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RUXPS und High Energy XPS
Für die XPS und High Energy XPS gibt es insgesamt 11 relevante Standards.
In der internationalen Standardklassifizierung umfasst XPS und High Energy XPS die folgenden Kategorien: analytische Chemie.
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, XPS und High Energy XPS
- GB/T 33502-2017 Chemische Oberflächenanalyse – Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS)
Association Francaise de Normalisation, XPS und High Energy XPS
- NF X21-073*NF ISO 16243:2012 Chemische Oberflächenanalyse – Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS).
- NF ISO 16243:2012 Chemische Analyse von Oberflächen – Datenprotokollierung und Berichterstattung durch Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS).
British Standards Institution (BSI), XPS und High Energy XPS
- BS ISO 16243:2011 Chemische Oberflächenanalyse. Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS)
- BS ISO 16531:2013 Chemische Oberflächenanalyse. Tiefenprofilierung. Methoden zur Ionenstrahlausrichtung und der damit verbundenen Messung von Strom oder Stromdichte für die Tiefenprofilierung in AES und XPS
- 19/30364173 DC BS ISO 22581. Chemische Oberflächenanalyse durch XPS. Datenverwaltung und -verarbeitung. Nahezu Echtzeitinformationen aus dem Röntgen-Photoelektronenspektroskopie-Durchmusterungsscan. Regeln zur Identifizierung und Korrektur des Vorhandenseins von Oberflächenverunreinigungen durch ...
International Organization for Standardization (ISO), XPS und High Energy XPS
- ISO 16243:2011 Chemische Oberflächenanalyse – Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS)
- ISO/CD 5861 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Methode der Intensitätskalibrierung für monochromatische Al Kα XPS-Instrumente mit Quarzkristall
- ISO/DIS 5861:2023 Chemische Oberflächenanalyse – Röntgenphotoelektronenspektroskopie – Methode der Intensitätskalibrierung für monochromatische Al Kα XPS-Instrumente mit Quarzkristall
- ISO 16531:2013 Chemische Oberflächenanalyse – Tiefenprofilierung – Methoden zur Ionenstrahlausrichtung und die damit verbundene Messung von Strom oder Stromdichte für die Tiefenprofilierung in AES und XPS
RU-GOST R, XPS und High Energy XPS
- GOST R ISO 16243-2016 Staatliches System zur Gewährleistung der Einheitlichkeit der Messungen. Oberflächenchemische Analyse. Aufzeichnung und Berichterstattung von Daten in der Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS)