Zwei-Elektroden-Prüfspannung

Für die Zwei-Elektroden-Prüfspannung gibt es insgesamt 500 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Zwei-Elektroden-Prüfspannung die folgenden Kategorien: Diskrete Halbleitergeräte, Elektrische und elektronische Prüfung, Schutz vor Stromschlägen, Optoelektronik, Lasergeräte, Elektronenröhre, Umweltschutz, Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Übertragungs- und Verteilungsnetze, Elektrische Geräte, die unter besonderen Arbeitsbedingungen verwendet werden, Bodenqualität, Bodenkunde, Integrierter Schiffbau und Offshore-Strukturen, Elektrotechnik umfassend, Die Brennstoffzelle, analytische Chemie, Schweißen, Hartlöten und Niedertemperaturschweißen, Elektromechanische Komponenten für elektronische und Telekommunikationsgeräte, Isolierflüssigkeit, Anorganische Chemie, Materialien für die Luft- und Raumfahrtfertigung, Elektronische Geräte, Gedruckte Schaltungen und Leiterplatten, Batterien und Akkus, Prüfung von Metallmaterialien, Oberflächenbehandlung und Beschichtung, Wasserqualität, Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, nichtmetallische Mineralien, Umfangreiche elektronische Komponenten, Solartechnik, Chemikalien, Glasfaserkommunikation, Baumaterial, Zerstörungsfreie Prüfung, Metallkorrosion, Energie- und Wärmeübertragungstechnik umfassend, Widerstand, Kernenergietechnik, medizinische Ausrüstung, Erdarbeiten, Aushubarbeiten, Fundamentbau, Tiefbauarbeiten, Pulvermetallurgie, Mechanischer Test, Elektronische Komponenten und Komponenten, Brenner, Kessel, Geologie, Meteorologie, Hydrologie, Terminologie (Grundsätze und Koordination), Kraftwerk umfassend, Straßenfahrzeuggerät, Keramik, Elektrische Lichter und zugehörige Geräte, Nichteisenmetallprodukte, Stahlprodukte, Anlagen zur Herstellung von Glas und Keramik, Gummi- und Kunststoffprodukte, Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV), Isoliermaterialien.

RU-GOST R, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

GOST 18604.27-1986 Leistungsfähige Hochspannungs-Bipolartransistoren. Messung der Kollektor-Basis-(Emitter-Basis)-Durchbruchspannung bei Emitter-(Kollektor-)Abschaltstrom
GOST 21107.3-1975 Gasentladungsgeräte. Dekatronen. Polyatrons. Methoden zur Messung elektrischer Parameter
GOST 18604.3-1980 Bipolare Transistoren. Methoden zur Messung von Kollektor- und Emitterkapazitäten
GOST 18604.15-1977 Bipolare Mikrowellenoszillatortransistoren. Techniken zur Messung kritischer Ströme
GOST 18604.14-1977 Bipolare Mikrowellenoszillatortransistoren. Techniken zur Messung des Koeffizientenmoduls der inversen Spannungsübertragung im Stromkreis mit allgemeiner Basis bei hoher Frequenz
GOST 18604.22-1978 Bipolare Transistoren. Methoden zur Messung der Kollektor-Emitter- und Basis-Emitter-Sättigungsspannung
GOST 18604.10-1976 Bipolare Transistoren. Technik zur Messung des Eingangswiderstands
GOST 21011.2-1976 Hochspannungs-Kenotrons. Die Methode zur Messung des Anodenstroms innerhalb des Spannungsimpulses
GOST 18604.0-1983 Bipolartransistoren. Allgemeine Anforderungen für die Messung elektrischer Parameter
GOST IEC 61243-3-2014 Live-Arbeit. Spannungsdetektoren. Teil 3: Zweipoliger Niederspannungstyp
GOST 18604.16-1978 Bipolare Transistoren. Methode zur Messung des Spannungsrückkopplungsverhältnisses bei Niedersignalbedingungen
GOST 18986.24-1983 Halbleiterdioden. Messmethode der Durchbruchspannung
GOST 19138.2-1985 Trioden-Thyristoren. Verfahren zur Messung des Trigger-Gleichstroms und des Spitzen-Gate-Stroms sowie der Trigger-Gleich- und Spitzen-Gate-Spannung
GOST 18604.2-1980 Bipolare Transistoren. Methoden zur Messung des statischen Koeffizienten der Stromübertragung
GOST 21011.4-1977 Hochspannungs-Kenotrons. Prüfmethoden der elektrischen Festigkeit
GOST 21011.6-1978 Hochspannungs-Kenotrons. Prüfverfahren zum mehrfachen Ein- und Ausschalten der Heizspannung
GOST 19138.7-1974 Thyristoren. Messmethode für den Spitzen-Gate-Ausschaltstrom, die Spitzen-Gate-Ausschaltspannung und den Spitzen-Ausschaltkoeffizienten
GOST 21011.3-1977 Hochspannungs-Kenotrons. Methode zur Messung des Heizstroms
GOST 21011.7-1980 Hochspannungs-Kenotrons. Die Emissionsstrom-Messmethode
GOST 22091.12-1984 Röntgengeräte. Die Methoden zur Messung von Strömen und Elektrodenspannungen pro Impuls
GOST 18604.1-1980 Bipolare Transistoren. Verfahren zur Messung der Kollektor-zu-Basis-Zeitkonstante bei hohen Frequenzen
GOST 18986.13-1974 Halbleiter-Tunneldioden. Methoden zur Messung von Spitzenstrom, Talpunktstrom, Spitzenpunktspannung, Talpunktspannung und projizierter Spitzenpunktspannung
GOST 18485-1973 Modulatorröhren für den Betrieb unter Pulsbedingungen. Methoden zur Messung von Elektrodenimpulsspannungen
GOST 25995-1983 Elektroden zur Messung bioelektrischer Potentiale. Allgemeine technische Anforderungen und Prüfmethoden
GOST 24613.8-1983 Optoelektronische integrierte Mikroschaltungen und Optokoppler. Methoden zur Messung der kritischen Änderungsrate der dielektrischen Spannung
GOST 18604.24-1981 Bipolare Hochfrequenztransistoren. Techniken zur Messung von Ausgangsleistung, Leistungsverstärkung und Kollektoreffizienz
GOST 18986.3-1973 Halbleiterdioden. Methode zur Messung der Gleichspannung und des Gleichstroms
GOST 21011.0-1975 Hochspannungs-Kenotrons. Methoden zur Messung elektrischer Parameter. Allgemeine Anforderungen
GOST R 53919-2010 Implantierbare Elektroden für Herzschrittmacher. Technische Anforderungen und Testmethoden
GOST 28106-1989 Kupferkathoden. Probenahme und Vorbereitung von Proben und Teststücken zur Bestimmung des elektrischen Widerstands
GOST 18604.9-1982 Bipolare Transistoren. Methoden zur Bestimmung der Grenzfrequenz und der Übergangsfrequenz
GOST 18604.13-1977 Bipolare Mikrowellenoszillatortransistoren. Techniken zur Messung von Ausgangsleistung, Leistungsverstärkung und Kollektoreffizienz
GOST 18986.16-1972 Gleichrichterdioden. Methoden zur Messung der durchschnittlichen Vorwärtsspannung und des durchschnittlichen Rückwärtsstroms
GOST 18986.9-1973 Halbleiterdioden. Verfahren zur Messung der Impulsgleichspannung und der Vorwärtserholungszeit
GOST 19656.1-1974 Halbleiter-UHF-Mischer und Detektordioden. Messverfahren für das Spannungs-Stehwellenverhältnis
GOST 28106-2015 Kupferkathoden. Probenahme und Vorbereitung von Proben und Stücken zur Bestimmung des elektrischen Widerstands
GOST 21106.5-1977 Oszillator-, Modulator- und Regelröhren; Anodenverlustleistung mehr als 25 W. Methoden zur Messung von Filamentstrom und -spannung

CZ-CSN, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

CSN 35 8757 Cast.12-1989 Blpolartransistoren. Impulsmessmethode der Durchbruchspannung Kollektor-Emltter
CSN 35 8757 Cast.1-1985 Transistoren. Messverfahren für die Kollektor-Basis- und Emitter-Basis-Durchbruchspannung
CSN 35 8741-1964 Transistor. Messung der Kollektor-Emitter-Restspannung
CSN 35 8757 Cast.8-1985 Transistoren. Messmethoden der Basis-Emitter-Spannung
CSN 35 8539-1968 Methoden zur Prüfung der Anodenbeständigkeit von elektronischen Röhren
CSN 35 8542-1968 Methoden zur Prüfung der Zwischenelektrodenkapazitäten von Elektronenröhren
CSN 35 8771-1970 Thyristoren. Verfahren zur Messung der Gate-Triggerspannung und des Gate-Triggerstroms
CSN 35 8735-1964 Halbleiterdioden. Messung von Gleichströmen und Spannungen
CSN 35 8733-1975 Halbleiterbauelemente. Dioden. Messung der Rückspannung (Arbeitsspannung)
CSN 35 8760-1973 Seraleiter. Stabilisierungsdioden. Messung des Spannungstemperaturkoeffizienten
CSN 35 8766-1976 Halbleitergeräte. Schaltdioden. Messung der Vorwärtsspannung.
CSN 35 8731-1975 Halbleiterbauelemente. Dioden Messung der Gleichstrom-Durchlassspannung
CSN 35 8763-1973 Halbleiterbauelemente. Dioden. Messung o? Sperrdurchbruchspannung

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

CNS 8105-1981 Testmethode für Transistor-Kollektor – Emitter-Sättigungsspannung
CNS 5764-1980 Messung der Rauschspannung der Spannungsreglerdiode

Defense Logistics Agency, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

DLA SMD-5962-05219 REV D-2011 MIKROSCHALTUNG, HYBRID, DOPPELTER SPANNUNGSREGLER, POSTIV UND NEGATIV, EINSTELLBAR
DLA SMD-5962-05219 REV C-2008 MIKROSCHALTUNG, HYBRID, DOPPELTER SPANNUNGSREGLER, POSTIV UND NEGATIV, EINSTELLBAR
DLA SMD-5962-09201-2009 MIKROKREIS, HYBRID, DOPPELTER SPANNUNGSREGLER, POSTIV und NEGATIV, NIEDRIGER DROPOUT, EINSTELLBAR
DLA SMD-5962-09201 REV A-2009 MIKROKREIS, HYBRID, DOPPELTER SPANNUNGSREGLER, POSTIV und NEGATIV, NIEDRIGER DROPOUT, EINSTELLBAR
DLA SMD-5962-10213-2012 MIKROSCHALTUNG, HYBRID, DOPPELTER SPANNUNGSREGLER, 3 AMP, POSITIV UND NEGATIV, NIEDRIGER DROPOUT, EINSTELLBAR
DLA SMD-5962-10213 REV A-2013 MIKROSCHALTUNG, HYBRID, DOPPELTER SPANNUNGSREGLER, 3 AMP, POSITIV UND NEGATIV, NIEDRIGER DROPOUT, EINSTELLBAR
DLA SMD-5962-78019 REV E-2006 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, DUAL, HOCHGESCHWINDIGKEIT, SPANNUNGSKomparator, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89930 REV C-2003 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, SPANNUNGSREGLER MIT DUALPOLARITÄTSVERFOLGUNG, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-88763-1990 MIKROSCHALTUNG, LINEARER SPANNUNGSREGLER MIT DOPPELPOLARITÄT, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-88763 REV A-2010 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, SPANNUNGSREGLER MIT DUALPOLARITÄTSVERFOLGUNG, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89930 REV D-2011 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, SPANNUNGSREGLER MIT DUALPOLARITÄTSVERFOLGUNG, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-89930 REV E-2013 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, SPANNUNGSREGLER MIT DUALPOLARITÄTSVERFOLGUNG, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA MIL-PRF-19500/507 F-2011 HALBLEITERGERÄT, DIODE, SILIKON, BIPOLARER ÜBERGANGSSPANNUNGSUNTERDRÜCKER, TYPEN 1N6036A BIS 1N6072A JAN, JANTX UND JANTXV
DLA MIL-PRF-19500/718 VALID NOTICE 1-2008 Halbleiterbauelement, Diode, Silizium, bipolarer Überspannungsschutz, Typen 1N6950 bis 1N6986, JAN, JANTX, JANTXV und JANS
DLA MIL-PRF-19500/718 VALID NOTICE 2-2013 Halbleiterbauelement, Diode, Silizium, bipolarer Überspannungsschutz, Typen 1N6950 bis 1N6986, JAN, JANTX, JANTXV und JANS
DLA SMD-5962-97541 REV A-2006 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY-TTL MIT NIEDRIGER LEISTUNG, VIERFACHER POSITIVER NAND-PUFFER MIT 2 EINGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-87602 REV A-1988 Mikroschaltkreise, bipolar, 16-Bit-Fehlererkennungs- und Korrektureinheit, monolithisches Silizium
DLA SMD-5962-91725 REV A-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLARES CMOS, SCAN-TESTGERÄT MIT OKTAL-D-TYP-LATCH, DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-88742 REV A-2004 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, FORTGESCHRITTENE NIEDRIGE LEISTUNG SCHOTTKY, TTL, HEX-NICHTINVERTIERENDE PUFFER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA MIL-DTL-32139/3 A-2006 STECKVERBINDER, ELEKTRISCH, RECHTECKIG, NANOMINIATUR, ZWEIREIHIG, STECKER, POLARISIERTES GEHÄUSE, STIFTKONTAKTE, CRIMPTYP
DLA MIL-DTL-32139/3 A (2)-2011 STECKVERBINDER, ELEKTRISCH, RECHTECKIG, NANOMINIATUR, ZWEIREIHIG, STECKER, POLARISIERTES GEHÄUSE, STIFTKONTAKTE, CRIMPTYP
DLA MIL-DTL-32139/3 A (3)-2013 STECKVERBINDER, ELEKTRISCH, RECHTECKIG, NANOMINIATUR, ZWEIREIHIG, STECKER, POLARISIERTES GEHÄUSE, STIFTKONTAKTE, CRIMPTYP
DLA MIL-DTL-32139/3 A (1)-2008 STECKVERBINDER, ELEKTRISCH, RECHTECKIG, NANOMINIATUR, ZWEIREIHIG, STECKER, POLARISIERTES GEHÄUSE, STIFTKONTAKTE, CRIMPTYP
DLA MIL-DTL-32139/4 A (1)-2008 STECKVERBINDER, ELEKTRISCH, RECHTECKIG, NANOMINIATUR, ZWEIREIHIG, BUCHSE, POLARISIERTES GEHÄUSE, BUCHSENKONTAKTE, CRIMP-TYP
DLA MIL-DTL-32139/4 A (2)-2013 STECKVERBINDER, ELEKTRISCH, RECHTECKIG, NANOMINIATUR, ZWEIREIHIG, BUCHSE, POLARISIERTES GEHÄUSE, BUCHSENKONTAKTE, CRIMP-TYP
DLA SMD-5962-91667 REV E-2006 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, EINSTELLBAR, 1 A, POSITIVER SPANNUNGSREGLER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-92046 REV A-2004 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, NIEDRIGER LEISTUNGSSCHOTTKY, TTL, SPANNUNGSGESTEUERTER OSZILLATOR, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA MIL-PRF-19500/516 E-2009 HALBLEITERGERÄT, DIODEN-SILIKON, BIPOLARER ÜBERGANGSSPANNUNGSUNTERDRÜCKER, TYPEN 1N6102 BIS 1N6137, 1N6102A BIS 1N6137A, 1N6138 BIS 1N6173, 1N6138A BIS 1N6173A, 1N6102US TH RAU 1N6137US, 1N6102AUS BIS 1N6137AUS, 1N6138US BIS 1N61
DLA SMD-5962-91746 REV A-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLARES CMOS, SCAN-TESTGERÄT MIT OKTALPUFFER, INVERTIERENDE DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-98617 REV A-2007 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLAR, TTL, HEX-INVERTERPUFFER/-TREIBER MIT OFFENEN KOLLEKTOR-HOCHSPANNUNGSAUSGÄNGEN, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA DSCC-VID-V62/04729 REV A-2011 MIKROSCHALTER, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 3,3-V-ABT-SCAN-TESTGERÄT MIT 18-BIT-UNIVERSAL-BUS-TRANSCEIVER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA DSCC-VID-V62/04730 REV A-2011 MIKROSCHALTER, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 3,3-V-ABT-SCAN-TESTGERÄT MIT 18-BIT-UNIVERSAL-BUS-TRANSCEIVER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA DSCC-VID-V62/04731 REV A-2011 MIKROSCHALTER, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLAR-CMOS, 3,3-V-ABT-SCAN-TESTGERÄT MIT 18-BIT-TRANSCEIVER UND REGISTERN, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-91671 REV C-2003 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, POSITIV, EINSTELLBAR, ABWÄRTSSCHALTENDER SPANNUNGSREGLER, MONOLITHISCHES SILIKON
DLA SMD-5962-94615 REV B-2013 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, FORTSCHRITTLICHES BIPOLARES CMOS, SCAN-TESTGERÄT MIT OKTAL REGISTRIERTEM BUS-TRANSCEIVER, DREI-ZU-AUSGÄNGEN, TTL-KOMPATIBLE EINGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM
DLA SMD-5962-91726 REV A-2008 MIKROSCHALTUNG, DIGITAL, BIPOLARES CMOS, SCAN-TESTGERÄT MIT OKTALPUFFER, DREI-ZUSTANDS-AUSGÄNGE, MONOLITHISCHES SILIZIUM

Association Francaise de Normalisation, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

NF C18-314-3:2010 Arbeiten unter Spannung – Spannungsdetektoren – Teil 3: Zweipoliger Niederspannungstyp.
NF C18-314-3*NF EN 61243-3:2015 Arbeiten unter Spannung – Spannungsdetektoren – Teil 3: Zweipoliger Niederspannungstyp
NF EN ISO 2376:2019 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der elektrischen Durchschlagspannung und Spannungsfestigkeit
NF T90-008:1953 WASSERTEST. ELEKTROMETRISCHE PH-MESSUNG MIT DER GLASELEKTRODE.
NF EN 60512-5-1:2002 Steckverbinder für elektronische Geräte – Prüfungen und Messungen – Teil 5-1: Grenzstromprüfungen: Prüfung 5a: Temperaturanstieg
NF A91-483:2010 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung des elektrischen Durchschlagspotentials.
NF C96-050-10*NF EN 62047-10:2012 Halbleiterbauelemente – Mikroelektromechanische Bauelemente – Teil 10: Mikrosäulen-Kompressionstest für MEMS-Materialien
NF A91-405:1983 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen. Isolationsprüfung durch Messung des Durchschlagspotentials.
NF EN 62374:2008 Halbleiterbauelemente – TDDB-Test (Time-Dependent Dielectric Breakdown) für dielektrische Gate-Filme
NF C18-311:1986 Unipolare Spannungsprüfer für den Einsatz in Netzwerken, Anlagen und Geräten für Wechselspannungen über 1000 V und nicht über 420 kV
NF C57-338*NF EN 62116:2014 Mit dem Versorgungsnetz verbundene Photovoltaik-Wechselrichter – Prüfverfahren für Maßnahmen zur Inselbildungsverhinderung
NF A05-403*NF EN ISO 17475:2008 Korrosion von Metallen und Legierungen – Elektrochemische Prüfverfahren – Richtlinien zur Durchführung potentiostatischer und potentiodynamischer Polarisationsmessungen.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Zwei-Elektroden-Prüfspannung

KS C IEC 61243-3-2017(2022) Arbeiten unter Spannung – Spannungsdetektoren – Teil 3: Zweipoliger Niederspannungstyp
KS C 6050-1985(2000) MESSVERFAHREN FÜR BIPOLARE DIGITALE INTEGRIERTE SCHALTUNGEN
KS C 6050-1985 MESSVERFAHREN FÜR BIPOLARE DIGITALE INTEGRIERTE SCHALTUNGEN
KS B 0891-1974 Prüfverfahren für die Kehlnaht einer umhüllten Elektrode
KS C IEC 61243-3:2005 Arbeiten unter Spannung – Spannungsdetektoren – Teil 3: Zweipoliger Niederspannungstyp
KS C IEC 61243-3:2017 Arbeiten unter Spannung – Spannungsdetektoren – Teil 3: Zweipoliger Niederspannungstyp
KS C 6991-2013 TESTVERFAHREN VON PHOTODIODEN FÜR DIE FASEROPTISCHE ÜBERTRAGUNG
KS B 0892-1971 Methode zur Messung der Abscheidungsrate
KS F 2736-2015 Prüfverfahren für den Polarisationswiderstand von Bewehrungsstäben in Beton
KS C 2712-2001 Testmethoden für Thermistoren mit negativem Temperaturkoeffizienten
KS L 1640-2021 Testmethoden zur Polarisation elektrochemischer Zellen auf Keramikbasis durch Stromunterbrechungstechnik
KS C 6991-2001(2011) TESTVERFAHREN VON PHOTODIODEN FÜR DIE FASEROPTISCHE ÜBERTRAGUNG
KS D 0269-2020 Potentiostatisches Polarisationstestverfahren zur Bestimmung der kritischen Lochfraßtemperatur für rostfreie Stähle
KS L 3403-1999(2019) Prüfmethoden für die Schraubengenauigkeit von zylindrisch bearbeiteten Graphitelektroden
KS D 0269-2009 Potentiostatisches Polarisationstestverfahren zur Bestimmung der kritischen Lochfraßtemperatur für rostfreie Stähle
KS D ISO 17475-2017(2022) Korrosion von Metallen und Legierungen – Elektrochemische Prüfmethoden – Richtlinien zur Durchführung potentiostatischer und potentiodynamischer Polarisationsmessungen
KS C IEC 62116:2010 Prüfverfahren für Maßnahmen zur Verhinderung von Inselbildung bei mit dem Versorgungsnetz verbundenen Photovoltaik-Wechselrichtern
KS C IEC 62116:2015 Prüfverfahren für Maßnahmen zur Verhinderung von Inselbildung bei mit dem Versorgungsnetz verbundenen Photovoltaik-Wechselrichtern
KS D ISO 17475:2008 Korrosion von Metallen und Legierungen – Elektrochemische Prüfmethoden – Richtlinien zur Durchführung potentiostatischer und potentiodynamischer Polarisationsmessungen
KS D ISO 17475:2017 Korrosion von Metallen und Legierungen – Elektrochemische Prüfmethoden – Richtlinien zur Durchführung potentiostatischer und potentiodynamischer Polarisationsmessungen

Professional Standard - Electron, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

SJ 2140-1982 Messmethoden zur Grenzspannung von Silizium-Stromreglerdioden
SJ 2214.6-1982 Methode zur Messung der Kollektor-Emitter-Durchbruchspannung in Halbleiter-Fototransistoren
SJ 444-1973 Methoden zur Messung des Anodenstroms und des Anodenstroms bei Unterhitzung von Hochspannungsgleichrichterröhren
SJ 2215.7-1982 Methode zur Messung der Kollektor-Emitter-Sperrdurchbruchspannung von Halbleiter-Fotokopplern (Dioden)
SJ 1388-1978 Methoden zur Messung der Anodenleitfähigkeit von Rauschgeneratordioden
SJ 431-1973 Methoden zur Messung von Spannungen und Strömen von O-Typ-Rückwärtswellenröhren an Per-Elektroden
SJ 1389-1978 Methoden zur Messung des Diodenleckstroms zwischen den Elektroden von Rauschgeneratordioden
SJ 2141-1982 Methoden zur Messung der Durchbruchspannung von Silizium-Stromreglerdioden
SJ 420-1973 Methoden zur Messung von Spannungen und Strömen pro Elektrode von rauscharmen Wanderfeldröhren
SJ/Z 9009-1987 Methoden zur Messung der direkten Kapazitäten zwischen den Elektroden elektronischer Röhren und Ventile
SJ 1387-1978 Methoden zur Messung des Heizstroms und der Heizspannung von Rauschgeneratordioden
SJ 2354.2-1983 Methode zur Messung der Sperrdurchbruchspannung von PIN- und Avalanche-Fotodioden
SJ 445-1973 Methoden zur Messung des Kathodenimpuls-Emissionsstroms und des Kathodenimpuls-Emissionsstroms bei unterhitztem Zustand von Hochspannungsgleichrichterröhren
SJ 455-1973 Methoden zur Messung der statischen Zwischenelektrodenkapazität von Hochspannungsgleichrichterröhren
SJ 363-1973 Messung des Reflektorgesamtstroms, des Reflektorionenstroms und des Reflektorleckstroms von Reflexklystronen
SJ 1395-1978 Methoden zur Messung des Anodenstroms und des Röhrenspannungsabfalls von Gasentladungsrauschröhren
SJ 2354.4-1983 Methode zur Messung des Durchlassspannungsabfalls von PIN- und Avalanche-Fotodioden
SJ 966-1975 Methoden zur Messung der Durchbruchspannung in Sperrrichtung von Silizium-Schaltdioden
SJ/Z 9010.1-1987 Messungen der elektrischen Eigenschaften elektronischer Röhren und Ventile – Teil 1: Messung des Elektrodenstroms
SJ 421-1973 Methoden zur Messung des Leckstroms zwischen der letzten Anode und jeder Elektrode von rauscharmen Wanderfeldröhren
SJ 1391-1978 Methoden zur Messung des Spannungs-Stehwellenverhältnisses von Rauschgeneratordioden bei kalten Bedingungen
SJ 2354.12-1983 Methode zur Messung des Temperaturfaktors der Sperrdurchbruchspannung von PIN- und Avalanche-Fotodioden
SJ 2658.3-1986 Messmethoden für Halbleiter-Infrarotdioden. Messmethoden für die Rückwärtsspannung
SJ/T 2354-2015 Messmethoden für Fotodioden von PIN、APD
SJ/T 2354-2015/0352 Messmethoden für Fotodioden von PIN、APD
SJ 2354.5-1983 Methode zur Messung der Kapazität von PIN- und Avalanche-Fotodioden
SJ 2214.4-1982 Methode zur Messung der Sperrdurchbruchspannung von Halbleiterfotodioden
SJ 2354.3-1983 Methode zur Messung des Dunkelstroms von PIN- und Avalanche-Fotodioden
SJ/Z 1171-1977 Methoden zur Bestimmung der Polarisationskurve einer Galvanisierungslösung
SJ/T 10740-1996 Integrierte Halbleiterschaltungen – Allgemeine Prinzipien der Messmethoden für bipolare Direktzugriffsspeicher
SJ 365-1973 Messung des Variationsverhältnisses des Kathodenstroms von Reflexklystronen bei Änderungen des Heizstroms
SJ 2672.7-1986 Detaillierte Spezifikation für elektronische Komponenten – 175-MHz-Niederspannungs-Bipolar-Leistungstransistoren mit Gehäusenennung, Typ 3DA307
SJ 2215.5-1982 Methode zur Messung der Durchbruchspannung in Sperrrichtung von Halbleiter-Optokopplern (Dioden)
SJ 364-1973 Messung des Kathodenstroms von Reflexklystronen
SJ 50033/162-2003 Diskretes Halbleiterbauelement Detailspezifikation des Typs 2CW1022 für bidirektionale Silizium-Spannungsreglerdioden
SJ/T 2214-2015 Messmethoden für Halbleiter-Fotodioden und Fototransistoren
SJ 2354.1-1983 Allgemeine Messverfahren für elektrische und optische Parameter von PIN- und Avalanche-Photodioden
SJ 2672.2-1986 Detailspezifikation für elektronische Komponenten – 175 MHz Niederspannungs-Bipolar-Leistungstransistoren, Typ 3DA302
SJ 2672.3-1986 Detailspezifikation für elektronische Komponenten – 175-MHz-Niederspannungs-Bipolar-Leistungstransistoren mit Gehäusenennung, Typ 3DA303
SJ 2672.4-1986 Detaillierte Spezifikation für elektronische Komponenten – 175-MHz-Niederspannungs-Bipolar-Leistungstransistoren mit Gehäusenennung, Typ 3DA304
SJ 2672.5-1986 Detailspezifikation für elektronische Komponenten – 175-MHz-Niederspannungs-Bipolar-Leistungstransistoren mit Gehäusenennung, Typ 3DA305
SJ 2672.6-1986 Detaillierte Spezifikation für elektronische Komponenten – 175-MHz-Niederspannungs-Bipolar-Leistungstransistoren mit Gehäusenennung, Typ 3DA306
SJ 2672.8-1986 Detaillierte Spezifikation für elektronische Komponenten – 175-MHz-Niederspannungs-Bipolar-Leistungstransistoren mit Gehäusenennung, Typ 3DA308
SJ 2672.9-1986 Detailspezifikation für elektronische Komponenten – 175-MHz-Niederspannungs-Bipolar-Leistungstransistoren mit Gehäusenennung, Typ 3DA309
SJ 2673.1-1986 Detaillierte Spezifikation für elektronische Komponenten – 470-MHz-Niederspannungs-Bipolar-Leistungstransistoren mit Gehäusenennung, Typ 3DA311
SJ 2673.2-1986 Detaillierte Spezifikation für elektronische Komponenten – 470-MHz-Niederspannungs-Bipolar-Leistungstransistoren mit Gehäusenennung, Typ 3DA312
SJ 2673.3-1986 Detaillierte Spezifikation für elektronische Komponenten – 470-MHz-Niederspannungs-Bipolar-Leistungstransistoren mit Gehäusenennung, Typ 3DA313
SJ 2673.4-1986 Detaillierte Spezifikation für elektronische Komponenten – 470-MHz-Niederspannungs-Bipolar-Leistungstransistoren mit Gehäusenennung, Typ 3DA314
SJ 2673.5-1986 Detaillierte Spezifikation für elektronische Komponenten – 470-MHz-Niederspannungs-Bipolar-Leistungstransistoren mit Gehäusenennung, Typ 3DA315
SJ 2673.6-1986 Detaillierte Spezifikation für elektronische Komponenten – gehäusetaugliche 470-MHz-Niederspannungs-Bipolartransistoren, Typ 3DA316
SJ 2672.1-1986 Detailspezifikation für elektronische Komponenten – 175-MHz-Niederspannungs-Bipolar-Leistungstransistoren mit Gehäusenennung, Typ 3DA301
SJ/Z 9010.15-1987 Messungen der elektrischen Eigenschaften elektronischer Röhren und Ventile – Teil 15: Methoden zur Messung von störenden und unerwünschten Elektrodenströmen
SJ 2138-1982 Methoden zur Messung des geregelten Stroms von Silizium-Stromreglerdioden
SJ/Z 9010.9-1987 Messungen der elektrischen Eigenschaften elektronischer Röhren und Ventile – Teil 9: Methoden zur Messung der Impedanz zwischen Kathode und Grenzfläche
SJ 2354.6-1983 Methode zur Messung der Empfindlichkeit von PIN- und Avalanche-Fotodioden
SJ 1718-1981 Messung des Kathodenpulsstroms von Leistungsklystronen
SJ 366-1973 Messung des Leckstroms zwischen den Elektroden von Reflexklystronen
SJ 2354.13-1983 Methode zur Messung des Multiplikationsfaktors von PIN- und Avalanche-Fotodioden
SJ 2214.3-1982 Methode zur Messung des Dunkelstroms von Halbleiterfotodioden
SJ 2214.5-1982 Methode zur Messung der Sperrschichtkapazität von Halbleiterfotodioden
SJ 2214.8-1982 Methode zur Messung der Dunkelstromspannung von Halbleiter-Fototransistoren
SJ/Z 9010.24-1987 Messung der elektrischen Eigenschaften elektronischer Röhren Teil 24 Messmethoden für Kathodenstrahl-Ladungsspeicherröhren
SJ 1230-1977 Methoden zur Messung des hochfrequenten gleichgerichteten Stroms von Germanium-Detektordioden
SJ 2142-1982 Methoden zur Messung des aktuellen Temperaturkoeffizienten von Silizium-Stromreglerdioden
SJ 2214.10-1982 Methode zur Messung des Lichtstroms von Halbleiter-Fotodioden und Fototransistoren
SJ 1386-1978 Messbedingungen für Rauschgeneratordioden und Gasentladungsrauschröhren
SJ 2658.4-1986 Messmethoden für Halbleiter-Infrarotdioden. Methoden zur Messung der Kapazität
SJ/Z 9010.13-1987 Messungen der elektrischen Eigenschaften von elektronischen Röhren und Ventilen – Teil 13: Methoden zur Messung des Emissionsstroms von heißen Kathoden für Hochvakuum-Elektronikröhren und -ventile
SJ 1393-1978 Methoden zur Messung der Kathodenvorheizzeit von Gasentladungsrauschröhren
SJ 2354.14-1983 Methode zur Messung des übermäßigen Rauschfaktors von PIN- und Avalanche-Fotodioden
SJ 2215.6-1982 Methode zur Messung der Sperrschichtkapazität von Halbleiter-Fotokopplern (Dioden)
SJ/Z 9010.14-1987 Messungen der elektrischen Eigenschaften elektronischer Röhren – Teil 14: Methoden zur Messung von Radar- und Oszilloskop-Kathodenstrahlröhren
SJ/Z 9010.22-1987 Messung der elektrischen Eigenschaften von Elektronenröhren Teil 22 Messmethoden für Kaltkathoden-Zähler- und -Anzeigeröhren
SJ 2354.10-1983 Methode zur Messung des Kreuzlichtfaktors der PIN- und Avalanche-Photodioden-Matrix
SJ 2354.11-1983 Methode zur Messung der Breite der Blindzone der PIN- und Avalanche-Photodiodenmatrix
SJ 2215.3-1982 Methode zur Messung des Durchlassstroms von Halbleiter-Optokopplern (Dioden)
SJ 2215.4-1982 Methode zur Messung des Rückstroms von Halbleiter-Optokopplern (Dioden)
SJ 2354.9-1983 Methode zur Messung der rauschäquivalenten Leistung von PIN- und Avalanche-Fotodioden
SJ/Z 9010.12-1987 Messungen der elektrischen Eigenschaften elektronischer Röhren und Ventile – Teil 12: Methoden zur Messung des Elektrodenwiderstands, der Transkonduktanz, des Verstärkungsfaktors, des Umwandlungswiderstands und der Umwandlungstranskonduktanz
SJ/Z 9010.8-1987 Messungen der elektrischen Eigenschaften elektronischer Röhren und Ventile – Teil 8: Messung der Kathodenheizzeit und der Heizeraufwärmzeit
SJ/T 2658.2-2015 Messverfahren für Halbleiter-Infrarotdioden. Teil 2: Durchlassspannung
SJ/T 2658.3-2015 Messverfahren für Halbleiter-Infrarotdioden. Teil 3: Sperrspannung und Sperrstrom
SJ 2658.5-1986 Messmethoden für Halbleiter-Infrarotdioden. Messmethoden für den Vorwärtsserienwiderstand
SJ 2354.8-1983 Methode zur Messung der Impulsanstiegszeit und -abfallzeit von PIN- und Avalanche-Fotodioden
SJ 2215.9-1982 Methode zur Messung des Rückwärts-Abschaltstroms von Halbleiter-Optokoppler-Transistoren

GOSTR, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

GOST 18604.19-1988 Bipolartransistoren. Methode zur Messung der Schwellenspannung

Professional Standard - Energy, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

NB/T 42007-2013 Testmethode der Bipolarplatte für Vanadium-Redox-Flow-Batterie
NB/T 20322-2014 Prüf- und Betriebskriterien für die Inbetriebnahme eines kathodischen Schutzsystems für vergrabene Metallstrukturen in Kernkraftwerken

Canadian Standards Association (CSA), Zwei-Elektroden-Prüfspannung

CSA C22.2 NO.160-2015 Spannungs- und Polaritätstester (dritte Ausgabe)

Group Standards of the People's Republic of China, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

T/AHEMA 002-2020 Messung der Leckagestelle einer HDPE-Geomembran mit der Doppelelektrodenmethode
T/CEEIA 579-2022 Technische Anforderungen und Testmethoden für Bipolarplatten für Eisen-Chrom-Durchflussbatterien
T/ZJCX 0034-2023 Teststandard für die Eigenschaften von Graphit-Bipolarplatten für Protonenaustauschmembran-Brennstoffzellen
T/CESA 1054-2018 Testmethoden für poröse Kohlenstoffe für Elektroden von Superkondensatoren
T/CAAMTB 12-2020 Testverfahren für Protonenaustauschmembran-Brennstoffzellen-Membranelektroden
T/CSTM 00461-2022 Testverfahren für die Elektrodenschälfestigkeit von kristallinen Silizium-PV-Zellen
T/CEC 155-2018 Allgemeine Anforderungen für Crimp-Bipolartransistoren mit isoliertem Gate (IGBT) zur flexiblen Energieübertragung
T/CEEIA 577-2022 Technische Anforderungen und Prüfung der Elektrode für Eisen-Chrom-Durchflussbatterien
T/CSA 048-2019 Messung der elektrischen und fotometrischen Eigenschaften von LEDs für die Allgemeinbeleuchtung bei unterschiedlichen Strömen/Temperaturen
T/CASME 520-2023 Testverfahren für die Beschichtung einer Metall-Bipolarplatte mit Protonenaustauschmembran-Brennstoffzellen
T/CES 084-2021 Testspezifikation für die Anwendungszuverlässigkeit von IGBT-Modulen (Insulated Gate Bipolar Transistor) für die Hochspannungs-Gleichstrom-Übertragung (HGÜ) unter Verwendung von Spannungswandlern (VSC).
T/CPIA 0051-2023 Testmethode für den Kontaktwiderstand von kristallinen Silizium-Photovoltaikzellen und Metallelektroden Transmission Line Model Method (TLM)

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

JEDEC JESD307-1992 Messung der Rauschspannung der Spannungsreglerdiode
JEDEC JESD5-1982 Messung des Temperaturkoeffizienten von Spannungsreglerdioden
JEDEC JESD24-11-1996 Leistungs-MOSFET-äquivalente Gate-Widerstandstestmethode, Ergänzung zu JEDEC JESD 24

British Standards Institution (BSI), Zwei-Elektroden-Prüfspannung

BS EN 61243-3:1999 Arbeiten unter Spannung – Spannungsdetektoren – Zweipoliger Niederspannungstyp
BS EN 61243-3:2010 Live-Arbeit. Spannungsdetektoren. Zweipoliger Niederspannungstyp
BS EN 61243-3:2014 Live-Arbeit. Spannungsdetektoren. Zweipoliger Niederspannungstyp
BS IEC 60747-5-16:2023 Halbleitergeräte – Optoelektronische Geräte. Leuchtdioden. Testmethode der Flachbandspannung von GaN-basierten Leuchtdioden basierend auf der Photostromspektroskopie
BS IEC 60747-5-8:2019 Halbleiterbauelemente. Optoelektronische Geräte. Leuchtdioden. Prüfverfahren für optoelektronische Wirkungsgrade von Leuchtdioden
BS 6043-3.6:2000 Methoden zur Probenahme und Prüfung von kohlenstoffhaltigen Materialien, die bei der Aluminiumherstellung verwendet werden. Elektroden. Bestimmung des elektrischen Widerstands von Kathodenblöcken und vorgebackenen Anoden bei Umgebungstemperatur
BS 6043-3.2:1997 Methoden zur Probenahme und Prüfung von kohlenstoffhaltigen Materialien, die bei der Aluminiumherstellung verwendet werden. Elektroden. Bestimmung der Dichte von Kathodenblöcken und vorgebackenen Anoden
PD IEC/TS 62916:2017 Photovoltaikmodule. Prüfung der Anfälligkeit für elektrostatische Entladungen von Bypass-Dioden
BS EN ISO 2376:2019 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen. Bestimmung der Durchbruchspannung und Spannungsfestigkeit
BS IEC 60747-5-15:2022 Halbleitergeräte – Optoelektronische Geräte. Leuchtdioden. Prüfverfahren der Flachbandspannung basierend auf der Elektroreflexionsspektroskopie
BS IEC 60747-5-11:2019 Halbleiterbauelemente. Optoelektronische Geräte. Leuchtdioden. Prüfverfahren für strahlende und nicht strahlende Ströme von Leuchtdioden
BS 6043-3.1.2:1999 Methoden zur Probenahme und Prüfung von kohlenstoffhaltigen Materialien, die bei der Aluminiumherstellung verwendet werden. Elektroden. Probenahme. Probenahme von Anoden
BS 6043-3.1.1:1999 Methoden zur Probenahme und Prüfung von kohlenstoffhaltigen Materialien, die bei der Aluminiumherstellung verwendet werden. Elektroden. Probenahme. Probenahme von Kathoden
21/30408318 DC BS ISO 3079. Eine Zwei-Elektroden-Methode mit Essigsäure zur Messung des Lochfraßpotentials von Aluminium und Aluminiumlegierungen in Chloridlösungen
18/30367363 DC BS IEC 60747-5-8. Halbleiterbauelemente. Teil 5-8. Optoelektronische Geräte. Leuchtdioden. Prüfverfahren für optoelektronische Wirkungsgrade von Leuchtdioden
BS 6043-3.3:2000 Methoden zur Probenahme und Prüfung von kohlenstoffhaltigen Materialien, die bei der Aluminiumherstellung verwendet werden – Elektroden – Bestimmung der Schüttdichte (scheinbare Dichte) von Kathodenblöcken und vorgebackenen Anoden mithilfe einer Dimensionsmethode
PD IEC TR 60747-5-12:2021 Halbleiterbauelemente. Optoelektronische Geräte. Leuchtdioden. Testmethode für die LED-Effizienz
BS 5049-2:1994 Funkstöreigenschaften von Freileitungen und Hochspannungsanlagen – Messmethoden und Verfahren zur Grenzwertbestimmung
18/30388245 DC BS EN IEC 60747-5-11. Halbleiterbauelemente. Teil 5-11. Optoelektronische Geräte. Leuchtdioden. Prüfverfahren für strahlende und nicht strahlende Ströme von Leuchtdioden
BS EN 62116:2014 Mit dem Versorgungsnetz verbundene Photovoltaik-Wechselrichter. Testverfahren für Maßnahmen zur Verhinderung von Inselbildung
21/30440970 DC BS EN IEC 60747-5-16. Halbleiterbauelemente – Teil 5-16. Optoelektronische Geräte. Leuchtdioden. Prüfverfahren der Flachbandspannung basierend auf der Photostromspektroskopie
20/30422995 DC BS EN IEC 60747-5-15. Halbleiterbauelemente. Teil 5-15. Optoelektronische Geräte. Leuchtdioden. Prüfverfahren der Flachbandspannung basierend auf der Elektroreflexionsspektroskopie
BS EN ISO 17475:2006 Korrosion von Metallen und Legierungen. Elektrochemische Prüfmethoden. Richtlinien zur Durchführung potentiostatischer und potentiodynamischer Polarisationsmessungen
BS EN ISO 17475:2008 Korrosion von Metallen und Legierungen – Elektrochemische Prüfverfahren – Richtlinien zur Durchführung potentiostatischer und potentiodynamischer Polarisationsmessungen

Professional Standard - Military and Civilian Products, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

WJ 2100-2004 Prüfverfahren für Silizium-Fotodioden und Silizium-Avalanche-Fotodioden
WJ 2506-1998 Verifizierungsvorschriften für Photodioden-Dynamiktester

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

HD 48 S1-1988 Impulstests an Kabeln und deren Zubehör
EN 61243-3:2010 Arbeiten unter Spannung – Spannungsprüfer – Teil 3: Zweipoliger Niederspannungstyp (Remaining Current)
EN 61243-3:2014 Arbeiten unter Spannung – Spannungsdetektoren – Teil 3: Zweipoliger Niederspannungstyp
EN 60230:2002 Impulstests an Kabeln und deren Zubehör

American Society for Testing and Materials (ASTM), Zwei-Elektroden-Prüfspannung

ASTM G187-23 Standardtestmethode zur Messung des Bodenwiderstands mithilfe der Zwei-Elektroden-Soil-Box-Methode
ASTM G187-18 Standardtestmethode zur Messung des Bodenwiderstands mithilfe der Zwei-Elektroden-Soil-Box-Methode
ASTM G187-05 Standardtestmethode zur Messung des Bodenwiderstands mithilfe der Zwei-Elektroden-Soil-Box-Methode
ASTM G187-12 Standardtestmethode zur Messung des Bodenwiderstands mithilfe der Zwei-Elektroden-Soil-Box-Methode
ASTM G187-12a Standardtestmethode zur Messung des Bodenwiderstands mithilfe der Zwei-Elektroden-Soil-Box-Methode
ASTM G5-94(1999)e1 Standard-Referenztestmethode zur Durchführung potentiostatischer und potentiodynamischer anodischer Polarisationsmessungen
ASTM G5-94(2004) Standard-Referenztestmethode zur Durchführung potentiostatischer und potentiodynamischer anodischer Polarisationsmessungen
ASTM G5-94 Standard-Referenztestmethode zur Durchführung potentiostatischer und potentiodynamischer anodischer Polarisationsmessungen
ASTM G5-94(1999) Standard-Referenztestmethode zur Durchführung potentiostatischer und potentiodynamischer anodischer Polarisationsmessungen
ASTM D1816-12 Standardtestverfahren für die dielektrische Durchbruchspannung isolierender Flüssigkeiten unter Verwendung von VDE-Elektroden
ASTM G5-14(2021) Standard-Referenztestmethode zur Durchführung potentiodynamischer anodischer Polarisationsmessungen
ASTM D1816-12(2019) Standardtestverfahren für die dielektrische Durchbruchspannung isolierender Flüssigkeiten unter Verwendung von VDE-Elektroden
ASTM D877-00 Standardtestverfahren für die dielektrische Durchbruchspannung isolierender Flüssigkeiten unter Verwendung von Scheibenelektroden
ASTM D877-87(1995) Standardtestverfahren für die dielektrische Durchbruchspannung isolierender Flüssigkeiten unter Verwendung von Scheibenelektroden
ASTM D877-02e1 Standardtestverfahren für die dielektrische Durchbruchspannung isolierender Flüssigkeiten unter Verwendung von Scheibenelektroden
ASTM D877-02 Standardtestverfahren für die dielektrische Durchbruchspannung isolierender Flüssigkeiten unter Verwendung von Scheibenelektroden
ASTM D877/D877M-19 Standardtestverfahren für die dielektrische Durchbruchspannung isolierender Flüssigkeiten unter Verwendung von Scheibenelektroden
ASTM D877-02(2007) Standardtestverfahren für die dielektrische Durchbruchspannung isolierender Flüssigkeiten unter Verwendung von Scheibenelektroden
ASTM G5-14e1 Standard-Referenztestmethode zur Durchführung potentiodynamischer anodischer Polarisationsmessungen
ASTM G5-14 Standard-Referenztestmethode zur Durchführung potentiodynamischer anodischer Polarisationsmessungen
ASTM G5-94(2011)e1 Standard-Referenztestmethode zur Durchführung potentiostatischer und potentiodynamischer anodischer Polarisationsmessungen
ASTM D877/D877M-13 Standardtestverfahren für die dielektrische Durchbruchspannung isolierender Flüssigkeiten unter Verwendung von Scheibenelektroden
ASTM G5-13e2 Standard-Referenztestmethode zur Durchführung potentiodynamischer anodischer Polarisationsmessungen
ASTM G5-13 Standard-Referenztestmethode zur Durchführung potentiodynamischer anodischer Polarisationsmessungen
ASTM G59-97e1 Standardtestmethode zur Durchführung potentiodynamischer Polarisationswiderstandsmessungen
ASTM G59-97(2009) Standardtestmethode zur Durchführung potentiodynamischer Polarisationswiderstandsmessungen
ASTM G5-12 Standard-Referenztestmethode zur Durchführung potentiostatischer und potentiodynamischer anodischer Polarisationsmessungen
ASTM D1816-97 Standardtestverfahren für die dielektrische Durchbruchspannung von Isolierölen aus Erdöl unter Verwendung von VDE-Elektroden
ASTM G100-89(2004) Standardtestmethode zur Durchführung der zyklischen Galvanotreppenpolarisation
ASTM D1816-03 Standardtestverfahren für die dielektrische Durchbruchspannung von Isolierölen aus Erdöl unter Verwendung von VDE-Elektroden
ASTM D1816-04 Standardtestverfahren für die dielektrische Durchbruchspannung von Isolierölen aus Erdöl unter Verwendung von VDE-Elektroden
ASTM D6120-97(2002) Standardtestmethode für den elektrischen Widerstand von Anoden- und Kathodenkohlenstoffmaterial bei Raumtemperatur
ASTM G5-13e1 Standard-Referenztestmethode zur Durchführung potentiodynamischer anodischer Polarisationsmessungen
ASTM D6120-97(2017)e1 Standardtestmethode für den elektrischen Widerstand von Anoden- und Kathodenkohlenstoffmaterial bei Raumtemperatur
ASTM G59-97(2003) Standardtestmethode zur Durchführung potentiodynamischer Polarisationswiderstandsmessungen
ASTM G59-97(2020) Standardtestmethode zur Durchführung potentiodynamischer Polarisationswiderstandsmessungen
ASTM G59-97(2014) Standardtestmethode zur Durchführung potentiodynamischer Polarisationswiderstandsmessungen
ASTM G59-23 Standardtestmethode zur Durchführung potentiodynamischer Polarisationswiderstandsmessungen
ASTM G57-95a(2001) Standardtestmethode zur Feldmessung des Bodenwiderstands unter Verwendung der Wenner-Vier-Elektroden-Methode
ASTM G57-95A Standardtestmethode zur Feldmessung des Bodenwiderstands unter Verwendung der Wenner-Vier-Elektroden-Methode
ASTM D6745-06(2011) Standardtestmethode für die lineare Wärmeausdehnung von Elektrodenkohlenstoffen
ASTM D6745-01 Standardtestmethode für die lineare Wärmeausdehnung von Elektrodenkohlenstoffen
ASTM D6745-06 Standardtestmethode für die lineare Wärmeausdehnung von Elektrodenkohlenstoffen
ASTM C1025-91(2005) Standardtestmethode für den Bruchmodul beim Biegen von Elektrodengraphit
ASTM C1025-15(2020) Standardtestmethode für den Bruchmodul beim Biegen von Elektrodengraphit
ASTM F1113-87(2005)e1 Standardtestverfahren zur elektrochemischen Messung von diffusiblem Wasserstoff in Stählen (Seepockenelektrode)
ASTM G57-20 Standardtestmethode zur Messung des Bodenwiderstands unter Verwendung der Wenner-Vier-Elektroden-Methode
ASTM F1113-87(2011) Standardtestverfahren zur elektrochemischen Messung von diffusiblem Wasserstoff in Stählen (Seepockenelektrode)
ASTM G57-06(2012) Standardtestmethode zur Feldmessung des Bodenwiderstands unter Verwendung der Wenner-Vier-Elektroden-Methode
ASTM G57-06 Standardtestmethode zur Feldmessung des Bodenwiderstands unter Verwendung der Wenner-Vier-Elektroden-Methode
ASTM E70-97 Standardtestmethode für den pH-Wert wässriger Lösungen mit der Glaselektrode
ASTM E70-19 Standardtestmethode für den pH-Wert wässriger Lösungen mit der Glaselektrode
ASTM E70-24 Standardtestmethode für den pH-Wert wässriger Lösungen mit der Glaselektrode
ASTM E70-07 Standardtestmethode für den pH-Wert wässriger Lösungen mit der Glaselektrode
ASTM F1113-87(1999) Standardtestverfahren zur elektrochemischen Messung von diffusiblem Wasserstoff in Stählen (Seepockenelektrode)
ASTM D7148-19 Standardtestmethode zur Bestimmung des Ionenwiderstands (ER) eines Alkalibatterieseparators unter Verwendung einer Kohlenstoffelektrode in einem Elektrolytbad-Messsystem
ASTM D7148-19a Standardtestmethode zur Bestimmung des Ionenwiderstands (ER) eines Alkalibatterieseparators unter Verwendung einer Kohlenstoffelektrode in einem Elektrolytbad-Messsystem
ASTM F769-00 Standardtestverfahren zur Messung von Transistor- und Diodenleckströmen (zurückgezogen 2006)
ASTM D5288-97(2004) Standardtestmethode zur Bestimmung des Kriechstromindex elektrischer Isoliermaterialien unter Verwendung verschiedener Elektrodenmaterialien (außer Platin)
ASTM D1830-17 Standardtestverfahren für die thermische Belastbarkeit von flexiblen Plattenmaterialien, die zur elektrischen Isolierung verwendet werden, mit der Methode der gebogenen Elektrode
ASTM B764-04 Standardtestverfahren zur gleichzeitigen Dicken- und Elektrodenpotentialbestimmung einzelner Schichten in mehrschichtigen Nickelabscheidungen (STEP-Test)
ASTM B764-04(2021) Standardtestverfahren zur gleichzeitigen Dicken- und Elektrodenpotentialbestimmung einzelner Schichten in mehrschichtigen Nickelabscheidungen (STEP-Test)

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

JJG(电子) 04033-1989 Verifizierungsvorschriften für integrierte Bipolar-Logik-Schaltkreistester vom Typ BJ3123
JJG(电子) 04018-1988 BJ2901 Bipolartransistor-Sperrdurchbruchspannung Standard-Verifizierungsvorschriften für Instrumentenversuche
JJG(电子) 04026-1989 Verifizierungsvorschriften für Wartungsspannungsprüfer vom Typ BJ2985 mit Kristalltriode
JJG(电子) 04017-1988 BJ2900 Bipolartransistor-Reverse-Cut-Off-Strommessung Standard-Verifizierungsvorschriften für Instrumentenversuche

CU-NC, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

NC 66-29-1984 Elektronik. Messmethoden für Bipolartransistoren
NC 66-17-1987 Elektrotechnische und elektronische Industrie. Bipolartransistoren für hohe Spannung und mittlere Leistung. Qualitätsspezifikationen
NC 66-18-1984 Elektronik. Mittelleistungs- und Hochspannungs-Bipolartransistoren der Typen BC 328 und BC 338. Qualitätsspezifikationen
NC 66-19-1984 Elektronik. Bipolartransistoren mittlerer Leistung und hoher Spannung, Typen BD 135, BD 136, 3D 137, BD 138, BD 139 und BD 140. Qualitätsspezifikationen

Professional Standard-Ships, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

CB/T 3794-2014 Prüfverfahren für die Eigenschaften piezoelektrischer Keramik. Prüfung der Elektrodenverbindungsfestigkeit
CB/T 3794-1997 Prüfverfahren für die Verbindungsfestigkeit piezoelektrischer Keramikelektroden

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

GB/T 7274-2015 Methoden zur Messung direkter Zwischenelektrodenkapazitäten elektronischer Röhren und Ventile
GB/T 20042.6-2011 Protonenaustauschmembran-Brennstoffzelle. Teil 6: Testverfahren für die Eigenschaften von Bipolarplatten
GB/T 41760-2022 Testmethode zur spontanen Polarisation von Turmalin
GB/T 23729-2009 Fotodioden für Szintillationsdetektoren. Testverfahren
GB/T 43092-2023 Hochtemperatur-Leistungstestverfahren zur elektrochemischen Leistungsprüfung von Kathodenmaterialien für Lithium-Ionen-Batterien
GB/T 24488-2009 Prüfverfahren für elektrochemische Eigenschaften von Opferanoden aus Magnesiumlegierungen
GB/T 18134.1-2000 Hochspannungsprüftechniken mit sehr schnellen Impulsen Teil 1: Messsysteme für sehr schnelle Frontüberspannungen in gasisolierten Umspannwerken
GB/T 20042.5-2009 Protonenaustauschmembran-Brennstoffzelle. Teil 5: Testverfahren für die Membran-Elektroden-Anordnung
GB/Z 27753-2011 Prüfverfahren für die Anpassungsfähigkeit der in PEM-Brennstoffzellen verwendeten Membran-Elektroden-Anordnung an Betriebsbedingungen
GB/T 24196-2009 Korrosion von Metallen und Legierungen. Elektrochemische Prüfmethoden. Richtlinien zur Durchführung potentiostatischer und potentiodynamischer Polarisationsmessungen

HU-MSZT, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

MNOSZ 1301-1952 Prüfung der Widerstände K-, E- und O-Pole
MSZ 20862-1958 Einphasige Spannungsprüf- und Elektrodenprüfgeräte für elektrische Hochspannungsgeräte bis 600 Volt
MSZ 451-1963 Allgemeine technische Spezifikationen und Prüfung von Hochleistungs-Elektrodenbefestigungsmaterialien für Spannung 1000 Volt Punkt 6 200 A
MSZ 05 33.0505-1984 MSZ-05 33.0505 T (80.11.) Kernelektrodendraht-Unterpulverschweißkonstruktion. Prüfung der technischen Anforderungen

RO-ASRO, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

STAS 12123/3-1983 Halbleiterbauelemente SPANNUNGSREFERENZDIODEN UND SPANNUNGSREGLERDIODEN Messmethoden für elektrische Eigenschaften
STAS 3184-1969 Gerätesteckdosen und bipolare Stecker für Spannungen bis 250V ca. und 220Vc.c und 16A
STAS 12124/1-1982 Halbleiterbauelemente BIPOLARTRANZISTOREN Methoden zur Messung elektrischer statischer Parameter

IPC - Association Connecting Electronics Industries, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

IPC TM-650 2.6.25B-2016 Widerstandstest für leitfähiges anodisches Filament (CAF): XY-Achse
IPC TM-650 2.6.25A-2012 Widerstandstest für leitfähiges anodisches Filament (CAF): XY-Achse
IPC 9691A CHINESE-2007 Benutzerhandbuch für die IPC-TM-650@-Methode 2.6.25@ Conductive Anodic Filament (CAF)-Widerstandstest (elektrochemischer Migrationstest)
IPC 9691A CD-2007 Benutzerhandbuch für die IPC-TM-650@-Methode 2.6.25@ Conductive Anodic Filament (CAF)-Widerstandstest (elektrochemischer Migrationstest)
IPC 9691A CHINESE CD-2007 Benutzerhandbuch für die IPC-TM-650@-Methode 2.6.25@ Conductive Anodic Filament (CAF)-Widerstandstest (elektrochemischer Migrationstest)
IPC 9691B CHINESE-2016 Benutzerhandbuch für die IPC-TM-650@ Methode 2.6.25@ Leitfähiger anodischer Filamentwiderstand (CAF) und andere interne elektrochemische Migrationstests

国家能源局, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

NB/T 42082-2016 Testmethode für All-Vanadium-Redox-Flow-Batterieelektroden
NB/T 42146-2018 Testmethoden für Zink-Brom-Durchflussbatterieelektroden, Separatoren und Elektrolyte

SE-SIS, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

SIS SS 428 91 05-1985 Tragbare Einzel-Po/E-Spannungsprüfer für 3,6 – 420 kV höchste Systemspannung – Design und Prüfung
SIS SS 428 91 05-1982 Tragbare einpolige Spannungsprüfer für 3,6 - 420 kV h/g hes t Systemspannung – Design und Prüfung
SIS SS-ISO 2376:1985 Anodisierung (anodische Oxidation) von Aluminium und seinen Legierungen – Isolationsprüfung durch Messung des Durchschlagspotenzials
SIS SS 428 91 06-1982 Tragbarer zweipoliger Spannungsprüfer für 110-440 V AC und DE. - Design und Tests
SIS SS 06 11 01-1990 Schweißelektroden – Drahtelektroden und Rohrdrähte zum Metall-Schutzgasschweißen und Metall-Lichtbogenschweißen von Kohlenstoffstahl, kohlenstoffmanganlegiertem Stahl, mikrolegiertem Stahl und niedriglegiertem Stahl – Schweißgutproben für die Prüfung aller Schweißmetalle
SIS SS 436 01 13-1981 Masten aus Schichtholz für Freileitungen – Entwurf und Prüfung
SIS SS 06 11 02-1990 Schweißelektroden – Drahtelektroden und Rohrdrähte zum Metall-Schutzgasschweißen und Metall-Lichtbogenschweißen von Kohlenstoffstahl, Kohlenstoff-Mangan-legiertem Stahl, mikrolegiertem Stahl und niedriglegiertem Stahl – Schweißnähte und Feldmeta! Stäbe für Stumpfschweißversuche
SIS SS 06 17 10-1984 Schweißelektroden – Prüfkörper zur Bestimmung der Schweißgutzusammensetzung

PL-PKN, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

PN T01504-10-1987 Transistoren Messprinzip Kollektor-Emitter-Erhaltungsspannung UcEO(sm) und Uceiusus)
PN E08509-1988 Elektrische Schutzausrüstung Einpolige Spannungsprüfer bis 250 V
PN T06516-1990 ?on – selektive Elektroden Allgemeine Anforderungen und Tests
PN T04812-1971 Test o? Spannungsfestigkeit für Boosterdioden und Lin? Ausgabe? Röhren in horizontalen Ablenkkreisen
PN T80006-1988 Elektronische Komponenten Aluminium-Elektrolyt-Polkondensatoren Allgemeine Anforderungen und Prüfungen
PN C82055-21-1992 Prüfmethoden für gepresste Kohlenstoffprodukte. Bestimmung des spezifischen Widerstands an Elektroden
PN M69161-1990 Schweißen Isolierte Elektrodenhalter für manuelles Schweißen Schweißanforderungen und Prüfungen
PN C04576-10-1986 Wasser- und Abwassertests auf Stickstoff. Bestimmung von Nitratstickstoff durch potentiometrische Methode mit ionenselektiver Elektrode
PN T01504-60-1987 Dioden Messmethoden Momentane und Spitzen-Erholspannungen Ufr, Ufrm und Vorwärtserholzeit tfr
PN S76105-1973 Funkenstrecke mit drei Elektroden zur Steuerung von Zündgeräten von Kraftfahrzeugen

Institute of Interconnecting and Packaging Electronic Circuits (IPC), Zwei-Elektroden-Prüfspannung

IPC TM-650 2.6.25-2003 Widerstandstest für leitfähiges anodisches Filament (CAF): XY-Achse
IPC 9691-2005 Benutzerhandbuch für den IPC-TM-650, Methode 2.6.25, Widerstandstest für leitfähige anodische Filamente (CAF) (elektrochemische Migrationsprüfung)

International Electrotechnical Commission (IEC), Zwei-Elektroden-Prüfspannung

IEC 61243-3:2014 Arbeiten unter Spannung – Spannungsdetektoren – Teil 3: Zweipoliger Niederspannungstyp
IEC 61243-3:1998 Arbeiten unter Spannung – Spannungsdetektoren – Teil 3: Zweipoliger Niederspannungstyp
IEC 61243-3/COR1:2000 Arbeiten unter Spannung – Spannungsdetektoren – Teil 3: Zweipoliger Niederspannungstyp
IEC 61243-3/COR2:2000 Arbeiten unter Spannung – Spannungsdetektoren – Teil 3: Zweipoliger Niederspannungstyp
IEC 61243-3:2009 Arbeiten unter Spannung – Spannungsdetektoren – Teil 3: Zweipoliger Niederspannungstyp
IEC 61243-3:2014/COR2:2015 Arbeiten unter Spannung - Spannungsdetektoren - Teil 3: Zweipoliger Niederspannungstyp; Berichtigung 2
IEC 61243-3:2014/COR1:2015 Berichtigung 1 – Arbeiten unter Spannung – Spannungsdetektoren – Teil 3: Zweipoliger Niederspannungstyp
IEC 60747-5-16:2023 Halbleiterbauelemente – Teil 5-16: Optoelektronische Bauelemente – Leuchtdioden – Prüfverfahren der Flachbandspannung von GaN-basierten Leuchtdioden basierend auf der Photostromspektroskopie

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

EN 61243-3:1998 Arbeiten unter Spannung – Spannungsdetektoren – Teil 3: Zweipoliger Niederspannungstyp (einschließlich Berichtigung vom Februar 2002)

Danish Standards Foundation, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

DS/EN 61243-3:2010 Arbeiten unter Spannung – Spannungsdetektoren – Teil 3: Zweipoliger Niederspannungstyp
DS/EN ISO 17475:2009 Korrosion von Metallen und Legierungen – Elektrochemische Prüfverfahren – Richtlinien zur Durchführung potentiostatischer und potentiodynamischer Polarisationsmessungen

KR-KS, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

KS C IEC 61243-3-2017 Arbeiten unter Spannung – Spannungsdetektoren – Teil 3: Zweipoliger Niederspannungstyp
KS D ISO 17475-2017 Korrosion von Metallen und Legierungen – Elektrochemische Prüfmethoden – Richtlinien zur Durchführung potentiostatischer und potentiodynamischer Polarisationsmessungen
KS D ISO 17475-2023 Korrosion von Metallen und Legierungen – Elektrochemische Prüfverfahren – Richtlinien zur Durchführung potentiostatischer und potentiodynamischer Polarisationsmessungen

未注明发布机构, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

BS EN 61243-3:2014(2015) Arbeiten unter Spannung – Spannungsdetektoren Teil 3: Zweipoliger Niederspannungstyp
DIN 51919 E:2012-06 Prüfung kohlenstoffhaltiger Materialien - Bestimmung des elektrischen Widerstands von Elektroden nach der Strom-Spannungs-Methode - Feste Materialien
DIN EN ISO 2376 E:2017-11 Determination of anodizing breakdown voltage and withstand voltage of aluminum and its alloys (draft)
DIN 51932 E:2009-02 Prüfung von Kohlenstoffmaterialien - Bestimmung der Schüttdichte zylindrisch bearbeiteter Elektroden

AENOR, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

UNE-EN 61243-3:2015 Arbeiten unter Spannung – Spannungsdetektoren – Teil 3: Zweipoliger Niederspannungstyp
UNE-EN ISO 17475:2009 Korrosion von Metallen und Legierungen – Elektrochemische Prüfverfahren – Richtlinien zur Durchführung potentiostatischer und potentiodynamischer Polarisationsmessungen (ISO 17475:2005/Cor 1:2006)

German Institute for Standardization, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

DIN 51919:2013-05 Prüfung kohlenstoffhaltiger Materialien - Bestimmung des elektrischen Widerstands von Elektroden nach der Strom-Spannungs-Methode - Feste Materialien
DIN 51919:1999 Prüfung kohlenstoffhaltiger Materialien - Bestimmung des elektrischen Widerstands von Elektroden nach der Strom-Spannungs-Methode; feste Materialien
DIN 51919:2013 Prüfung kohlenstoffhaltiger Materialien - Bestimmung des elektrischen Widerstands von Elektroden nach der Strom-Spannungs-Methode - Feste Materialien
DIN EN ISO 2376:2019-07 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Durchschlagspannung und der Spannungsfestigkeit (ISO 2376:2019); Deutsche Fassung EN ISO 2376:2019
DIN IEC 62088:2002-09 Nukleare Instrumentierung – Fotodioden für Szintillationsdetektoren – Prüfverfahren (IEC 62088:2001)
DIN EN ISO 2376:2019 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Durchschlagspannung und Spannungsfestigkeit (ISO 2376:2019)
DIN EN ISO 2376:2010 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung des elektrischen Durchschlagspotenzials (ISO 2376:2010); Deutsche Fassung EN ISO 2376:2010
DIN 51932:2010-06 Prüfung von Kohlenstoffmaterialien - Bestimmung der Schüttdichte zylindrisch bearbeiteter Elektroden
DIN 44402-14:1971 Messungen elektrischer Eigenschaften elektronischer Röhren; Methoden zur Messung des Emissionsstroms von Heißkathoden für elektronische Hochvakuumröhren und -ventile
DIN EN 62374:2008-02 Halbleiterbauelemente – TDDB-Test (Time Dependent Dielectric Breakdown) für dielektrische Gate-Filme (IEC 62374:2007); Deutsche Fassung EN 62374:2007
DIN EN 61243-3:2011 Arbeiten unter Spannung - Spannungsdetektoren - Teil 3: Zweipoliger Niederspannungstyp (IEC 61243-3:2009); Deutsche Fassung EN 61243-3:2010
DIN EN 61243-3:2015 Arbeiten unter Spannung – Spannungsdetektoren – Teil 3: Zweipoliger Niederspannungstyp (IEC 61243-3:2014 + Cor.:2015); Deutsche Fassung EN 61243-3:2014
DIN EN ISO 17475:2008-07 Korrosion von Metallen und Legierungen – Elektrochemische Prüfverfahren – Richtlinien zur Durchführung potentiostatischer und potentiodynamischer Polarisationsmessungen (ISO 17475:2005+Cor. 1:2006); Deutsche Fassung EN ISO 17475:2008
DIN 51932:2010 Prüfung von Kohlenstoffmaterialien - Bestimmung der Schüttdichte zylindrisch bearbeiteter Elektroden
DIN 51932:1998 Prüfung von Kohlenstoffmaterialien - Bestimmung der Schüttdichte zylindrisch bearbeiteter Elektroden

Professional Standard - Machinery, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

JB/T 6307.4-1992 Testverfahren für Leistungshalbleitermodule. Arm und Armpaar eines Bipolartransistors
JB/T 6307.5-1994 Testmethoden für Leistungshalbleitermodule, Bipolartransistoren, Einphasenbrücke und Dreiphasenbrücke
JB/T 7704.6-1995 Testmethode für Galvanisierungslösung Bestimmung der Polarisationskurve

United States Navy, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

NAVY MIL-PRF-28800 F-1996 PRÜFGERÄTE ZUR VERWENDUNG MIT ELEKTRISCHEN UND ELEKTRONISCHEN GERÄTEN, ALLGEMEINE SPEZIFIKATION FÜR

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Zwei-Elektroden-Prüfspannung

IEEE Std C37.103-1990 Leitfaden für die Prüfung von Differential- und Polarisationsrelaisschaltungen
IEEE Std 433-2009 IEEE Empfohlene Praxis für Isolationstests™ von elektrischen Wechselstrommaschinen mit hoher Spannung bei sehr niedriger Frequenz – Redline
IEEE Std C37.103-2004 IEEE-Leitfaden für die Prüfung von Differential- und Polarisationsrelaisschaltungen
IEEE Std C37.103-2015 IEEE-Leitfaden für die Prüfung von Differential- und Polarisationsrelaisschaltungen
IEEE Unapproved Draft Std P433/D16 Oct 2009 Entwurf einer empfohlenen Praxis für die Isolationsprüfung von elektrischen Wechselstrommaschinen mit hoher Spannung bei sehr niedriger Frequenz
IEEE PC37.103/D5, July 2014 IEEE Draft Guide für die Prüfung von Differenz- und Polarisationsrelaisschaltungen
IEEE 433-2022 Von der IEEE empfohlene Praxis für die Isolationsprüfung von elektrischen Wechselstrommaschinen mit einer Hochspannung von bis zu 30 kV bei sehr niedriger Frequenz
IEEE PC37.103/D7.0, April 2015 Von der IEEE genehmigter Leitfadenentwurf für die Prüfung von Differential- und Polarisationsrelaisschaltungen
IEEE Std C37.45-2016 Designtestspezifikationen für geschlossene einpolige Luftschalter der Hochspannungsverteilungsklasse (> 1000 V).
IEEE P433/D9, December 2021 Von der IEEE genehmigter Entwurf einer empfohlenen Praxis für die Isolationsprüfung von elektrischen Wechselstrommaschinen mit einer hohen Nennspannung von bis zu 30 kV bei sehr niedriger Frequenz
IEEE P433/D7, June 2020 IEEE-Entwurf einer empfohlenen Praxis für die Isolationsprüfung von elektrischen Wechselstrommaschinen mit einer Hochspannung von bis zu 30 kV bei sehr niedriger Frequenz
IEEE P433/D8, October 2021 IEEE-Entwurf einer empfohlenen Praxis für die Isolationsprüfung von elektrischen Wechselstrommaschinen mit einer Hochspannung von bis zu 30 kV bei sehr niedriger Frequenz
IEEE PC37.45/D5, June 2015 IEEE Draft Standard Design Tests und Spezifikationen für geschlossene einpolige Luftschalter der Hochspannungsverteilungsklasse (> 1000 V).
IEEE PC37.45/D6, December 2015 Von der IEEE genehmigter Entwurf von Standarddesigntests und -spezifikationen für geschlossene einpolige Luftschalter der Hochspannungsverteilungsklasse (> 1000 V).

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Zwei-Elektroden-Prüfspannung

IEEE C37.103-1990 Guide for Differential and Polarizing Relay Circuit Testing
IEEE C37.103-2004 Guide for Differential and Polarizing Relay Circuit Testing
IEEE C37.103-2015 Guide for Differential and Polarizing Relay Circuit Testing
IEEE C37.45-2016 Designtestspezifikationen für geschlossene einpolige Luftschalter der Hochspannungsverteilungsklasse (> 1000 V).
IEEE C62.37-1996 Standardtestspezifikation für Thyristordioden-Überspannungsschutzgeräte
IEEE C37.45 ERTA-2017 Errata zum IEEE-Standard für Designtestspezifikationen für geschlossene einpolige Luftschalter der Hochspannungsverteilungsklasse (> 1000 V).
IEEE C37.41-1981 Design Tests for High-Voltage Fuses@ Distribution Enclosed Single-Pole Air Switches@ Fuse Disconnecting Switches@ and Accessories
IEEE C37.41-2000 Standardentwurfstest für Hochspannungssicherungen@ Verteilungsgekapselte einpolige Luftschalter@ Sicherungstrennschalter@ und Zubehör

工业和信息化部, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

SJ/T 11792-2022 Prüfverfahren für die Leitfähigkeit von Elektrodenmaterialien für Lithium-Ionen-Batterien
XB/T 702-2022 Drei-Elektroden-System-Testverfahren zum Testen der elektrochemischen Eigenschaften von Seltenerd-Wasserstoffspeicherlegierungspulver für negative Elektroden von Metallhydrid-Nickel-Batterien
SJ/T 11793-2022 Prüfverfahren für elektrochemische Eigenschaften von Elektrodenmaterialien für Lithium-Ionen-Batterien
SJ/T 11795-2022 Prüfverfahren für den Gehalt an magnetischen Fremdstoffen in Elektrodenmaterialien von Lithium-Ionen-Batterien
SJ/T 11794-2022 Testmethode für freies Lithium in Kathodenmaterialien von Lithium-Ionen-Batterien
QC/T 1136-2020 Umwelttestanforderungen und Testmethoden für Module mit isoliertem Gate-Bipolartransistor (IGBT) für Elektrofahrzeuge

ZA-SANS, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

SANS 61243-3:1998 Arbeiten unter Spannung – Spannungsdetektoren Teil 3: Zweipoliger Niederspannungstyp

TR-TSE, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

TS 2441-1976 MESSUNGEN DER ELEKTRISCHEN EIGENSCHAFTEN VON ELEKTRONISCHEN ROHREN UND VENTILEN TEIL 1: MESSUNG DES ELEKTRODENSTROMS
TS 2449-1976 MESSUNGEN DER ELEKTRISCHEN EIGENSCHAFTEN VON ELEKTRONISCHEN ROHREN UND VENTILEN TEIL 9: METHODEN ZUR MESSUNG DER KATHODEN-SCHNITTSTELLEN-IMPEDANZ
TS 2455-1976 Messungen der elektrischen Eigenschaften elektronischer Röhren und Ventile Teil 15: Methoden zur Messung von Stör- und unerwünschten Elektrodenströmen
TS 2453-1976 MESSUNGEN DER ELEKTRISCHEN EIGENSCHAFTEN VON ELEKTRONISCHEN RÖHREN UND VENTILEN TEIL 13: METHODEN ZUR MESSUNG DES EMISSIONSKORRENTEN VON HEISSKATHODEN FÜR ELEKTRONISCHE HOCHVAKUUMROHREN UND -VENTILE
TS 2454-1976 MESSUNGEN DER ELEKTRISCHEN EIGENSCHAFTEN VON ELEKTRONISCHEN RÖHREN UND VENTILEN TEIL 14: MESSMETHODEN VON RADAR- UND OSZILLOSKOP-KATHODERAUSRÖHREN
TS 2642-1977 MESSUNGEN DER ELEKTRISCHEN EIGENSCHAFTEN VON ELEKTRONIKROHREN UND -VENTILEN TEIL 22: MESSMETHODEN FÜR KALTKATHODENZÄHL- UND INDIKATORROHREN
TS 2448-1976 Messungen der elektrischen Eigenschaften elektronischer Röhren und Ventile Teil 8: Messung der Kathodenheizzeit und der Heizeraufwärmzeit
TS 2452-1976 MESSUNGEN DER ELEKTRISCHEN EIGENSCHAFTEN VON EIJECTRONIC-ROHREN UND -VENTILEN TEIL 12: METHODEN ZUR MESSUNG DES ELEKTRODENWIDERSTANDS, DES TRANSKONDUKTANS, DES VERSTÄRKUNGSFAKTORS, DES KONVERSIONSWIDERSTANDS UND DES KONVERSIONSTRANSKONDUKTENS

AR-IRAM, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

IRAM 2075-1948 Elektrische Erdungskarte (bipolarer irreversibler industrieller Festinstallationstyp mit Standardbetriebsspannung von 220 V)
IRAM 2065-1953 Stecker für Heizgeräte (bipolarer Typ, Arbeitsspannung beträgt 220 V, mit Erdungsstecker)
IRAM 2074-1948 Elektrostecker mit Steckdosen, doppelseitig und zweipolig für den Einsatz in Industrieanlagen, ausgelegt für 220 Volt

IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

QC 750105-1986 Halbleiterbauelemente; Diskrete Geräte Teil 3: Signal- (einschließlich Schalt-) und Reglerdioden, Abschnitt 2, leere Detailspezifikation für Spannungsreglerdioden und Spannungsreferenzdioden, ohne temperaturkompensierte Präzisionsreferenz. Dioden (IEC

International Organization for Standardization (ISO), Zwei-Elektroden-Prüfspannung

ISO 2376:2019 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Durchschlagspannung und der Spannungsfestigkeit
ISO 3079:2022 Zwei-Elektroden-Methode mit Essigsäure zur Messung des Lochfraßpotentials von Aluminium und Aluminiumlegierungen in Chloridlösungen
ISO 2376:2010 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung des elektrischen Durchschlagspotentials

YU-JUS, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

JUS N.R1.115-1977 Elektronische Röhren. Messungen der elektrischen Eigenschaften. Methoden zur Messung von störenden und unerwünschten Elektrodenströmen
JUS N.B2.762-1990 Elektroinstallationen im Niederspannungsbereich. Überprüfung der Bedingungen für den Schutz durch automatische Unterbrechung der Stromversorgung, Messung des Erdungswiderstands
JUS C.T7.240-1984 Anodische Oxidation von Aluminium und Aluminiumlegierungen. Isolationsprüfung durch Messung des Durchschlagpotentials

American National Standards Institute （ANSI), Zwei-Elektroden-Prüfspannung

ANSI/EIA 307:1992 Spannungsreglerdioden-Rauschspannungsmessung / Hinweis: Genehmigt am 00.04.2002.
ANSI/ASTM D1830:1999 Prüfverfahren für die thermische Belastbarkeit von flexiblen Plattenmaterialien, die zur elektrischen Isolierung verwendet werden, mit der Methode der gebogenen Elektrode (10.01)
ANSI/ASTM D7148:2013 Testverfahren zur Bestimmung des Ionenwiderstands (ER) eines Alkalibatterie-Separators unter Verwendung einer Kohlenstoffelektrode in einem Elektrolytbad-Messsystem

Lithuanian Standards Office , Zwei-Elektroden-Prüfspannung

LST EN 61243-3-2010 Arbeiten unter Spannung – Spannungsdetektoren – Teil 3: Zweipoliger Niederspannungstyp (IEC 61243-3:2009)
LST EN 62374-2008 Halbleiterbauelemente – TDDB-Test (Time Dependent Dielectric Breakdown) für dielektrische Gate-Filme (IEC 62374:2007)
LST EN ISO 17475:2008 Korrosion von Metallen und Legierungen – Elektrochemische Prüfverfahren – Richtlinien zur Durchführung potentiostatischer und potentiodynamischer Polarisationsmessungen (ISO 17475:2005/Cor 1:2006)

ES-UNE, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

UNE-EN ISO 2376:2019 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Durchschlagspannung und Spannungsfestigkeit (ISO 2376:2019)

TH-TISI, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

TIS 1971-2000 Halbleiterbauelemente, diskrete Bauelemente, Teil 3: Signal (einschließlich Schalten) und Reglerdioden, Abschnitt zwei, leere Detailspezifikation für Spannungsreglerdioden und Spannungsreferenzdioden, ausgenommen temperaturkompensierte Präzisionsreferenzdioden

Professional Standard - Aerospace, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

QJ 483-1990 Prüfverfahren für die Durchbruchspannung der isolierenden eloxierten Filmschicht aus Aluminium und Aluminiumlegierungen

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

GJB 7675-2012 Prüfmethoden für Kathoden und Komponenten von Mikrowellenröhren

PT-IPQ, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

E 302-1974 Eloxiertes Aluminium, kontinuierliche Prüfung von eloxierten Aluminiumbeschichtungen. Kupfersulfattest

Society of Automotive Engineers (SAE), Zwei-Elektroden-Prüfspannung

SAE AIR1092-1994 HOCHSPANNUNGS-ERREGER-AUSGANGSSPANNUNGSMESSUNG MITTELS KATHODENSTRAHL-OSZILLOSKOP

SAE - SAE International, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

SAE AIR1092-1971 HOCHSPANNUNGS-ERREGER-AUSGANGSSPANNUNGSMESSUNG MITTELS KATHODENSTRAHL-OSZILLOSKOP

IN-BIS, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

IS 6577-1972 Messmethoden für aufblasbare Kaltkathoden-Spannungsreglerröhren und Spannungsreferenzröhren
IS 4400 Pt.8-1970 Messmethoden für Halbleiterbauelemente Teil Ⅷ Spannungsregler und Spannungsreferenzdioden
IS 9844-1981 Verfahren zur Prüfung der Korrosionsbeständigkeit von galvanisierten und eloxierten Aluminiumbeschichtungen durch den neutralen Salzsprühtest

European Committee for Standardization (CEN), Zwei-Elektroden-Prüfspannung

EN 12373-17:2001 Aluminium und Aluminiumlegierungen – Eloxieren – Teil 17: Bestimmung des elektrischen Durchschlagspotenzials
EN ISO 2376:2019 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung der Durchschlagspannung und Spannungsfestigkeit (ISO 2376:2019)
EN ISO 2376:2010 Eloxieren von Aluminium und seinen Legierungen – Bestimmung des elektrischen Durchschlagspotentials (ISO 2376:2010)
EN ISO 17475:2008 Korrosion von Metallen und Legierungen – Elektrochemische Prüfverfahren – Richtlinien zur Durchführung potentiostatischer und potentiodynamischer Polarisationsmessungen

CO-ICONTEC, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

ICONTEC 2975-1991 Elektronik. Messung nichtleitender Bruchspannungen in Isolierflüssigkeiten mittels Scheibenelektroden

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

GB/T 24488-2021 Prüfverfahren für elektrochemische Eigenschaften von Opferanoden aus Magnesiumlegierungen

Indonesia Standards, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

SNI 05-4006-1996 Wirbelstrom-Untersuchungsmethode für installierte nichtferromagnetische Wärmetauscherrohre.
SNI 06-6876-2002 Testmethoden für den Ammoniakgehalt in Wasser mittels ionenselektiver Elektrode

Professional Standard - Ocean, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

HY/T 192-2015 Prüfverfahren zur potentiodynamischen Polarisationsbeständigkeit metallischer Werkstoffe in Meerwasser

IEC - International Electrotechnical Commission, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

TS 62916-2017 Photovoltaikmodule – Prüfung der Anfälligkeit für elektrostatische Entladungen von Bypass-Dioden (Ausgabe 1.0)

AASHTO - American Association of State Highway and Transportation Officials, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

T 373M/T 373-2017 Standardtestmethode zur vergleichenden qualitativen Korrosionscharakterisierung von Stahlstäben zur Betonverstärkung (lineare Polarisationswiderstands- und potentiodynamische Polarisationstests)

Professional Standard - Electricity, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

DL/T 253-2012 Messverfahren für Erdwiderstand, Erdpotentialverteilung, Stufenspannung und Stromteilung an Erdelektroden
DL/T 1566-2016 Leitfaden zur Messung der Parameter von Gleichstromübertragungsleitungen und Erdungsleitungen

The American Road & Transportation Builders Association, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

AASHTO T 200-1979 Standardmethode zum Testen des pH-Werts wässriger Lösungen mit der Glaselektrode

National Association of Corrosion Engineers (NACE), Zwei-Elektroden-Prüfspannung

NACE TM0190-2006 Beeindruckte aktuelle Labortests von Anoden aus Aluminiumlegierung, Artikel-Nr.: 21221
NACE TM0294-2007 Prüfung von einbettbaren Fremdstromanoden zum Einsatz im kathodischen Schutz von atmosphärisch exponiertem Stahlbeton (Artikel-Nr. 21225)
NACE TM0190-1998 Beeindruckte aktuelle Labortests von Anoden aus Aluminiumlegierung, Artikel-Nr.: 21221
NACE TM0190-2012 Beeindruckte aktuelle Laborprüfung von Anoden aus Aluminium- und Zinklegierungen (Art.-Nr. 21221)

TIA - Telecommunications Industry Association, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

EIA/TIA-455-96-1990 FOTP-96 Langzeit-Lagertemperaturtest für Glasfaserkabel für extreme Umgebungen

European Association of Aerospace Industries, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

AECMA PREN 3002-1990 Luft- und Raumfahrtserie Chromsäure-Anodisierungsprüfung von Klebstoffen, Ausgabe P 1

Association of German Mechanical Engineers, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

DVS 0923-4-1987 Schweißleistungsprüfung des beim Unterpulverschweißen verwendeten Flussmittels; Eignungsprüfung für das Auftragschweißen von Streifenelektroden

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

YS/T 480-2005 Aluminiumzellentest zur Energiebilanz und deren Berechnungsmethode – Vierpunkt-Speisestrom und Zweipunkt-Speisestrom vorgebackene Anoden-Aluminiumzelle
YS/T 481-2005 Aluminiumzellentest zur Energiebilanz und ihre Berechnungsmethode – Fünf-Punkt-Einspeisestrom und Sechs-Punkt-Einspeisestrom vorgebackene Anoden-Aluminiumzelle

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

ECA EIA-364-86A-2014 TP-86A Polarisations-/Kodierungsschlüssel-Überlastungstestverfahren für elektrische Steckverbinder und Buchsen

ECIA - Electronic Components Industry Association, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

EIA-364-86A-2014 TP-86A Polarisations-/Kodierungsschlüssel-Überlastungstestverfahren für elektrische Steckverbinder und Buchsen
EIA-364-86-1996 TP-86 Polarisations-/Kodierungsschlüssel-Überlastungstestverfahren für elektrische Steckverbinder und Steckdosen

BE-NBN, Zwei-Elektroden-Prüfspannung

NBN F 31-001-1976 Beschichtete Elektroden, die beim künstlichen Lichtbogenschweißen verwendet werden. Identifikationssymbol. Testmethoden. Spezifikation