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Halbleitertests

Für die Halbleitertests gibt es insgesamt 12 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Halbleitertests die folgenden Kategorien: medizinische Ausrüstung.

TR-TSE, Halbleitertests

• TS 2643-1977 Testverfahren für Bemiconductor-Detektoren für ionisierende Strahlung

SE-SIS, Halbleitertests

• SIS SS IEC 340:1981 Nukleare Instrumentierung – Prüfverfahren für Verstärker und Vorverstärker für Halbleiterdetektoren für ionisierende Strahlung

Danish Standards Foundation, Halbleitertests

• DS/EN 61674:1998 Medizinische elektrische Geräte – Dosimeter mit Ionisationskammern und/oder Halbleiterdetektoren, wie sie in der bildgebenden Röntgendiagnostik verwendet werden
• DS/EN 61674/A1:2002 Medizinische elektrische Geräte – Dosimeter mit Ionisationskammern und/oder Halbleiterdetektoren, wie sie in der röntgendiagnostischen Bildgebung verwendet werden
• DS/EN 61674:2013 Medizinische elektrische Geräte – Dosimeter mit Ionisationskammern und/oder Halbleiterdetektoren, wie sie in der röntgendiagnostischen Bildgebung verwendet werden

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Halbleitertests

• EN 61674:1997 Medizinische elektrische Geräte – Dosimeter mit Ionisationskammern und/oder Halbleiterdetektoren, wie sie in der bildgebenden Röntgendiagnostik verwendet werden

Lithuanian Standards Office , Halbleitertests

• LST EN 61674-2013 Medizinische elektrische Geräte – Dosimeter mit Ionisationskammern und/oder Halbleiterdetektoren, wie sie in der röntgendiagnostischen Bildgebung verwendet werden

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Halbleitertests

• EN 61674:2013 Medizinische elektrische Geräte – Dosimeter mit Ionisationskammern und/oder Halbleiterdetektoren, wie sie in der röntgendiagnostischen Bildgebung verwendet werden

German Institute for Standardization, Halbleitertests

• DIN EN IEC 61674:2023 Medizinische elektrische Geräte – Dosimeter mit Ionisationskammern und/oder Halbleiterdetektoren zur Verwendung in der röntgendiagnostischen Bildgebung (IEC/CDV 61674:2023); Deutsche und englische Version prEN IEC 61674:2023

HU-MSZT, Halbleitertests

• MNOSZ 700-16.lap-1955 Nachweis des Nickelgehalts in Halbleitern
• MNOSZ 700-18.lap-1956 Nachweis des Chlorgehalts in Halbleitern

Group Standards of the People's Republic of China, Halbleitertests

• T/SZBSIA 007-2022 Testspezifikation für Halbleiter-Die-Bonder

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