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DE분할빔 현미경
모두 500항목의 분할빔 현미경와 관련된 표준이 있다.
국제 분류에서 분할빔 현미경와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 어휘, 광학 장비, 공기질, 분석 화학, 전선 및 케이블, 연료, 표면 처리 및 도금, 비철금속, 입자 크기 분석, 스크리닝, 길이 및 각도 측정, 석탄, 유체 동력 시스템, 의료 장비, 미생물학, 기르다, 물리학, 화학, 광학 및 광학 측정, 특수한 작업 조건에서 사용되는 전기 장비, 광전자공학, 레이저 장비, 섬유 섬유, 섬유제품, 종이와 판지, 금속 부식, 밥을 먹이다, 화학 제품, 펄프, 건축 자재, 금속 재료 테스트, 포괄적인 테스트 조건 및 절차, 전자 디스플레이 장치, 금속 생산, 원자력공학, 의료 과학 및 의료 기기 통합, 범죄 예방, 무기화학, 목재 가공 기술, 윤활유, 산업용 오일 및 관련 제품, 유기화학, 유리, 플라스틱, 위험물 보호.
International Organization for Standardization (ISO), 분할빔 현미경
- ISO 22493:2008 마이크로빔 분석주사전자현미경 방법어휘
- ISO 15932:2013 마이크로빔 분석분석 전자 현미경 어휘
- ISO/TS 21383:2021 마이크로빔 분석 주사전자현미경 정량적 측정을 위한 주사전자현미경 식별
- ISO/TS 24597:2011 마이크로빔 분석 주사전자현미경법 영상선명도 평가법
- ISO/CD 19214:2023 마이크로빔 분석, 분석전자현미경 및 투과전자현미경을 사용하여 선형 결정의 겉보기 성장 방향을 결정하는 방법.
- ISO 25498:2010 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
- ISO 25498:2018 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
- ISO 19056-3:2022 현미경 검사 조명 특성의 정의 및 측정 3부: 비간섭 광원의 입사광 형광 현미경 검사
- ISO 23420:2021 마이크로빔 분석분석용 전자 현미경전자 에너지 손실 분광학 분석을 위한 에너지 분해능 결정 방법
- ISO 19214:2017 마이크로빔 분석분석전자현미경투과전자현미경을 통해 사상 결정의 중요한 성장 방향을 결정하는 방법
- ISO 24639:2022 마이크로빔 분석분석 전자 현미경 전자 에너지 손실 분광법을 통한 원소 분석을 위한 에너지 스케일링 절차
- ISO 21466:2019 마이크로빔 분석 주사전자현미경 CD-SEM을 통한 임계 크기 평가 방법
- ISO 2128:2010 알루미늄 및 알루미늄 합금의 양극 산화 양극 산화 피막 두께 측정 분할 빔 현미경을 사용한 비파괴 측정 방법
- ISO 2128:1976 양극산화 알루미늄 및 알루미늄 합금의 양극산화 피막 두께 측정 - 분할 빔 현미경을 사용한 비파괴 방법
- ISO 29301:2017 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 주기적인 구조를 가진 기준 물질의 이미지 배율을 교정하는 방법
- ISO 16592:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 검량선 방법에 의한 강철의 탄소 함량 결정에 대한 안내입니다.
- ISO 16592:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 검량선 방법에 의한 강철의 탄소 함량 결정에 대한 안내입니다.
- ISO 19056-1:2015 현미경 조명 특성의 정의 및 측정 1부: 명시야 현미경을 사용하여 결정된 이미지 밝기 및 균일성
- ISO 10936-1:2017 광학 및 포토닉스 수술용 현미경 1부: 요구 사항 및 테스트 방법
- ISO 17470:2004 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 질량점 분석 안내
- ISO 20263:2017 마이크로빔 분석 - 분석 투과 전자 현미경 - 적층 재료의 단면 이미지에서 계면 위치 결정 방법
- ISO 10936-1:2000 광학 및 광학 기기 수술용 현미경 1부: 요구 사항 및 테스트 방법
- ISO 29301:2010 마이크로빔 분석 분석 투과 전자 현미경 방법 주기적인 구조를 가진 기준 물질의 보정된 이미지 확대 방법
- ISO 4912:1981 직물의 면섬유 성숙도를 측정하는 현미경 방법
- ISO/TR 14880-5:2010 광학 및 포토닉스, 현미경 렌즈 어레이, 5부: 테스트 가이드
- ISO/CD 20263:2023 마이크로빔 분석과 전자현미경을 이용하여 층상 물질의 단면 이미지에서 계면 위치를 결정하는 방법
- ISO 8672:2014 위상차 광학현미경을 이용한 공기질 측정을 위한 공기 무기섬유 농도 측정 필터법
- ISO 8672:1993 위상차 광학현미경을 이용한 공기질 측정을 위한 공기 무기섬유 농도 측정 필터법
- ISO 18337:2015 표면 화학 분석, 표면 특성화, 공초점 형광 현미경을 통한 측면 분해능 측정
- ISO 19463:2018 마이크로빔 분석 EPMA(Electron Probe Microanalyzer) 품질 보증 절차 수행을 위한 지침
- ISO/CD 22262-2:2011 대기 질 벌크 재료 파트 2: 중량 측정 및 현미경 방법을 통한 석면 정량 측정
- ISO 1463:2021 금속 및 산화물 코팅 - 코팅 두께 측정 - 현미경
- ISO 21222:2020 표면 화학 분석 주사 탐침 현미경 원자간력 현미경과 2점 JKR 방법을 사용하여 규격 재료의 탄성 계수를 결정하는 절차.
- ISO 9220:2022 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사전자현미경법
- ISO 9220:1988 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사전자현미경
- ISO 19056-2:2019 현미경 조명 특성의 정의 및 측정 2부: 명시야 현미경의 색상과 관련된 조명 특성
- ISO 14880-2:2006 광학 및 포토닉스 미세 대물 렌즈 시리즈 2부: 파동 수차 테스트 방법
- ISO/CD 4407 유압 동력 "유체 오염" "광학 현미경 계수에 의한 입자 오염 측정"
- ISO 22489:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
- ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량 분석
- ISO 14880-4:2006 광학 및 포토닉스 미세 대물렌즈 시리즈 4부: 기하학적 특성 테스트 방법
- ISO/DIS 23124:2023 표면 화학 분석 라만 현미경 측면 및 축 해상도 측정
- ISO/FDIS 23124:2023 표면 화학 분석 라만 현미경 측면 및 축 해상도 측정
- ISO 7404-5:2009 석탄의 암석 분석 5부: 현미경 기술을 사용한 비트리나이트 반사 계수 결정 방법
- ISO/FDIS 29301:2023 주기적인 구조를 갖는 기준 물질을 사용하여 이미지 배율을 보정하기 위한 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 방법
- ISO 29301:2023 주기적인 구조를 갖는 기준 물질을 사용하여 이미지 배율을 보정하기 위한 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 방법
- ISO 14595:2003 마이크로빔 분석 전자 검출 미세분석 교정 표준물질(CRM) 사양 가이드
- ISO 14595:2014 마이크로빔 분석 전자 검출 미세분석 교정 표준물질(CRM) 사양 가이드
- ISO 22262-2:2014 공기 질 벌크 재료 파트 2: 중량 측정 및 현미경 방법을 사용한 석면 정량 측정
- ISO 4407:2002 광학현미경을 이용한 유압 변속기 오일 오염 방법으로 입자 오염 정도 확인
- ISO 11952:2019 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 SPM을 사용한 기하학적 양 측정: 측정 시스템 교정
- ISO 11952:2014 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 SPM을 사용한 기하학적 양 결정: 측정 시스템 교정
- ISO 8255-2:1997 광학 및 광학 기기 현미경 Coverslips 2부: 재료 품질, 완제품 표준 및 포장 모드
- ISO 8037-2:1997 광학 및 광학 기기 현미경 슬라이드 2부: 재료 품질, 완제품 표준 및 포장 모드
- ISO 19749:2021 나노기술 주사전자현미경을 이용한 입자크기 및 형상분포 측정
- ISO 13067:2011 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절 평균 입자 크기 측정
- ISO 14880-3:2006 광학 및 포토닉스 미세 대물 렌즈 시리즈 3부: 파동 수차 이외의 광학 특성에 대한 테스트 방법
- ISO 17470:2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 통한 정성적 점 분석 안내
- ISO 17751-1:2023 직물 캐시미어, 울, 기타 특수 동물성 섬유 및 이들의 혼방의 정량 분석 1부: 광학 현미경
- ISO/FDIS 17751-1 섬유 "캐시미어, 울, 기타 동물성 특수섬유 및 이들의 혼합섬유의 정량분석" 제1부: 광학현미경
- ISO 17751-1:2016 직물 캐시미어, 울, 기타 특수 동물성 섬유 및 그 혼방의 정량 분석 1부: 광학 현미경
- ISO 14595:2003/Cor 1:2005 마이크로빔 분석 전자 검출 미세분석 교정 표준물질(CRM) 사양 가이드 기술 정오표 1
- ISO 15632:2021 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산 X선 분광계에 대한 기기 사양
- ISO 15632:2012 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산 X선 분광계에 대한 기기 사양
- ISO 11938:2012 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 파장 분산 분광법을 사용한 원소 매핑을 위한 분석 방법.
- ISO 24173:2009 마이크로빔 분석 전자 후방 산란 회절을 사용한 방향 측정 가이드
- ISO 22309:2011 마이크로빔 분석 에너지 분산 분광법(EDS)을 사용하여 원자 번호가 11(Na) 이상인 원소의 정량 분석
- ISO 18369-3:2006 안과용 광학 장치, 콘택트 렌즈, 3부: 측정 방법
- ISO 8037-2:1997/cor 1:2002 광학 및 광학 기기 현미경 슬라이드 2부: 재료 품질, 완제품 표준 및 포장 모드 기술 정오표 1
- ISO 15632:2002 마이크로빔 분석 - 반도체 검출기를 갖춘 에너지 분산형 X선 분광계에 대한 기기 사양
- ISO/DIS 14880-2 광학 및 포토닉스 "마이크로렌즈 어레이" 2부: 파면 수차 테스트 방법
- ISO/DIS 14880-4 광학 및 포토닉스 "마이크로렌즈 어레이" 4부: 기하학적 특성 테스트 방법
- ISO 14594:2003/Cor 1:2009 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세분석 파장 분산 분광학에 의한 실험 매개변수 결정을 위한 가이드 기술 정오표 1
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 분할빔 현미경
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 분할빔 현미경
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 분할빔 현미경
- GB/T 8014.3-2005 알루미늄 및 알루미늄 합금의 양극 산화 피막 두께 측정 방법 3부: 분할 빔 현미경법
- GB/T 18907-2013 마이크로빔 분석, 분석전자현미경, 투과전자현미경, 선정된 전자회절분석법
- GB/T 32282-2015 음극형광현미경을 이용한 질화갈륨 단결정의 전위밀도 측정
- GB/T 29190-2012 스캐닝 프로브 현미경 표류율 측정 방법
- GB/T 15247-2008 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 강철의 탄소 함량 측정을 위한 교정 곡선 방법.
- GB/T 25189-2010 마이크로빔 분석주사형 전자현미경 에너지 분광계의 정량 분석 매개변수 결정 방법
- GB/T 6462-2005 금속 및 산화물 코팅 두께 측정 현미경
- GB/T 17361-2013 마이크로빔 분석을 이용한 퇴적암 내 진위성 점토광물의 동정을 위한 주사형 전자현미경 및 에너지 분광계 방법
- GB/T 28634-2012 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세분석, 벌크 샘플 분광법의 정량적 점 분석.
- GB/T 30705-2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세분석 분광법의 실험 매개변수 결정을 위한 지침
- GB/T 42659-2023 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 스캐닝 프로브 현미경을 사용한 기하학적 양 결정: 측정 시스템 교정
- GB 8015.2-1987 알루미늄 및 알루미늄 합금의 양극 산화 피막 두께 테스트 방법 - 분할 빔 현미경
- GB/T 43610-2023 마이크로빔 분석과 전자현미경을 이용하여 선형 결정의 겉보기 성장 방향을 결정하는 투과전자현미경 방법
- GB/T 31227-2014 원자력현미경을 이용한 스퍼터링된 막의 표면거칠기 측정방법
- GB/T 19267.8-2008 범죄 기술 추적 증거의 물리적, 화학적 조사 제8부: 미세 분광 광도법
- GB/T 19267.8-2003 범죄기술추적증거의 물리화학적 조사 제8편, 현미분광광도법
- GB/T 19267.6-2003 범죄 수법의 흔적 증거에 대한 물리화학적 조사 제6부, 주사전자현미경
- GB/T 20082-2006 광학현미경을 이용한 유압 변속기 오일 오염 방법으로 입자 오염 정도 확인
- GB/T 43088-2023 마이크로빔 분석 및 전자현미경을 이용한 금속 박결정 시편의 전위 밀도 측정 방법
- GB/T 19267.6-2008 범죄기술추적증거의 물리화학적 조사 제6부: 주사전자현미경/X선에너지분광학
- GB/T 41805-2022 광학 부품 표면 결함의 정량적 검출 방법 미세 산란 암시야 이미징 방법
- GB/Z 21738-2008 1차원 나노물질의 기본구조, 고해상도 투과전자현미경 검출방법
- GB/T 16582-2008 플라스틱 모세관 방법과 편광 현미경을 통해 부분 결정성 폴리머의 용융 거동(용융 온도 또는 용융 범위)을 측정합니다.
- GB/T 21783-2008 플라스틱 모세관 방법과 편광 현미경을 통해 부분 결정성 폴리머의 용융 거동(용융 온도 또는 용융 범위)을 측정합니다.
- GB/T 41869.2-2022 광학 및 포토닉스 마이크로렌즈 어레이 2부: 파면 수차 테스트 방법
British Standards Institution (BSI), 분할빔 현미경
- BS ISO 25498:2010 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 투과 전자 현미경을 사용하여 선택된 영역의 전자 회절 분석.
- BS ISO 23420:2021 마이크로빔 분석의 에너지 분해능 결정 방법, 전자현미경, 전자 에너지 손실 분광학 분석
- BS ISO 19056-3:2022 비간섭 광원을 사용하는 입사광 형광 현미경 검사에 대한 현미경 조명 특성 정의 및 측정
- 20/30380369 DC BS ISO 23420 마이크로빔 분석 전자현미경 전자 에너지 손실 분광학 에너지 분해능 결정
- BS ISO 21466:2019 중요 치수를 평가하기 위한 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 CDSEM 방법
- 21/30395346 DC BS ISO 19056-3 현미경의 조명 특성 정의 및 측정 파트 3: 불일치 광원을 사용한 입사광 형광 현미경
- BS ISO 16592:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 검량선 방법을 통한 강철의 탄소 함량 결정에 대한 안내입니다.
- BS ISO 10936-1:2017 광학 및 포토닉스 수술용 현미경 요구 사항 및 테스트 방법
- BS ISO 19056-1:2015 현미경 조명 특성의 정의 및 측정 명시야 현미경을 사용하여 결정된 이미지 밝기 및 균일성
- 18/30344520 DC BS ISO 21466 마이크로빔 분석 주사 전자 현미경 CD-SEM 임계 치수 평가 방법
- BS ISO 24639:2022 마이크로빔 분석 분석 전자현미경 전자 에너지 손실 분광학 원소 분석을 위한 에너지 척도 교정 절차
- BS EN 14086:2003 종이 및 판지 45° 평행 빔을 사용한 정반사 광택 측정, DIN 방법
- 21/30404763 DC BS ISO 24639 마이크로빔 분석 분석 전자 현미경 전자 에너지 손실 분광학 원소 분석을 위한 에너지 스케일 교정 절차
- BS ISO 8672:2014 공기질 위상차 광학현미경을 이용한 공기 무기섬유수 농도 측정 필터막법
- BS ISO 20263:2017 마이크로빔 분석과 전자현미경을 이용하여 층상 물질의 단면 이미지에서 계면 위치를 결정하는 방법
- BS ISO 18337:2015 표면 화학 분석, 표면 특성화, 공초점 형광 현미경을 통한 측면 분해능 측정
- BS ISO 29301:2010 마이크로빔 분석 분석적 투과전자현미경 주기적인 구조를 가진 기준 물질을 사용하여 이미지 배율을 교정하는 방법.
- BS EN ISO 9220:1989 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사전자현미경법
- BS EN ISO 2128:2010 알루미늄 및 알루미늄 합금의 양극 산화 양극 산화 코팅의 두께 결정 분할 빔 현미경을 사용한 비파괴 검사
- BS EN ISO 9220:2022 주사전자현미경을 이용한 금속 코팅의 코팅 두께 측정
- BS ISO 21222:2020 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 원자간력 현미경과 2점 JKR 방법을 사용하여 규격 재료의 탄성 계수를 결정하는 절차
- BS ISO 7404-5:2009 석탄의 암석 분석 현미경 기술을 이용한 비트리나이트 반사계수 결정 방법
- BS ISO 17470:2014 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 정성적 점 분석 안내
- 19/30351707 DC BS ISO 21222 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 원자력 현미경 및 2점 JKR 방법을 사용하여 규정 준수 재료의 탄성 계수 결정을 위한 절차
- 18/30339980 DC BS ISO 19056-2 현미경 검사의 조명 특성 정의 및 측정 2부: 명시야 현미경의 색상 관련 조명 특성
- BS ISO 11938:2013 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세 분석, 파장 분산 분광법을 사용한 원소 매핑을 위한 분석 방법.
- BS ISO 22262-2:2014 공기 질 벌크 재료 중량 분석 및 현미경을 사용하여 석면을 정량적으로 측정합니다.
- 19/30394914 DC BS ISO 15632 마이크로빔 분석 사양 및 전자 탐침 현미경 또는 전자 탐침 마이크로 분석기(EPMA)용 에너지 분산형 X선 분광기 검사를 위한 선택된 기기 성능 매개변수
- BS ISO 22489:2007 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
- BS ISO 22489:2016 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 파장 분산형 X선 분광법을 사용한 벌크 샘플의 정량적 점 분석
- BS ISO 29301:2017 분석전자현미경을 위한 주기적인 구조를 갖는 기준물질을 이용한 이미지 배율 보정을 위한 마이크로빔 분석 방법
- BS ISO 29301:2023 분석전자현미경을 위한 주기적인 구조를 갖는 기준물질을 이용한 이미지 배율 보정을 위한 마이크로빔 분석 방법
- 21/30394409 DC BS ENISO 9220 금속 코팅의 코팅 두께 측정 주사 전자 현미경
- BS EN 12373-3:1999 알루미늄 및 알루미늄 합금 양극산화 3부: 양극산화막 두께 결정 빔 분할 현미경을 사용한 비파괴 측정, 승인된 유럽 텍스트
- 20/30395419 DC BS EN ISO 1463 금속 및 산화물 코팅의 코팅 두께 측정을 위한 현미경 방법
- BS ISO 4407:2002 유압 유체 동력 유체 오염 광학 현미경 계수를 통한 미립자 물질 오염 확인
- BS ISO 19749:2021 나노기술은 주사전자현미경을 사용하여 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
- BS ISO 14595:2003 마이크로빔 분석 전자 검출 미세 분석 적격 표준 물질에 대한 사양 가이드
- BS ISO 14595:2014 마이크로빔 분석 전자 검출 미세 분석 적격 표준 물질에 대한 사양 가이드
- 23/30420097 DC BS ISO 23124 표면 화학 분석 라만 현미경 측면 및 축 해상도 측정
- BS EN ISO 17751-1:2016 섬유 캐시미어, 울, 기타 특수 동물성 섬유 및 이들의 혼방의 정량 분석 광학 현미경
- BS EN ISO 21363:2022 나노기술은 투과전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
- BS EN ISO 19749:2023 나노기술은 주사전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
- BS ISO 21363:2020 나노기술은 투과전자현미경을 통해 입자 크기와 모양 분포를 측정합니다.
- BS ISO 13067:2011 마이크로빔 분석 후방 산란 전자 회절 평균 입자 크기 측정
- BS EN 62629-22-1:2013 3차원 디스플레이 장치 자동 분광 입체 디스플레이 측정 방법 광학
- BS 6127-5:1995 역청탄 및 무연탄의 암석 분석 5부: 경탄 반사율의 미시적 측정 방법
- BS DD ISO/TS 10798:2011 나노기술 주사전자현미경과 에너지분산형 X선 분광법을 이용한 단일벽 탄소나노튜브의 특성 규명.
- BS ISO 11952:2019 표면 화학 분석 스캐닝 프로브 현미경 SPM을 사용한 기하학적 양 결정: 측정 시스템 교정
- BS ISO 15632:2012 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석을 위한 에너지 분산형 X선 분광계 검사를 위해 선택된 장비의 사양 및 성능 매개변수
- BS ISO 15632:2021 전자 탐침 미세 분석용 에너지 분산형 X선 분광계 검사를 위한 마이크로빔 분석 사양 및 선택된 기기 성능 매개변수
- 18/30351714 DC BS ISO 21363 나노기술 투과전자현미경을 통한 입자 크기 및 모양 분포 측정
- 18/30351679 DC BS ISO 19749 나노기술 주사전자현미경을 통한 입자 크기 및 형태 분포 측정
- BS ISO 11938:2012 마이크로빔 분석 전자탐침 미세분석 파장분산분광법을 이용한 원소맵 분석 방법
Association Francaise de Normalisation, 분할빔 현미경
- X11-660:1983 광학 현미경 방법에 의한 입자 크기 현미경 분석에 대한 일반 지침
- NF X21-003:2006 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세분석 파장 분포 X선 분광법의 정량 분석 가이드
- XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 마이크로빔 분석 주사전자현미경을 이용한 이미지 선명도 평가 방법
- XP ISO/TS 24597:2011 마이크로빔 분석 - 주사 전자 현미경 - 이미지 선명도 평가 방법
- NF X11-661:1990 입자 크기 분석, 분말 크기 결정, 광학 현미경 방법
- NF X21-007:2008 마이크로빔 분석 전자 탐침 미세 분석 검량선 방법을 통한 강철의 탄소 함량 결정에 대한 안내입니다.
- NF G06-008*NF EN ISO 20705:2020 직물의 정량적 현미경 분석 테스트에 대한 일반 원칙
- NF EN ISO 20705:2020 섬유, 현미경 정량 분석, 테스트의 일반 원칙.
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- NF A91-110:2004 금속 및 산화물 코팅 코팅 두께 측정 현미경
- NF A91-110*NF EN ISO 1463:2021 금속 및 산화물 코팅 코팅 두께 측정 현미경
- NF A91-108:1995 금속 코팅 코팅 두께 측정 주사전자현미경법
- NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 주사전자현미경을 통한 금속 코팅의 코팅 두께 측정
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- NF X43-050:2021 투과전자현미경 간접법을 이용한 석면섬유 농도의 공기질 측정
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- NF EN ISO 8254-1:2009 종이 및 보드 - 경면 광택 측정 - 1부: 수렴 빔을 사용한 75° 광택, TAPPI 방법
- NF T16-404:2020 나노기술 투과전자현미경을 통한 입자 크기 및 형상 분포 측정
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- NF X43-050:1996 공기질 전자현미경 투과법에 의한 석면 섬유 밀도 측정 간접법
- NF E48-660:1991 광학 현미경 및 이미지 분석을 통해 유압유 및 동력 유체의 고체 입자 오염 확인
- NF EN 14086:2003 종이 및 보드 - 경면광택 측정 - 45° 평행빔을 이용한 광택, DIN 방식
- NF X21-002:2007 마이크로빔 분석, 전자 탐침 미세분석, 파장 분산 분광법을 위한 실험 매개변수 결정에 대한 안내입니다.
- NF E48-651*NF ISO 4407:2002 유압 유체 동력 유체 오염 광학 현미경 계수를 통한 미립자 오염 확인
- NF G07-142-1*NF EN ISO 17751-1:2016 직물 캐시미어, 울, 기타 특수 동물성 섬유 및 이들의 혼방의 정량 분석 1부: 광학 현미경
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- NF EN ISO 14880-2:2007 광학 및 포토닉스 - 마이크로렌즈 어레이 - 2부: 파면 수차 테스트 방법
- NF C93-546-22-1*NF EN 62629-22-1:2013 3차원 디스플레이 장치 제22-1부: 자동 분광 입체 디스플레이의 광학 측정 방법
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, 분할빔 현미경
IN-BIS, 분할빔 현미경
American Society for Testing and Materials (ASTM), 분할빔 현미경
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 분할빔 현미경
VN-TCVN, 분할빔 현미경
TH-TISI, 분할빔 현미경
工业和信息化部, 분할빔 현미경
Professional Standard - Petrochemical Industry, 분할빔 현미경
(U.S.) Ford Automotive Standards, 분할빔 현미경
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, 분할빔 현미경
Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), 분할빔 현미경
Professional Standard - Commodity Inspection, 분할빔 현미경
European Committee for Standardization (CEN), 분할빔 현미경
German Institute for Standardization, 분할빔 현미경
Standard Association of Australia （SAA）, 분할빔 현미경
PL-PKN, 분할빔 현미경
Professional Standard - Education, 분할빔 현미경
Group Standards of the People's Republic of China, 분할빔 현미경
RU-GOST R, 분할빔 현미경
Professional Standard - Machinery, 분할빔 현미경
PT-IPQ, 분할빔 현미경
Danish Standards Foundation, 분할빔 현미경
Association of German Mechanical Engineers, 분할빔 현미경
KR-KS, 분할빔 현미경
CH-SNV, 분할빔 현미경
农业农村部, 분할빔 현미경
国家质量监督检验检疫总局, 분할빔 현미경
Professional Standard - Coal, 분할빔 현미경
ZA-SANS, 분할빔 현미경
SE-SIS, 분할빔 현미경
Lithuanian Standards Office , 분할빔 현미경
Indonesia Standards, 분할빔 현미경
ES-UNE, 분할빔 현미경
AENOR, 분할빔 현미경
Professional Standard - Petroleum, 분할빔 현미경
International Electrotechnical Commission (IEC), 분할빔 현미경
TIA - Telecommunications Industry Association, 분할빔 현미경
CZ-CSN, 분할빔 현미경
Professional Standard - Nuclear Industry, 분할빔 현미경
Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, 분할빔 현미경
PH-BPS, 분할빔 현미경
AT-ON, 분할빔 현미경
未注明发布机构, 분할빔 현미경
ES-AENOR, 분할빔 현미경
CU-NC, 분할빔 현미경
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 분할빔 현미경
IT-UNI, 분할빔 현미경
GOSTR, 분할빔 현미경
未注明发布机构, 분할빔 현미경
Canadian General Standards Board （CGSB), 분할빔 현미경
YU-JUS, 분할빔 현미경