ZH
EN
KR
JP
ES
RUKörner und Kristalle
Für die Körner und Kristalle gibt es insgesamt 500 relevante Standards.
In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Körner und Kristalle die folgenden Kategorien: Partikelgrößenanalyse, Screening, Chemikalien, Metallproduktion, Prüfung von Metallmaterialien, Luft- und Raumfahrtsysteme und Betriebsgeräte, Getränke, Umfangreiche Testbedingungen und -verfahren, schwarzes Metall, medizinische Ausrüstung, Diskrete Halbleitergeräte, Schneidewerkzeuge, Glas, Piezoelektrische und dielektrische Geräte zur Frequenzsteuerung und -auswahl, Kernenergietechnik, Physik Chemie, IT-Terminals und andere Peripheriegeräte, Halbleitermaterial, Pestizide und andere landwirtschaftliche Chemikalien, Umfangreiche elektronische Komponenten, Wortschatz, Mechanischer Test, Optoelektronik, Lasergeräte, Bodenqualität, Bodenkunde, Erdarbeiten, Aushubarbeiten, Fundamentbau, Tiefbauarbeiten, Anorganische Chemie, analytische Chemie, Ledertechnologie, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Schweißen, Hartlöten und Niedertemperaturschweißen, Stahlprodukte, Filter, Allgemeine Grundsätze der Standardisierung, Elektromechanische Komponenten für elektronische und Telekommunikationsgeräte, Strahlungsmessung, Optik und optische Messungen, Zucker, Zuckerprodukte, Stärke, magnetische Materialien, Elektrische und elektronische Prüfung, Audio-, Video- und audiovisuelle Technik, Plastik, Industrieofen, organische Chemie, Kohle, Spanlose Bearbeitungsgeräte, Flüssigkeitsspeichergerät, Nichteisenmetalle, Solartechnik, Batterien und Akkus, Baugewerbe, prüfen, nichtmetallische Mineralien, Keramik, erziehen, Elektronische Anzeigegeräte, Längen- und Winkelmessungen, Metallerz, Straßenfahrzeuggerät, Gleichrichter, Wandler, geregelte Netzteile, Film, Komponenten elektrischer Geräte, Schmuck, Feuerfeste Materialien, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, Elektrische Geräte, die unter besonderen Arbeitsbedingungen verwendet werden, grafische Symbole.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Körner und Kristalle
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Körner und Kristalle
BE-NBN, Körner und Kristalle
- NBN A 14-101-1974 Metallurgische Produkte. Mikroskopische Definition der Ferritkorngröße oder Austenitkorngröße in Stahl
- NBN A 23-112-1988 Magnetisches kornorientiertes Stahlband und -blech
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Körner und Kristalle
- GB/T 24177-2009 Standardtestmethoden zur Charakterisierung von Duplexkorngrößen
- GB/T 1555-1997 Testmethoden zur Bestimmung der Orientierung eines Halbleitereinkristalls
- GB/T 1555-2023 Methode zur Bestimmung der Kristallorientierung eines Halbleiter-Einkristalls
- GB/T 1555-2009 Prüfverfahren zur Bestimmung der Orientierung eines Halbleiter-Einkristalls
- GB 9558-2001 Kristalldimethoat
- GB/T 31958-2023 Substratglas für amorphe Silizium-Dünnschichttransistor-Flüssigkristallanzeigen
- GB/T 4335-2013 Bestimmung der Ferritkorngröße für kaltgewalzte kohlenstoffarme Stahlbleche
- GB/T 3352-2012 Synthetischer Quarzkristall. Technische Daten und Gebrauchsanweisung
- GB/T 6394-2002 Metallmethoden zur Abschätzung der durchschnittlichen Korngröße
- GB/T 5117-2012 Umhüllte Elektroden für das Lichtbogenhandschweißen von unlegierten Stählen und Feinkornstählen
- GB/T 42676-2023 Röntgenbeugungsmethode zur Prüfung der Qualität von Halbleitereinkristallen
- GB/T 3352-1994 Synthetischer Quarzkristall
- GB/T 3351~353-1982 künstlicher Quarzkristall
- GB/T 8553-2023 Allgemeine Spezifikationen für Kristallboxen
- GB/T 31958-2015 Substratglas für eine Dünnschichttransistor-Flüssigkristallanzeigevorrichtung
- GB 51136-2015 Spezifikationen für das Fabrikdesign von Flüssigkristallanzeigen mit Dünnschichttransistoren
- GB/T 30118-2013 Einkristallwafer für Anwendungen in Oberflächenwellengeräten (SAW). Spezifikationen und Messmethoden
- GB/T 14999.7-2010 Prüfmethoden für Korngrößen, primäre Dendritenabstände und Mikroschrumpfung von Superlegierungsgussteilen
- GB/T 6628-1996 Beschwerter synthetischer Quarzkristall
- GB/T 7895-2008 Synthetischer Quarzkristall in optischer Qualität
- GB/T 2521-1996 Kaltgewalztes kornorientiertes und nichtorientiertes magnetisches Stahlband (Blech)
- GB/T 26762-2011 Kristalline Fruktose und feste Fruktose-Glukose
- GB 6430-1986 Nomenklatur des Kristallkastenmodells
- GB/T 16863-1997 Verfahren zur Prüfung des Brechungsindex von Kristallen
American Society for Testing and Materials (ASTM), Körner und Kristalle
- ASTM E1181-02(2015) Standardtestmethoden zur Charakterisierung von Duplexkorngrößen
- ASTM E930-99 Standardtestmethoden zur Schätzung des größten in einem metallografischen Abschnitt beobachteten Korns (ALA-Korngröße)
- ASTM E930-99(2007) Standardtestmethoden zur Schätzung des größten in einem metallografischen Abschnitt beobachteten Korns (ALA-Korngröße)
- ASTM E930-18 Standardtestmethoden zur Schätzung des größten in einem metallografischen Abschnitt beobachteten Korns (ALA-Korngröße)
- ASTM E930-99(2015) Standardtestmethoden zur Schätzung des größten in einem metallografischen Abschnitt beobachteten Korns (ALA-Korngröße)
- ASTM E2627-13(2019) Standardpraxis zur Bestimmung der durchschnittlichen Korngröße mithilfe der Elektronenrückstreubeugung (EBSD) in vollständig rekristallisierten polykristallinen Materialien
- ASTM E1181-02(2008)e1 Standardtestmethoden zur Charakterisierung von Duplexkorngrößen
- ASTM E1181-02(2008) Standardtestmethoden zur Charakterisierung von Duplexkorngrößen
- ASTM E2627-10 Standardpraxis zur Bestimmung der durchschnittlichen Korngröße mithilfe der Elektronenrückstreubeugung (EBSD) in vollständig rekristallisierten polykristallinen Materialien
- ASTM E1181-87(1998)e1 Standardtestmethoden zur Charakterisierung von Duplexkorngrößen
- ASTM E1181-02 Standardtestmethoden zur Charakterisierung von Duplexkorngrößen
- ASTM E1181-02(2023) Standardtestmethoden zur Charakterisierung von Duplexkorngrößen
(U.S.) Ford Automotive Standards, Körner und Kristalle
United States Navy, Körner und Kristalle
British Standards Institution (BSI), Körner und Kristalle
- BS PD ISO/TS 23151:2021 Nanotechnologien. Partikelgrößenverteilung für Cellulose-Nanokristalle. Partikelgrößenverteilung für Cellulose-Nanokristalle
- BS EN ISO 3378:2002 Leder. Physikalische und mechanische Tests. Bestimmung der Kornrissbeständigkeit und des Kornrissindex
- BS EN 62435-5:2017 Elektronische Komponenten – Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente. - Teil 5: Die- und Wafer-Geräte
- BS EN ISO 11979-7:2024 Augenimplantate. Intraokularlinsen – Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie
- BS EN ISO 11979-7:2018 Augenimplantate. Intraokularlinsen. Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie
- PD ISO/TS 23151:2021 Nanotechnologien. Partikelgrößenverteilung für Cellulose-Nanokristalle
- BS EN 62047-9:2011 Halbleiterbauelemente. Mikroelektromechanische Geräte. Messung der Wafer-zu-Wafer-Bondfestigkeit für MEMS
- BS EN 62047-9:2013 Halbleiterbauelemente. Mikroelektromechanische Geräte. Messung der Wafer-zu-Wafer-Bondfestigkeit für MEMS
- BS EN ISO 11979-10:2018 Augenimplantate. Intraokularlinsen. Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Fehlsichtigkeiten bei phaken Augen
- BS EN ISO 11979-10:2006 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Phaken Intraokularlinsen
- BS EN ISO 643:2020 Stähle. Mikrografische Bestimmung der scheinbaren Korngröße
- BS EN 50513:2009 Solarwafer – Datenblatt und Produktinformationen für kristalline Siliziumwafer für die Solarzellenherstellung
- 23/30453001 DC BS EN ISO 11979-7. Augenimplantate. Intraokularlinsen – Teil 7. Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie
- BS EN ISO 643:2012 Stähle. Mikrografische Bestimmung der scheinbaren Korngröße
- BS EN 60444-9:2007 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten
- BS EN IEC 60122-4:2019 Quarzkristalleinheiten mit geprüfter Qualität - Kristalleinheiten mit Thermistoren
- BS EN 120003:1986 Spezifikation für ein harmonisiertes System zur Qualitätsbewertung elektronischer Bauteile – Vordruck für Bauartspezifikation – Fototransistoren, Photodarlington-Transistoren, Fototransistor-Arrays
- BS EN 120003:1993 Spezifikation für ein harmonisiertes System zur Qualitätsbewertung elektronischer Komponenten. Leere Detailspezifikation. Fototransistoren, Photodarlington-Transistoren, Fototransistor-Arrays
- BS EN 60444-8:2003 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
- BS EN 60444-8:2017 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten. Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten
RU-GOST R, Körner und Kristalle
CZ-CSN, Körner und Kristalle
- CSN 01 5111-1974 Probenahme von losen und körnigen Materialien
- CSN 68 5401-1981 Kristallförmiges Natriumsulfat
- CSN 68 5367-1974 Kaliumhydrogensulfat kristallisiert
- CSN 42 0463-1984 Stahl. Methode zur Abschätzung der Korngröße von Austenit an Brüchen
- CSN 65 3127-1963 Kristallisches Natriumsulfat, technisch
- CSN 65 3460-1961 Zinksulfat, kristallin. technisch
- CSN 35 8813-1979 Tranaiatoren KU 611, KU 612
- CSN 35 8812-1979 Transistor KU 601, KU 602
- CSN 22 4012-1993 Partikelanalyse der Korngrößen F4 bis F 220, Vorschriften, Markierungen
- CSN 35 8936-1960 Halter von piezoelektrischen Kristallresonatoren
- CSN 35 8738-1964 Transistor. Messung von Sperrspannungen
- CSN 35 8750-1964 Transistor. Messung von h-Parametern
- CSN 35 8821-1980 Transistor BF 257, BF 258. BF 250
- CSN 35 8814-1979 Transistor KD 501, KB 502, KD 503
- CSN 35 8930-1960 Halter von piezoelektrischen Kristallresonatoren
- CSN 35 8909-1962 Transistoren. Messung der Reaktionsimpedanz
- CSN 35 8757 Cast.9-1986 Transistoren. Methoden zur Messung des Wärmewiderstands
- CSN 70 8311-1988 Kristallbleiglas, durch Schneiden behandelt
- CSN 35 8748-1964 Transistoren. Messung der Reaktionsimpedanz
- CSN 35 8912-1962 Transistoren. Messung der Reaktionsimpedanz
International Federation of Trucks and Engines, Körner und Kristalle
HU-MSZT, Körner und Kristalle
American National Standards Institute (ANSI), Körner und Kristalle
Professional Standard - Machinery, Körner und Kristalle
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Körner und Kristalle
SAE - SAE International, Körner und Kristalle
Association Francaise de Normalisation, Körner und Kristalle
- NF B30-004:1974 GLAS.KRISTALL,KRISTALLGLAS,KRISTALLIN.
- NF C93-120-003*NF EN 120003:1992 Leere Bauartspezifikation: Fototransistoren, Fotodarlington-Transistoren, Fototransistor-Arrays
- NF EN 120003:1992 Spezielle Rahmenspezifikation: Fototransistoren, Fotodarlington-Transistoren, Fototransistornetzwerke
- NF A04-102:1980 Eisen und Stahl. Makrografische Bestimmung der ferritischen oder austenitischen Korngröße von Stählen.
- NF EN ISO 11979-7:2018 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 7: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie
- NF S94-750-7*NF EN ISO 11979-7:2018 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 7: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie
- NF EN ISO 11979-10:2018 Ophthalmologische Implantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Fehlsichtigkeiten bei phaken Augen
- NF E75-230*NF ISO 8486-1:1996 Gebundene Schleifmittel. Bestimmung und Bezeichnung der Korngrößenverteilung. Teil 1: Makrokörnungen F4 bis F220.
- NF A04-102:2003 Stähle – Mikrografische Bestimmung der scheinbaren Korngröße.
- NF A04-102:2013 Stähle – Mikrografische Bestimmung der scheinbaren Korngröße
- NF E75-231:1993 Schleifmakrokörner. Bestimmung der Schüttdichte.
- NF A04-102*NF EN ISO 643:2020 Stähle – Mikrografische Bestimmung der scheinbaren Korngröße
- NF S94-750-10*NF EN ISO 11979-10:2018 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Fehlsichtigkeiten bei phaken Augen
- FD CEN/TR 17856:2022 Messungen der Lackeigenschaften von nicht kornorientierten Elektrostählen
- NF S94-750-10:2006 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Phake Intraokularlinsen.
Group Standards of the People's Republic of China, Körner und Kristalle
ES-UNE, Körner und Kristalle
- UNE-EN 120003:1992 BDS: FOTOTRANSISTOREN, FOTOCARLINGTON-TRANSISTOREN, FOTOTRANSISTOR-ARRAYS. (Von AENOR im September 1996 gebilligt.)
- UNE-EN ISO 11979-7:2018 Ophthalmologische Implantate – Intraokularlinsen – Teil 7: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie (ISO 11979-7:2018) (gebilligt von der Asociación Española de Normalización im Juni 2018.)
- UNE-EN 168100:1993 SS: Quarzkristall-Einheiten. (Von AENOR im November 1996 gebilligt.)
- UNE 37230:1987 ERRATUM BLEI UND BLEILEGIERUNGEN – SCHÄTZUNG DER DURCHSCHNITTLICHEN KORNGRÖSSE.
- UNE-EN ISO 11979-10:2018 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Fehlsichtigkeiten bei phaken Augen (ISO 11979-10:2018) (gebilligt von der Asociación Española de Normalización im Juni 2018.)
- UNE-EN IEC 60122-4:2019 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität – Teil 4: Kristalleinheiten mit Thermistoren (Befürwortet von der Asociación Española de Normalización im Mai 2019.)
RO-ASRO, Körner und Kristalle
SE-SIS, Körner und Kristalle
Professional Standard - Building Materials, Körner und Kristalle
Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Körner und Kristalle
- YB/T 4290-2012 Bestimmungsmethode des größten Korngrößengrades (ALA-Korngröße) auf der metallografischen Inspektionsoberfläche
- YB/T 5224-1993 Kornorientiertes Siliziumstahlband
- YB/T 5148-1993 Methode zur Bestimmung der durchschnittlichen Korngröße von Metallen
Professional Standard - Medicine, Körner und Kristalle
GM North America, Körner und Kristalle
Danish Standards Foundation, Körner und Kristalle
- DS/EN ISO 11979-10:2006 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Phake Intraokularlinsen
- DS/EN ISO 11979-9:2007 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 9: Multifokale Intraokularlinsen
- DS/EN ISO 2624:1995 Kupfer und Kupferlegierungen – Schätzung der durchschnittlichen Korngröße
- DS/EN ISO 643:2013 Stähle – Mikrografische Bestimmung der scheinbaren Korngröße
- DS/EN 50513:2009 Solarwafer – Datenblatt und Produktinformationen für kristalline Siliziumwafer für die Solarzellenherstellung
- DS/IEC 458:1981 Transistorisierte Vorschaltgeräte für röhrenförmige Leuchtstofflampen
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局, Körner und Kristalle
Liaoning Provincial Standard of the People's Republic of China, Körner und Kristalle
- DB21/T 2630-2016 Bestimmung der kristallinen Körnigkeit von geschmolzenem Magnesium
German Institute for Standardization, Körner und Kristalle
- DIN EN 120003:1996 Vordruck für Bauartspezifikation – Fototransistoren, Fotodarlington-Transistoren, Fototransistor-Arrays; Deutsche Fassung EN 120003:1992
- DIN EN 120003:1996-11 Vordruck für Bauartspezifikation – Fototransistoren, Fotodarlington-Transistoren, Fototransistor-Arrays; Deutsche Fassung EN 120003:1992
- DIN EN ISO 643:2020-06 Stähle – Mikrografische Bestimmung der scheinbaren Korngröße (ISO 643:2019, korrigierte Version 2020-03); Deutsche Fassung EN ISO 643:2020
- DIN EN ISO 11979-7:2018-08 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 7: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie (ISO 11979-7:2018); Deutsche Fassung EN ISO 11979-7:2018
- DIN 4000-19:1988-12 Tabellarische Darstellung der Artikeleigenschaften für Transistoren und Thyristoren
- DIN EN ISO 11979-7:2023-04 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 7: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie (ISO/DIS 11979-7:2023); Deutsche und englische Version prEN ISO 11979-7:2023 / Hinweis: Ausgabedatum 03.03.2023*Als Ersatz gedacht...
- DIN EN ISO 11979-7:2018 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 7: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie (ISO 11979-7:2018)
- DIN EN ISO 11979-10:2018-08 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Fehlsichtigkeiten bei phaken Augen (ISO 11979-10:2018); Deutsche Fassung EN ISO 11979-10:2018
- DIN EN IEC 60122-4:2019-10 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität - Teil 4: Kristalleinheiten mit Thermistoren (IEC 60122-4:2019); Deutsche Fassung EN IEC 60122-4:2019
- DIN EN ISO 11979-10:2018 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Fehlsichtigkeiten bei phaken Augen (ISO 11979-10:2018)
- DIN IEC 60679-2:1997 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren (IEC 60679-2:1981)
- DIN EN 60444-9:2007 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten - Teil 9: Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten (IEC 60444-9:2007); Deutsche Fassung EN 60444-9:2007
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Körner und Kristalle
International Electrotechnical Commission (IEC), Körner und Kristalle
- IEC 62435-5:2017 Elektronische Komponenten – Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente – Teil 5: Die- und Waferbauelemente
- IEC 60679-2:1981 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren. Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
- IEC 60444-9:2007 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 9: Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten
- IEC 60122-4:2019 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität - Teil 4: Kristalleinheiten mit Thermistoren
Lithuanian Standards Office , Körner und Kristalle
- LST EN 120003-2001 Leere Detailspezifikation. Fototransistoren, Photodarlington-Transistoren, Fototransistor-Arrays
- LST EN ISO 11979-10:2007 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Phake Intraokularlinsen (ISO 11979-10:2006)
- LST EN 50513-2009 Solarwafer – Datenblatt und Produktinformationen für kristalline Siliziumwafer für die Solarzellenherstellung
- LST EN ISO 11979-9:2007 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 9: Multifokale Intraokularlinsen (ISO 11979-9:2006)
Association of German Mechanical Engineers, Körner und Kristalle
International Organization for Standardization (ISO), Körner und Kristalle
- ISO/TS 23151:2021 Nanotechnologien – Partikelgrößenverteilung für Cellulose-Nanokristalle
- ISO 643:1983 Stähle; Mikrografische Bestimmung der ferritischen oder austenitischen Korngröße
- ISO/DIS 11979-7 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 7: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie
- ISO/FDIS 11979-7:2011 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 7: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie
- ISO/CD 643 Stähle – Mikrografische Bestimmung der scheinbaren Korngröße
- ISO/DIS 643:2023 Stähle – Mikrografische Bestimmung der scheinbaren Korngröße
- ISO 11979-10:2006 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Phake Intraokularlinsen
- ISO 11979-10:2018 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Fehlsichtigkeiten bei phaken Augen
- ISO 11979-1:2018 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Fehlsichtigkeiten bei phaken Augen
- ISO 2624:1973 Kupfer und Kupferlegierungen – Schätzung der durchschnittlichen Korngröße
- ISO 11979-9:2006 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 9: Multifokale Intraokularlinsen
- ISO 11979-10:2006/Amd 1:2014 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Phake Intraokularlinsen; Änderung 1
- ISO 2624:1990 Kupfer und Kupferlegierungen; Schätzung der durchschnittlichen Korngröße
Professional Standard - Light Industry, Körner und Kristalle
Guizhou Provincial Standard of the People's Republic of China, Körner und Kristalle
轻工业部, Körner und Kristalle
AENOR, Körner und Kristalle
- UNE-EN ISO 11979-10:2007 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Phake Intraokularlinsen (ISO 11979-10:2006)
- UNE-EN ISO 11979-10:2007/A1:2014 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Phaken Intraokularlinsen (ISO 11979-10:2006/Amd 1:2014)
- UNE 37230:1986 BLEI UND BLEILEGIERUNGEN – SCHÄTZUNG DER DURCHSCHNITTLICHEN KORNGRÖSSE.
- UNE-EN 50513:2011 Solarwafer – Datenblatt und Produktinformationen für kristalline Siliziumwafer für die Solarzellenherstellung
- UNE-EN ISO 11979-9:2007 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 9: Multifokale Intraokularlinsen (ISO 11979-9:2006)
U.S. Military Regulations and Norms, Körner und Kristalle
- ARMY MIL-PRF-55310/28 C-2008 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 1,0 MHz BIS 85 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, TTL
- ARMY MIL-PRF-55310/8 J-2009 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 50 Hz BIS 50 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, TTL
- ARMY MIL-PRF-55310/18 F-2009 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 0,01 Hz BIS 15,0 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, CMOS
- ARMY MIL-P-46320 C (4)-1972 STROMVERSORGUNG: 10516158 (TRANSISTORISIERT)
- ARMY MIL-P-46320 C-1963 STROMVERSORGUNG: 10516158 (TRANSISTORISIERT)
- ARMY MIL-C-60459 NOTICE 1-1996 KARTUSCHE, 105MM, HE, RAKETENUNTERSTÜTZT, XM548, RAKETENTREIBKÖRNUNG FÜR
- ARMY MIL-C-60459-1967 KARTUSCHE, 105MM, HE, RAKETENUNTERSTÜTZT, XM548, RAKETENTREIBKÖRNUNG FÜR
- ARMY QPL-46320-30-1992 STROMVERSORGUNG, 10516158 (TRANSISTORISIERT)
- ARMY MIL-PRF-3098/84 F-2013 KRISTALLEINHEITEN, QUARZ, CR108/U
- ARMY MIL-PRF-3098/95 E VALID NOTICE 2-2013 Kristalleinheit, Quarz, CR119/U
- ARMY MIL-PRF-55310/29 C-2011 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 0,2 MHz BIS 85 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, HCMOS
- ARMY MIL-PRF-55310/34 C-2013 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 500 KHz BIS 150 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNGS-CMOS
- ARMY MIL-PRF-55310/38 B-2013 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 500 KHz BIS 150 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, NIEDERSPANNUNGS-CMOS
- ARMY MIL-PRF-55310/28 C VALID NOTICE 1-2013 Oszillator, Quarzgesteuert, Typ 1 (Quarzoszillator (XO)), 1,0 MHz bis 85 MHz, hermetische Abdichtung, Rechteckwelle, TTL
- ARMY MIL-PRF-55310/30 D VALID NOTICE 1-2013 Oszillator, quarzgesteuert, Typ 1 (Quarzoszillator (XO)), 450 KHz bis 100 MHz, hermetische Abdichtung, Niederspannungs-CMOS
- ARMY MIL-PRF-3098/16 H VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR36/U
- ARMY MIL-PRF-3098/17 F VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR37/U
- ARMY MIL-PRF-3098/21 G VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR42/U
- ARMY MIL-PRF-3098/25 F VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR46/U
- ARMY MIL-PRF-3098/26 G VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR47/U
- ARMY MIL-PRF-3098/30 F VALID NOTICE 1-2008 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR52/U
- ARMY MIL-PRF-3098/32 F VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR54/U
- ARMY MIL-PRF-3098/33 J VALID NOTICE 1-2008 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR55/U
- ARMY MIL-PRF-3098/36 E VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR58/U
- ARMY MIL-PRF-3098/37 J VALID NOTICE 1-2008 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR59/U
- ARMY MIL-PRF-3098/38 G VALID NOTICE 1-2008 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR60/U
- ARMY MIL-PRF-3098/41 H VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR63/U
- ARMY MIL-PRF-3098/45 J VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR67/U
- ARMY MIL-PRF-3098/47 J VALID NOTICE 1-2008 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR69/U
- ARMY MIL-PRF-3098/63 F VALID NOTICE 1-2008 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR79/U
- ARMY MIL-PRF-3098/95 E VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR119/U
- ARMY MIL-PRF-3098/103 E VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR101/U
- ARMY MIL-PRF-3098/109 E VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR130/U
- ARMY MIL-PRF-3098/146 C VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR165/U
- ARMY MIL-PRF-3098/3 F VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR18/U
- ARMY MIL-PRF-3098/4 F VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR19/U
- ARMY MIL-PRF-3098/7 H VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR25/U
- ARMY MIL-PRF-3098/8 F VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR26/U
- ARMY MIL-PRF-3098/9 G VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR27/U
- ARMY MIL-PRF-3098/10 G VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR28/U
- ARMY MIL-PRF-3098/14 F VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR33/U
- ARMY MIL-PRF-3098/15 G VALID NOTICE 1-2008 Kristalleinheit, Quarz, CR35/U
- ARMY QPL-55310-70-2008 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
- ARMY MIL-PRF-3098/103 F-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR101/U
- ARMY MIL-PRF-3098/109 F-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR130/U
- ARMY MIL-PRF-3098/146 D-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR165/U
- ARMY MIL-PRF-3098/62 G-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR78/U
- ARMY MIL-PRF-3098/63 G-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR79/U
- ARMY MIL-PRF-3098/68 G-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR91/U
- ARMY MIL-PRF-3098/72 F-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR97/U
- ARMY MIL-PRF-3098/77 F-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR5/U
- ARMY MIL-PRF-3098/78 F-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR6/U
- ARMY MIL-PRF-3098/54 G-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR73/U
- ARMY MIL-PRF-3098/56 H-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR85/U
- ARMY MIL-PRF-3098/58 J-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR81/U
- ARMY MIL-PRF-3098/59 G-2010 KRISTALLEINHEIT, QUARZ, CR82/U
IN-BIS, Körner und Kristalle
- IS 10960 Pt.1-1984 Korngrößen von Diamant oder kubischem Bornitrid Teil 1 Name und Korngrößenverteilung
- IS 4748-1968 Methoden zur Schätzung der durchschnittlichen Korngröße von Metallen
- IS 4570 Pt.11-1989 Spezifikation für Quarzhalter Teil 11 Metallische, geschweißte, zweipolige Quarzhalter Typ DQ
- IS 4570 Pt.8-1985 Spezifikation für Quarzeinheitshalterungen Teil 8 Metallische, geschweißte, dreiadrige Quarzeinheitshalterung Typ DK
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Körner und Kristalle
- GB/T 39865-2021 Verfahren zur Messung des Brechungsindex einachsiger optischer Kristalle
- GB/T 37398-2019 Bariumfluorid-Szintillationskristall
- GB/T 8756-2018 Sammlung von Metallographen über Defekte von Germaniumkristallen
- GB/T 10045-2018 Fülldrahtelektroden für unlegierte Stähle und Feinkornstähle
- GB/T 39131-2020 Begriffe und Definitionen synthetischer Kristallmaterialien
- GB/T 37051-2018 Testmethode zur Bestimmung der Kristalldefektdichte in PV-Siliziumbarren und -Wafern
- GB/T 41325-2022 Kristalle mit niedriger Dichte stammen aus grubenpolierten monokristallinen Siliziumwafern für integrierte Schaltkreise
- GB/T 36648-2018 Spezifikation für TFT-Flüssigkristallmonomere
- GB/T 36647-2018 Spezifikation für Flüssigkristallmonomere
Defense Logistics Agency, Körner und Kristalle
- DLA SMD-5962-86872 REV B-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTGESCHRITTENES SCHOTTKY TTL, NAND-PUFFER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-86833 REV C-2001 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTSCHRITTLICHES SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, NAND-GATE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-86837 REV C-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR ADVANCED LOW POWER, SCHOTTKY TTL, NAND GATES, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA DSCC-DWG-85019 REV E-2008 VERZÖGERUNGSLEITUNGEN, PROGRAMMIERBAR, 16-PIN-KOMPATIBEL, 3 BIT, TTL-KOMPATIBEL
- DLA MIL-S-19500/244 B VALID NOTICE 3-2011 Transistor, PNP, Germanium Typ 2N2273
- DLA SMD-5962-97581 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTSCHRITTLICHES SCHOTTKY-TTL, DREIFACH, 3-EINGÄNGE, POSITIV UND GATE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA MIL-S-19500/529 VALID NOTICE 4-2011 Halbleiterbauelement, Transistor, Siliziumtyp 2N3904
- DLA MIL-S-19500/248 A VALID NOTICE 4-2011 Transistor, NPN, Siliziumtypen 2N2015, 2N2016
- DLA MIL-M-38510/114 B VALID NOTICE 1-2008 MIKROSCHALTUNGEN, LINEARE, BI-FET-OPERATIONSVERSTÄRKER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-97584 REV B-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENES SCHOTTKY-TTL, POSITIVES NAND-GATE MIT DOPPELTEM 4-EINGANG, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-90798-1992 MIKROSCHALTUNGEN, DIGITAL, SCHNELL, CMOS, GENERATOR/PRÜFER MIT DOPPELTER UNGERADE PARITÄT, TTL-KOMPATIBEL, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA SMD-5962-96792 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, SCHOTTKY TTL, 8 EINGÄNGE NAND GATE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA MIL-S-19500/216 A VALID NOTICE 3-2004 HALBLEITERGERÄT, TRANSISTOR, NPN, SILIKON TYP 2N1051
- DLA MIL-S-19500/273 A VALID NOTICE 3-2011 Halbleiterbauelement, Transistortyp Typ 2N744
- DLA MIL-S-19500/303 VALID NOTICE 3-2011 Halbleiterbauelement, Transistor, Typen 2N2631 und 2N2876
- DLA SMD-5962-85508 REV C-2005 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY MIT NIEDRIGER LEISTUNG, TTL, MULTIPLEXER, MONOLITHISCHES SILIKON
- DLA SMD-5962-86708 REV A-2007 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, HOCHGESCHWINDIGKEITSREGISTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
- DLA MIL-PRF-55310/21 F-2008 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 1,0 MHz BIS 60,0 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, TTL
- DLA MIL-PRF-55310/21 G-2008 OSZILLATOR, KRISTALLGESTEUERT, TYP 1 (KRISTALLOSZILLATOR (XO)), 1,0 MHz BIS 60,0 MHz, HERMETISCHE DICHTUNG, RECHTECKWELLE, TTL
- DLA QPL-3098-91-2006 KRISTALLEINHEITEN, QUARZ, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR
GM Holden Ltd, Körner und Kristalle
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Körner und Kristalle
- GB/T 6394-2017 Bestimmung zur Schätzung der durchschnittlichen Korngröße von Metall
- GB/T 34612-2017 Messmethode für die Rocking-Kurve der Röntgendoppelkristallbeugung von Saphirkristallen
- GB/T 35316-2017 Sammlung von Metallographen über Defekte an Saphirkristallen
Standard Association of Australia (SAA), Körner und Kristalle
- AS 1733:1976 Methoden zur Bestimmung der Korngröße in Metallen
- AS 1548:2008 Feinkörnige, schweißbare Stahlplatten für Druckgeräte
IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Körner und Kristalle
- IEEE 176-1949 NORMEN FÜR PIEZOELEKTRISCHE KRISTALLE
- IEEE 180-1962 NORMEN FÜR PIEZOELEKTRISCHE UND FERROELEKTRISCHE KRISTALLE: DEFINITIONEN DER BEGRIFFE FERROELEKTRISCHER KRISTALLE 1962 (62 IRE 14.S1)
Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Körner und Kristalle
Professional Standard - Education, Körner und Kristalle
KR-KS, Körner und Kristalle
- KS P ISO 11979-7-2021 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 7: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie
- KS P ISO 11979-10-2019 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Fehlsichtigkeiten bei phaken Augen
- KS C IEC 60679-2-2018 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
- KS C IEC 60679-2-2018(2023) Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren – Teil 2: Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
- KS C IEC 60122-4-2022 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität – Teil 4: Kristalleinheiten mit Thermistoren
IET - Institution of Engineering and Technology, Körner und Kristalle
Professional Standard - Chemical Industry, Körner und Kristalle
- HG/T 4357-2012 Polarisator für die Dünnschichttransistor-Flüssigkristallanzeige (TFT-LCD)
Indonesia Standards, Körner und Kristalle
未注明发布机构, Körner und Kristalle
- SAE USCAR8-2019 KÖRNUNGSFLUSSMUSTER FÜR BOLZEN UND SCHRAUBEN
- DIN EN ISO 11979-7 E:2017-03 Ophthalmic Implants Intraocular Lenses Part 7: Clinical Studies of Intraocular Lenses for the Correction of Aphakia (Draft)
- DIN EN ISO 11979-7 E:2013-07 Ophthalmic Implants Intraocular Lenses Part 7: Clinical Studies of Intraocular Lenses for the Correction of Aphakia (Draft)
- DIN EN ISO 11979-7 E:2012-07 Ophthalmic Implants Intraocular Lenses Part 7: Clinical Studies of Intraocular Lenses for the Correction of Aphakia (Draft)
- DIN EN ISO 11979-7 E:2023-04 Ophthalmic Implants Intraocular Lenses Part 7: Clinical Studies of Intraocular Lenses for the Correction of Aphakia (Draft)
- BS EN ISO 11979-9:2006+A1:2014 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 9: Multifokale Intraokularlinsen
- DIN IEC 679-2:1997 Quarzkristallgesteuerte Oszillatoren; Teil 2; Leitfaden zur Verwendung von quarzkristallgesteuerten Oszillatoren
- DIN EN ISO 11979-10 E:2017-02 Ophthalmic Implants Intraocular Lenses Part 10: Phakic Intraocular Lens Implantation (Draft)
YU-JUS, Körner und Kristalle
- JUS N.R9.071-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristalleinheiten. Zwei weitere Kristallhalter im Umriss, Typ 18
- JUS N.R9.070-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Ouartz-Kristalleinheiten. Zweistiftiger Kristallhalter, Typ 09
- JUS N.R9.073-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristall-Einheiten. Zweidraht-Kristallhalter-Umriss, Typ 17
- JUS N.R9.069-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristalleinheiten. Zwei Piri-Kristall-Halter-Umrisse, Typ 07
- JUS N.R9.064-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Ctuartz-Kristalleinheiten. Umriss des Kristallhalters mit zwei Drähten. Typen 11, 14 und 15
- JUS N.R1.373-1980 Halbleiterdioden. Wesentliche Bewertungen und Eigenschaften. Signaldioden mit geringem Stromverbrauch
- JUS N.R1.390-1979 Bipolarer Tnmmton. Wesentliche Nennwerte und Eigenschaften: BW-Leistungssignaltransistoren
- JUS N.R9.074-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Ouartz-Kristalleinheiten. Zweidraht-Kristallhalter-Umriss, Typ 19
- JUS N.R9.072-1986 Piezo-/Elektrovibratoren. Ctuartz-Kristalleinheiten. Umriss zweier WFR-Krystafhalter, Typ 16
- JUS N.R9.077-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristalleinheiten. Zweidraht-Kristallhalter-Umriss, Typ 20
- JUS N.R9.076-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristalleinheiten. Zweipoliger Kristallwärmerausgang, Typ 08
- JUS N.R9.075-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristalleinheiten. Umriss eines Kristallhalters mit zwei Stiften, Typ 10
- JUS N.R9.078-1986 Piezoelektrische Vibratoren. Quarzkristalleinheiten. Umriss des Turo-Drahtkristallhalters, Typ 21
- JUS N.R1.450-1981 Bipolartransistoren. Messmethoden
TR-TSE, Körner und Kristalle
Professional Standard - Electron, Körner und Kristalle
PL-PKN, Körner und Kristalle
Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, Körner und Kristalle
工业和信息化部, Körner und Kristalle
AR-IRAM, Körner und Kristalle
European Committee for Standardization (CEN), Körner und Kristalle
- EN ISO 11979-7:2024 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 7: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie (ISO 11979-7:2024)
- prEN ISO 11979-7 Augenimplantate – Intraokularlinsen – Teil 7: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Aphakie (ISO/DIS 11979-7:2023)
- EN ISO 11979-10:2018 Ophthalmologische Implantate – Intraokularlinsen – Teil 10: Klinische Untersuchungen von Intraokularlinsen zur Korrektur von Fehlsichtigkeiten bei phaken Augen
- EN ISO 2624:1995 Kupfer und Kupferlegierungen – Schätzung der durchschnittlichen Korngröße
Professional Standard - Aviation, Körner und Kristalle
- HB 20057-2011 Testmethoden zur Abschätzung der Korngröße von Feingussteilen aus Superlegierungen
- HB 6742-1993 Bestimmung der Kristallorientierung von Einzelkristallblättern durch Röntgen-Backblow-Laue-Fotografie
Professional Standard - Civil Aviation, Körner und Kristalle
- MH/T 6102-2014 Standardverfahren zur Messung von intergranularem Angriff oder Hirnnarbenbildung auf Metallen, die durch chemische Prozesse in Flugzeugen verursacht werden
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Körner und Kristalle
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Körner und Kristalle
- GJB 1648-1993 Allgemeine Spezifikationen für Quarzoszillatoren
- GJB 1787-1993 Spezifikationen für künstliche Quarzkristalle
- GJB 1648-2-2011 Allgemeine Spezifikation für Quarzoszillatoren
- GJB 1648A-2011 Allgemeine Spezifikation für Quarzoszillatoren
- GJB 1508A-2021 Allgemeine Spezifikationen für Kristallfilter
- GJB 2138-1994 Allgemeine Spezifikation für Quarzkristallkomponenten
- GJB 9890.2-2020 Erkennung und Bewertung der Struktur der GH4169-Legierung für die Luftfahrt, Teil 2: Methode zur Korngrößenbewertung
Professional Standard - Commodity Inspection, Körner und Kristalle
- SN/T 1175-2003 Methoden zur Inspektion von Farb-Flüssigkristallanzeigegeräten mit Dünnschichttransistoren für den Import und Export
- SN/T 0480.1-1995 Analysemethode für Baryt für den Export. Größenbestimmung
- SN/T 3112-2012 Methode zur Unterscheidung der Kornorientierung und Nichtorientierung von kaltgewalzten Siliziumstahlblechen
- SN/T 3514-2013 Identifizierungsmethode der Texturanalyse für kornorientierte und nichtorientierte Elektrostähle. Röntgenbeugung (XRD)
Professional Standard - Non-ferrous Metal, Körner und Kristalle
- YS/T 347-2004 Kupfer und Kupferlegierungen – Schätzung der durchschnittlichen Korngröße
- YS/T 347-1994 Methode zur Bestimmung der durchschnittlichen Korngröße von Kupfer und Kupferlegierungen
Society of Automotive Engineers (SAE), Körner und Kristalle
ANSI - American National Standards Institute, Körner und Kristalle
- Z80.13-2007 Ophthalmics – Phakic Intraocular Lenses (VC)
- Z80.7-2002 Für die Augenoptik – Intraokularlinsen (VC)
- Z80.30-2018 Ophthalmologie – Torische Intraokularlinsen
- Z80.7-2013 Augenoptik – Intraokularlinsen (VC)
Professional Standard - Agriculture, Körner und Kristalle
Aerospace Industries Association, Körner und Kristalle
AIA/NAS - Aerospace Industries Association of America Inc., Körner und Kristalle
Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Körner und Kristalle
ES-AENOR, Körner und Kristalle
The Aluminum Association, Körner und Kristalle
- AA TP-1-2012 Standardtestverfahren für Kornveredler aus Aluminiumlegierungen
CEN - European Committee for Standardization, Körner und Kristalle
- EN IEC 60122-4:2019 Quarzkristalleinheiten mit bewerteter Qualität - Teil 4: Kristalleinheiten mit Thermistoren
European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), Körner und Kristalle
- EN 60444-9:2007 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten – Teil 9: Messung von Störresonanzen piezoelektrischer Kristalleinheiten
- HD 302-1975 Transistorisiertes Vorschaltgerät für Leuchtstofflampen
Aerospace Industries Association/ANSI Aerospace Standards, Körner und Kristalle