Halbleitertests

Für die Halbleitertests gibt es insgesamt 19 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Halbleitertests die folgenden Kategorien: Softwareentwicklung und Systemdokumentation, Anorganische Chemie, Diskrete Halbleitergeräte, Längen- und Winkelmessungen.

HU-MSZT, Halbleitertests

MSZ 700/23.lap-1965 STMicroelectronics testet Koks
MSZ 700/36.lap-1961 Halbleitertestexperimente in Kohlebergwerken
MSZ 700/27.lap-1962 Test-Flash-Definition von STMicroelectronics
MNOSZ 700-8.lap-1955 STMicroelectronics testet Kohlenstoff und Gelbsucht
MSZ 700/26.lap-1961 STMicroelectronics-Tests. Schnelle Methode zur Bestimmung des Aschegehalts
MSZ 700/41.lap-1961 STMicroelectronics-Tests. Bestimmen Sie schnell den Gesamtschwefelgehalt
MSZ 700/24.lap-1965 STMicroelectronics Kokstest

Group Standards of the People's Republic of China, Halbleitertests

T/SHDSGY 113-2022 Hochfrequenz-Frontend-Halbleitertestsoftware
T/ZACA 041-2022 Testausrüstung für Mixed-Signal-Halbleiterbauelemente
T/ZZB Q041-2022 Testausrüstung für Mixed-Signal-Halbleiterbauelemente

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Halbleitertests

KS M 1804-2008(2018) Prüfverfahren für Flusssäure für Halbleiter

Danish Standards Foundation, Halbleitertests

DS/EN 60191-6-16:2007 Mechanische Standardisierung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-16: Glossar zu Halbleitertests und Burn-in-Sockeln für BGA, LGA, FBGA und FLGA

German Institute for Standardization, Halbleitertests

DIN EN 60191-6-16:2007-11 Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-16: Glossar der Halbleitertests und Burn-in-Sockel für BGA, LGA, FBGA und FLGA (IEC 60191-6-16:2007); Deutsche Fassung EN 60191-6-16:2007 / Hinweis: Wird durch DIN EN 60191-6-16 (2013-...) ersetzt.

未注明发布机构, Halbleitertests

DIN EN 60191-6-16 E:2013-08 Mechanische Standardisierung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-16: Glossar zu Halbleitertests und Burn-in-Sockeln für BGA, LGA, FBGA und FLGA

Defense Logistics Agency, Halbleitertests

DLA MIL-STD-750 F-2012 TESTVERFAHRENSTANDARD FÜR HALBLEITERGERÄTE

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Halbleitertests

JJG(电子) 04008-1987 Versuchsverifizierungsvorschriften für QE1A Doppelbasis-Halbleiterröhrentester

Lithuanian Standards Office , Halbleitertests

LST EN 60191-6-16-2007 Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-16: Glossar der Halbleitertests und Burn-in-Sockel für BGA, LGA, FBGA und FLGA (IEC 60191-6-16:2007)

ES-UNE, Halbleitertests

UNE-EN 60191-6-16:2007 Mechanische Standardisierung von Halbleiterbauelementen – Teil 6-16: Glossar der Halbleitertests und Burn-in-Sockel für BGA, LGA, FBGA und FLGA (IEC 60191-6-16:2007). (Von AENOR im Oktober 2007 gebilligt.)

British Standards Institution (BSI), Halbleitertests

13/30284029 DC BS EN 60191-6-16. Mechanische Standardisierung von Halbleiterbauelementen. Teil 6-16. Glossar zu Halbleitertests und Burn-in-Sockeln für BGA, LGA, FBGA und FLGA