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Pruebas de semiconductores

Pruebas de semiconductores, Total: 12 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Pruebas de semiconductores son: Equipo medico.

TR-TSE, Pruebas de semiconductores

• TS 2643-1977 Procedimientos de prueba para detectores bemiconductores de radiación ionizante

SE-SIS, Pruebas de semiconductores

• SIS SS IEC 340:1981 Instrumentación nuclear. Procedimientos de prueba de amplificadores y preamplificadores de detectores de semiconductores para radiaciones ionizantes.

Danish Standards Foundation, Pruebas de semiconductores

• DS/EN 61674:1998
• DS/EN 61674/A1:2002
• DS/EN 61674:2013 Equipos electromédicos: dosímetros con cámaras de ionización y/o detectores de semiconductores utilizados en el diagnóstico por imágenes mediante rayos X.

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Pruebas de semiconductores

• EN 61674:1997 Equipo eléctrico médico: dosímetros con cámaras de ionización y/o detectores de semiconductores utilizados en imágenes de diagnóstico por rayos X

Lithuanian Standards Office , Pruebas de semiconductores

• LST EN 61674-2013 Equipos electromédicos: dosímetros con cámaras de ionización y/o detectores de semiconductores utilizados en el diagnóstico por imágenes mediante rayos X.

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Pruebas de semiconductores

• EN 61674:2013 Equipos electromédicos: dosímetros con cámaras de ionización y/o detectores de semiconductores utilizados en el diagnóstico por imágenes mediante rayos X.

German Institute for Standardization, Pruebas de semiconductores

• DIN EN IEC 61674:2023 Equipos electromédicos: dosímetros con cámaras de ionización y/o detectores de semiconductores utilizados en diagnóstico por imágenes mediante rayos X (IEC/CDV 61674:2023); Versión alemana e inglesa prEN IEC 61674:2023

HU-MSZT, Pruebas de semiconductores

• MNOSZ 700-16.lap-1955 EXAMEN DEL CARBÓN Y DETERMINACIÓN DEL CONTENIDO DE NITRÓGENO
• MNOSZ 700-18.lap-1956 SZENEK VIZSGALATA KL?RTARTALOM MEGHAT?ROZ?SA

Group Standards of the People's Republic of China, Pruebas de semiconductores

• T/SZBSIA 007-2022 Especificación de prueba de unión de matrices de semiconductores

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