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So messen Sie Mikrometer

Für die So messen Sie Mikrometer gibt es insgesamt 166 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst So messen Sie Mikrometer die folgenden Kategorien: Getreide, Hülsenfrüchte und deren Produkte, Längen- und Winkelmessungen, Physik Chemie, Umfangreiche Testbedingungen und -verfahren, Erdölprodukte umfassend, Textilfaser, Straßenarbeiten, Land-und Forstwirtschaft, Metallerz, analytische Chemie, Drahtlose Kommunikation, Baumaterial, Einrichtungen im Gebäude, Wasserqualität, Diskrete Halbleitergeräte, Materialien für die Luft- und Raumfahrtfertigung, Optik und optische Messungen, Chemikalien, Zerstörungsfreie Prüfung, Luftqualität, Straßenfahrzeuggerät.


British Standards Institution (BSI), So messen Sie Mikrometer

  • BS PD CEN/TS 17629:2021 Nanotechnologien. Kratztests im Nano- und Mikromaßstab
  • PD CEN ISO/TR 11811:2012 Nanotechnologien. Anleitung zu Methoden für Nano- und Mikrotribologiemessungen
  • BS EN ISO 10370:1996 Erdölprodukte – Bestimmung des Kohlenstoffrückstands – Mikromethode
  • BS EN ISO 10370:2014 Erdölprodukte. Bestimmung von Kohlenstoffrückständen. Mikromethode
  • PD IEC TS 62607-9-1:2021 Nanofertigung. Wichtige Kontrollmerkmale. Rückverfolgbare ortsaufgelöste nanoskalige Streumagnetfeldmessungen. Magnetkraftmikroskopie
  • BS ISO 19749:2021 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • BS ISO 23202:2006 Aluminiumoxid, das zur Herstellung von Aluminium verwendet wird. Bestimmung der Partikel, die ein Sieb mit einer Maschenweite von 20 Mikrometern passieren
  • BS EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
  • BS EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • BS ISO 21363:2020 Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
  • 18/30351714 DC BS ISO 21363. Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
  • 18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotechnologien. Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • BS EN ISO 28439:2011 Arbeitsplatzatmosphären. Charakterisierung ultrafeiner Aerosole/Nanoaerosole. Bestimmung der Größenverteilung und Anzahlkonzentration mittels differentieller Elektromobilitätsanalysesysteme
  • BS ISO 13095:2014 Chemische Oberflächenanalyse. Rasterkraftmikroskopie. Verfahren zur In-situ-Charakterisierung des AFM-Sondenschaftprofils, das für die Nanostrukturmessung verwendet wird

Danish Standards Foundation, So messen Sie Mikrometer

  • DS/CEN/TS 17629:2021 Nanotechnologien – Kratztests im Nano- und Mikromaßstab
  • DS/CEN ISO/TR 11811:2012 Nanotechnologien – Leitfaden zu Methoden für Nano- und Mikrotribologiemessungen
  • DS/EN 13443-1+A1:2008 Wasseraufbereitungsgeräte in Gebäuden – Mechanische Filter – Teil 1: Partikelgröße 80 µm bis 150 µm – Anforderungen an Leistung, Sicherheit und Prüfung
  • DS/EN 13443-2+A1:2007 Wasseraufbereitungsgeräte in Gebäuden – Mechanische Filter – Teil 2: Partikelgröße 1 µm bis weniger als 80 µm – Anforderungen an Leistung, Sicherheit und Prüfung
  • DS/ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie

German Institute for Standardization, So messen Sie Mikrometer

  • DIN CEN/TS 17629:2021-08 Nanotechnologien – Kratztests im Nano- und Mikromaßstab; Deutsche Fassung CEN/TS 17629:2021
  • DIN CEN ISO/TR 11811:2012-12*DIN SPEC 91217:2012-12 Nanotechnologien – Leitlinien zu Methoden für Nano- und Mikrotribologiemessungen (ISO/TR 11811:2012); Deutsche Fassung CEN ISO/TR 11811:2012
  • DIN CEN/TS 17629:2021 Nanotechnologien – Kratztests im Nano- und Mikromaßstab; Deutsche Fassung CEN/TS 17629:2021
  • DIN CEN ISO/TR 11811:2012 Nanotechnologien – Leitfaden zu Methoden für Nano- und Mikrotribologiemessungen (ISO/TR 11811:2012); Deutsche Fassung CEN ISO/TR 11811:2012
  • DIN ISO 18516:2020-11 Chemische Oberflächenanalyse – Bestimmung der lateralen Auflösung und Schärfe in strahlbasierten Methoden im Bereich von Nanometern bis Mikrometern (ISO 18516:2019); Text auf Englisch
  • DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotechnologien - Methoden zur Vorbereitung und Auswertung für Partikelmessungen mit Rasterkraftmikroskopie (AFM) und Transmissionsrasterelektronenmikroskopie (TSEM)
  • DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021); Deutsche Fassung EN ISO 19749:2023
  • DIN EN ISO 21363:2022-03 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020); Deutsche Fassung EN ISO 21363:2022
  • DIN ISO 18516:2020 Chemische Oberflächenanalyse – Bestimmung der lateralen Auflösung und Schärfe in strahlbasierten Methoden im Bereich von Nanometern bis Mikrometern (ISO 18516:2019); Text auf Englisch

AT-ON, So messen Sie Mikrometer

  • ONR CEN/TS 17629-2021 Nanotechnologien – Kratztests im Nano- und Mikromaßstab
  • OENORM EN ISO 21363:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020)

Lithuanian Standards Office , So messen Sie Mikrometer

  • LST CEN/TS 17629-2021 Nanotechnologien – Kratztests im Nano- und Mikromaßstab
  • LST EN 13443-1+A1-2007 Wasseraufbereitungsgeräte in Gebäuden – Mechanische Filter – Teil 1: Partikelgröße 80 µm bis 150 µm – Anforderungen an Leistung, Sicherheit und Prüfung
  • LST EN 13443-2+A1-2007 Wasseraufbereitungsgeräte in Gebäuden – Mechanische Filter – Teil 2: Partikelgröße 1 µm bis weniger als 80 µm – Anforderungen an Leistung, Sicherheit und Prüfung

Association Francaise de Normalisation, So messen Sie Mikrometer

  • XP T16-109*XP CEN/TS 17629:2021 Nanotechnologien – Kratztests im Nano- und Mikromaßstab
  • XP CEN/TS 17629:2021 Nanotechnologien – Kratztests im nano- und mikrometrischen Maßstab
  • NF M07-069:1995 Erdölprodukte. Bestimmung von Kohlenstoffrückständen. Mikromethode.
  • NF X11-642:1982 Partikelbestimmung. Screening von abgestuften Pulvern unter 200 Mikron in Flüssigkeiten
  • NF T16-404:2020 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
  • NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
  • NF EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Bestimmung der Partikelgrößen- und Formverteilung mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • NF EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Bestimmung der Partikelgrößen- und Formverteilung mittels Transmissionselektronenmikroskopie
  • XP P94-060-1:1997 Böden: Erkennung und Tests – Austrocknungstest – Teil 1: Konventionelle Bestimmung der Schrumpfgrenze bei 400 Mikrometern eines Materials.
  • NF T20-218*NF ISO 8220:1987 Aluminiumoxid wird hauptsächlich zur Herstellung von Aluminium verwendet. Bestimmung der Feinpartikelgrößenverteilung (weniger als 60 Mikrometer). Verfahren unter Verwendung elektrogeformter Siebe.
  • NF ISO 8220:1987 Aluminiumoxid, das hauptsächlich zur Herstellung von Aluminium verwendet wird – Bestimmung der Feinpartikelgrößenverteilung (weniger als 60 Mikrometer) – Methode unter Verwendung von elektrogeformten Sieben.

European Committee for Standardization (CEN), So messen Sie Mikrometer

  • PD CEN/TS 17629:2021 Nanotechnologien – Kratztests im Nano- und Mikromaßstab
  • EN ISO/TR 11811:2012 Nanotechnologien – Leitfaden zu Methoden für Nano- und Mikrotribologiemessungen
  • CEN ISO/TR 11811:2012 Nanotechnologien – Leitfaden zu Methoden für Nano- und Mikrotribologiemessungen
  • EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020)
  • EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021)
  • prEN ISO 21363:2021 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020)
  • EN ISO 28439:2011 Arbeitsplatzatmosphären – Charakterisierung von ultrafeinen Aerosolen/Nanoaerosolen – Bestimmung der Größenverteilung und Anzahlkonzentration mittels differentieller Elektromobilitätsanalysesysteme (ISO 28439:2011)

ES-UNE, So messen Sie Mikrometer

  • UNE-CEN/TS 17629:2021 Nanotechnologien – Kratztests im Nano- und Mikromaßstab (Von der spanischen Vereinigung für Normung im Juli 2021 gebilligt.)
  • UNE-EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und -formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie (ISO 21363:2020) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Februar 2022.)
  • UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Formverteilungen durch Rasterelektronenmikroskopie (ISO 19749:2021) (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Mai 2023.)

RU-GOST R, So messen Sie Mikrometer

  • GOST 22162-1976 Reis. Methode zur Bestimmung der Mikrohärte
  • GOST 30240.6-1995 Barytkonzentrat. Methode zur Bestimmung des 6-mkm-Anteils der Gesamtmasse
  • GOST 8.591-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Reliefmaß im Nanometerbereich mit trapezförmigem Elementprofil. Verifikationsverfahren
  • GOST 8.592-2009 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Reliefmaße im Nanometerbereich von einkristallinem Silizium. Geometrische Formen, lineare Größe und Anforderungen an das Herstellungsmaterial

RO-ASRO, So messen Sie Mikrometer

HU-MSZT, So messen Sie Mikrometer

  • MNOSZ 15565-1956 Mikrometer-Messgerät für die Plattendicke
  • MSZ 11190-1986 Technische Anforderungen für die Durchflussmessung im Mikrometerbereich
  • MSZ 11401-1984 Hauptabmessungen der Durchflussmessung im Mikrometerbereich
  • MNOSZ 11153-1956 Messwerkzeuge für die mechanische Industrie. Mikron-Innenmessung 1/100 mm Ablesewert
  • MNOSZ 11152-1956 Messwerkzeuge für die mechanische Industrie. Die Mikron-Außenmessung hat einen Messwert von 1/100 mm
  • MNOSZ 11192-1953 Dreipunkt-Messbohrung im Mikrometerbereich mechanischer Industriemessgeräte
  • MNOSZ 11176-1952 Der Zahn eines mechanischen Industriemessgeräts misst Mikrometer und hat einen Ablesewert von 1/100 mm

未注明发布机构, So messen Sie Mikrometer

  • BS PD CEN ISO/TR 11811:2012 Nanotechnologien – Leitfaden zu Methoden für Nano- und Mikrotribologiemessungen
  • GJB 6923-2009 Prüfverfahren für die Eigenschaften der Bodenhintergrundnahfeld-Mikrowellen- und Millimeterwellenstrahlung
  • BS ISO 23202:2006(2007) Aluminiumoxid, das zur Herstellung von Aluminium verwendet wird – Bestimmung der Partikel, die ein Sieb mit einer Maschenweite von 20 Mikrometern passieren
  • DIN ISO 18516 E:2020-01 Chemische Oberflächenanalyse – Bestimmung der lateralen Auflösung und Schärfe in strahlbasierten Methoden im Bereich von Nanometern bis Mikrometern
  • DIN EN ISO 21363:2022 Nanotechnologien – Messungen von Partikelgrößen- und Partikelformverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
  • DIN EN ISO 21363 E:2021-09 Nanotechnology Measurement of Particle Size and Shape Distribution by Transmission Electron Microscopy (Draft)

International Organization for Standardization (ISO), So messen Sie Mikrometer

  • ISO/TR 11811:2012 Nanotechnologien – Leitfaden zu Methoden für Nano- und Mikrotribologiemessungen
  • ISO/TS 10797:2012 Nanotechnologien – Charakterisierung einwandiger Kohlenstoffnanoröhren mittels Transmissionselektronenmikroskopie
  • ISO 18516:2019 Chemische Oberflächenanalyse – Bestimmung der lateralen Auflösung und Schärfe in strahlbasierten Methoden im Bereich von Nanometern bis Mikrometern
  • ISO 21363:2020 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie
  • ISO 19749:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • ISO 23202:2006 Aluminiumoxid, das zur Herstellung von Aluminium verwendet wird – Bestimmung der Partikel, die ein Sieb mit einer Maschenweite von 20 Mikrometern passieren
  • ISO 8220:1986 Aluminiumoxid, das hauptsächlich zur Herstellung von Aluminium verwendet wird; Bestimmung der Feinpartikelgrößenverteilung (weniger als 60 mu/m); Verfahren unter Verwendung von elektrogeformten Sieben
  • ISO/CD 20724 Straßenfahrzeuge – Ansaugluftfilter für Verbrennungsmotoren, Kompressoreinlass und Fahrgasträume – Prüfung auf Submikrometerfiltration
  • ISO 28439:2011 Arbeitsplatzatmosphären - Charakterisierung ultrafeiner Aerosole/Nanoaerosole - Bestimmung der Größenverteilung und Anzahlkonzentration mittels differentieller Elektromobilitätsanalysesysteme
  • ISO 13095:2014 Chemische Oberflächenanalyse – Rasterkraftmikroskopie – Verfahren zur In-situ-Charakterisierung des AFM-Sondenschaftprofils, das für die Nanostrukturmessung verwendet wird

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, So messen Sie Mikrometer

  • GB/T 33714-2017 Nanotechnologie – Testmethode für die Größe von Nanopartikeln – Rasterkraftmikroskopie
  • GB/T 34168-2017 Testmethode für die biologische Wirkung von Gold- und Silber-Nanopartikelmaterialien mittels Transmissionselektronenmikroskop
  • GB/T 33839-2017 Methoden des Transmissionselektronenmikroskops für biologische Proben, die Kohlenstoffnanomaterialien mit biologischer Wirkung enthalten

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), So messen Sie Mikrometer

  • KS K ISO 2403:2019 Textilien – Baumwollfasern – Bestimmung des Mikronaire-Wertes
  • KS D 2716-2008(2018) Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
  • KS D 2716-2008 Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
  • KS M ISO 23202-2016(2021) Aluminiumoxid, das zur Herstellung von Aluminium verwendet wird – Bestimmung der Partikel, die ein Sieb mit einer Maschenweite von 20 Mikrometern passieren
  • KS M ISO 8220:2003 Aluminiumoxid wird hauptsächlich zur Herstellung von Aluminium verwendet – Bestimmung der Feinpartikelgrößenverteilung (weniger als 60 µm) – Methode unter Verwendung von elektrogeformten Sieben
  • KS M ISO 23202:2011 Aluminiumoxid, das zur Herstellung von Aluminium verwendet wird. Bestimmung der Partikel, die ein Sieb mit einer Maschenweite von 20 Mikrometern passieren
  • KS M ISO 23202:2016 Aluminiumoxid, das zur Herstellung von Aluminium verwendet wird – Bestimmung der Partikel, die ein Sieb mit einer Maschenweite von 20 Mikrometern passieren
  • KS I ISO 28439:2013 Arbeitsplatzatmosphären ― Charakterisierung ultrafeiner Aerosole/Nanoaerosole ― Bestimmung der Größenverteilung und Anzahlkonzentration mittels differentieller Elektromobilitätsanalysesysteme

KR-KS, So messen Sie Mikrometer

  • KS K ISO 2403-2019 Textilien – Baumwollfasern – Bestimmung des Mikronaire-Wertes
  • KS D 2716-2023 Messung des Nanopartikeldurchmessers – Transmissionselektronenmikroskop
  • KS M ISO 23202-2016 Aluminiumoxid, das zur Herstellung von Aluminium verwendet wird – Bestimmung der Partikel, die ein Sieb mit einer Maschenweite von 20 Mikrometern passieren
  • KS M ISO 8220-2003(2023) Aluminiumoxid für die Aluminiumproduktion – Bestimmung der Feinpartikelgrößenverteilung (weniger als 60 µm) – Verfahren unter Verwendung elektrogeformter Siebe
  • KS C ISO 19749-2023 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Rasterelektronenmikroskopie
  • KS C ISO 21363-2023 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie

American Society for Testing and Materials (ASTM), So messen Sie Mikrometer

  • ASTM E670-94(2000) Standardtestmethode für Seitenkraftreibung auf gepflasterten Oberflächen mit dem Mu-Meter
  • ASTM E670-09(2015) Standardtestmethode zum Testen der Seitenkraftreibung auf gepflasterten Oberflächen mit dem Mu-Meter
  • ASTM E670-09 Standardtestmethode für Seitenkraftreibung auf gepflasterten Oberflächen mit dem Mu-Meter
  • ASTM E2859-11(2017) Standardhandbuch zur Größenmessung von Nanopartikeln mittels Rasterkraftmikroskopie
  • ASTM E285-08(2015) Standardtestmethode für die Oxyacetylen-Ablationsprüfung von Wärmedämmmaterialien
  • ASTM E2859-11(2023) Standardhandbuch zur Größenmessung von Nanopartikeln mittels Rasterkraftmikroskopie
  • ASTM F1226-89(1994)e1 Standardtestmethode zur Kalibrierung von Partikelzählern für in Flüssigkeiten enthaltene Partikel zur Partikelgrößenbestimmung im Submikrometerbereich (zurückgezogen 2002)
  • ASTM D8526-23 Standardtestmethode für analytische Verfahren unter Verwendung der Transmissionselektronenmikroskopie zur Bestimmung der Konzentration von Kohlenstoffnanoröhren und Kohlenstoffnanoröhren enthaltenden Partikeln in der Umgebung
  • ASTM F50-12 Standardpraxis für die kontinuierliche Größenbestimmung und Zählung luftgetragener Partikel in staubkontrollierten Bereichen und Reinräumen unter Verwendung von Instrumenten, die einzelne Partikel im Submikrometerbereich und größere Partikel erkennen können

国家质量监督检验检疫总局, So messen Sie Mikrometer

  • SN/T 4864-2017 Mikrofluidische Chip-Detektionsmethode zur Erkennung von gentechnisch verändertem Mais
  • SN/T 4993-2017 Quantitative Tröpfchen-Digital-PCR-Methode zum Nachweis von gentechnisch verändertem Mais

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, So messen Sie Mikrometer

  • GB/T 36969-2018 Nanotechnologie – Methode zur Messung der Nanofilmdicke mittels Rasterkraftmikroskopie
  • GB/T 40066-2021 Nanotechnologien – Dickenmessung von Graphenoxid – Rasterkraftmikroskopie (AFM)

VN-TCVN, So messen Sie Mikrometer

  • TCVN 7865-2008 Erdölprodukte.Methode zur Bestimmung von Kohlenstoffrückständen (Mikromethode)
  • TCVN 4718-1989 Pestizidrückstände in Reis und Sojabohnen. Bestimmung von Gamma-BHC-Rückständen

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, So messen Sie Mikrometer

  • GB/T 16594-1996 Längenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
  • GB/T 16594-2008 Allgemeine Regeln für die Längenmessung im Mikrometerbereich mittels REM
  • GB/T 43196-2023 Nanotechnologische Rasterelektronenmikroskopie zur Messung der Größen- und Formverteilung von Nanopartikeln
  • GB/T 33252-2016 Nanotechnologie – Leistungstests für konfokale Lasermikroskop-Raman-Spektrometer
  • GB/T 28044-2011 Allgemeiner Leitfaden zur Nachweismethode für die biologische Wirkung von Nanomaterialien mittels Transmissionselektronenmikroskop (TEM)
  • GB/T 22462-2008 Nano-, Submikron-Film auf Stahl. Quantitative Tiefenprofilanalyse. Glimmentladungs-Atomemissionsspektrometrie
  • GB/T 23413-2009 Bestimmung der Kristallitgröße und Mikrospannung von Nanomaterialien. Röntgenbeugungslinienverbreiterungsmethode
  • GB/Z 21738-2008 Grundlegende Strukturen eindimensionaler Nanomaterialien. Charakterisierung durch hochauflösende Transmissionselektronenmikroskopie
  • GB/T 28873-2012 Allgemeiner Leitfaden zur Umwelt-Rasterelektronenmikroskopie für biologische Effekte auf die Topographie, die durch Nanopartikel hervorgerufen werden
  • GB/T 28872-2012 Testmethode eines magnetischen Rasterkraftmikroskops mit leichtem Schlagmodus für die Nanotopographie lebender Zellen
  • GB/T 27760-2011 Testmethode zur Kalibrierung der Z-Vergrößerung eines Rasterkraftmikroskops bei Verschiebungsniveaus im Subnanometerbereich unter Verwendung einatomiger Si(111)-Schritte

Group Standards of the People's Republic of China, So messen Sie Mikrometer

  • T/MJM 001-2022 Messmethode für EVM für Mikrowellen- und Millimeterwellenmodule
  • T/CASAS 019-2021 Testmethode für den spezifischen Widerstand von Mikro- und Nanometall-Sinterkörpern: Vier-Sonden-Methode
  • T/GDNB 45-2021 Schnelle Bestimmung von Selen in Reis und Böden durch mikrooffenen Graphitaufschluss – Atomfluoreszenzspektrometrie
  • T/NAIA 0271-2023 Bestimmung von 2-Acetyl-1-pyrrolin in Reis mittels Headspace-Festphasen-Mikroextraktion-GC-MS

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, So messen Sie Mikrometer

  • GJB 6182-2007 Die Strahlungsmessmethoden von Zielen auf Mikrowellen- oder Millimeterwellen im Nahfeld
  • GJB 8168-2014 Methode zur Mikrowellen- und Millimeterwellenmessung für den Radarquerschnitt und den Stealth-Effekt im Außenbereich
  • GJB 6182A-2021 Ziel und seine Umgebung Nahfeld-Mikrowellen; Prüfverfahren für die Strahlungseigenschaften von Millimeterwellen

Professional Standard - Military and Civilian Products, So messen Sie Mikrometer

  • WJ 2387-1997 Verifizierungsvorschriften für Mikrowellen- und Millimeterwellen-Phasenrauschtestsysteme

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, So messen Sie Mikrometer

  • DB32/T 4378-2022 Vier-Sonden-Methode zur zerstörungsfreien Prüfung des Schichtwiderstands von dünnen Filmen im Nanometer- und Submikronbereich auf der Substratoberfläche

Indonesia Standards, So messen Sie Mikrometer

  • SNI 03-1753-1990 Grobe Zuschlagstoffe für Beton, Bestimmung der Feinkörnigkeit kleiner als 70 Mikron
  • SNI 03-1754-1990 Feine Zuschlagstoffe für Mischgut und Beton, Bestimmung von Feinkörnern kleiner als 50 Mikron

AASHTO - American Association of State Highway and Transportation Officials, So messen Sie Mikrometer

  • T 128-1997 Standard Method of Test for Fineness of Hydraulic Cement by the 150-um (No. 100) and 75-um (No. 200) Sieves (HM-22; Part IIA; ASTM Designation: C 184-94)
  • T 192-2011 Standardmethode zur Prüfung der Feinheit von hydraulischem Zement mit dem 45-μm-Sieb (Nr. 325).
  • T 192-1993 Standardmethode zur Prüfung der Feinheit von hydraulischem Zement mit dem 45-Mikrometer-Sieb (Nr. 325) (ASTM C430-92)
  • T 11-2005 Standardmethode zum Testen von Materialien mit einer Feinheit von mehr als 75 μm (Nr. 200). Sieben Sie mineralische Zuschlagstoffe durch Waschen

PH-BPS, So messen Sie Mikrometer

  • PNS ISO 21363:2021 Nanotechnologien – Messungen der Partikelgrößen- und Formverteilungen mittels Transmissionselektronenmikroskopie

The American Road & Transportation Builders Association, So messen Sie Mikrometer

  • AASHTO T 192-2011 Standardmethode zur Prüfung der Feinheit von hydraulischem Zement mit dem 45-μm-Sieb (Nr. 325).
  • AASHTO T 128-1997 Standardmethode zur Prüfung der Feinheit von hydraulischem Zement mit den 150-um- (Nr. 100) und 75-um-Sieben (Nr. 200) HM-22; Teil IIA; ASTM-Bezeichnung: C 184-94 R(2001)

Standard Association of Australia (SAA), So messen Sie Mikrometer

  • AS 2350.9:1997 Methoden zur Prüfung von Portland- und Mischzementen – Bestimmung des Rückstands auf dem 45-Mikrometer-Sieb
  • AS 1141.12:1996 Methoden zur Probenahme und Prüfung von Aggregaten – Materialien, die in Aggregaten feiner als 75 Mikrometer sind (durch Waschen)
  • AS 2350.9:2006 Methoden zur Prüfung von Portland-, Misch- und Mauerzementen – Bestimmung des Rückstands auf dem 45-Mikrometer-Sieb
  • AS 3583.1:1998 Prüfverfahren für zusätzliche zementhaltige Materialien zur Verwendung mit Portland- und Mischzement – Bestimmung der Feinheit durch das 45-Mikrometer-Sieb

PT-IPQ, So messen Sie Mikrometer

  • NP 700-1980 Joghurt. Mikrobiologische Analyse. Messung der Anzahl der Hefen und Schimmelpilze pro Kubikzentimeter

International Electrotechnical Commission (IEC), So messen Sie Mikrometer

  • IEC TS 62607-9-1:2021 Nanofertigung – Wichtige Kontrollmerkmale – Teil 9-1: Rückverfolgbare ortsaufgelöste nanoskalige Streumagnetfeldmessungen – Magnetkraftmikroskopie

CEN - European Committee for Standardization, So messen Sie Mikrometer

  • PREN 17199-2-2018 Exposition am Arbeitsplatz – Messung der Staubigkeit von Schüttgütern, die Nanoobjekte oder Submikrometerpartikel enthalten oder freisetzen – Teil 2: Rotierende Trommelmethode
  • PREN 17199-1-2017 Exposition am Arbeitsplatz – Messung der Staubigkeit von Schüttgütern, die Nanoobjekte oder Submikrometerpartikel enthalten oder freisetzen – Teil 1: Anforderungen und Auswahl von Prüfmethoden
  • PREN 17199-4-2017 Exposition am Arbeitsplatz – Messung der Staubigkeit von Schüttgütern, die Nanoobjekte oder Partikel im Submikrometerbereich enthalten oder freisetzen – Teil 4: Methode mit kleinen rotierenden Trommeln
  • PREN 17199-3-2017 Exposition am Arbeitsplatz – Messung der Staubigkeit von Schüttgütern, die Nanoobjekte oder Submikrometerpartikel enthalten oder freisetzen – Teil 3: Kontinuierliche Tropfenmethode
  • PREN 17199-5-2017 Exposition am Arbeitsplatz – Messung der Staubigkeit von Schüttgütern, die Nanoobjekte oder Partikel im Submikrometerbereich enthalten oder freisetzen – Teil 5: Vortex-Shaker-Methode

National Association of Corrosion Engineers (NACE), So messen Sie Mikrometer

  • NACE TM0384-2002 Feiertagserkennung von inneren röhrenförmigen Beschichtungen mit einer Trockenfilmdicke von weniger als 250 Mikrometern (10 mil), Artikel-Nr.: 21216
  • NACE TM0186-2002 Feiertagserkennung von inneren röhrenförmigen Beschichtungen mit einer Trockenfilmdicke von 250 bis 760 µm (10 bis 30 Mil), Artikel-Nr.: 21218
  • NACE RP0490-2001 Feiertagserkennung von schmelzgebundenen externen Rohrleitungsbeschichtungen aus Epoxidharz mit einer Dicke von 250 bis 760 Mikrometern (10 bis 30 Mil), Artikel-Nr. 21045
  • NACE SP0490-2007 Urlaubserkennung von schmelzgebundenen externen Pipeline-Beschichtungen aus Epoxidharz mit einer Dicke von 250 bis 760 µm (10 bis 30 Mil), Artikel-Nr. 21045

Association for Information and Image Management (AIIM), So messen Sie Mikrometer

  • AIIM MS24-1996 Standard-Testziel zur Verwendung bei der Mikroverfilmung von Quelldokumenten und technischen Grafiken auf 35-mm-Mikrofilm

GOSTR, So messen Sie Mikrometer

  • GOST 8.536-1985 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Staatlicher Prüfplan für Mittel zur Messung der Schichtdicke im Bereich von 1 bis 20.000 µm

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), So messen Sie Mikrometer

  • IEEE 287.2-2021 Von der IEEE empfohlene Praxis für Präzisionskoaxialsteckverbinder bei HF-, Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen – Teil 2: Testverfahren
  • IEEE Std 287.2-2021 Von der IEEE empfohlene Praxis für Präzisionskoaxialsteckverbinder bei HF-, Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen – Teil 2: Testverfahren
  • IEEE P287.2/D8, May 2021 IEEE-Entwurf einer empfohlenen Praxis für Präzisionskoaxialsteckverbinder bei HF-, Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen – Teil 2: Testverfahren
  • IEEE P287.2/D10, August 2021 IEEE-Entwurf einer empfohlenen Praxis für Präzisionskoaxialsteckverbinder bei HF-, Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen – Teil 2: Testverfahren




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