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XPS 및 고에너지 XPS

모두 11항목의 XPS 및 고에너지 XPS와 관련된 표준이 있다.

국제 분류에서 XPS 및 고에너지 XPS와 관련된 분류는 다음과 같습니다: 분석 화학.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, XPS 및 고에너지 XPS

• GB/T 33502-2017 표면 화학 분석을 위한 XPS(X선 광전자 분광학) 데이터 기록 및 보고에 대한 사양 요구 사항

Association Francaise de Normalisation, XPS 및 고에너지 XPS

• NF X21-073*NF ISO 16243:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
• NF ISO 16243:2012 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)의 데이터 로깅 및 보고

British Standards Institution (BSI), XPS 및 고에너지 XPS

• BS ISO 16243:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
• BS ISO 16531:2013 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 광전자 분광법(XPS) 및 원자 방출 분광법(AES)의 깊이 프로파일링에서 이온 빔 교정 및 전류 또는 전류 밀도 관련 측정 방법.
• 19/30364173 DC BS ISO 22581 XPS에 의한 표면 화학 분석 X선 광전자 분광학 조사 스캔의 거의 실시간 정보 관리 및 처리 표면 오염 식별 및 수정 규칙

International Organization for Standardization (ISO), XPS 및 고에너지 XPS

• ISO 16243:2011 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법(XPS)을 통한 데이터 기록 및 보고
• ISO/CD 5861 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 석영 결정 단색 Al Ka XPS 장비 강도 교정 방법
• ISO/DIS 5861:2023 표면 화학 분석 X선 광전자 분광법 수정 결정 단색 Al Kα XPS 기기 강도 교정 방법
• ISO 16531:2013 표면 화학 분석 깊이 프로파일링 AES(원자 방출 분광학) 및 XPS(광전자 분광학)의 깊이 프로파일링을 위한 이온빔 보정 및 전류 또는 전류 밀도 관련 측정 방법.

RU-GOST R, XPS 및 고에너지 XPS

• GOST R ISO 16243-2016 측정 일관성을 보장하기 위한 국가 시스템 표면 화학 분석 XPS(X선 광전자 분광학) 데이터 기록 및 보고

기타:   XPS와 AES, aes 및 xps 에너지 스펙트럼, XPS와 AES, AES와 XPS, AES와 XPS, xps 대, AES와 XPS, XPS와 X, AES와 XPS, XPS 및 고에너지 XPS, XPS와 AES.