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Halbleitertestverfahren

Für die Halbleitertestverfahren gibt es insgesamt 12 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Halbleitertestverfahren die folgenden Kategorien: Elektrizität, Magnetismus, elektrische und magnetische Messungen, Kernenergietechnik, Strahlungsmessung.

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Halbleitertestverfahren

• IEEE No 256-1963 IEEE-Testverfahren für Halbleiterdioden

TR-TSE, Halbleitertestverfahren

• TS 2643-1977 Testverfahren für Bemiconductor-Detektoren für ionisierende Strahlung

ECIA - Electronic Components Industry Association, Halbleitertestverfahren

• EIA CB-5:1969 Empfohlenes Testverfahren für Halbleiter-Wärmeableitgeräte

American National Standards Institute （ANSI), Halbleitertestverfahren

• ANSI/IEEE 300:1988 Testverfahren für Halbleiterdetektoren für geladene Teilchen

Electronic Components, Assemblies and Materials Association, Halbleitertestverfahren

• ECA CB 5-1969 Empfohlenes Testverfahren für Halbleiter-Wärmeableitgeräte
• ECA CB 5-1-1971 Empfohlenes Testverfahren für Halbleiter-Wärmeableitgeräte, Nachtrag zu CB5

International Electrotechnical Commission (IEC), Halbleitertestverfahren

• IEC 60333:1993 Nukleare Instrumentierung; Halbleiterdetektoren für geladene Teilchen; Testverfahren

SE-SIS, Halbleitertestverfahren

• SIS SS IEC 333:1986 Nukleare Instrumentierung – Testverfahren für Halbleiterdetektoren für geladene Teilchen

CZ-CSN, Halbleitertestverfahren

• CSN 35 6575 Z1-1997 Standardtestverfahren für Halbleiter-Röntgenenergiespektrometer

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Halbleitertestverfahren

• KS C IEC 60759-2009(2019) Standardtestverfahren für Halbleiter-Röntgenenergiespektrometer

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Halbleitertestverfahren

• IEEE 300-1988 Standardtestverfahren für Halbleiterdetektoren für geladene Teilchen
• IEEE 300-1982 STANDARDTESTVERFAHREN FÜR HALBLEITER-DETEKTOREN FÜR GELADENE TEILCHEN

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