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Leiterplattenanalyse

Für die Leiterplattenanalyse gibt es insgesamt 9 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Leiterplattenanalyse die folgenden Kategorien: Gedruckte Schaltungen und Leiterplatten, Prüfung von Metallmaterialien.

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Leiterplattenanalyse

• IPC TM-650 2.3.28-2004 Ionenanalyse von Leiterplatten, Ionenchromatographie-Methode Revision A

US-ACEI, Leiterplattenanalyse

• IPC TM-650 2.3.28-1995 Ionenanalyse von Leiterplatten, Ionenchromatographie-Methode

IPC - Association Connecting Electronics Industries, Leiterplattenanalyse

• IPC TM-650 2.3.28A-2004 Ionenanalyse von Leiterplatten@ Ionenchromatographie-Methode
• IPC TM-650 2.3.28B-2012 Ionenanalyse von Leiterplatten@ Ionenchromatographie-Methode

U.S. Military Regulations and Norms, Leiterplattenanalyse

• ARMY MIL-C-62207 B NOTICE 1-1996 SCHALTKARTENBAUGRUPPE: 11743667 DIGITAL-ANALOG-KONVERTER
• ARMY MIL-C-62207 B (2)-1993 SCHALTKARTENBAUGRUPPE: 11743667 DIGITAL-ANALOG-KONVERTER
• ARMY MIL-C-62207 B-1981 SCHALTKARTENBAUGRUPPE: 11743667 DIGITAL-ANALOG-KONVERTER

Group Standards of the People's Republic of China, Leiterplattenanalyse

• T/CNIA 0108.1-2021 Methoden zur chemischen Analyse von Leiterplattenschrott - Teil 1: Bestimmung des Kupfergehalts mittels iodometrischer Methode
• T/CNIA 0108.2-2021 Methoden zur chemischen Analyse von Leiterplattenschrott – Teil 2: Bestimmung des Gold- und Silbergehalts mittels Feuerproben-Goldmethode

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