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RUKristallenthalpie
Für die Kristallenthalpie gibt es insgesamt 500 relevante Standards.
In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Kristallenthalpie die folgenden Kategorien: Plastik, Rohrteile und Rohre, Prüfung von Metallmaterialien, Gummi- und Kunststoffprodukte, Thermodynamik und Temperaturmessung, medizinische Ausrüstung, Piezoelektrische und dielektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl, Glas, Pestizide und andere landwirtschaftliche Chemikalien, Umfangreiche elektronische Komponenten, Diskrete Halbleitergeräte, Optoelektronik, Lasergeräte, IT-Terminals und andere Peripheriegeräte, Anorganische Chemie, analytische Chemie, Halbleitermaterial, Filter, Allgemeine Grundsätze der Standardisierung, Kernenergietechnik, Elektrische und elektronische Prüfung, Audio-, Video- und audiovisuelle Technik, Industrieofen, Strahlungsmessung, Optik und optische Messungen, magnetische Materialien, Solartechnik, Batterien und Akkus, Physik Chemie, organische Chemie, nichtmetallische Mineralien, Keramik, erziehen, Wortschatz, Zucker, Zuckerprodukte, Stärke, Umfangreiche Testbedingungen und -verfahren, Straßenfahrzeuggerät, Gleichrichter, Wandler, geregelte Netzteile, Film, Komponenten elektrischer Geräte, Schmuck, Nichteisenmetalle, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, Schneidewerkzeuge, Elektronische Anzeigegeräte, Partikelgrößenanalyse, Screening, Chemikalien, Metallproduktion, Elektrische Geräte, die unter besonderen Arbeitsbedingungen verwendet werden, grafische Symbole, Spanlose Bearbeitungsgeräte, Energie- und Wärmeübertragungstechnik umfassend.
British Standards Institution (BSI), Kristallenthalpie
- BS EN ISO 11357-3:2013 Kunststoffe. Dynamische Differenzkalorimetrie (DSC). Bestimmung der Temperatur und der Schmelz- und Kristallisationsenthalpie
- BS ISO 18373-2:2008 Starre PVC-Rohre – Methode der Differentialscanningkalorimetrie (DSC) – Messung der Schmelzenthalpie von Kristalliten
- BS EN ISO 11357-3:2018 Kunststoffe. Dynamische Differenzkalorimetrie (DSC). Bestimmung der Temperatur und der Schmelz- und Kristallisationsenthalpie
- BS EN ISO 11979-7:2018 Augenimplantate. Intraokularlinsen. Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie
- BS EN ISO 11979-7:2024 Augenimplantate. Intraokularlinsen – Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie
- BS EN ISO 11979-10:2018 Augenimplantate. Intraokularlinsen. Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Fehlsichtigkeiten bei phaken Augen
- BS EN ISO 11979-10:2006 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Phaken Intraokularlinsen
- 23/30453001 DC BS EN ISO 11979-7. Augenimplantate. Intraokularlinsen – Teil 7. Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie
- BS EN 120003:1986 Spezifikation für ein harmonisiertes System zur Qualitätsbewertung elektronischer Bauteile – Vordruck für Bauartspezifikation – Fototransistoren, Photodarlington-Transistoren, Fototransistor-Arrays
- BS EN 60444-9:2007 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten
- BS EN IEC 60122-4:2019 Quarzkristalleinheiten mit geprüfter Qualität - Kristalleinheiten mit Thermistoren
- BS EN 120003:1993 Spezifikation für ein harmonisiertes System zur Qualitätsbewertung elektronischer Komponenten. Leere Detailspezifikation. Fototransistoren, Photodarlington-Transistoren, Fototransistor-Arrays
- BS EN 50513:2009 Solarwafer – Datenblatt und Produktinformationen für kristalline Siliziumwafer für die Solarzellenherstellung
- BS EN 60444-8:2003 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
- BS EN 60444-8:2017 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten. Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
- BS IEC 60747-7:2011 Halbleiterbauelemente. Diskrete Bauelemente. Bipolartransistoren
- BS IEC 60747-7:2010 Halbleiterbauelemente. Diskrete Bauelemente. Bipolartransistoren
- BS IEC 60747-7:2010+A1:2019 Halbleiterbauelemente. Diskrete Geräte – Bipolartransistoren
Association Francaise de Normalisation, Kristallenthalpie
- NF T51-507-3:2013 Kunststoffe - Dynamische Differenzkalorimetrie (DSC) - Teil 3: Bestimmung der Temperatur und der Schmelz- und Kristallisationsenthalpie
- NF T51-507-3*NF EN ISO 11357-3:2018 Kunststoffe – Dynamische Differenzkalorimetrie (DSC) – Teil 3: Bestimmung der Temperatur und der Schmelz- und Kristallisationsenthalpie
- NF B30-004:1974 GLAS.KRISTALL,KRISTALLGLAS,KRISTALLIN.
- NF C93-120-003*NF EN 120003:1992 Leere Bauartspezifikation: Fototransistoren, Fotodarlington-Transistoren, Fototransistor-Arrays
- NF EN 120003:1992 Spezielle Rahmenspezifikation: Fototransistoren, Fotodarlington-Transistoren, Fototransistornetzwerke
- NF EN ISO 11979-7:2018 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 7: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie
- NF S94-750-7*NF EN ISO 11979-7:2018 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 7: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie
- NF EN ISO 11979-10:2018 Ophthalmologische Implantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Fehlsichtigkeiten bei phaken Augen
- NF S94-750-10*NF EN ISO 11979-10:2018 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Fehlsichtigkeiten bei phaken Augen
- NF C96-611/A1:1972 Halbleiter Sperrschichttransistoren Besondere Normblätter
- NF S94-750-10:2006 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Phake Intraokularlinsen.
- NF S94-750-10/A1:2014 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Phaken Intraokularlinsen – Änderung 1
American Society for Testing and Materials (ASTM), Kristallenthalpie
- ASTM D3418-12e1 Standardtestmethode für Übergangstemperaturen und Schmelz- und Kristallisationsenthalpien von Polymeren durch dynamische Differenzkalorimetrie
- ASTM D3418-12 Standardtestmethode für Übergangstemperaturen und Schmelz- und Kristallisationsenthalpien von Polymeren durch dynamische Differenzkalorimetrie
- ASTM E793-01 Standardtestmethode für Schmelz- und Kristallisationsenthalpien durch dynamische Differenzkalorimetrie
- ASTM E793-95 Standardtestmethode für Schmelz- und Kristallisationsenthalpien durch dynamische Differenzkalorimetrie
- ASTM E793-06(2018) Standardtestmethode für Schmelz- und Kristallisationsenthalpien durch dynamische Differenzkalorimetrie
- ASTM E793-06 Standardtestmethode für Schmelz- und Kristallisationsenthalpien durch dynamische Differenzkalorimetrie
- ASTM E341-08(2020) Standardpraxis zur Messung der Plasma-Lichtbogen-Gasenthalpie anhand der Energiebilanz
- ASTM E341-96(2002) Standardpraxis zur Messung der Plasma-Lichtbogen-Gasenthalpie anhand der Energiebilanz
- ASTM E341-96 Standardpraxis zur Messung der Plasma-Lichtbogen-Gasenthalpie anhand der Energiebilanz
- ASTM E341-08 Standardpraxis zur Messung der Plasma-Lichtbogen-Gasenthalpie anhand der Energiebilanz
- ASTM E341-08(2015) Standardpraxis zur Messung der Plasma-Lichtbogen-Gasenthalpie anhand der Energiebilanz
- ASTM D3418-21 Standardtestmethode für Übergangstemperaturen und Schmelz- und Kristallisationsenthalpien von Polymeren durch dynamische Differenzkalorimetrie
- ASTM F2625-10(2016) Standardtestmethode zur Messung der Schmelzenthalpie, des Kristallinitätsprozentsatzes und des Schmelzpunkts von Polyethylen mit ultrahohem Molekulargewicht mittels Differentialscanningkalorimetrie
- ASTM F2625-10 Standardtestmethode zur Messung der Schmelzenthalpie, des Kristallinitätsprozentsatzes und des Schmelzpunkts von Polyethylen mit ultrahohem Molekulargewicht mittels Differentialscanningkalorimetrie
- ASTM F2625-07 Standardtestmethode zur Messung der Schmelzenthalpie, des Kristallinitätsprozentsatzes und des Schmelzpunkts von Polyethylen mit ultrahohem Molekulargewicht mittels Differentialscanningkalorimetrie
ESDU - Engineering Sciences Data Unit, Kristallenthalpie
- ESDU 86007 B-2003 Wärmekapazität und Enthalpie von Flüssigkeiten: Alkane.
- ESDU 75015 A-2003 Wärmekapazität und Enthalpie von Flüssigkeiten: aromatische Kohlenwasserstoffe.
- ESDU 79028 B-2005 Wärmekapazität und Enthalpie von Flüssigkeiten: aliphatische Alkohole.
- ESDU 79028 A-2003 Wärmekapazität und Enthalpie von Flüssigkeiten: Aliphatische Alkohole
- ESDU 76010 B-2003 Wärmekapazität und Enthalpie von Flüssigkeiten: halogenierte Methane.
- ESDU 81030 A-2003 Wärmekapazität und Enthalpie von Flüssigkeiten: aliphatische Ketone.
- ESDU 86023 A-2003 Wärmekapazität und Enthalpie von Flüssigkeiten: Alkene und Alkadiene.
- ESDU 77007 A-2003 Wärmekapazität und Enthalpie von Flüssigkeiten: halogenierte Ethane und Ethylene.
- ESDU 85024 A-2003 Wärmekapazität und Enthalpie von Flüssigkeiten: organische Schwefelverbindungen (Thiole und Sulfide).
Natural Gas Processor's Association (NGPA), Kristallenthalpie
- GPA RR-3-1971 Enthalpie und Entropie unpolarer Flüssigkeiten bei niedrigen Temperaturen
- GPA RR-37-1979 Enthalpiemessungen an synthetischen Gassystemen: Wasserstoff-Methan Wasserstoff-Kohlenmonoxid
- GPA RR-130-1995 Thermodynamisch konsistentes Modell zur Vorhersage der Löslichkeiten und Lösungsenthalpien saurer Gase in wässrigen Alkanolaminlösungen
工业和信息化部, Kristallenthalpie
- YS/T 1257-2018 Dynamische Differenzkalorimetrie für Schmelz- und Kristallisationsenthalpietests von Nichteisenmetallmaterialien
- JC/T 2613-2021 Ti:Saphir-Laserkristall
- SJ/T 11199-2016 Piezoelektrische Quarzkristallplatte
- JC/T 2416-2017 Relaxor ferroelektrische Kristallmaterialien
- XB/T 516-2021 Yttrium-Lutetium-Silikatkristall-Recyclingmaterial
- SH/T 1826-2019 Bestimmung der Schmelzenthalpie, Kristallinität und Schmelztemperatur von Kunststoffmaterialien und -produkten aus ultrahochmolekularem Polyethylen (PE-UHMW) mittels Differentialscanningkalorimetrie (DSC)
Group Standards of the People's Republic of China, Kristallenthalpie
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Kristallenthalpie
KR-KS, Kristallenthalpie
- KS M ISO 11357-3-2018 Kunststoffe – Dynamische Differenzkalorimetrie (DSC) – Teil 3: Bestimmung der Temperatur und der Schmelz- und Kristallisationsenthalpie
- KS P ISO 11979-7-2021 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 7: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie
- KS P ISO 11979-10-2019 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Fehlsichtigkeiten bei phaken Augen
- KS C IEC 60679-2-2018 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
- KS C IEC 60679-2-2018(2023) Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
- KS C IEC 60122-4-2022 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität – Teil 4: Kristalleinheiten mit Thermistoren
American National Standards Institute (ANSI), Kristallenthalpie
European Committee for Standardization (CEN), Kristallenthalpie
- EN ISO 11357-3:2018 Kunststoffe - Dynamische Differenzkalorimetrie (DSC) - Teil 3: Bestimmung der Temperatur und der Schmelz- und Kristallisationsenthalpie
- EN ISO 11357-3:2013 Kunststoffe - Dynamische Differenzkalorimetrie (DSC) - Teil 3: Bestimmung der Temperatur und der Schmelz- und Kristallisationsenthalpie
- EN ISO 11979-7:2024 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 7: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie (ISO 11979-7:2024)
- prEN ISO 11979-7 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 7: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie (ISO/DIS 11979-7:2023)
- EN ISO 11979-10:2018 Ophthalmologische Implantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Fehlsichtigkeiten bei phaken Augen
International Organization for Standardization (ISO), Kristallenthalpie
- ISO 11357-3:2011 Kunststoffe - Dynamische Differenzkalorimetrie (DSC) - Teil 3: Bestimmung der Temperatur und der Schmelz- und Kristallisationsenthalpie
- ISO 11357-3:1999 Kunststoffe - Dynamische Differenzkalorimetrie (DSC) - Teil 3: Bestimmung der Temperatur und der Schmelz- und Kristallisationsenthalpie
- ISO 11357-3:2018 Kunststoffe - Dynamische Differenzkalorimetrie (DSC) - Teil 3: Bestimmung der Temperatur und der Schmelz- und Kristallisationsenthalpie
- ISO 18373-2:2008 Hart-PVC-Rohre - Methode der dynamischen Differenzkalorimetrie (DSC) - Teil 2: Messung der Schmelzenthalpie von Kristalliten
- ISO 11357-3:1999/Amd 1:2005 Kunststoffe - Dynamische Differenzkalorimetrie (DSC) - Teil 3: Bestimmung der Temperatur und der Schmelz- und Kristallisationsenthalpie; Änderung 1
- ISO/DIS 11979-7 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 7: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie
- ISO/FDIS 11979-7:2011 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 7: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie
- ISO 11979-10:2006 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Phake Intraokularlinsen
- ISO 11979-10:2018 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Fehlsichtigkeiten bei phaken Augen
- ISO 11979-1:2018 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Fehlsichtigkeiten bei phaken Augen
- ISO 11979-9:2006 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 9: Multifokale Intraokularlinsen
- ISO 11979-10:2006/Amd 1:2014 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Phake Intraokularlinsen; Änderung 1
- ISO 11979-9:2006/Amd 1:2014 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 9: Multifokale Intraokularlinsen; Änderung 1
Professional Standard - Medicine, Kristallenthalpie
- YY/T 0815-2010 Standardtestmethode zur Messung der Schmelzenthalpie, des Kristallinitätsprozentsatzes und des Schmelzpunkts von Polyethylen mit ultrahohem Molekulargewicht mittels Differentialscanningkalorimetrie
- YY 0290.10-2009 Intraokularlinsen. Teil 10: Phaken Intraokularlinsen
- YY/T 0295.11-1997 Kapsulotomiezange
- YY 0290.9-2010 Augenimplantate.Intraokularlinsen.Teil 9:Multifokale Intraokularlinsen
- YY 0290.1-1997 Intraokulare Augen. Teil 1: Terminologie
Danish Standards Foundation, Kristallenthalpie
- DS/EN ISO 11357-3:2013 Kunststoffe - Dynamische Differenzkalorimetrie (DSC) - Teil 3: Bestimmung der Temperatur und der Schmelz- und Kristallisationsenthalpie
- DS/EN ISO 11979-10:2006 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Phake Intraokularlinsen
- DS/EN ISO 11979-9:2007 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 9: Multifokale Intraokularlinsen
- DS/IEC 458:1981 Transistorisierte Vorschaltgeräte für röhrenförmige Leuchtstofflampen
RU-GOST R, Kristallenthalpie
- GOST R 56724-2015 Kunststoffe. Dynamische Differenzkalorimetrie (DSC). Teil 3. Bestimmung der Temperatur und der Schmelz- und Kristallisationsenthalpie
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Kristallenthalpie
- GB/T 19466.3-2004 Kunststoffe – Differenzkalorimetrie (DSC) – Teil 3: Bestimmung der Temperatur und der Schmelz- und Kristallisationsenthalpie
- GB 9558-2001 Kristalldimethoat
- GB/T 1555-1997 Testmethoden zur Bestimmung der Orientierung eines Halbleitereinkristalls
- GB/T 1555-2023 Methode zur Bestimmung der Kristallorientierung eines Halbleiter-Einkristalls
- GB/T 1555-2009 Prüfverfahren zur Bestimmung der Orientierung eines Halbleiter-Einkristalls
- GB/T 31958-2023 Substratglas für amorphe Silizium-Dünnschichttransistor-Flüssigkristallanzeigen
- GB/T 42676-2023 Röntgenbeugungsmethode zur Prüfung der Qualität von Halbleitereinkristallen
- GB/T 3352-1994 Synthetischer Quarzkristall
- GB/T 3351~353-1982 künstlicher Quarzkristall
- GB/T 8553-2023 Allgemeine Spezifikationen für Kristallboxen
- GB/T 31958-2015 Substratglas für eine Dünnschichttransistor-Flüssigkristallanzeigevorrichtung
- GB 51136-2015 Spezifikationen für das Fabrikdesign von Flüssigkristallanzeigen mit Dünnschichttransistoren
- GB/T 6628-1996 Beschwerter synthetischer Quarzkristall
- GB/T 7895-2008 Synthetischer Quarzkristall in optischer Qualität
- GB/T 26762-2011 Kristalline Fruktose und feste Fruktose-Glukose
- GB 6430-1986 Nomenklatur des Kristallkastenmodells
- GB/T 16863-1997 Verfahren zur Prüfung des Brechungsindex von Kristallen
- GB 12274-1990 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren Allgemeine Spezifikation für
- GB/T 3353-1995 Leitfaden zur Verwendung von synthetischem Quarzkristall
ES-UNE, Kristallenthalpie
- UNE-EN 120003:1992 BDS: FOTOTRANSISTOREN, FOTOCARLINGTON-TRANSISTOREN, FOTOTRANSISTOR-ARRAYS. (Von AENOR im September 1996 gebilligt.)
- UNE-EN ISO 11979-7:2018 Ophthalmologische Implantate – Intraokularlinsen – Teil 7: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie (ISO 11979-7:2018) (gebilligt von der Asociación Española de Normalización im Juni 2018.)
- UNE-EN 168100:1993 SS: Quarzkristall-Einheiten. (Von AENOR im November 1996 gebilligt.)
- UNE-EN ISO 11979-10:2018 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Fehlsichtigkeiten bei phaken Augen (ISO 11979-10:2018) (gebilligt von der Asociación Española de Normalización im Juni 2018.)
- UNE-EN IEC 60122-4:2019 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität – Teil 4: Kristalleinheiten mit Thermistoren (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Mai 2019.)
HU-MSZT, Kristallenthalpie
Professional Standard - Aerospace, Kristallenthalpie
- QJ 1814-1989 Standardmolare Bildungsenthalpie verwandter Komponenten zusammengesetzter Festtreibstoffe
RO-ASRO, Kristallenthalpie
未注明发布机构, Kristallenthalpie
- DIN EN ISO 11357-3 E:2012-07 Differential Scanning Calorimetry (DSC) for Plastics Part 3: Determination of Melting and Crystallization Enthalpies and Temperatures (Draft)
- DIN EN ISO 11357-3 E:2017-05 Differential Scanning Calorimetry (DSC) for Plastics Part 3: Determination of Melting and Crystallization Enthalpies and Temperatures (Draft)
- DIN EN ISO 11979-7 E:2017-03 Ophthalmic Implants Intraocular Lenses Part 7: Clinical Studies of Intraocular Lenses for the Correction of Aphakia (Draft)
- DIN EN ISO 11979-7 E:2012-07 Ophthalmic Implants Intraocular Lenses Part 7: Clinical Studies of Intraocular Lenses for the Correction of Aphakia (Draft)
- DIN EN ISO 11979-7 E:2023-04 Ophthalmic Implants Intraocular Lenses Part 7: Clinical Studies of Intraocular Lenses for the Correction of Aphakia (Draft)
- DIN EN ISO 11979-7 E:2013-07 Ophthalmic Implants Intraocular Lenses Part 7: Clinical Studies of Intraocular Lenses for the Correction of Aphakia (Draft)
- BS EN ISO 11979-9:2006+A1:2014 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 9: Multifokale Intraokularlinsen
- DIN EN ISO 11979-10 E:2017-02 Ophthalmic Implants Intraocular Lenses Part 10: Phakic Intraocular Lens Implantation (Draft)
- DIN IEC 679-2:1997 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren; Teil 2; Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
SE-SIS, Kristallenthalpie
Professional Standard - Machinery, Kristallenthalpie
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局, Kristallenthalpie
AENOR, Kristallenthalpie
- UNE-EN ISO 11357-3:2013 Kunststoffe - Dynamische Differenzkalorimetrie (DSC) - Teil 3: Bestimmung der Temperatur und der Schmelz- und Kristallisationsenthalpie (ISO 11357-3:2011)
- UNE-EN ISO 11979-10:2007 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Phake Intraokularlinsen (ISO 11979-10:2006)
- UNE-EN ISO 11979-10:2007/A1:2014 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Phaken Intraokularlinsen (ISO 11979-10:2006/Amd 1:2014)
- UNE-EN ISO 11979-9:2007 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 9: Multifokale Intraokularlinsen (ISO 11979-9:2006)
German Institute for Standardization, Kristallenthalpie
- DIN EN ISO 11357-3:2018 Kunststoffe - Dynamische Differenzkalorimetrie (DSC) - Teil 3: Bestimmung der Temperatur und der Schmelz- und Kristallisationsenthalpie (ISO 11357-3:2018)
- DIN EN 120003:1996 Vordruck für Bauartspezifikation – Fototransistoren, Fotodarlington-Transistoren, Fototransistor-Arrays; Deutsche Fassung EN 120003:1992
- DIN EN 120003:1996-11 Vordruck für Bauartspezifikation – Fototransistoren, Fotodarlington-Transistoren, Fototransistor-Arrays; Deutsche Fassung EN 120003:1992
- DIN EN ISO 11979-7:2018-08 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 7: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie (ISO 11979-7:2018); Deutsche Fassung EN ISO 11979-7:2018
- DIN EN ISO 11979-7:2023-04 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 7: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie (ISO/DIS 11979-7:2023); Deutsche und englische Version prEN ISO 11979-7:2023 / Hinweis: Ausgabedatum 03.03.2023*Als Ersatz gedacht...
- DIN EN ISO 11979-7:2018 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 7: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie (ISO 11979-7:2018)
- DIN EN ISO 11979-10:2018-08 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Fehlsichtigkeiten bei phaken Augen (ISO 11979-10:2018); Deutsche Fassung EN ISO 11979-10:2018
- DIN 4000-19:1988-12 Tabellarische Darstellung der Artikeleigenschaften für Transistoren und Thyristoren
- DIN EN ISO 11357-3:2013 Kunststoffe - Dynamische Differenzkalorimetrie (DSC) - Teil 3: Bestimmung der Temperatur und der Schmelz- und Kristallisationsenthalpie (ISO 11357-3:2011); Deutsche Fassung EN ISO 11357-3:2013
- DIN EN IEC 60122-4:2019-10 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität - Teil 4: Kristalleinheiten mit Thermistoren (IEC 60122-4:2019); Deutsche Fassung EN IEC 60122-4:2019
- DIN EN ISO 11979-10:2018 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Fehlsichtigkeiten bei phaken Augen (ISO 11979-10:2018)
- DIN IEC 60679-2:1997 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren (IEC 60679-2:1981)
- DIN EN 60444-9:2007 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Teil 9: Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten (IEC 60444-9:2007); Deutsche Fassung EN 60444-9:2007
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Kristallenthalpie
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Kristallenthalpie
Lithuanian Standards Office , Kristallenthalpie
- LST EN 120003-2001 Leere Detailspezifikation. Fototransistoren, Photodarlington-Transistoren, Fototransistor-Arrays
- LST EN ISO 11979-10:2007 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Phake Intraokularlinsen (ISO 11979-10:2006)
- LST EN ISO 11979-9:2007 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 9: Multifokale Intraokularlinsen (ISO 11979-9:2006)
CZ-CSN, Kristallenthalpie
Professional Standard - Light Industry, Kristallenthalpie
Professional Standard - Building Materials, Kristallenthalpie
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Kristallenthalpie
Guizhou Provincial Standard of the People's Republic of China, Kristallenthalpie
轻工业部, Kristallenthalpie
U.S. Military Regulations and Norms, Kristallenthalpie
- ARMY MIL-PRF-55310/18 F-2009 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 0,01 Hz BIS 15,0 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, CMOS
- ARMY MIL-PRF-55310/28 C-2008 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 1,0 MHz BIS 85 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, TTL
- ARMY MIL-PRF-55310/8 J-2009 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 50 Hz BIS 50 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, TTL
- ARMY MIL-P-46320 C (4)-1972 STROMVERSORGUNG: 10516158 (TRANSISTORISIERT)
- ARMY MIL-P-46320 C-1963 STROMVERSORGUNG: 10516158 (TRANSISTORISIERT)
- ARMY QPL-46320-30-1992 STROMVERSORGUNG, 10516158 (TRANSISTORISIERT)
- ARMY MIL-PRF-3098/84 F-2013 KRISTALLEINHEITEN, QUARZ, CR108/U
- ARMY MIL-PRF-3098/95 E VALID NOTICE 2-2013 Kristalleinheit, Quarz, CR119/U
- ARMY MIL-PRF-55310/29 C-2011 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 0,2 MHz BIS 85 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, HCMOS
- ARMY MIL-PRF-55310/34 C-2013 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 500 KHz BIS 150 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNGS-CMOS
- ARMY MIL-PRF-55310/38 B-2013 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 500 KHz BIS 150 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNGS-CMOS
- ARMY MIL-PRF-55310/28 C VALID NOTICE 1-2013 Oszillator, Quarzgesteuert, Typ 1 (Quarzoszillator (XO)), 1,0 MHz bis 85 MHz, hermetische Abdichtung, Rechteckwelle, TTL
- ARMY MIL-PRF-55310/30 D VALID NOTICE 1-2013 Oszillator, quarzgesteuert, Typ 1 (Quarzoszillator (XO)), 450 KHz bis 100 MHz, hermetische Abdichtung, Niederspannungs-CMOS
- ARMY MIL-PRF-3098/16 H VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR36/U
- ARMY MIL-PRF-3098/17 F VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR37/U
- ARMY MIL-PRF-3098/21 G VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR42/U
- ARMY MIL-PRF-3098/25 F VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR46/U
- ARMY MIL-PRF-3098/26 G VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR47/U
- ARMY MIL-PRF-3098/30 F VALID NOTICE 1-2008 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR52/U
- ARMY MIL-PRF-3098/32 F VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR54/U
- ARMY MIL-PRF-3098/33 J VALID NOTICE 1-2008 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR55/U
- ARMY MIL-PRF-3098/36 E VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR58/U
- ARMY MIL-PRF-3098/37 J VALID NOTICE 1-2008 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR59/U
- ARMY MIL-PRF-3098/38 G VALID NOTICE 1-2008 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR60/U
- ARMY MIL-PRF-3098/41 H VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR63/U
- ARMY MIL-PRF-3098/45 J VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR67/U
- ARMY MIL-PRF-3098/47 J VALID NOTICE 1-2008 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR69/U
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- ARMY MIL-PRF-3098/95 E VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR119/U
- ARMY MIL-PRF-3098/103 E VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR101/U
- ARMY MIL-PRF-3098/109 E VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR130/U
- ARMY MIL-PRF-3098/146 C VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR165/U
- ARMY MIL-PRF-3098/3 F VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR18/U
- ARMY MIL-PRF-3098/4 F VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR19/U
- ARMY MIL-PRF-3098/7 H VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR25/U
- ARMY MIL-PRF-3098/8 F VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR26/U
- ARMY MIL-PRF-3098/9 G VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR27/U
- ARMY MIL-PRF-3098/10 G VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR28/U
- ARMY MIL-PRF-3098/14 F VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR33/U
- ARMY MIL-PRF-3098/15 G VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR35/U
- ARMY QPL-55310-70-2008 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
- ARMY MIL-PRF-3098/103 F-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR101/U
- ARMY MIL-PRF-3098/109 F-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR130/U
- ARMY MIL-PRF-3098/146 D-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR165/U
- ARMY MIL-PRF-3098/62 G-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR78/U
- ARMY MIL-PRF-3098/63 G-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR79/U
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- ARMY MIL-PRF-3098/72 F-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR97/U
- ARMY MIL-PRF-3098/77 F-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR5/U
- ARMY MIL-PRF-3098/78 F-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR6/U
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- ARMY MIL-PRF-3098/40 G-2010 KRISTALLEINHEITEN, QUARZ, CR62/U
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- ARMY MIL-PRF-3098/47 K-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR69/U
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- ARMY MIL-PRF-3098/52 H-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR75/U
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- ARMY MIL-PRF-3098/3 G-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR18/U
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- ARMY MIL-PRF-3098/7 J-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR25/U
- ARMY MIL-PRF-3098/8 G-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR26/U
- ARMY MIL-PRF-3098/9 H-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR27/U
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- ARMY MIL-PRF-3098/14 G-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR33/U
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- ARMY MIL-PRF-3098/17 G-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR37/U
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- ARMY MIL-PRF-3098/30 G-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR52/U
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- ARMY MIL-PRF-3098/33 K-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR55/U
- ARMY MIL-PRF-3098/34 J-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR56/U
- ARMY MIL-PRF-3098/36 F-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR58/U
- ARMY MIL-PRF-3098/37 K-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR59/U
- ARMY QPL-55310-71-2010 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
- ARMY QPL-55310-74-2010 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
- ARMY MIL-PRF-3098 K-2010 KRISTALLEINHEITEN, QUARZ ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
- ARMY MIL-PRF-3098 K (1)-2011 KRISTALLEINHEITEN, QUARZ ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
- ARMY MIL-PRF-3098 K (1) SUPP 1-2013 KRISTALLEINHEITEN, QUARZ ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
- ARMY MIL-PRF-55310/36 B-2013 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO), 1 MHz BIS 100 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNG 1,8 V CMOS
IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Kristallenthalpie
- IEEE 176-1949 NORMEN FÜR PIEZOELEKTRISCHE KRISTALLE
- IEEE 180-1962 NORMEN FÜR PIEZOELEKTRISCHE UND FERROELEKTRISCHE KRISTALLE: DEFINITIONEN DER BEGRIFFE FERROELEKTRISCHER KRISTALLE 1962 (62 IRE 14.S1)
- IEEE 218-1956 STANDARDMETHODEN ZUM TESTEN VON TRANSISTOREN
Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Kristallenthalpie
Professional Standard - Education, Kristallenthalpie
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Kristallenthalpie
- GB/T 39865-2021 Verfahren zur Messung des Brechungsindex einachsiger optischer Kristalle
- GB/T 37398-2019 Bariumfluorid-Szintillationskristall
- GB/T 8756-2018 Sammlung von Metallographen über Defekte von Germaniumkristallen
- GB/T 39131-2020 Begriffe und Definitionen synthetischer Kristallmaterialien
- GB/T 36648-2018 Spezifikation für TFT-Flüssigkristallmonomere
- GB/T 36647-2018 Spezifikation für Flüssigkristallmonomere
- GB/T 37051-2018 Testmethode zur Bestimmung der Kristalldefektdichte in PV-Siliziumbarren und -Wafern
- GB/T 41325-2022 Kristalle mit niedriger Dichte stammen aus grubenpolierten monokristallinen Siliziumwafern für integrierte Schaltkreise
YU-JUS, Kristallenthalpie
- JUS N.R9.071-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristalleinheiten. Zwei weitere Kristallhalter im Umriss, Typ 18
- JUS N.R9.070-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Ouartz-Kristalleinheiten. Zweistiftiger Kristallhalter, Typ 09
- JUS N.R9.073-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristall-Einheiten. Zweidraht-Kristallhalter-Umriss, Typ 17
- JUS N.R9.069-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristalleinheiten. Zwei Piri-Kristall-Halter-Umrisse, Typ 07
- JUS N.R9.064-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Ctuartz-Kristalleinheiten. Umriss des Kristallhalters mit zwei Drähten. Typen 11, 14 und 15
- JUS N.R1.373-1980 Halbleiterdioden. Wesentliche Bewertungen und Eigenschaften. Signaldioden mit geringem Stromverbrauch
- JUS N.R1.390-1979 Bipolarer Tnmmton. Wesentliche Nennwerte und Eigenschaften: BW-Leistungssignaltransistoren
- JUS N.R1.450-1981 Bipolartransistoren. Messmethoden
- JUS N.R1.352-1979 Buchstabensymbol für Halbleitergeräte. Thyristoren.
- JUS N.R9.074-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Ouartz-Kristalleinheiten. Zweidraht-Kristallhalter-Umriss, Typ 19
- JUS N.R9.072-1986 Piezo-/Elektrovibratoren. Ctuartz-Kristalleinheiten. Umriss zweier WFR-Krystafhalter, Typ 16
- JUS N.R9.077-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristalleinheiten. Zweidraht-Kristallhalter-Umriss, Typ 20
- JUS N.R9.076-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristalleinheiten. Zweipoliger Kristallwärmerausgang, Typ 08
- JUS N.R9.075-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristalleinheiten. Umriss eines Kristallhalters mit zwei Stiften, Typ 10
- JUS N.R9.078-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristalleinheiten. Umriss des Turo-Drahtkristallhalters, Typ 21
TR-TSE, Kristallenthalpie
Professional Standard - Electron, Kristallenthalpie
PL-PKN, Kristallenthalpie
Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, Kristallenthalpie
AR-IRAM, Kristallenthalpie
Defense Logistics Agency, Kristallenthalpie
- DLA MIL-S-19500/529 VALID NOTICE 4-2011 Halbleiterbauelement, Transistor, Siliziumtyp 2N3904
- DLA MIL-S-19500/244 B VALID NOTICE 3-2011 Transistor, PNP, Germanium Typ 2N2273
- DLA MIL-S-19500/216 A VALID NOTICE 3-2004 HALBLEITERGERÄT, TRANSISTOR, NPN, SILIKON TYP 2N1051
- DLA MIL-S-19500/273 A VALID NOTICE 3-2011 Halbleiterbauelement, Transistortyp Typ 2N744
- DLA MIL-S-19500/303 VALID NOTICE 3-2011 Halbleiterbauelement, Transistor, Typen 2N2631 und 2N2876
- DLA MIL-S-19500/248 A VALID NOTICE 4-2011 Transistor, NPN, Siliziumtypen 2N2015, 2N2016
- DLA MIL-PRF-19500/139 B NOTICE 2-1999 HALBLEITERGERÄT, TRANSISTOR, PNP, SILIKON TYP JAN-2N1119
- DLA MIL-S-19500/288 (2)-1966 HALBLEITERGERÄT, TRANSISTOR, PNP, SILIKON TYP 2N2377
- DLA MIL-S-19500/288 VALID NOTICE 4-2011 Halbleiterbauelement, Transistor, PNP, Siliziumtyp 2N2377
- DLA MIL-S-19500/170 A VALID NOTICE 4-2011 Halbleiterbauelement, Transistor, PNP, Germanium Typ 2N1499A
- DLA MIL-S-19500/179 A VALID NOTICE 4-2011 Halbleiterbauelement, Transistor, PNP, Siliziumtyp 2N1234
- DLA MIL-S-19500/216 A VALID NOTICE 4-2011 Halbleiterbauelement, Transistor, NPN, Siliziumtyp 2N1051
- DLA MIL-S-19500/40 B VALID NOTICE 3-2011 Halbleiter, Transistor, NPN, Germanium, Leistungstyp 2N326
- DLA MIL-M-38510/114 B VALID NOTICE 1-2008 MIKROSCHALTUNGEN, LINEARE, BI-FET-OPERATIONSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-90798-1992 MIKROSCHALTUNGEN, DIGITAL, SCHNELL, CMOS, GENERATOR/PRÜFER MIT DOPPELTER UNGERADE PARITÄT, TTL-KOMPATIBEL, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-85508 REV C-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY MIT NIEDRIGER LEISTUNG, TTL, MULTIPLEXER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-86708 REV A-2007 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, HOCHGESCHWINDIGKEITSREGISTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA MIL-PRF-55310/21 F-2008 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 1,0 MHz BIS 60,0 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, TTL
- DLA MIL-PRF-55310/21 G-2008 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 1,0 MHz BIS 60,0 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, TTL
- DLA MIL-PRF-19500/210 B NOTICE 1-1999 HALBLEITERGERÄT, TRANSISTOR, NPN, SILIKON, FOTOTYP 2N986
- DLA MIL-S-19500/72 C VALID NOTICE 4-2011 Halbleiterbauelement, Transistor, PNP, Germanium Typ 2N499 und 2N499A
- DLA MIL-S-19500/49 C VALID NOTICE 4-2011 Halbleiterbauelement, Transistor, PNP, Germanium, Typen 2N464, 2N465, 2N467
- DLA MIL-S-19500/173 A VALID NOTICE 3-2011 Halbleiterbauelement, Transistor, Typen 2N389 und 2N424 (Marine)
- DLA MIL-S-19500/215 VALID NOTICE 3-2011 Halbleiterbauelement, Transistor, Typen 2N1173 und 2N1174 (Marineblau)
- DLA QPL-3098-91-2006 KRISTALLEINHEITEN, QUARZ, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
- DLA QPL-3098-92-2008 KRISTALLEINHEITEN, QUARZ, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
- DLA QPL-3098-93-2010 KRISTALLEINHEITEN, QUARZ, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
- DLA QPL-3098-95-2010 KRISTALLEINHEITEN, QUARZ, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
- DLA QPL-3098-97-2013 KRISTALLEINHEITEN, QUARZ, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
- DLA QPL-3098-98-2013 KRISTALLEINHEITEN, QUARZ, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
- DLA QPL-3098-99-2013 KRISTALLEINHEITEN, QUARZ, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
- DLA DSCC-DWG-04029-2005 HALBLEITERGERÄT, TRANSISTOR, NPN, SILIKON, HOCHLEISTUNGSTYP 2N5927
- DLA DSCC-DWG-04030-2005 HALBLEITERGERÄT, TRANSISTOR, NPN, SILIKON, HOCHLEISTUNGSTYP 2N5926
- DLA MIL-PRF-19500/25 B NOTICE 2-1999 HALBLEITERGERÄT, TRANSISTOR, PNP, GERMANIUM, NIEDRIGER LEISTUNGSTYP 2N240
- DLA MIL-PRF-19500/27 E NOTICE 2-1999 HALBLEITERGERÄT, TRANSISTOR, PNP, GERMANIUM, HOCHFREQUENZ TYP 2N384
International Electrotechnical Commission (IEC), Kristallenthalpie
- IEC 60679-2:1981 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren. Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
- IEC 60444-9:2007 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 9: Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten
- IEC 62416:2010 Halbleiterbauelemente – Hot-Carrier-Test an MOS-Transistoren
- IEC 60122-4:2019 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität - Teil 4: Kristalleinheiten mit Thermistoren
- IEC 60747-7:2000 Halbleiterbauelemente – Teil 7: Bipolartransistoren
- IEC 60747-8:2000 Halbleiterbauelemente – Teil 8: Feldeffekttransistoren
Professional Standard - Chemical Industry, Kristallenthalpie
- HG/T 4357-2012 Polarisator für die Dünnschichttransistor-Flüssigkristallanzeige (TFT-LCD)
United States Navy, Kristallenthalpie
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Kristallenthalpie
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Kristallenthalpie
Indonesia Standards, Kristallenthalpie
ANSI - American National Standards Institute, Kristallenthalpie
- Z80.13-2007 Ophthalmics – Phakic Intraocular Lenses (VC)
- Z80.7-2002 Für die Augenoptik – Intraokularlinsen (VC)
- Z80.30-2018 Ophthalmologie – Torische Intraokularlinsen
- Z80.7-2013 Augenoptik – Intraokularlinsen (VC)
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Kristallenthalpie
- GB/T 35316-2017 Sammlung von Metallographen über Defekte an Saphirkristallen
- GB/T 34612-2017 Messmethode für die Rocking-Kurve der Röntgendoppelkristallbeugung von Saphirkristallen
Professional Standard - Agriculture, Kristallenthalpie
Aerospace Industries Association, Kristallenthalpie
AIA/NAS - Aerospace Industries Association of America Inc., Kristallenthalpie
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Kristallenthalpie
ES-AENOR, Kristallenthalpie
CEN - European Committee for Standardization, Kristallenthalpie
- EN IEC 60122-4:2019 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität - Teil 4: Kristalleinheiten mit Thermistoren
Professional Standard - Commodity Inspection, Kristallenthalpie
- SN/T 1175-2003 Methoden zur Inspektion von Farb-Flüssigkristallanzeigegeräten mit Dünnschichttransistoren für den Import und Export
European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), Kristallenthalpie
- EN 60444-9:2007 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 9: Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten
- HD 302-1975 Transistorisiertes Vorschaltgerät für Leuchtstofflampen
- EN 62416:2010 Halbleiterbauelemente – Hot-Carrier-Test an MOS-Transistoren
IN-BIS, Kristallenthalpie
- IS 4570 Pt.11-1989 Spezifikation für Quarzhalter Teil 11 Metallische, geschweißte, zweipolige Quarzhalter Typ DQ
- IS 4570 Pt.8-1985 Spezifikation für Quarzeinheitshalterungen Teil 8 Metallische, geschweißte, dreiadrige Quarzeinheitshalterung Typ DK
- IS 8899-1978 Benutzerhandbuch für synthetische Quarzkristalle
- IS 10184-1982 Spezifikation für synthetische Quarzkristalle für Holz
- IS 4570 Pt.13/Sec.5-1993 Kristall-Einheitshalter – Spezifikation Teil 13 – Übersicht über Quarzkristall-Einheitshalter mit automatischer Handhabung, Abschnitt 5: Metallische, versiegelte Zweinadel-Kristall-Einheitshalter Typ CU 05
- IS 4570 Pt.13/Sec.4-1993 Kristalleinheitshalter – Spezifikation Teil 13 Übersicht über Quarzkristalleinheitshalter mit automatischer Handhabung Abschnitt 4: Metallische, versiegelte Zweinadel-Kristalleinheitshalter Typ CU 04
Aerospace Industries Association/ANSI Aerospace Standards, Kristallenthalpie
BE-NBN, Kristallenthalpie
- NBN A 14-101-1974 Metallurgische Produkte. Mikroskopische Definition der Ferritkorngröße oder Austenitkorngröße in Stahl
TH-TISI, Kristallenthalpie