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Entalpía cristalina

Entalpía cristalina, Total: 500 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Entalpía cristalina son: Plástica, Componentes de tuberías y tuberías., pruebas de metales, Productos de caucho y plástico., Termodinámica y mediciones de temperatura., Equipo medico, Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos., Vaso, Pesticidas y otros agroquímicos, Componentes electrónicos en general., Dispositivos semiconductores, Optoelectrónica. Equipo láser, Terminal de TI y otros equipos periféricos, químicos inorgánicos, Química analítica, Materiales semiconductores, Filtros electricos, Estandarización. Reglas generales, ingeniería de energía nuclear, Pruebas eléctricas y electrónicas., Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Dispositivos de visualización electrónica., Hornos industriales, Mediciones de radiación, Metales no ferrosos, Óptica y medidas ópticas., Física. Química, Materiales magnéticos, ingeniería de energía solar, Pilas y baterías galvánicas., Químicos orgánicos, Minerales no metalíferos, Cerámica, Educación, Vocabularios, Circuitos integrados. Microelectrónica, Azúcar. Productos de azúcar. Almidón, Condiciones y procedimientos de prueba en general., Sistemas de vehículos de carretera, Rectificadores. Convertidores. Fuente de alimentación estabilizada, Cinematografía, Componentes para equipos eléctricos., Joyería, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Herramientas de corte, Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Productos de la industria química., producción de metales, Equipos eléctricos para trabajar en condiciones especiales., Símbolos gráficos, Equipo de trabajo sin chip, Ingeniería de energía y transferencia de calor en general..

British Standards Institution (BSI), Entalpía cristalina

BS EN ISO 11357-3:2013 Plástica. Calorimetría diferencial de barrido (DSC). Determinación de temperatura y entalpía de fusión y cristalización.
BS ISO 18373-2:2008 Tuberías de PVC rígido - Método de calorimetría diferencial de barrido (DSC) - Medición de la entalpía de fusión de cristalitos
BS EN ISO 11357-3:2018 Cambios rastreados. Plástica. Calorimetría diferencial de barrido (DSC). Determinación de temperatura y entalpía de fusión y cristalización.
BS EN ISO 11979-7:2018 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia.
BS EN ISO 11979-10:2006 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Lentes intraoculares fáquicas
23/30453001 DC BS EN ISO 11979-7. Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares - Parte 7. Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia
BS EN ISO 11979-10:2018 Cambios rastreados. Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la ametropía en ojos fáquicos.
BS EN 120003:1986 Especificación para un sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos - Especificación detallada en blanco - Fototransistores, transistores fotodarlington, conjuntos de fototransistores
BS EN 60444-9:2007 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico
BS EN IEC 60122-4:2019 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada - Unidades de cristal con termistores
BS EN 120003:1993 Especificación para un sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos. Especificación detallada en blanco. Fototransistores, transistores fotodarlington, conjuntos de fototransistores
BS EN 50513:2009 Obleas solares: ficha técnica e información de producto de obleas de silicio cristalino para la fabricación de células solares
BS EN 60444-8:2003 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie
BS EN 60444-8:2017 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie
BS IEC 60747-7:2011 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. transistores bipolares
BS IEC 60747-7:2010 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos. transistores bipolares
BS IEC 60747-7:2010+A1:2019 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos - Transistores bipolares

Association Francaise de Normalisation, Entalpía cristalina

NF T51-507-3:2013 Plásticos - Calorimetría diferencial de barrido (DSC) - Parte 3: determinación de la temperatura y entalpía de fusión y cristalización
NF T51-507-3*NF EN ISO 11357-3:2018 Plásticos - Calorimetría diferencial de barrido (DSC) - Parte 3: determinación de la temperatura y entalpía de fusión y cristalización
NF B30-004:1974 VIDRIO.CRISTAL,CRISTAL VIDRIO,CRISTALINA.
NF C93-120-003*NF EN 120003:1992 Especificaciones detalladas en blanco: fototransistores, transistores fotodarlington, conjuntos de fototransistores
NF EN 120003:1992 Especificación de marco especial: fototransistores, transistores fotodarlington, redes de fototransistores
NF EN ISO 11979-7:2018 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 7: investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia
NF S94-750-7*NF EN ISO 11979-7:2018 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 7: investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia
NF EN ISO 11979-10:2018 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 10: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la ametropía en ojos fáquicos
NF S94-750-10*NF EN ISO 11979-10:2018 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 10: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la ametropía en ojos fáquicos
NF C96-611/A1:1972 Semiconductores Transistores de unión Hojas de normas particulares
NF S94-750-10:2006 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 10: lentes intraoculares fáquicas.
NF S94-750-10/A1:2014 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 10: lentes intraoculares fáquicas - Enmienda 1

American Society for Testing and Materials (ASTM), Entalpía cristalina

ASTM D3418-12e1 Método de prueba estándar para temperaturas de transición y entalpías de fusión y cristalización de polímeros mediante calorimetría diferencial de barrido
ASTM D3418-12 Método de prueba estándar para temperaturas de transición y entalpías de fusión y cristalización de polímeros mediante calorimetría diferencial de barrido
ASTM E793-01 Método de prueba estándar para entalpías de fusión y cristalización mediante calorimetría diferencial de barrido
ASTM E793-95 Método de prueba estándar para entalpías de fusión y cristalización mediante calorimetría diferencial de barrido
ASTM E793-06(2018) Método de prueba estándar para entalpías de fusión y cristalización mediante calorimetría diferencial de barrido
ASTM E793-06 Método de prueba estándar para entalpías de fusión y cristalización mediante calorimetría diferencial de barrido
ASTM E341-08(2020) Práctica estándar para medir la entalpía del gas del arco de plasma mediante balance de energía
ASTM E341-96(2002) Práctica estándar para medir la entalpía del gas del arco de plasma mediante balance de energía
ASTM E341-96 Práctica estándar para medir la entalpía del gas del arco de plasma mediante balance de energía
ASTM E341-08 Práctica estándar para medir la entalpía del gas del arco de plasma mediante balance de energía
ASTM E341-08(2015)
ASTM D3418-21 Método de prueba estándar para temperaturas de transición y entalpías de fusión y cristalización de polímeros mediante calorimetría diferencial de barrido
ASTM F2625-10 Método de prueba estándar para medir la entalpía de fusión, el porcentaje de cristalinidad y el punto de fusión de polietileno de peso molecular ultraalto mediante calorimetría diferencial de barrido
ASTM F2625-10(2016) Método de prueba estándar para medir la entalpía de fusión, el porcentaje de cristalinidad y el punto de fusión de polietileno de peso molecular ultraalto mediante calorimetría diferencial de barrido
ASTM F2625-07 Método de prueba estándar para medir la entalpía de fusión, el porcentaje de cristalinidad y el punto de fusión de polietileno de peso molecular ultraalto mediante calorimetría diferencial de barrido

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, Entalpía cristalina

ESDU 86007 B-2003 Capacidad calorífica y entalpía de líquidos: alcanos.
ESDU 75015 A-2003 Capacidad calorífica y entalpía de líquidos: hidrocarburos aromáticos.
ESDU 79028 B-2005 Capacidad calorífica y entalpía de líquidos: alcoholes alifáticos.
ESDU 79028 A-2003 Capacidad calorífica y entalpía de los líquidos: alcoholes alifáticos.
ESDU 76010 B-2003 Capacidad calorífica y entalpía de líquidos: metanos halogenados.
ESDU 81030 A-2003 Capacidad calorífica y entalpía de líquidos: cetonas alifáticas.
ESDU 86023 A-2003 Capacidad calorífica y entalpía de líquidos: alquenos y alcadienos.
ESDU 77007 A-2003 Capacidad calorífica y entalpía de líquidos: etanos y etilenos halogenados.
ESDU 85024 A-2003 Capacidad calorífica y entalpía de líquidos: compuestos orgánicos azufrados (tioles y sulfuros).

Natural Gas Processor's Association (NGPA), Entalpía cristalina

GPA RR-3-1971 Entalpía y entropía de líquidos no polares a bajas temperaturas.
GPA RR-37-1979 Mediciones de entalpía en sistemas de gas sintético: hidrógeno-metano, hidrógeno-monóxido de carbono
GPA RR-130-1995 Modelo termodinámicamente consistente para la predicción de solubilidades y entalpías de soluciones de gases ácidos en soluciones acuosas de alcanolamina.

工业和信息化部, Entalpía cristalina

YS/T 1257-2018 Calorimetría diferencial de barrido para ensayos de entalpía de fusión y cristalización de materiales metálicos no ferrosos.
SJ/T 11199-2016 Hoja de cristal de cuarzo piezoeléctrico
JC/T 2613-2021 Ti: cristal láser de zafiro
JC/T 2416-2017 Materiales de cristal ferroeléctrico relajante.
XB/T 516-2021 Material de reciclaje de cristales de silicato de itrio y lutecio
SH/T 1826-2019 Determinación de la entalpía de fusión, la cristalinidad y la temperatura de fusión de materiales y productos plásticos de polietileno de peso molecular ultraalto (PE-UHMW) mediante calorimetría diferencial de barrido (DSC)

Group Standards of the People's Republic of China, Entalpía cristalina

T/CSIQ 72003-2020 Tuberías de PVC rígido. Medición de la entalpía de fusión de cristalitos. Método de calorimetría diferencial de barrido (DSC).
T/CECA 48-2021 Elemento de microbalanza de cristal de cuarzo
T/QGCML 1655-2023 LCD de transistores de película delgada
T/CSTM 00316-2022 Monocristales optoeléctricos: monocristales de tantalato de litio para detección infrarroja piroeléctrica
T/CAB 0180-2022 Método de medición de parámetros característicos del cristal GAGG y la matriz de cristales.
T/ZZB 0916-2018 Ferrita policristalina giromagnética
T/ZZB 0514-2018 Película reflectora óptica para pantalla de panel TFT-LCD
T/CPIA 0037-2022 Especificaciones para obleas cristalinas fotovoltaicas
T/CECA 72-2022 Materiales de ferrita policristalina giromagnética.
T/HEBQIA 135-2022 Oscilador de cristal de temperatura constante OC1409
T/VSAC 001-2023 Valoración de piedras ornamentales de cristales minerales
T/SZBX 061-2021 Módulo fotovoltaico de silicio cristalino de baja degradación
T/CSTM 00035-2020 Cristal de centelleo de oxiortosilicato de itrio dopado con cerio
T/ZZB 0091-2016 Módulos fotovoltaicos (PV) terrestres de silicio cristalino
T/HEBQIA 073-2022 Imanes superconductores de silicio monocristalino de Czochralski
T/COEMA 002LCD-2022 Película polarizadora de baja permeabilidad a la humedad para TFT-LCD

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Entalpía cristalina

KS M ISO 11357-3:2018 Plásticos. Calorimetría diferencial de barrido (DSC). Parte 3: Determinación de la temperatura y entalpía de fusión y cristalización.
KS M ISO 11357-3:2013 Plásticos. Calorimetría diferencial de barrido (DSC). Parte 3: Determinación de la temperatura y la entalpía de fusión y cristalización.
KS M ISO 11357-3:2003 Plásticos -Calorimetría diferencial de barrido (DSC) -Parte 3: Determinación de la temperatura y entalpía de fusión y cristalización
KS C 7021-1974(2001) REGLAS GENERALES PARA TRANSISTORES
KS C 7021-1985 REGLAS GENERALES PARA TRANSISTORES
KS C 6506-1983 Cristal de cuarzo sintético1
KS M 1401-2017(2022) Sulfito de sodio (cristal)
KS C 6506-1983(2008) Cristal de cuarzo sintético1
KS P ISO 11979-7:2021 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 7: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia.
KS C 6503-1999 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores.
KS C 6024-1995(2000) MÉTODOS DE MEDICIÓN PARA TRANSISTORES
KS C 8531-2005 Módulo de células solares cristalinas
KS C 6503-1984 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores.
KS C 6024-1985 MÉTODOS DE MEDICIÓN PARA TRANSISTORES
KS P ISO 11979-10:2019 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 10: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la ametropía en ojos fáquicos.
KS C 6504-1987(2017) Hornos para Unidades de Cristal de Cuarzo
KS C IEC 60679-2:2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo.
KS C IEC 60679-2-2023 Oscilador de cristal de cuarzo, parte 2: una guía para usar un oscilador de cristal de cuarzo
KS C 6509-1991 Reglas generales de los osciladores controlados por cristal de cuarzo
KS C 6508-2013 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores (para 200∼1000kHz)
KS C 8531-1995 Módulo de células solares cristalinas
KS C 6509-1991(2011) Reglas generales de los osciladores controlados por cristal de cuarzo
KS C 6504-1987(2022) Hornos para Unidades de Cristal de Cuarzo
KS C IEC 60122-4:2022 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Unidades de cristal con termistores.
KS C IEC 60444-8:2016 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie.
KS C IEC 60747-7:2006 Dispositivos semiconductores －Dispositivos discretos －Parte 7: Transistores bipolares
KS C IEC 60747-7:2017 Dispositivos semiconductores －Dispositivos discretos －Parte 7: Transistores bipolares
KS C 6504-1987 Hornos para Unidades de Cristal de Cuarzo
KS C 6508-1990 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores (para 200∼1000kHz)
KS B 3620-2012 Troqueles de diamante policristalino para trefilado.
KS C IEC 60444-9:2016 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 9: Medición de resonancia espuria de unidades de cristal piezoeléctrico.
KS C IEC 60444-9-2016(2021) Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 9: Medición de resonancia espuria de unidades de cristal piezoeléctrico.

KR-KS, Entalpía cristalina

KS M ISO 11357-3-2018 Plásticos. Calorimetría diferencial de barrido (DSC). Parte 3: Determinación de la temperatura y entalpía de fusión y cristalización.
KS P ISO 11979-7-2021 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 7: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia.
KS P ISO 11979-10-2019 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 10: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la ametropía en ojos fáquicos.
KS C IEC 60679-2-2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo.
KS C IEC 60679-2-2018(2023) Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo.
KS C IEC 60122-4-2022 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Unidades de cristal con termistores.

European Committee for Standardization (CEN), Entalpía cristalina

EN ISO 11357-3:2018 Plásticos - Calorimetría diferencial de barrido (DSC) - Parte 3: Determinación de la temperatura y entalpía de fusión y cristalización
EN ISO 11357-3:2013
prEN ISO 11979-7 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 7: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia (ISO/DIS 11979-7:2023).
EN ISO 11979-10:2018 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 10: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la ametropía en ojos fáquicos
HD 302 S1-1977 Balastro transistorizado para lámparas fluorescentes

International Organization for Standardization (ISO), Entalpía cristalina

ISO 11357-3:2011 Plásticos - Calorimetría diferencial de barrido (DSC) - Parte 3: Determinación de la temperatura y entalpía de fusión y cristalización
ISO 11357-3:1999 Plásticos - Calorimetría diferencial de barrido (DSC) - Parte 3: Determinación de la temperatura y entalpía de fusión y cristalización
ISO 11357-3:2018 Plásticos - Calorimetría diferencial de barrido (DSC) - Parte 3: Determinación de la temperatura y entalpía de fusión y cristalización
ISO 18373-2:2008 Tuberías de PVC rígido - Método de calorimetría diferencial de barrido (DSC) - Parte 2: Medición de la entalpía de fusión de cristalitos
ISO 11357-3:1999/Amd 1:2005 Plásticos - Calorimetría diferencial de barrido (DSC) - Parte 3: Determinación de la temperatura y entalpía de fusión y cristalización; Enmienda 1
ISO/DIS 11979-7 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 7: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia.
ISO/FDIS 11979-7:2011 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 7: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia.
ISO 11979-10:2006 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 10: Lentes intraoculares fáquicas
ISO 11979-10:2018 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 10: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la ametropía en ojos fáquicos
ISO 11979-1:2018 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 10: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la ametropía en ojos fáquicos.
ISO 11979-9:2006 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 9: Lentes intraoculares multifocales
ISO 11979-10:2006/Amd 1:2014 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 10: Lentes intraoculares fáquicas; Enmienda 1
ISO 11979-9:2006/Amd 1:2014 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 9: Lentes intraoculares multifocales; Enmienda 1

Professional Standard - Medicine, Entalpía cristalina

YY/T 0815-2010 Método de prueba estándar para medir la entalpía de fusión, el porcentaje de cristalinidad y el punto de fusión del polietileno de peso molecular ultraalto mediante calorimetría diferencial de barrido.
YY 0290.10-2009 Lentes intraoculares.Parte 10: Lentes intraoculares fáquicas.
YY/T 0295.11-1997 Pinzas de capsulotomía
YY 0290.9-2010 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 9: Lentes intraoculares multifocales.
YY 0290.1-1997 Sensores intraoculares. Parte 1: Terminología

Danish Standards Foundation, Entalpía cristalina

DS/EN ISO 11357-3:2013 Plásticos - Calorimetría diferencial de barrido (DSC) - Parte 3: Determinación de la temperatura y entalpía de fusión y cristalización
DS/EN ISO 11979-10:2006 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 10: Lentes intraoculares fáquicas
DS/EN ISO 11979-9:2007 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 9: Lentes intraoculares multifocales
DS/IEC 458:1981 Balastros transistorizados para lámparas fluorescentes tubulares

American National Standards Institute （ANSI), Entalpía cristalina

ANSI Z80.13-2007 Lentes intraoculares fáquicas
ANSI/EIA 417-A:1991 Contornos de cristal
ANSI Z80.29-2015 Oftálmica: lentes intraoculares acomodativas

RU-GOST R, Entalpía cristalina

GOST R 56724-2015 Plástica. Calorimetría diferencial de barrido (DSC). Parte 3. Determinación de la temperatura y entalpía de fusión y cristalización.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Entalpía cristalina

GB/T 19466.3-2004 Plásticos-Calorimetría diferencial de barrido (DSC)-Parte 3: Determinación de la temperatura y entalpía de fusión y cristalización
GB 9558-2001 Cristalo-dimetoato
GB/T 1555-1997 Métodos de prueba para determinar la orientación de un monocristal semiconductor.
GB/T 1555-2023 Método para determinar la orientación cristalina de un monocristal semiconductor
GB/T 1555-2009 Métodos de prueba para determinar la orientación de un monocristal semiconductor.
GB/T 31958-2023 Vidrio de sustrato para pantalla de cristal líquido de transistor de película delgada de silicio amorfo
GB/T 42676-2023 Método de difracción de rayos X para probar la calidad del monocristal semiconductor
GB/T 3352-1994 Cristal de cuarzo sintético
GB/T 3351~353-1982 cristal de cuarzo artificial
GB/T 8553-2023 Especificaciones generales para cajas de cristal.
GB/T 8553-1987 Soportes (Caja), cristal, especificaciones generales para
GB/T 8756-1988 Colección de metalografías sobre defectos del germanio cristalino.
GB/T 31958-2015 Vidrio de sustrato para dispositivo de visualización de cristal líquido con transistor de película delgada
GB 51136-2015 Especificaciones para el diseño de fábrica de pantalla de cristal líquido con transistor de película delgada
GB/T 6628-1996 Cristal de cuarzo sintético enmaderado.
GB/T 7895-1987 Cristal de cuarzo sintético de grado óptico.
GB/T 7895-2008 Cristal de cuarzo sintético de grado óptico.
GB/T 6430-1986 La regla de designación de tipo para soportes de cristal (cajas)
GB/T 26762-2011 Fructosa cristalina y fructosa-glucosa sólida.
GB 6430-1986 Nomenclatura del modelo de caja de cristal
GB/T 16863-1997 Método para probar el índice de refracción de cristales.
GB/T 12633-1990 Términos para las mediciones de las propiedades de los cristales piezoeléctricos.
GB 12274-1990 Osciladores controlados por cristal de cuarzo Especificación genérica para
GB/T 3353-1995

Professional Standard - Aerospace, Entalpía cristalina

QJ 1814-1989 Entalpía molar estándar de formación de componentes relacionados de propulsores sólidos compuestos

ES-UNE, Entalpía cristalina

UNE-EN 120003:1992 BDS: FOTOTRANSISTORES, TRANSISTORES FOTOCARLINGTON, Matrices de fototransistores. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
UNE-EN ISO 11979-7:2018 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 7: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia (ISO 11979-7:2018) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2018.)
UNE-EN 168100:1993 SS: UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1996.)
UNE-EN ISO 11979-10:2018 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 10: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de ametropía en ojos fáquicos (ISO 11979-10:2018) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en junio de 2018.)
UNE-EN IEC 60122-4:2019 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 4: Unidades de cristal con termistores (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2019.)

HU-MSZT, Entalpía cristalina

MSZ 4749-1970 KRIZOTIL AZBESZT
MSZ 8531-1961 IPARI ROBBAN?ANYAGOK Nttropenta, kristályos
MSZ 9519-1958 N?TRIUM ACET?T, KRIST?LYOS analitika.! célokra
MNOSZ 24165-1952 VEGYSZEREK R?ZSZULF?T kristályos
MNOSZ 24141-1955 KRIST?LYOS CLORURO DE CALCIO para fines analíticos
MSZ 9275-1982 N?TRIUM-SZULF?T, KRIST?LYVIZES, ANALITIKAI C?LOKRA
MSZ 9274-1957 KADMIUMSZULF?T kristályvizes analitikai célokra
MSZ 8533-1961 IPARI ROBBAN?ANYAGOK Hexogén, kristályos

SE-SIS, Entalpía cristalina

SIS SS CECC 20003-1988 Especificaciones detalladas en blanco: Fototransistores, transistores Photodar/ington, conjuntos de fototransistores
SIS SEN 43 60 01-1964 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores.
SIS SS-CECC 68000-1991 Especificación genérica: unidades de cristal de cuarzo.

RO-ASRO, Entalpía cristalina

STAS 9675-1974 SILICIO CRISTALINO
STAS 11437-1980 TRANSISTORES DE UNIÓN Métodos de prueba
STAS 11418-1980 Dispositivos semiconductores TRANSISTORES DE UNIJUNCIÓN Terminología

AENOR, Entalpía cristalina

UNE-EN ISO 11357-3:2013 Plásticos. Calorimetría diferencial de barrido (DSC). Parte 3: Determinación de la temperatura y entalpía de fusión y cristalización (ISO 11357-3:2011).
UNE-EN ISO 11979-10:2007 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 10: Lentes intraoculares fáquicas (ISO 11979-10:2006)
UNE-EN ISO 11979-10:2007/A1:2014 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 10: Lentes intraoculares fáquicas (ISO 11979-10:2006/Amd 1:2014)
UNE-EN ISO 11979-9:2007 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 9: Lentes intraoculares multifocales (ISO 11979-9:2006)

German Institute for Standardization, Entalpía cristalina

DIN EN ISO 11357-3:2018 Plásticos. Calorimetría diferencial de barrido (DSC). Parte 3: Determinación de la temperatura y entalpía de fusión y cristalización (ISO 11357-3:2018).
DIN EN 120003:1996 Especificaciones detalladas en blanco: fototransistores, transistores fotodarlington, conjuntos de fototransistores; Versión alemana EN 120003:1992
DIN EN 120003:1996-11 Especificaciones detalladas en blanco: fototransistores, transistores fotodarlington, conjuntos de fototransistores; Versión alemana EN 120003:1992
DIN EN ISO 11979-7:2018-08 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 7: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia (ISO 11979-7:2018); Versión alemana EN ISO 11979-7:2018
DIN 52341:1993 Pruebas de vidrio; Análisis químico de cristal de plomo y cristal.
DIN EN ISO 11979-7:2023-04 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 7: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia (ISO/DIS 11979-7:2023); Versión en alemán e inglés prEN ISO 11979-7:2023 / Nota: Fecha de emisión 2023-03-03*Previsto como reemplazo...
DIN EN ISO 11979-7:2018 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 7: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la afaquia (ISO 11979-7:2018)
DIN EN ISO 11979-10:2018-08 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 10: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la ametropía en ojos fáquicos (ISO 11979-10:2018); Versión alemana EN ISO 11979-10:2018
DIN 4000-19:1988-12 Diseños tabulares de características de artículos para transistores y tiristores.
DIN EN ISO 11357-3:2013 Plásticos. Calorimetría diferencial de barrido (DSC). Parte 3: Determinación de la temperatura y entalpía de fusión y cristalización (ISO 11357-3:2011); Versión alemana EN ISO 11357-3:2013
DIN EN IEC 60122-4:2019-10 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Unidades de cristal con termistores (IEC 60122-4:2019); Versión alemana EN IEC 60122-4:2019
DIN EN ISO 11979-10:2018 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 10: Investigaciones clínicas de lentes intraoculares para la corrección de la ametropía en ojos fáquicos (ISO 11979-10:2018)
DIN IEC 60679-2:1997 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo (IEC 60679-2:1981)
DIN EN 60444-9:2007 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 9: Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico (IEC 60444-9:2007); Versión alemana EN 60444-9:2007

Professional Standard - Machinery, Entalpía cristalina

JB/T 9495.1-1999 Cristales ópticos
JB/T 10789-2007 Hornos de crecimiento de cristales de alta presión. Hornos de crecimiento de cristales de alta presión de la serie TDR-GY mediante el método czoctn-alski encapsulado en líquido
JB/T 5482-2011 Aparato de orientación de rayos X.
JB/T 8951.1-1999 Transistor Bipolar de Puerta Aislada
JB/T 11375-2013 Pantalla de proyección de cristal ultramicro

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局, Entalpía cristalina

GB/T 9558-2001 Cristalo-dimetoato

European Standard for Electrical and Electronic Components, Entalpía cristalina

EN 120003:1992 Especificaciones detalladas en blanco: fototransistores, transistores fotodarlington, conjuntos de fototransistores

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Entalpía cristalina

CNS 1996-1978 Cloruro estánnico, cristal (cristales de tetracloruro de estaño)
CNS 12257-1988 Filtros de cristal
CNS 6808-1989 Reglas generales para transistores
CNS 3997-1989 Método de prueba para transistores
CNS 11763-1986 Megáfonos de transistores
CNS 3009-1994 Radios de transistores de tipo simple
CNS 3010-1994 Radios de transistores de tipo general
CNS 12256-1988 Hornos para Unidades de Cristal de Cuarzo
CNS 6809-1989 Describe métodos de dibujo para transistores

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Entalpía cristalina

JEDEC JES2-1992 Transistor, Fet de potencia de arseniuro de galio, especificación genérica
JEDEC JESD10-1976 Transistores de potencia de baja frecuencia
JEDEC EIA-398-1972 Medición de pequeños valores de capacitancia de transistores
JEDEC JESD6-1967 Medición de pequeños valores de capacitancia de transistores

Lithuanian Standards Office , Entalpía cristalina

LST EN 120003-2001 Especificación detallada en blanco. Fototransistores, transistores fotodarlington, conjuntos de fototransistores
LST EN ISO 11979-10:2007 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 10: Lentes intraoculares fáquicas (ISO 11979-10:2006)
LST EN ISO 11979-9:2007 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 9: Lentes intraoculares multifocales (ISO 11979-9:2006)

CZ-CSN, Entalpía cristalina

CSN 68 5401-1981 Sulfato de sodio cristaliforme
CSN 68 5367-1974 Hidrogenosulfato de potasio cristalino
CSN 65 3127-1963 Sulfato de sodio cristalino, técnico.
CSN 65 3460-1961 Sulfato de zinc, cristalino. técnico
CSN 35 8813-1979 Tranaiadores KU 611, KU 612
CSN 35 8812-1979 Transistores KU 601, KU 602
CSN 35 8936-1960 Titulares de resonadores de cristal piezoeléctrico.
CSN 01 5111-1974 Muestreo de materiales sueltos y granulados.
CSN 35 8738-1964 transistor. Medición de tensiones inversas.
CSN 35 8750-1964 transistor. Medición de parámetros h.
CSN 35 8821-1980 Transistor BF 257, BF 258. BF 250
CSN 35 8814-1979 Transistor KD 501, KB 502, KD 503
CSN 35 8930-1960 Titulares de resonadores de cristal piezoeléctricos.
CSN 35 8756-1973 Dispositivos semiconductores. Transistores Medición de parámetros y
CSN 35 8740-1973 Dispositivos semiconductores. transistor. Medición de voltaje de saturación.
CSN 35 8909-1962 Transistores. Medición de la impedancia de reacción.
CSN 35 8757 Cast.9-1986 Transistores. Métodos para medir la resistencia térmica.
CSN 70 8311-1988 Vidrio de plomo cristal tratado con corte.
CSN 35 8748-1964 Transistores. Medición de la impedancia de reacción.
CSN 35 8912-1962 Transistores. Medición de la impedancia de reacción.

Professional Standard - Light Industry, Entalpía cristalina

QB/T 1173-2002 Azúcar de roca monocristalino
QB/T 1174-2002 Azúcar de roca multicristal
QB/T 1173-1991 Azúcar de roca monocristalino
QB/T 1174-1991 Azúcar de roca multicristal

Professional Standard - Building Materials, Entalpía cristalina

JC/T 2017-2010 Cristal de fluoruro de plomo
JC/T 2023-2010 Cristales de centelleo de tungstato Lesd
JC/T 2148-2012 Cristal piezoeléctrico de langasita
JC/T 2690-2022 Cristales magnetoópticos de granate de terbio y galio (TGG)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Entalpía cristalina

JIS C 6703:2008 Filtros de cristal
JIS C 6704:2017 Cristal de cuarzo sintético
JIS C 6704:1997 Cristal de cuarzo sintético
JIS C 6704:2005 Cristal de cuarzo sintético
JIS C 6704:2009 Cristal de cuarzo sintético
JIS C 5513:1970 Megáfonos de transistores
JIS H 7151:1991 Método para determinar las temperaturas de cristalización de metales amorfos.
JIS C 8918:2013 Módulos fotovoltaicos (PV) cristalinos
JIS C 6701:1995 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores.
JIS C 6703:1995 Reglas generales de filtros de cristal.
JIS C 8918:1998 Módulos solares fotovoltaicos cristalinos
JIS C 6705:1984 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores (de 200 a 1000 kHz)
JIS C 7030:1993 Métodos de medición para transistores.
JIS C 7032:1993 Reglas generales para transistores.
JIS C 6703:2002 Especificación genérica de filtros de cristal.
JIS C 7311:1980 Fiabilidad asegurada TTL, puertas nand positivas, circuitos integrados
JIS C 8939:1995 Módulos solares fotovoltaicos amorfos
JIS H 7004:1990 Glosario de términos utilizados en metales amorfos.
JIS B 4131:1998 Productos de diamante/CBN - Muelas abrasivas de diamante o CBN
JIS H 7803:2005 Reglas generales para la determinación del tamaño de partículas y de cristalitos en catalizadores metálicos.
JIS B 4130:1998 Productos de diamante/CBN: tamaños de grano de diamante o nitruro de boro cúbico
JIS B 4138:1998 Productos de diamante/CBN - Sierras segmentadas de diamante o CBN
JIS C 6702:1992 Hornos para unidades de cristal de cuarzo.

Guizhou Provincial Standard of the People's Republic of China, Entalpía cristalina

DB52/ 455-2004 cristales de capsaicina

轻工业部, Entalpía cristalina

QB 1173-1991 Azúcar de roca monocristalino
QB 1174-1991 azúcar de roca policristalina

U.S. Military Regulations and Norms, Entalpía cristalina

ARMY MIL-PRF-55310/18 F-2009 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 0,01 Hz HASTA 15,0 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/28 C-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1,0 MHz HASTA 85 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, TTL
ARMY MIL-PRF-55310/8 J-2009 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 50 Hz HASTA 50 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, TTL
ARMY MIL-P-46320 C (4)-1972 FUENTE DE ALIMENTACIÓN: 10516158 (TRANSISTORIZADA)
ARMY MIL-P-46320 C-1963 FUENTE DE ALIMENTACIÓN: 10516158 (TRANSISTORIZADA)
ARMY QPL-46320-30-1992 FUENTE DE ENERGÍA, 10516158 (TRANSISTORIZADA)
ARMY MIL-PRF-3098/84 F-2013 UNIDADES DE CRISTAL, CUARZO, CR108/U
ARMY MIL-PRF-3098/95 E VALID NOTICE 2-2013 Unidad de cristal, cuarzo, CR119/U
ARMY MIL-PRF-55310/29 C-2011 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 0,2 MHz HASTA 85 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, HCMOS
ARMY MIL-PRF-55310/34 C-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 500 KHz HASTA 150 MHz, SELLO HERMÉTICO, CMOS DE BAJO VOLTAJE
ARMY MIL-PRF-55310/38 B-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 500 KHz HASTA 150 MHz, SELLO HERMÉTICO, CMOS DE BAJO VOLTAJE
ARMY MIL-PRF-55310/28 C VALID NOTICE 1-2013 Oscilador, Controlado por Cristal, Tipo 1 (Oscilador de Cristal (XO)), 1,0 MHz a 85 MHz, Sello Hermético, Onda Cuadrada, TTL
ARMY MIL-PRF-55310/30 D VALID NOTICE 1-2013 Oscilador, Controlado por Cristal, Tipo 1 (Oscilador de Cristal (XO)), 450 KHz a 100 MHz, Sello Hermético, CMOS de Bajo Voltaje
ARMY MIL-PRF-3098/16 H VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR36/U
ARMY MIL-PRF-3098/17 F VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR37/U
ARMY MIL-PRF-3098/21 G VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR42/U
ARMY MIL-PRF-3098/25 F VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR46/U
ARMY MIL-PRF-3098/26 G VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR47/U
ARMY MIL-PRF-3098/30 F VALID NOTICE 1-2008 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR52/U
ARMY MIL-PRF-3098/32 F VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR54/U
ARMY MIL-PRF-3098/33 J VALID NOTICE 1-2008 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR55/U
ARMY MIL-PRF-3098/36 E VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR58/U
ARMY MIL-PRF-3098/37 J VALID NOTICE 1-2008 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR59/U
ARMY MIL-PRF-3098/38 G VALID NOTICE 1-2008 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR60/U
ARMY MIL-PRF-3098/41 H VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR63/U
ARMY MIL-PRF-3098/45 J VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR67/U
ARMY MIL-PRF-3098/47 J VALID NOTICE 1-2008 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR69/U
ARMY MIL-PRF-3098/63 F VALID NOTICE 1-2008 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR79/U
ARMY MIL-PRF-3098/95 E VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR119/U
ARMY MIL-PRF-3098/103 E VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR101/U
ARMY MIL-PRF-3098/109 E VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR130/U
ARMY MIL-PRF-3098/146 C VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR165/U
ARMY MIL-PRF-3098/3 F VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR18/U
ARMY MIL-PRF-3098/4 F VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR19/U
ARMY MIL-PRF-3098/7 H VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR25/U
ARMY MIL-PRF-3098/8 F VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR26/U
ARMY MIL-PRF-3098/9 G VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR27/U
ARMY MIL-PRF-3098/10 G VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR28/U
ARMY MIL-PRF-3098/14 F VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR33/U
ARMY MIL-PRF-3098/15 G VALID NOTICE 1-2008 Unidad de cristal, cuarzo, CR35/U
ARMY QPL-55310-70-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
ARMY MIL-PRF-3098/103 F-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR101/U
ARMY MIL-PRF-3098/109 F-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR130/U
ARMY MIL-PRF-3098/146 D-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR165/U
ARMY MIL-PRF-3098/62 G-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR78/U
ARMY MIL-PRF-3098/63 G-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR79/U
ARMY MIL-PRF-3098/68 G-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR91/U
ARMY MIL-PRF-3098/72 F-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR97/U
ARMY MIL-PRF-3098/77 F-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR5/U
ARMY MIL-PRF-3098/78 F-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR6/U
ARMY MIL-PRF-3098/54 G-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR73/U
ARMY MIL-PRF-3098/56 H-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR85/U
ARMY MIL-PRF-3098/58 J-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR81/U
ARMY MIL-PRF-3098/59 G-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR82/U
ARMY MIL-PRF-3098/60 H-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR83/U
ARMY MIL-PRF-3098/67 F-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR89/U
ARMY MIL-PRF-3098/38 H-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR60/U
ARMY MIL-PRF-3098/39 H-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR61/U
ARMY MIL-PRF-3098/40 G-2010 UNIDADES DE CRISTAL, CUARZO, CR62/U
ARMY MIL-PRF-3098/41 J-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR63/U
ARMY MIL-PRF-3098/42 K-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR64/U
ARMY MIL-PRF-3098/43 H-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR65/U
ARMY MIL-PRF-3098/45 K-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR67/U
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ARMY MIL-PRF-3098/50 E-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR72/U
ARMY MIL-PRF-3098/51 J-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR74/U
ARMY MIL-PRF-3098/52 H-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR75/U
ARMY MIL-PRF-3098/53 M-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR76/U
ARMY MIL-PRF-3098/3 G-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR18/U
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ARMY MIL-PRF-3098/9 H-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR27/U
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ARMY MIL-PRF-3098/14 G-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR33/U
ARMY MIL-PRF-3098/15 H-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR35/U
ARMY MIL-PRF-3098/16 J-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR36/U
ARMY MIL-PRF-3098/17 G-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR37/U
ARMY MIL-PRF-3098/21 H-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR42/U
ARMY MIL-PRF-3098/24 F-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR45/U
ARMY MIL-PRF-3098/25 G-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR46/U
ARMY MIL-PRF-3098/26 H-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR47/U
ARMY MIL-PRF-3098/30 G-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR52/U
ARMY MIL-PRF-3098/32 G-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR54/U
ARMY MIL-PRF-3098/33 K-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR55/U
ARMY MIL-PRF-3098/34 J-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR56/U
ARMY MIL-PRF-3098/36 F-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR58/U
ARMY MIL-PRF-3098/37 K-2010 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR59/U
ARMY QPL-55310-71-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
ARMY QPL-55310-74-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
ARMY MIL-PRF-3098 K-2010 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
ARMY MIL-PRF-3098 K (1)-2011 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
ARMY MIL-PRF-3098 K (1) SUPP 1-2013 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
ARMY MIL-PRF-55310/36 B-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO), 1 MHz A 100 MHz, SELLO HERMÉTICO, BAJO VOLTAJE 1.8V CMOS

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Entalpía cristalina

IEEE 176-1949 NORMAS SOBRE CRISTALES PIEZOELÉCTRICOS
IEEE 180-1962 NORMAS SOBRE CRISTALES PIEZOELÉCTRICOS Y FERROELÉCTRICOS: DEFINICIONES DE TÉRMINOS DE CRISTAL FERROELÉCTRICO 1962 (62 IRE 14.S1)
IEEE 218-1956 MÉTODOS ESTÁNDAR DE PRUEBA DE TRANSISTORES

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Entalpía cristalina

ECA 417-A-1991 Contornos de cristal

Professional Standard - Education, Entalpía cristalina

JY 200-1985 Milivoltímetro de transistores
JY/T 0006-2011 Trazador de características de transistores

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Entalpía cristalina

GB/T 39865-2021 Método para medir el índice de refracción de cristales ópticos uniaxiales.
GB/T 37398-2019 Cristal de centelleo de fluoruro de bario
GB/T 8756-2018 Colección de metalografías sobre defectos del cristal de germanio.
GB/T 39131-2020 Términos y definiciones de materiales de cristal sintético.
GB/T 36648-2018 Especificación para monómeros de cristal líquido TFT
GB/T 36647-2018 Especificación para monómeros de cristal líquido.
GB/T 37051-2018 Método de prueba para la determinación de la densidad de defectos cristalinos en lingotes y obleas de silicio fotovoltaico.
GB/T 41325-2022 Obleas de silicio monocristalino pulidas con origen cristalino de baja densidad para circuitos integrados

YU-JUS, Entalpía cristalina

JUS N.R9.071-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Esquema de dos portacristales, tipo 18
JUS N.R9.070-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de Ouartz. Soporte de cristal de dos clavijas, tipo 09
JUS N.R9.073-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Esquema del soporte de cristal de dos hilos, tipo 17
JUS N.R9.069-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Contorno de dos portacristales piri, tipo 07
JUS N.R9.064-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal Ctuartz. Esquema del soporte de cristal de dos hilos. Tipos 11, 14 y 15
JUS N.R1.373-1980 Yodos semiconductores. Clasificaciones y características esenciales. Diodos de señal de baja potencia
JUS N.R1.390-1979 Tnmmton bipolar. Clasificaciones y características esenciales: transistores de señal de potencia bw
JUS N.R1.450-1981 Transistores bipolares. Métodos de medición
JUS N.R1.352-1979 Símbolo de letra para dispositivos semiconductores. Tiristores.
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JUS N.R9.072-1986 Vibradores piezoe/eléctricos. Unidades de cristal Ctuartz. Esquema de soporte de cristal de dos wfre, tipo 16
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JUS N.R9.076-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Outllne más caliente de cristal de dos pines, tipo 08
JUS N.R9.075-1986 Vibradores piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo. Esquema del soporte de cristal de dos clavijas, tipo 10
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DLA SMD-5962-85508 REV C-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY DE BAJA POTENCIA, TTL, MULTIPLEXOR, SILICIO MONOLÍTICO
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DLA MIL-PRF-19500/210 B NOTICE 1-1999 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR, NPN, SILICIO, FOTO TIPO 2N986
DLA MIL-S-19500/72 C VALID NOTICE 4-2011 Dispositivo semiconductor, transistor, PNP, germanio tipos 2N499 y 2N499A
DLA MIL-S-19500/49 C VALID NOTICE 4-2011 Dispositivo Semiconductor, Transistor, PNP, Germanio, Tipos 2N464, 2N465, 2N467
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