmikroskopie – Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
• BS EN ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
• BS EN ISO 2128:2010 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen. Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten. Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop
• BS EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
• BS ISO 21222:2020 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmoduli für nachgiebige Materialien mittels Rasterkraftmikroskop und der Zweipunkt-JKR-Methode
• BS ISO 7404-5:2009 Methoden zur petrographischen Analyse von Kohlen – Methode zur mikroskopischen Bestimmung des Reflexionsgrades von Vitrinit
• BS ISO 17470:2014 Mikrostrahlanalyse. Elektronensonden-Mikroanalyse. Richtlinien für die qualitative Punktanalyse mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektrometrie
• 19/30351707 DC BS ISO 21222. Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Verfahren zur Bestimmung der Elastizitätsmoduli für nachgiebige Materialien mittels Rasterkraftmikroskop und der Zweipunkt-JKR-Methode
• 18/30339980 DC BS ISO 19056-2. Mikroskope. Definition und Messung von Beleuchtungseigenschaften. Teil 2. Beleuchtungseigenschaften im Zusammenhang mit der Farbe in der Hellfeldmikroskopie
• BS ISO 11938:2013 Mikrostrahlanalyse. Elektronensonden-Mikroanalyse. Methoden zur Elementkartierungsanalyse mittels wellenlängendispersiver Spektroskopie
• BS ISO 22262-2:2014 Luftqualität. Schüttgut. Quantitative Bestimmung von Asbest durch gravimetrische und mikroskopische Methoden
• 19/30394914 DC BS ISO 15632. Mikrostrahlanalyse. Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer für den Einsatz im Elektronenstrahlmikroskop oder einem Elektronenstrahlmikroanalysator (EPMA)
• BS ISO 29301:2017 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
• BS ISO 29301:2023 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Methoden zur Kalibrierung der Bildvergrößerung unter Verwendung von Referenzmaterialien mit periodischen Strukturen
• BS ISO 22489:2007 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Quantitative Punktanalyse für Massenproben mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie
• BS ISO 22489:2016 Mikrostrahlanalyse. Elektronensonden-Mikroanalyse. Quantitative Punktanalyse für Massenproben mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie
• 21/30394409 DC BS ENISO 9220. Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode
• BS EN 12373-3:1999 Aluminium und Aluminiumlegierungen – Anodisieren – Teil 3: Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsbeschichtungen – zerstörungsfreie Messung mit einem Spaltstrahlmikroskop. Ratifizierter europäischer Text
• 20/30395419 DC BS EN ISO 1463. Metall- und Oxidbeschichtungen. Messung der Schichtdicke. Mikroskopische Methode
• BS ISO 4407:2002 Hydraulische Fluidtechnik - Flüssigkeitsverunreinigung - Bestimmung der Partikelverunreinigung durch das Zählverfahren unter Verwendung eines optischen Mikroskops
• BS ISO 19749:2021 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
• BS ISO 14595:2003 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Richtlinien für die Spezifikation zertifizierter Referenzmaterialien (CRMs)
• BS ISO 14595:2014 Mikrostrahlanalyse. Elektronenstrahl-Mikroanalyse. Richtlinien für die Spezifikation zertifizierter Referenzmaterialien (CRMs).
• 23/30420097 DC BS ISO 23124 Oberflächenchemische Analyse. Messung der lateralen und axialen Auflösung des Raman-Mikroskops
• BS EN ISO 17751-1:2016 Textilien. Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen. Lichtmikroskopische Methode
• BS EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
• BS EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
• BS ISO 21363:2020 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
• BS ISO 13067:2011 Mikrostrahlanalyse. Elektronenrückstreubeugung. Messung der durchschnittlichen Korngröße
• BS EN 62629-22-1:2013 3D-Anzeigegeräte. Messmethoden für autostereoskopische Displays. Optisch
• BS 6127-5:1995 Petrographische Analyse von Steinkohle und Anthrazit – Methode zur mikroskopischen Bestimmung des Reflexionsgrads von Vitrinit
• BS DD ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien. Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse
• BS ISO 11952:2019 Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Bestimmung geometrischer Größen mittels SPM: Kalibrierung von Messsystemen
• BS ISO 15632:2012 Mikrostrahlanalyse. Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer für den Einsatz in der Elektronensonden-Mikroanalyse
• BS ISO 15632:2021 Mikrostrahlanalyse. Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer (EDS) zur Verwendung mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) oder einem Elektronenstrahl-Mikroanalysegerät (EPMA)
• 18/30351714 DC BS ISO 21363. Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
• 18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Split-Beam-Mikroskopie

• GB/T 8014.3-2005 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen – Die Methode zur Messung der Dicke von anodischen Oxidbeschichtungen Teil 3: Spaltstrahlmikroskop-Methode
• GB/T 18907-2013 Mikrostrahlanalyse. Analytische Elektronenmikroskopie. Selektierte Elektronenbeugungsanalyse unter Verwendung eines Transmissionselektronenmikroskops
• GB/T 32282-2015 Messung der Versetzungsdichte in Galliumnitrid-Einkristallen mittels Kathodolumineszenzmikroskopie
• GB/T 29190-2012 Messmethoden der Driftrate des Rastersondenmikroskops
• GB/T 15247-2008 Mikrostrahlanalyse.Elektronensonden-Mikroanalyse.Richtlinien zur Bestimmung des Kohlenstoffgehalts von Stählen mithilfe der Kalibrierungskurvenmethode
• GB/T 25189-2010 Mikrostrahlanalyse. Bestimmungsmethode für quantitative Analyseparameter von SEM-EDS
• GB/T 6462-2005 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
• GB/T 17361-2013 Mikrostrahlanalyse. Identifizierung authentischer Tonminerale in Sedimentgesteinen mittels Rasterelektronenmikroskop und energiedispersivem Spektrometer
• GB/T 28634-2012 Mikrostrahlanalyse.Elektronensonden-Mikroanalyse.Quantitative Punktanalyse für Massenproben mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie
• GB/T 30705-2014 Mikrostrahlanalyse.Elektronensonden-Mikroanalyse.Richtlinien zur Bestimmung experimenteller Parameter für die wellenlängendispersive Spektroskopie
• GB/T 42659-2023 Oberflächenchemische Analyse Rastersondenmikroskopie Bestimmung geometrischer Größen mittels Rastersondenmikroskopie: Messsystemkalibrierung
• GB 8015.2-1987 Prüfverfahren für die Dicke eloxierter Filme auf Aluminium und Aluminiumlegierungen – Split-Beam-Mikroskopie
• GB/T 43610-2023 Transmissionselektronenmikroskopische Methode zur Bestimmung der scheinbaren Wachstumsrichtung linearer Kristalle mittels Mikrostrahlanalyse und Elektronenmikroskopie
• GB/T 31227-2014 Prüfverfahren für die Oberflächenrauheit mittels Rasterkraftmikroskop für gesputterte Dünnfilme
• GB/T 19267.6-2003 Physikalische und chemische Untersuchung von Spuren in der Forensik – Teil 6: Rasterelektronenmikroskopie
• GB/T 19267.8-2008 Physikalische und chemische Untersuchung von Spuren in der Forensik. Teil 8: Mikrospektrophotometrie
• GB/T 19267.8-2003 Physikalische und chemische Untersuchung von Spurenspuren in der Forensik – Teil 8: Mikrospektrophometrie
• GB/T 20082-2006 Hydraulikflüssigkeitstechnik – Flüssigkeitsverunreinigung – Bestimmung der Partikelverunreinigung durch die Zählmethode unter Verwendung eines optischen Mikroskops
• GB/T 43088-2023 Methode zur Bestimmung der Versetzungsdichte in metallischen Dünnkristallproben mittels Mikrostrahlanalyse und Elektronenmikroskopie
• GB/T 19267.6-2008 Physikalische und chemische Untersuchung von Spuren in der Forensik. Teil 6: Rasterelektronenmikroskop/Röntgenenergiedispersive Spektrometrie
• GB/T 41805-2022 Methodik zur quantitativen Inspektion des Defekts auf der Optikoberfläche – Mikroskopische Streu-Dunkelfeld-Bildgebung
• GB/Z 21738-2008 Grundlegende Strukturen eindimensionaler Nanomaterialien. Charakterisierung durch hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie
• GB/T 16582-2008 Kunststoffe.Bestimmung des Schmelzverhaltens (Schmelztemperatur oder Schmelzbereich) von teilkristallinen Polymeren mittels Kapillarrohr- und Polarisationsmikroskop-Methoden
• GB/T 21783-2008 Plasties.Bestimmung des Schmelzverhaltens (Schmelztemperatur oder Schmelzbereich) teilkristalliner Polymere mittels Kapillarrohr- und Polarisationsmikroskop-Methoden

Association Francaise de Normalisation, Split-Beam-Mikroskopie

• X11-660:1983 Partikelgrößenanalyse mittels optischer Mikroskopmethode. Allgemeine Hinweise zum Mikroskop.
• NF X21-003:2006 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Richtlinien für die qualitative Punktanalyse mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektrometrie.
• XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse - Rasterelektronenmikroskopie - Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
• XP ISO/TS 24597:2011 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Methoden zur Beurteilung der Bildschärfe
• NF X11-661:1990 Partikelgrößenanalyse. Bestimmung der Partikelgröße von Pulvern. Optische Mikroskopmethode.
• NF X21-007:2008 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Richtlinien zur Bestimmung des Kohlenstoffgehalts von Stahl mithilfe einer Kalibrierungskurvenmethode.
• NF G06-008*NF EN ISO 20705:2020 Textilien - Quantitative mikroskopische Analyse - Allgemeine Prüfprinzipien
• NF EN ISO 20705:2020 Textilien – Quantitative Analyse mittels Mikroskopie – Allgemeine Prüfprinzipien
• NF A91-455-3:1999 Aluminium und Aluminiumlegierungen. Eloxieren. Teil 3: Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten. Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop.
• NF A91-110:2004 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode.
• NF A91-110*NF EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
• NF A91-108:1995 Metallische Beschichtungen. Messung der Schichtdicke. Rasterelektronenmikroskopische Methode.
• NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
• NF EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
• NF S10-132-2*NF EN ISO 14880-2:2007 Optik und Photonik – Mikrolinsenarrays – Teil 2: Testmethoden für Wellenfrontaberrationen
• NF Q03-101-1*NF EN ISO 8254-1:2009 Papier und Pappe – Messung des Spiegelglanzes – Teil 1: 75o-Glanz mit einem konvergierenden Strahl, TAPPI-Methode
• NF EN ISO 8254-2:2016 Papier und Pappe – Messung des Spiegelglanzes – Teil 2: Glanz bei 75 Grad mit einem Parallelstrahl, DIN-Methode
• NF S10-132-4*NF EN ISO 14880-4:2006 Optik und Phonotik – Mikrolinsenarrays – Teil 4: Prüfmethoden für geometrische Eigenschaften.
• NF X43-050:2021 Luftqualität – Bestimmung der Asbestfaserkonzentration mittels Transmissionselektronenmikroskopie – Indirekte Methode
• NF A91-481*NF EN ISO 2128:2010 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten – Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop
• NF X21-006:2007 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Quantitative Punktanalyse für Massenproben mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie.
• NF EN ISO 17751-1:2016 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle, anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 1: Methode der optischen Mikroskopie
• NF X21-001:2006 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Richtlinien für die Spezifikation zertifizierter Referenzmaterialien (CRMs).
• NF X43-066-2*NF ISO 22262-2:2014 Luftqualität – Schüttgüter – Teil 2: Quantitative Bestimmung von Asbest durch gravimetrische und mikroskopische Methoden
• NF Q03-101-2*NF EN ISO 8254-2:2016 Papier und Pappe – Messung des Spiegelglanzes – Teil 2: 75-Grad-Glanz mit einem Parallelstrahl, DIN-Methode
• NF EN ISO 8254-1:2009 Papier und Pappe – Messung des Spiegelglanzes – Teil 1: Glanz bei 75° mit einem konvergierenden Strahl, TAPPI-Methode
• NF T16-404:2020 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
• NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
• NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
• NF X43-050:1996 Luftqualität. Bestimmung der Asbestfaserkonzentration mittels Transmissionselektronenmikroskopie. Indirekte Methode.
• NF E48-660:1991 Hydraulikflüssigkeitssysteme. Flüssigkeiten. Bestimmung der Feststoffpartikelverunreinigung mittels Lichtmikroskop und Bildanalyse.
• NF EN 14086:2003 Papier und Pappe – Messung des Spiegelglanzes – Glanz bei 45° mit parallelem Strahl, DIN-Methode
• NF X21-002:2007 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Richtlinien zur Bestimmung experimenteller Parameter für die wellenlängendispersive Spektroskopie.
• NF E48-651*NF ISO 4407:2002 Hydraulische Fluidtechnik - Flüssigkeitsverunreinigung - Bestimmung der Partikelverunreinigung durch das Zählverfahren unter Verwendung eines optischen Mikroskops.
• NF G07-142-1*NF EN ISO 17751-1:2016 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 1: Lichtmikroskopie-Methode
• NF X21-013*NF ISO 11938:2012 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Methoden zur Elementkartierungsanalyse mittels wellenlängendispersiver Spektroskopie.
• NF X21-011*NF ISO 24173:2009 Mikrostrahlanalyse – Richtlinien für die Orientierungsmessung mittels Elektronenrückstreubeugung
• FD T16-203:2011 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse
• NF EN ISO 2128:2010 Anodisierung von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke der anodischen Schichten – Zerstörungsfreie Methode mit einem optischen Schnittmikroskop
• NF X21-008:2012 Mikrostrahlanalyse – Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Strahlenspektrometer für den Einsatz in der Elektronensonden-Mikroanalyse
• NF EN ISO 14880-2:2007 Optik und Photonik – Mikrolinsenarrays – Teil 2: Prüfmethoden für Wellenfrontaberrationen
• NF C93-546-22-1*NF EN 62629-22-1:2013 3D-Anzeigegeräte – Teil 22-1: Messmethoden für autostereoskopische Displays – Optisch

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Split-Beam-Mikroskopie

• GB/T 33834-2017 Mikrostrahlanalyse – Rasterelektronenmikroskopie – Rasterelektronenmikroskopanalyse biologischer Proben
• GB/T 34879-2017 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Metrologische Eigenschaften und Leitfaden zur Messunsicherheit für optische konfokale Mikroskope

IN-BIS, Split-Beam-Mikroskopie

• IS 5258-1969 Bestimmung der Pulverpartikelgröße durch optische Mikroskopie
• IS 11450-1986 Verfahren zur Bestimmung der Konzentration von Asbestfasern in der Luft in der Arbeitsumgebung mittels optischer Mikroskopie (Filtermembranverfahren)

American Society for Testing and Materials (ASTM), Split-Beam-Mikroskopie

• ASTM F728-81(1997)e1 Standardpraxis zur Vorbereitung eines optischen Mikroskops für Dimensionsmessungen
• ASTM F72-95(2001) Standardspezifikation für Golddraht zum Bonden von Halbleiterleitungen
• ASTM B588-88(2001) Standardtestmethode zur Messung der Dicke transparenter oder undurchsichtiger Beschichtungen mittels Doppelstrahl-Interferenzmikroskoptechnik
• ASTM B651-83(2019) Standardtestmethode zur Messung von Korrosionsstellen in galvanisierten Oberflächen mit Nickel plus Chrom oder Kupfer plus Nickel plus Chrom mit einem Zweistrahl-Interferenzmikroskop
• ASTM B651-83(2001) Standardtestmethode zur Messung von Korrosionsstellen in galvanisierten Oberflächen mit Nickel plus Chrom oder Kupfer plus Nickel plus Chrom mit dem Zweistrahl-Interferenzmikroskop
• ASTM B651-83(1995) Standardtestmethode zur Messung von Korrosionsstellen in galvanisierten Oberflächen mit Nickel plus Chrom oder Kupfer plus Nickel plus Chrom mit dem Zweistrahl-Interferenzmikroskop
• ASTM B651-83(2006) Standardtestmethode zur Messung von Korrosionsstellen in galvanisierten Oberflächen mit Nickel plus Chrom oder Kupfer plus Nickel plus Chrom mit einem Zweistrahl-Interferenzmikroskop
• ASTM B651-83(2015) Standardtestmethode zur Messung von Korrosionsstellen in galvanisierten Oberflächen mit Nickel plus Chrom oder Kupfer plus Nickel plus Chrom mit einem Zweistrahl-Interferenzmikroskop
• ASTM B651-83(2010) Standardtestmethode zur Messung von Korrosionsstellen in galvanisierten Oberflächen mit Nickel plus Chrom oder Kupfer plus Nickel plus Chrom mit einem Zweistrahl-Interferenzmikroskop
• ASTM F3294-18 Standardhandbuch für die Durchführung quantitativer Fluoreszenzintensitätsmessungen in zellbasierten Assays mit Weitfeld-Epifluoreszenzmikroskopie
• ASTM D5061-07 Standardtestmethode zur mikroskopischen Bestimmung der Texturbestandteile von metallurgischem Koks
• ASTM D5061-19 Standardtestmethode zur mikroskopischen Bestimmung der Texturbestandteile von metallurgischem Koks
• ASTM D5671-95(2005) Standardpraxis zum Polieren und Ätzen von Kohleproben für die mikroskopische Analyse durch reflektiertes Licht
• ASTM D4616-95(2000) Standardtestmethode für die mikroskopische Analyse durch reflektiertes Licht und Bestimmung der Mesophase in einem Pech
• ASTM D4616-95 Standardtestmethode für die mikroskopische Analyse durch reflektiertes Licht und Bestimmung der Mesophase in einem Pech
• ASTM D4616-95(2018) Standardtestmethode für die mikroskopische Analyse durch reflektiertes Licht und Bestimmung der Mesophase in einem Pech
• ASTM E1588-07 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
• ASTM E1588-07e1 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
• ASTM D2798-99 Standardtestmethode zur mikroskopischen Bestimmung des Reflexionsgrads von Vitrinit in einer polierten Kohleprobe
• ASTM D5235-13 Standardtestverfahren zur mikroskopischen Messung der Trockenschichtdicke von Beschichtungen auf Holzprodukten
• ASTM D5235-14 Standardtestverfahren zur mikroskopischen Messung der Trockenschichtdicke von Beschichtungen auf Holzprodukten
• ASTM D2799-12 Standardtestmethode zur mikroskopischen Bestimmung der Mazeralzusammensetzung von Kohle
• ASTM D2799-13 Standardtestmethode zur mikroskopischen Bestimmung der Mazeralzusammensetzung von Kohle
• ASTM E1588-95(2001) Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Spektroskopie
• ASTM E1588-08 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
• ASTM E1588-10 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
• ASTM E1588-95 Standardhandbuch für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Spektroskopie
• ASTM B748-90(1997) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
• ASTM D5235-18 Standardtestverfahren zur mikroskopischen Messung der Trockenschichtdicke von Beschichtungen auf Holzprodukten
• ASTM B748-90(2006) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
• ASTM D7708-23a Standardtestmethode zur mikroskopischen Bestimmung des Reflexionsvermögens von in Sedimentgesteinen dispergiertem Vitrinit
• ASTM E2808-11 Standardhandbuch für Mikrospektrophotometrie und Farbmessung in der forensischen Farbanalyse
• ASTM D5235-97 Standardtestverfahren zur mikroskopischen Messung der Trockenschichtdicke von Beschichtungen auf Holzprodukten
• ASTM B748-90(2021) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
• ASTM B748-90(2001) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
• ASTM B748-90(2016) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
• ASTM D7391-17 Standardtestmethode zur Kategorisierung und Quantifizierung luftgetragener Pilzstrukturen in einer Trägheitsimpaktionsprobe durch optische Mikroskopie
• ASTM D7391-20 Standardtestmethode zur Kategorisierung und Quantifizierung luftgetragener Pilzstrukturen in einer Trägheitsimpaktionsprobe durch optische Mikroskopie
• ASTM D7391-17e1 Standardtestmethode zur Kategorisierung und Quantifizierung luftgetragener Pilzstrukturen in einer Trägheitsimpaktionsprobe durch optische Mikroskopie
• ASTM E1588-20 Standardpraxis für die Analyse von Schussrückständen mittels Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersiver Röntgenspektrometrie
• ASTM C1356-96(2001) Standardtestmethode zur quantitativen Bestimmung von Phasen in Portlandzementklinker durch mikroskopisches Punktzählverfahren
• ASTM B748-90(2010) Standardtestmethode zur Messung der Dicke metallischer Beschichtungen durch Messung des Querschnitts mit einem Rasterelektronenmikroskop
• ASTM D7391-09 Standardtestmethode zur Kategorisierung und Quantifizierung luftgetragener Pilzstrukturen in einer Trägheitsimpaktionsprobe durch optische Mikroskopie
• ASTM D5770-02 Standardtestmethode zur semiquantitativen Mikrobestimmung der Säurezahl von Schmierölen während der Oxidationsprüfung
• ASTM D5770-96 Standardtestmethode zur semiquantitativen Mikrobestimmung der Säurezahl von Schmierölen während der Oxidationsprüfung
• ASTM D5770-02(2007) Standardtestmethode zur semiquantitativen Mikrobestimmung der Säurezahl von Schmierölen während der Oxidationsprüfung
• ASTM B487-20 Standardtestmethode zur Messung der Dicke von Metall- und Oxidbeschichtungen durch mikroskopische Untersuchung des Querschnitts
• ASTM B588-88(1994) Standardtestmethode zur Messung der Dicke transparenter oder undurchsichtiger Beschichtungen mittels Doppelstrahl-Interferenzmikroskoptechnik
• ASTM B588-88(2006) Standardtestmethode zur Messung der Dicke transparenter oder undurchsichtiger Beschichtungen mittels Doppelstrahl-Interferenzmikroskoptechnik
• ASTM C978-04 Standardtestverfahren zur photoelastischen Bestimmung der Restspannung in einer transparenten Glasmatrix unter Verwendung eines Polarisationsmikroskops und Verfahren zur Kompensation optischer Verzögerung
• ASTM C978-04(2009) Standardtestverfahren zur photoelastischen Bestimmung der Restspannung in einer transparenten Glasmatrix unter Verwendung eines Polarisationsmikroskops und Verfahren zur Kompensation optischer Verzögerung
• ASTM D7708-14 Standardtestmethode zur mikroskopischen Bestimmung des Reflexionsvermögens von in Sedimentgesteinen dispergiertem Vitrinit
• ASTM B588-88(2010) Standardtestmethode zur Messung der Dicke transparenter oder undurchsichtiger Beschichtungen mittels Doppelstrahl-Interferenzmikroskoptechnik

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Split-Beam-Mikroskopie

• CNS 11019-1984 Methode zur mikroskopischen Bestimmung des Reflexionsgrades organischer Bestandteile in einer polierten Kohleprobe
• CNS 11018-1984 Verfahren zur Vorbereitung von Kohleproben für die mikroskopische Analyse durch reflektiertes Licht
• CNS 11020-1984 Methode zur mikroskopischen Bestimmung des Volumenprozentsatzes der petrographischen Bestandteile von Kohle

VN-TCVN, Split-Beam-Mikroskopie

• TCVN 5876-1995 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen. Bestimmung der Dicke anodischer Oxidschichten. Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop
• TCVN 6035-1995 Textilien.Baumwollfasern.Bewertung der Reife.Mikroskopische Methode
• TCVN 6504-1999 Luftqualität.Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie.Membranfilterverfahren

TH-TISI, Split-Beam-Mikroskopie

• TIS 1083-1992 Standard zur Messung der Schichtdicke mittels mikroskopischer Methode

工业和信息化部, Split-Beam-Mikroskopie

• YS/T 1210-2018 Mikroskopische Polarisationstestmethode für den Sauerstoffgehalt in Kupfer
• SJ/T 11759-2020 Messung des Seitenverhältnisses von Photovoltaik-Zellenelektroden-Gitterlinien durch konfokale Laser-Scanning-Mikroskopie
• SJ/T 11591.4.1.1-2016 Stereoskopische Anzeigegeräte Teil 4-1-1: Messverfahren für brillenartige stereoskopische Anzeigegeräte – Optik und Optoelektronik

Professional Standard - Petrochemical Industry, Split-Beam-Mikroskopie

• SH/T 0336-1994 Bestimmungsmethode des Fettverunreinigungsgehalts (mikroskopische Methode)

(U.S.) Ford Automotive Standards, Split-Beam-Mikroskopie

• FORD FLTM EU-BA 053-1-2000 MIKROSKOPISCHE METHODE ZUR MESSUNG DER ENTKARBUNG AN FEDERSTÄHLEN

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Split-Beam-Mikroskopie

• GB/T 35098-2018 Mikrostrahlanalyse – Transmissionselektronenmikroskopie – Morphologische Identifizierungsmethode von Pflanzenviren durch Transmissionselektronenmikroskopie
• GB/T 40275-2021 Textilien – Quantitative Analyse von Bikomponentenfasern – Schmelzmikroskopie-Methode
• GB/T 40066-2021 Nanotechnologien – Dickenmessung von Graphenoxid – Rasterkraftmikroskopie (AFM)
• GB/T 38396-2019 Pechprodukte der Kohleverkohlung – Bestimmung des Mesophasengehalts – Mikroskopische Analyse durch Auflicht
• GB/T 40905.1-2021 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 1: Lichtmikroskopische Methode

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Split-Beam-Mikroskopie

• IPC TM-650 2.2.14.1-1995 Partikelgrößenverteilung des Lotpulvers – Messmikroskop-Methode

Professional Standard - Commodity Inspection, Split-Beam-Mikroskopie

• SN/T 3231-2012 Bestimmung von Asbest in Talkum. Polarisiertes Lichtmikroskop und Röntgenbeugungsmethode
• SN/T 3798-2014 Bestimmung von Asbest in Bau- und Automobilmaterialien. Polarisiertes Lichtmikroskop
• SN/T 3131-2012 Bestimmung von Asbest in Fahrradbremsgummis. Palarislichtmikroskop und Röntgenbeugungsmethode
• SN/T 2649.2-2010 Bestimmung von Asbest in importierten und exportierten Kosmetika. Teil 2: Röntgenbeugungs- und Polarisationslichtmikroskopie-Methode

European Committee for Standardization (CEN), Split-Beam-Mikroskopie

• EN ISO 2128:2010 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten – Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop (ISO 2128:2010)
• EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
• EN ISO 14880-2:2006 Optik und Photonik – Mikrolinsenarrays – Teil 2: Prüfmethoden für Wellenfrontaberrationen
• EN ISO 9220:1994 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode (ISO 9220: 1988)
• EN ISO 8254-2:2016 Papier und Pappe – Messung des Spiegelglanzes – Teil 2: 75-Grad-Glanz mit einer Parallelstrahl-DIN-Methode
• EN 12373-3:1998 Aluminium und Aluminiumlegierungen – Anodisieren – Teil 3: Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsbeschichtungen – zerstörungsfreie Messung mit einem Spaltstrahlmikroskop. Ratifizierter europäischer Text
• prEN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)
• EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021)
• EN ISO 14880-4:2006 Optik und Photonik – Mikrolinsenarrays – Teil 4: Prüfmethoden für geometrische Eigenschaften
• prEN ISO 21363:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020)
• EN ISO 17751-1:2016 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 1: Lichtmikroskopische Methode (ISO 17751-1:2016)
• EN ISO 14880-3:2006 Optik und Phonotik – Mikrolinsenarrays – Teil 3: Prüfverfahren für optische Eigenschaften außer Wellenfrontaberrationen
• EN ISO 18369-3:2017 Augenoptik - Kontaktlinsen - Teil 3: Messmethoden

German Institute for Standardization, Split-Beam-Mikroskopie

• DIN 58959-4:1997 Qualitätsmanagement in der medizinischen Mikrobiologie – Teil 4: Anforderungen an lichtmikroskopische Untersuchungen
• DIN 53943-3:1983 Prüfung von Textilien; Baumwollfaserreife; Bestimmung der prozentualen Reife; mikroskopische Methode unter Verwendung eines Polarisationsmikroskops
• DIN ISO 16592:2015 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Richtlinien zur Bestimmung des Kohlenstoffgehalts von Stählen mithilfe einer Kalibrierkurvenmethode (ISO 16592:2012)
• DIN EN ISO 9220:2022-05 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO 9220:2022); Deutsche Fassung EN ISO 9220:2022
• DIN EN ISO 2128:2010-12 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen - Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten - Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop (ISO 2128:2010); Deutsche Fassung EN ISO 2128:2010
• DIN V 32938:1998 Oberflächenprofilierung mittels lichtmikroskopischer Methoden – Konzepte und Messverfahren
• DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotechnologien - Methoden zur Vorbereitung und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Transmissionsrasterelektronenmikroskopie (TSEM)
• DIN EN ISO 14880-2:2007 Optik und Photonik - Mikrolinsenarrays - Teil 2: Prüfverfahren für Wellenfrontaberrationen (ISO 14880-2:2006); Englische Fassung von DIN EN ISO 14880-2:2007-03
• DIN EN ISO 2128:2010 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen - Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten - Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop (ISO 2128:2010); Deutsche Fassung EN ISO 2128:2010
• DIN 58959-4:1997-06 Qualitätsmanagement in der medizinischen Mikrobiologie – Teil 4: Anforderungen an lichtmikroskopische Untersuchungen / Hinweis: Wird durch DIN 58959-6 Beiblatt 2 (2021-08, t) ersetzt.
• DIN 58943-32:1995 Medizinische Mikrobiologie – Diagnose der Tuberkulose – Teil 32: Nachweis von Mykobakterien mit mikroskopischen Methoden
• DIN EN 14086:2003-04 Papier und Karton - Messung des Spiegelglanzes - 45°-Glanz mit Parallelstrahl, DIN-Methode; Deutsche Fassung EN 14086:2003
• DIN EN ISO 8254-1:2009-09 Papier und Pappe - Messung des Spiegelglanzes - Teil 1: 75-Grad-Glanz mit einem konvergierenden Strahl, TAPPI-Methode (ISO 8254-1:2009); Deutsche Fassung EN ISO 8254-1:2009
• DIN EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen - Messung der Schichtdicke - Rasterelektronenmikroskopverfahren (ISO/DIS 9220:2021); Deutsche und englische Version prEN ISO 9220:2021
• DIN EN ISO 8254-2:2016-11 Papier und Pappe - Messung des Spiegelglanzes - Teil 2: 75°-Glanz mit einem Parallelstrahl, DIN-Methode (ISO 8254-2:2016); Deutsche Fassung EN ISO 8254-2:2016
• DIN EN ISO 14880-4:2006 Optik und Photonik - Mikrolinsenarrays - Teil 4: Prüfverfahren für geometrische Eigenschaften (ISO 14880-4:2006) Englische Fassung von DIN EN ISO 14880-4:2006-08
• DIN EN ISO 17751-1:2022-09 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 1: Lichtmikroskopische Methode (ISO/DIS 17751-1:2022); Deutsche und englische Version prEN ISO 17751-1:2022 / Hinweis: Ausgabedatum 19.08.2022*Gedient als...
• DIN EN ISO 17751-1:2016-11 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 1: Lichtmikroskopische Methode (ISO 17751-1:2016); Deutsche Fassung EN ISO 17751-1:2016 / Hinweis: Wird durch DIN EN ISO 17751-1 (2022-09) ersetzt.
• DIN EN ISO 14880-4:2006-08 Optik und Photonik – Mikrolinsenarrays – Teil 4: Prüfverfahren für geometrische Eigenschaften (ISO 14880-4:2006); Deutsche Fassung EN ISO 14880-4:2006
• DIN EN ISO 14880-2:2007-03 Optik und Photonik - Mikrolinsenarrays - Teil 2: Prüfverfahren für Wellenfrontaberrationen (ISO 14880-2:2006); Deutsche Fassung EN ISO 14880-2:2006
• DIN ISO 13067:2015 Mikrostrahlanalyse – Elektronenrückstreubeugung – Messung der durchschnittlichen Korngröße (ISO 13067:2011)
• DIN EN ISO 14880-3:2006 Optik und Photonik - Mikrolinsenarrays - Teil 3: Prüfverfahren für optische Eigenschaften außer Wellenfrontaberrationen (ISO 14880-3:2006) Englische Fassung von DIN EN ISO 14880-3:2006-08
• DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021); Deutsche Fassung EN ISO 19749:2023
• DIN EN ISO 21363:2022-03 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020); Deutsche Fassung EN ISO 21363:2022
• DIN 58943-32:2011 Medizinische Mikrobiologie - Diagnose der Tuberkulose - Teil 32: Nachweis von Mykobakterien mit mikroskopischen Methoden; Text in Deutsch und Englisch
• DIN 58943-32:2015 Medizinische Mikrobiologie - Diagnose der Tuberkulose - Teil 32: Nachweis von Mykobakterien mit mikroskopischen Methoden; Text in Deutsch und Englisch

Standard Association of Australia （SAA）, Split-Beam-Mikroskopie

• AS 2856.3:2000 Kohlepetrographie – Methode zur mikroskopischen Bestimmung des Reflexionsgrades von Kohlemazeralen
• IEC 63145-20-20:2019 Brillendisplay – Teil 20-20: Grundlegende Messmethoden – Bildqualität

PL-PKN, Split-Beam-Mikroskopie

• PN C04424-02-1985 Pigmente Bestimmung der Partikelgrößenverteilung Mikroskopische Methode – einfach
• PN H04951-1986 Pulvermetallurgie Bestimmung der Partikelgröße von Pulver mit der Methode des optischen Mikroskops
• PN G04524-1992 Steinkohle Methode zur petrographischen Analyse Bestimmung des mikroskopischen Reflexionsgrads von Vitrinit
• PN-ISO 4407-2021-03 P Hydraulikflüssigkeitstechnik -- Flüssigkeitsverunreinigung -- Bestimmung der Partikelverunreinigung durch die Zählmethode unter Verwendung eines optischen Mikroskops

Professional Standard - Education, Split-Beam-Mikroskopie

• JY/T 0586-2020 Allgemeine Regeln für analytische Methoden der konfokalen Laser-Scanning-Mikroskopie

Group Standards of the People's Republic of China, Split-Beam-Mikroskopie

• T/CSTM 00003-2019 Dickenmessungen zweidimensionaler Materialien Rasterkraftmikroskopie (AFM)
• T/CSTM 00799-2023 Bestimmung der Korngröße in Stahl – Hochtemperatur-Laser-Scanning-Konfokalmikroskop-Methode
• T/GDASE 0008-2020 Bestimmung des Elastizitätsmoduls von Graphenfilmen
• T/SPSTS 030-2023 Messung der Blattgröße von Graphenmaterial mittels Rasterelektronenmikroskopie
• T/TIAA 014-2018 Optische Messmethoden von Anzeigegeräten für elektronische Rückspiegel von Fahrzeugen

RU-GOST R, Split-Beam-Mikroskopie

• GOST 15114-1978 Teleskopsystem für optische Geräte. Visuelle Methode zur Bestimmung der Auflösungsgrenzen
• GOST R ISO 27911-2015 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Chemische Oberflächenanalyse. Rastersondenmikroskopie. Definition und Kalibrierung der lateralen Auflösung eines optischen Nahfeldmikroskops
• GOST R 8.631-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Überprüfung
• GOST R 55659-2013 Methoden zur petrographischen Analyse von Kohlen. Teil 5. Methode zur mikroskopischen Bestimmung des Reflexionsgrads von Vitrinit
• GOST R 8.636-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methoden zur Kalibrierung
• GOST 8.594-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterelektronenmikroskope. Methode zur Überprüfung
• GOST ISO 4407-2006 Industrielle Sauberkeit. Bestimmung der Flüssigkeitsverunreinigung durch Zählmethode unter Verwendung eines optischen Mikroskops
• GOST R 8.630-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methoden zur Überprüfung
• GOST 8.593-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methode zur Überprüfung
• GOST R 8.635-2007 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Rasterkraft-Rastersondenmikroskope. Methode zur Kalibrierung

Professional Standard - Machinery, Split-Beam-Mikroskopie

• JB/T 5585-1991 Testmethode für die Auflösung eines Transmissionselektronenmikroskops

PT-IPQ, Split-Beam-Mikroskopie

• NP 3160-1986 Textil. Messung des Faserdurchmessers. Mikroskopische Projektionsmethode

Danish Standards Foundation, Split-Beam-Mikroskopie

• DS/EN ISO 2128:2010 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten – Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop
• DS/EN 14086:2003 Papier und Karton – Messung des Spiegelglanzes – 45°-Glanz mit einem Parallelstrahl, DIN-Methode
• DS/EN ISO 1463:1994 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
• DS/EN ISO 9220:1995 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren
• DS/EN ISO 8254-2:2003 Papier und Pappe – Messung des Spiegelglanzes – Teil 2: 75-Glanz mit einem Parallelstrahl, DIN-Methode
• DS/EN ISO 8254-1:2009 Papier und Karton – Messung des Spiegelglanzes – Teil 1: 75-Grad-Glanz mit einem konvergierenden Strahl, TAPPI-Methode
• DS/ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
• DS/EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2021)
• DS/ISO 7404-5:2009 Methoden zur petrographischen Analyse von Kohlen – Teil 5: Methode zur mikroskopischen Bestimmung des Reflexionsgrads von Vitrinit
• DS/ISO/TS 10798:2011 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrieanalyse
• DS/IEC 62906-5-3:2021 Laseranzeigegeräte – Teil 5-3: Messverfahren zur Bildqualität für Laserprojektionsanzeigen
• DS/EN ISO 14880-2:2007 Optik und Photonik – Mikrolinsenarrays – Teil 2: Prüfmethoden für Wellenfrontaberrationen
• DS/EN ISO 14880-4:2006 Optik und Photonik – Mikrolinsenarrays – Teil 4: Prüfmethoden für geometrische Eigenschaften

Association of German Mechanical Engineers, Split-Beam-Mikroskopie

• VDI/VDE 2655 Blatt 1.1-2008 Optische Vermessung und Mikrotopographien – Kalibrierung von Interferenzmikroskopen und Tiefenmessnormalen zur Rauheitsmessung
• VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 Optische Messung der Mikrotopographie – Kalibrierung von konfokalen Mikroskopen und Tiefeneinstellnormalen zur Rauheitsmessung
• VDI 3492-2004 Raumluftmessung - Raumluftmessung - Messung anorganischer Faserpartikel - Rasterelektronenmikroskopie-Methode
• VDI 3492-2013 Raumluftmessung - Raumluftmessung - Messung anorganischer Faserpartikel - Rasterelektronenmikroskopie-Methode
• VDI 3861 Blatt 2-2008 Emissionen aus stationären Quellen – Messung anorganischer Faserpartikel im Abgas – Rasterelektronenmikroskopie-Methode

KR-KS, Split-Beam-Mikroskopie

• KS K 5578-2023 Nachweis von Federfasern von Landvögeln im Gefieder – Lichtmikroskopische Methode
• KS M ISO 8254-3-2022 Papier und Pappe – Messung des Spiegelglanzes – Teil 3: 20°-Glanz mit einem konvergierenden Strahl, TAPPI-Methode
• KS M ISO 8254-1-2019 Papier und Karton – Messung des Spiegelglanzes – Teil 1: 75°-Glanz mit einem konvergierenden Strahl, TAPPI-Methode
• KS B ISO 10936-1-2023 Optik und Photonik – Operationsmikroskope – Teil 1: Anforderungen und Prüfverfahren
• KS M ISO 8254-2-2019 Papier und Pappe – Messung des Spiegelglanzes – Teil 2: 75°-Glanz mit einem Parallelstrahl, DIN-Methode
• KS M ISO 8254-3-2016 Papier und Karton – Messung des Spiegelglanzes – Teil 3: 20-Grad-Glanz mit einem konvergierenden Strahl, TAPPI-Methode
• KS C IEC 62629-12-1-2022 3D-Anzeigegeräte – Teil 12-1: Messmethoden für stereoskopische Anzeigen mit Brillen – Optisch
• KS I ISO 4407-2017 Hydraulikflüssigkeitstechnik – Flüssigkeitsverunreinigung – Bestimmung der Partikelverunreinigung durch die Zählmethode unter Verwendung eines optischen Mikroskops
• KS I ISO 8672-2021 Luftqualität – Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie – Membranfiltermethode
• KS D ISO 14594-2018(2023) Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Richtlinien zur Bestimmung experimenteller Parameter für die wellenlängendispersive Spektroskopie
• KS D ISO 15632-2023 Mikrostrahlanalyse – Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer (EDS) zur Verwendung mit einem Rasterelektronenmikroskop (REM) oder einem
• KS C ISO 19749-2023 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
• KS C ISO 21363-2023 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
• KS K ISO 17751-1-2019 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen Spezialfasern tierischen Ursprungs und deren Mischungen – Teil 1: Lichtmikroskopische Methode Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen Spezialfasern
• KS D ISO TR 17270-2007 Mikrostrahlanalyse – Analytische Transmissionselektronenmikroskopie – Technischer Bericht zur Bestimmung der experimentellen Parameter für die Elektronenenergieverlustspektroskopie
• KS D ISO 14594-2018 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Richtlinien zur Bestimmung experimenteller Parameter für die wellenlängendispersive Spektroskopie
• KS D ISO 22489-2018 Mikrostrahlanalyse – Elektronenstrahl-Mikroanalyse – Quantitative Punktanalyse für Massenproben mittels wellenlängendispersiver Röntgenspektroskopie

CH-SNV, Split-Beam-Mikroskopie

• VSM 34130-1934 Eloxieren von Aluminium und Aluminiumlegierungen. Bestimmung der Dicke des anodischen Oxidfilms. Zerstörungsfreie Messungen mittels Strahlteilungsmikroskopie
• VSM 18653.1-1965 Eloxieren von Aluminium und Aluminiumlegierungen. Bestimmung der Dicke des anodischen Oxidfilms. Zerstörungsfreie Messungen mittels Strahlteilungsmikroskopie
• SN EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2021)

农业农村部, Split-Beam-Mikroskopie

• NY/T 3002-2016 Mikroskopische Methode zum Nachweis tierischer Bestandteile in Futtermitteln

国家质量监督检验检疫总局, Split-Beam-Mikroskopie

• SN/T 4693-2016 Bestimmung von Asbest in Latex-Verbrauchsprodukten des täglichen Bedarfs mittels Polarisationslichtmikroskopie

Professional Standard - Coal, Split-Beam-Mikroskopie

• MT/T 594-1996 Methode zur Bestimmung von Kohlemikrobestandteilen mittels Fluoreszenzspektrometrie
• MT/T 595-1996 Methode zur Bestimmung der Fluoreszenzintensität von Kohle-Mikrokomponenten

ZA-SANS, Split-Beam-Mikroskopie

• SANS 6154:2006 Glasgehalt granulierter Hüttenschlacke (Durchlichtmikroskopie-Methode)
• SANS 144:1982 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
• SANS 7404-5:1994 Methoden zur petrographischen Analyse von Steinkohle und Anthrazit Teil 5: Methode zur mikroskopischen Bestimmung des Reflexionsgrads von Vitrinit

SE-SIS, Split-Beam-Mikroskopie

• SIS SS-ISO 1463:1983 Metall- und Oxidschichten – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode
• SIS SS-ISO 9220:1989 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Methode
• SIS SS 11 11 15-1985 Stahl – Methode zur Beurteilung des Schlackeneinschlussgehalts – Mikroskopische Methoden – Manuelle Partikelzählung und Berechnung der Größenverteilung

Lithuanian Standards Office , Split-Beam-Mikroskopie

• LST EN 14086-2003 Papier und Karton – Messung des Spiegelglanzes – 45°-Glanz mit einem Parallelstrahl, DIN-Methode
• LST EN ISO 2128:2011 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten – Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop (ISO 2128:2010)
• LST ISO 8672:2001 Luftqualität. Bestimmung der Anzahlkonzentration luftgetragener anorganischer Fasern durch optische Phasenkontrastmikroskopie. Membranfiltermethode
• LST EN ISO 9220:2001 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:1988)
• LST EN ISO 1463:2004 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2003)
• LST EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2021)
• LST EN ISO 8254-2:2003 Papier und Pappe – Messung des Spiegelglanzes – Teil 2: 75°-Glanz mit einem Parallelstrahl, DIN-Methode (ISO 8254-2:2003)
• LST EN ISO 8254-1:2009 Papier und Pappe – Messung des Spiegelglanzes – Teil 1: 75-Grad-Glanz mit einem konvergierenden Strahl, TAPPI-Methode (ISO 8254-1:2009)

Indonesia Standards, Split-Beam-Mikroskopie

• SNI ISO 10936-1:2008 Mikroskop für die Chirurgie – Teil 1: Spezifikation und Prüfverfahren
• SNI ISO 8254-1:2014 Papier und Karton – Messung des Spiegelglanzes – Teil 1: 75°-Glanz mit einem konvergierenden Strahl, TAPPI-Methode
• SNI ISO 10936-2:2008 Optik und optische Instrumente – Operationsmikroskop – Teil 2: Lichtgefahr durch Operationsmikroskope, die in der Augenchirurgie verwendet werden

ES-UNE, Split-Beam-Mikroskopie

• UNE-EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2021)
• UNE-EN ISO 9220:2022 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO 9220:2022)
• UNE-EN ISO 8254-2:2016 Papier und Pappe – Messung des Spiegelglanzes – Teil 2: 75-Grad-Glanz mit einem Parallelstrahl, DIN-Methode (ISO 8254-2:2016)
• UNE-EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und -formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Februar 2022.)
• UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen durch Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Mai 2023.)
• UNE-EN ISO 17751-1:2016 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen – Teil 1: Lichtmikroskopische Methode (ISO 17751-1:2016)

AENOR, Split-Beam-Mikroskopie

• UNE-EN ISO 2128:2011 Anodisieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Dicke anodischer Oxidationsschichten – Zerstörungsfreie Messung mittels Spaltstrahlmikroskop (ISO 2128:2010)
• UNE-EN 14086:2003 Papier und Pappe – Messung des Spiegelglanzes – 45°-Glanz mit einem Parallelstrahl, DIN-Methode
• UNE-EN ISO 9220:1996 METALLISCHE BESCHICHTUNGEN. MESSUNG DER BESCHICHTUNGSDICKE. VERFAHREN MIT EINEM RASTERELEKTRONENMIKROSKOP. (ISO 9220:1988).
• UNE-EN ISO 1463:2005 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2003)
• UNE-EN ISO 8254-1:2009 Papier und Pappe – Messung des Spiegelglanzes – Teil 1: 75-Grad-Glanz mit einem konvergierenden Strahl, TAPPI-Methode (ISO 8254-1:2009)

International Electrotechnical Commission (IEC), Split-Beam-Mikroskopie

• IEC 63145-20-10:2019 Brillendisplay – Teil 20-10: Grundlegende Messmethoden – Optische Eigenschaften
• IEC 63145-22-10:2020 Brillendisplay – Teil 22-10: Spezifische Messmethoden für den AR-Typ – Optische Eigenschaften
• IEC 62906-5-3:2021 Laseranzeigegeräte – Teil 5-3: Messverfahren zur Bildqualität für Laserprojektionsanzeigen
• IEC 62629-22-1:2013 3D-Anzeigegeräte – Teil 22-1: Messverfahren für autostereoskopische Displays – Optisch

Professional Standard - Petroleum, Split-Beam-Mikroskopie

• SY/T 6414-1999 Mazeralanalyse auf polierten Oberflächen ganzer Gesteine

TIA - Telecommunications Industry Association, Split-Beam-Mikroskopie

• TIA/EIA-455-45-B-1992 FOTP-45 Method for Measuring Optical Fiber Geometry Using a Laboratory Microscope (Withdrawn May@ 2003)

CZ-CSN, Split-Beam-Mikroskopie

• CSN ISO 1463:1993 Metall- und Oxidbeschichtungen. Messung der Schichtdicke. Mikroskopische Methode

Professional Standard - Nuclear Industry, Split-Beam-Mikroskopie

• EJ/T 20176-2018 Rasterkraftmikroskop-Messmethode zur Kantenschärfe von Diamantwerkzeugen

未注明发布机构, Split-Beam-Mikroskopie

• DIN EN ISO 1463 E:2020-06 Microscopic method for measuring coating thickness of metallic and oxide coatings (draft)
• DIN 58959-4 E:1991-11 Qualitätsmanagement in der medizinischen Mikrobiologie – Teil 4: Anforderungen an lichtmikroskopische Untersuchungen
• BS 3406-4:1993(1999) Methoden zur Bestimmung der Partikelgrößenverteilung – Teil 4: Leitfaden zu Mikroskop- und Bildanalysemethoden
• DIN EN ISO 8254-2 E:2016-02 Measurement of specular gloss of paper and cardboard Part 2: Parallel beam 75° gloss DIN method (draft)
• DIN 58943-32 E:2014-09 Medizinische Mikrobiologie – Diagnose der Tuberkulose – Teil 32: Nachweis von Mykobakterien mit mikroskopischen Methoden
• DIN 58943-32 E:2009-03 Medizinische Mikrobiologie – Diagnose der Tuberkulose – Teil 32: Nachweis von Mykobakterien mit mikroskopischen Methoden
• DIN 58943-32:1986 Medical microbiology - Diagnosis of tuberculosis - Part 32: Detection of mycobacteria by microscopic methods
• BS EN ISO 17751-1:2023 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen Teil 1: Lichtmikroskopische Methode
• JIS K 0182:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung der Normalfederkonstanten des Cantilevers
• DIN EN ISO 21363 E:2021-09 Nanotechnology Measurement of Particle Size and Shape Distribution by Transmission Electron Microscopy (Draft)
• DIN EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Partikelformverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
• DIN ISO 15632 E:2015-05 Mikrostrahlanalyse – Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer für den Einsatz in der Elektronensonden-Mikroanalyse
• DIN ISO 15632 E:2022-03 Mikrostrahlanalyse – Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer für den Einsatz in der Elektronensonden-Mikroanalyse
• DIN EN ISO 17751-1 E:2014-08 Quantitative analysis of textiles, cashmere, wool, other special animal fibers and their blends - Part 1: Optical microscopy (draft)
• DIN ISO 22309 E:2015-05 Mikrostrahlanalyse – Quantitative Analyse mittels energiedispersiver Spektrometrie (EDS) für Elemente mit einer Ordnungszahl von 11 (Na) oder höher

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Split-Beam-Mikroskopie

• GJB 5891.5-2006 Prüfverfahren zum Beladen von Material zur Zündung von Sprengkörpern, Teil 5: Messung der Korngröße, Mikroskopie
• GJB 5384.23-2005 Leistungstestverfahren für pyrotechnische Zusammensetzungen Teil 23: Bestimmung der Partikelgrößenverteilung für feste Rauchpartikel Elektronenmikroskopische Methode
• GJB 5384.22-2005 Leistungstestverfahren für pyrotechnische Zusammensetzungen Teil 21: Konzentrationsbestimmung der Mengen fester Rauchpartikel Elektronenmikroskopische Methode

PH-BPS, Split-Beam-Mikroskopie

• PNS ISO 21363:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie

AT-ON, Split-Beam-Mikroskopie

• OENORM EN ISO 1463:2021 Metallische und oxidische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Mikroskopische Methode (ISO 1463:2021)
• OENORM EN ISO 9220:2021 Metallische Beschichtungen – Messung der Schichtdicke – Rasterelektronenmikroskop-Verfahren (ISO/DIS 9220:2021)
• OENORM EN ISO 21363:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020)

ES-AENOR, Split-Beam-Mikroskopie

• UNE 81-551-1989 Luftqualität. Bestimmung von Asbestfasern in der Luft am Arbeitsplatz (mittels Membranfiltration/optische Mikroskopie)

CU-NC, Split-Beam-Mikroskopie

• NC 90-01-50-1987 Metrologische Sicherheit. Methoden und Mittel zur Überprüfung von Instrumentierungsmikroskopen

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Split-Beam-Mikroskopie

• GJB 8684.23-2015 Prüfverfahren für pyrotechnische Eigenschaften – Teil 23: Bestimmung der Partikelgrößenverteilung von Rauchfeststoffpartikeln mittels Elektronenmikroskopie
• GJB 8684.22-2015 Prüfverfahren für pyrotechnische Eigenschaften – Teil 22: Bestimmung der Anzahlkonzentration von Rauchfeststoffpartikeln mittels Elektronenmikroskopie

IT-UNI, Split-Beam-Mikroskopie

• UNI 6500-1969 Anodische Oxidationsbeschichtung aus Aluminium und seinen Legierungen. Messung der Belagdicke mit einem optischen Mikroskop

GOSTR, Split-Beam-Mikroskopie

• PNST 377-2019 Autostraßen mit allgemeiner Nutzung. Bitumenbindemittel auf Erdölbasis. Die Methode zur Bestimmung der Verteilung des Polymers mittels Fluoreszenzmikroskopie
• PNST 508-2020 Nanotechnologien. Einwandige Kohlenstoffnanoröhren. Charakterisierung mittels Rasterelektronenmikroskopie und energiedispersiver Röntgenspektrometrie

未注明发布机构, Split-Beam-Mikroskopie

• DIN EN ISO 1463 E:2020-06 Microscopic method for measuring coating thickness of metallic and oxide coatings (draft)
• DIN 58959-4 E:1991-11 Qualitätsmanagement in der medizinischen Mikrobiologie – Teil 4: Anforderungen an lichtmikroskopische Untersuchungen
• BS 3406-4:1993(1999) Methoden zur Bestimmung der Partikelgrößenverteilung – Teil 4: Leitfaden zu Mikroskop- und Bildanalysemethoden
• DIN EN ISO 8254-2 E:2016-02 Measurement of specular gloss of paper and cardboard Part 2: Parallel beam 75° gloss DIN method (draft)
• DIN 58943-32 E:2014-09 Medizinische Mikrobiologie – Diagnose der Tuberkulose – Teil 32: Nachweis von Mykobakterien mit mikroskopischen Methoden
• DIN 58943-32 E:2009-03 Medizinische Mikrobiologie – Diagnose der Tuberkulose – Teil 32: Nachweis von Mykobakterien mit mikroskopischen Methoden
• DIN 58943-32:1986 Medical microbiology - Diagnosis of tuberculosis - Part 32: Detection of mycobacteria by microscopic methods
• BS EN ISO 17751-1:2023 Textilien – Quantitative Analyse von Kaschmir, Wolle und anderen speziellen tierischen Fasern und deren Mischungen Teil 1: Lichtmikroskopische Methode
• JIS K 0182:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Rastersondenmikroskopie – Bestimmung der Normalfederkonstanten des Cantilevers
• DIN EN ISO 21363 E:2021-09 Nanotechnology Measurement of Particle Size and Shape Distribution by Transmission Electron Microscopy (Draft)
• DIN EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Partikelformverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
• DIN ISO 15632 E:2015-05 Mikrostrahlanalyse – Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer für den Einsatz in der Elektronensonden-Mikroanalyse
• DIN ISO 15632 E:2022-03 Mikrostrahlanalyse – Ausgewählte instrumentelle Leistungsparameter für die Spezifikation und Überprüfung energiedispersiver Röntgenspektrometer für den Einsatz in der Elektronensonden-Mikroanalyse
• DIN EN ISO 17751-1 E:2014-08 Quantitative analysis of textiles, cashmere, wool, other special animal fibers and their blends - Part 1: Optical microscopy (draft)
• DIN ISO 22309 E:2015-05 Mikrostrahlanalyse – Quantitative Analyse mittels energiedispersiver Spektrometrie (EDS) für Elemente mit einer Ordnungszahl von 11 (Na) oder höher

Canadian General Standards Board （CGSB), Split-Beam-Mikroskopie

• CAN/CGSB-4.2 NO.73.1-M91-1991 Textiltestmethoden Wolle – Bestimmung des Anteils an Markfasern mit dem Projektionsmikroskop

YU-JUS, Split-Beam-Mikroskopie

• JUS ISO 7404-5:1992 Methoden zur petrographischen Analyse von Steinkohle und Anthrazit. Teil 5: Methode zur mikroskopischen Bestimmung des Reflexionsgrads von Vitrinit

Sonstige:   Split-Beam-Mikroskopie.