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Espectrómetro de media altura.

Espectrómetro de media altura., Total: 497 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Espectrómetro de media altura. son: Óptica y medidas ópticas., Geología. Meteorología. Hidrología, Química analítica, Equipo medico, Comunicaciones de fibra óptica., Equipos de medida especiales para uso en telecomunicaciones., ingeniería de energía nuclear, Vocabularios, Cerámica, Sistemas y operaciones espaciales., Calidad del agua, Medicina de laboratorio, Minerales metalíferos, Mediciones de radiación, Metrología y medición en general., Optoelectrónica. Equipo láser, Pruebas no destructivas, Protección de radiación, Carne, productos cárnicos y otros productos animales., Ingeniería vial, pruebas de metales, Equipo óptico, Minerales no metalíferos, Componentes electrónicos en general., Productos de la industria química., Medidas lineales y angulares., Aplicaciones de la tecnología de la información., Dispositivos semiconductores, Metales no ferrosos, Telecomunicaciones en general, Condiciones y procedimientos de prueba en general., Calidad, Odontología, químicos inorgánicos, Té. Café. Cacao, Ayudas para personas discapacitadas o discapacitadas, Metales ferrosos, Fertilizantes, Materiales semiconductores, Ingredientes de pintura, Alimentos para animales, Pruebas ambientales, Químicos orgánicos, Astronomía. Geodesia. Geografía, Aeronaves y vehículos espaciales en general., Centrales eléctricas en general, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Tecnología de la información (TI) en general, Agricultura y silvicultura, Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Física. Química, Calidad del aire, Tratamiento superficial y revestimiento., Productos petrolíferos en general, Combustibles, Productos de la industria textil., Tabaco, productos del tabaco y equipos relacionados., Lubricantes, aceites industriales y productos afines., Tecnología del cuero.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Espectrómetro de media altura.

GJB 9726-2020 Especificaciones para generadores de imágenes hiperespectrales espaciales
GJB 8472-2015 Reglamento de verificación para espectrómetro de campo.
GJB/Z 41.3-1993 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores de espectro de serie de dispositivos discretos semiconductores militares
GJB 8662-2015 Procedimientos de calibración para espectrómetros infrarrojos por transformada de Fourier.
GJB 5147-2002 Especificaciones generales para telémetros láser de control de fuego de armas antiaéreas
GJB 9079-2017 Requisitos de transmisión satélite-tierra de datos de reconocimiento hiperespectral
GJB 595.2-1988 Métodos de prueba ambientales para instrumentos ópticos de artillería Prueba de alta temperatura

Group Standards of the People's Republic of China, Espectrómetro de media altura.

T/SHDSGY 031-2023 Especificación técnica para espectrómetro de alta resolución.
T/ZZB 0673-2018 espectrómetro de emisión
T/QGCML 1522-2023 Espectrómetro de microfibra FLA
T/CASME 698-2023 Aparatos de terapia con láser semiconductor
T/STIC 110066-2021 Polarímetro automático de alta velocidad
T/CAIA YQ004-2018 Método de prueba de rendimiento para cromatógrafo líquido acoplado a espectrómetro de fluorescencia atómica
T/CSTM 00445-2021 Especificación de calibración para espectrometría de masas de descarga luminiscente
T/CSTM 00901-2023 Especificación de calibración para espectrómetro de fluorescencia de rayos X portátil
T/CSTM 00159-2020 Métodos de calibración de espectroscopía Raman portátil.
T/QGCML 2041-2023
T/QGCML 936-2023 Instrumento portátil de marcado láser de alta precisión
T/CAIA YQ003-2016 Métodos de prueba para las características ópticas/eléctricas del dispositivo de imágenes de carga lineal acoplada para espectrómetro
T/CSTM 00964-2022 Reglas generales para la evaluación del desempeño del espectrómetro atómico.
T/CAQI 108-2020 Especificación para la verificación y evaluación del espectrómetro Raman portátil.
T/CIS 17006-2022 Especificaciones técnicas generales del espectrómetro de infrarrojo cercano por transformada de Fourier
T/CSTM 00962-2022 Método de evaluación del rendimiento del espectrómetro de emisión atómica de descarga de chispas.
T/SDIOT 029-2022 Especificación técnica para el sistema de monitoreo inteligente hiperespectral de la calidad del agua.
T/CARSA 1.6-2022 Prueba de autenticidad de productos de teledetección por satélite de alta resolución basados en drones de baja altitud. Parte 6: Datos de imágenes de teledetección multiespectrales e hiperespectrales y preprocesamiento de datos lidar.
T/ZFB 0050-2023 Textiles: análisis cuantitativo de tejidos de mezcla de poliéster y algodón: método hiperespectral
T/CARSA 2-2022 Especificación básica del producto de datos de imágenes hiperespectrales de micronanosatélites

Professional Standard - Meteorology, Espectrómetro de media altura.

QX/T 159-2012 Especificación para la medición del espectro atmosférico mediante espectroscopía terrestre de transformada de Fourier de alta resolución espectral
QX/T 172-2012 Método de observación del ozono total en columna con espectrofotómetro Brewer
QX/T 206-2013 Método de cálculo del índice de rendimiento del instrumento infrarrojo satelital de baja resolución espectral

IN-BIS, Espectrómetro de media altura.

IS 12737-1988 PROCEDIMIENTOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA ESPECTRÓMETROS DE ENERGÍA DE RAYOS X DE SEMICONDUCTOR
IS 6471-1971 ESPECIFICACIÓN PARA ESPECTRÓMETRO (TIPO ESTUDIANTE)
IS 12803-1989 MÉTODO DE ANÁLISIS DEL CEMENTO HIDRÁULICO MEDIANTE ESPECTRÓMETRO DE FLUORESCENCIA DE RAYOS X

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Espectrómetro de media altura.

GB/T 21191-2007 Espectrómetro de fluorescencia atómica
GB/T 26792-2011 Cromatografía líquida de alta resolución
GB/T 26792-2019 Cromatografía líquida de alta resolución
GB/T 30151-2013 Caracterización del fondo del espectro en espectrometría de rayos gamma HPGe.
GB/T 20726-2006 Especificación instrumental para espectrómetros de rayos X de energía dispersiva con detectores de semiconductores.
GB/T 42027-2022 Espectrómetro de absorción molecular en fase gaseosa
GB/T 32266-2015
GB/T 25481-2010 Analizador de espectro ultravioleta/visible en línea
GB/T 21186-2007 Espectrómetro infrarrojo por transformada de Fourier
GB/T 31010-2014 Calibración espectral en laboratorio para sensor hiperespectral dispersivo
GB/T 29299-2012 Especificaciones generales del telémetro láser semiconductor.
GB/T 25184-2010 Método de verificación para espectrómetros de fotoelectrones de rayos X.
GB/T 11685-2003 Procedimientos de medición para sistemas detectores de rayos X de semiconductores y espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores.
GB/T 29856-2013 Caracterización de nanotubos de carbono semiconductores de pared simple mediante espectroscopia de fotoluminiscencia en el infrarrojo cercano
GB/T 36244-2018 Espectrómetro de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente
GB/T 21006-2007 Análisis químico de superficies. Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
GB/T 31364-2015 Métodos de prueba para el rendimiento principal del espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva
GB/T 33252-2016 Nanotecnología: pruebas de rendimiento para espectrómetros Raman de microscopio confocal láser
GB/Z 42358-2023 Determinación de la precisión del espectrómetro de fluorescencia de rayos X dispersivos de longitud de onda para mineral de hierro
GB/T 36204-2018 Determinación de ácido giberélico en fertilizantes. Método de cromatografía líquida de alta resolución-espectrometría de masas.
GB/T 21548-2008 Métodos de medición de láseres semiconductores de alta velocidad modulados directamente para sistemas de comunicación por fibra óptica.
GB/T 12085.2-1989 Óptica e instrumentos ópticos--Métodos de ensayo ambientales--Frío, calor, humedad
GB/T 12085.8-1989 Óptica e instrumentos ópticos--Métodos de prueba ambientales--Alta presión, baja presión, inmersión
GB/T 42647-2023 Método de calibración en sitio en órbita para altímetro láser espacial
GB/T 42650-2023 Compresión sin pérdidas y casi sin pérdidas de imágenes multiespectrales e hiperespectrales en sistemas de transmisión de información y datos espaciales
GB/T 12085.2-2010 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba ambientales. Parte 2: Frío, calor, humedad.
GB/T 12085.8-2010 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba ambientales. Parte 8: Alta presión, baja presión, inmersión.
GB/T 12085.10-1989 Óptica e instrumentos ópticos--Métodos de prueba ambientales--Vibración sinusoidal combinada, calor seco, frío
GB/T 36164-2018 Acero de alta aleación. Determinación del contenido de múltiples elementos. Espectrometría de fluorescencia de rayos X (método de rutina)

Jilin Provincial Standard of the People's Republic of China, Espectrómetro de media altura.

DB22/T 2414-2015 Espectrómetro de micro fibra óptica

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Espectrómetro de media altura.

JJG 768-2005 Espectrómetro de emisión
JJG 1035-2022 Analizador de espectro de comunicación
JJG(教委) 02-1992 Reglamento de verificación del espectrómetro láser Raman
JJG 867-1994 Reglamento de verificación del espectrocolorímetro.
JJG 768-1994 Reglamento de verificación del espectrómetro de emisión
JJG(电子) 30901-2006 Reglamento de Verificación de Analizadores de Espectro
JJG(地质) 1006-1990 Normas de verificación para el espectrómetro de fluorescencia de rayos X 3080E
JJG 1151-2018 Espectrómetros de fluorescencia atómica y cromatografía líquida
JJG 1035-2008 Reglamento de verificación de analizadores de espectro óptico en telecomunicaciones
JJG 810-1993 Reglamento de verificación para espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda
JJG(地质) 1011-1990 Normas de verificación para espectrógrafo de rejilla plana de un metro.
JJG(地质) 1012-1990 Reglas de verificación para espectrógrafo de rejilla plana de dos metros.
JJG(教委) 01-1992 Reglamento de verificación para el espectrómetro infrarrojo por transformada de Fourier
JJG(电子) 07005-1988 Regulaciones de verificación de prueba del analizador de espectro de alta frecuencia QF4021
JJG(地质) 1015-1990 Normas de verificación para espectrómetro de lectura directa de plasma acoplado inductivamente

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Espectrómetro de media altura.

CNS 14341-1999 Analizador de espectro óptico
CNS 13805-1997 Método de medición de fotoluminiscencia de obleas semiconductoras optoelectrónicas

Professional Standard - Machinery, Espectrómetro de media altura.

JB/T 9322-1999 Proyector de espectro
JB/T 5590-1991 Filtro óptico del instrumento de espectro óptico.
JB/T 11145-2011 espectrómetro de fluorescencia de rayos X
JB/T 9320-1999 Espectrógrafos de rejillas planas
JB/T 9331-1999 Rendijas para instrumentos de espectro óptico.
JB/T 5478-1991 Espectrómetro fotoeléctrico de lectura directa de barrido manual
JB/T 8231-1999 Los parámetros básicos de los espectrógrafos de rejillas planas.
JB/T 6176-1992 Parámetro básico del casete de placas fotográficas y del marco del casete para espectrógrafo.

U.S. Air Force, Espectrómetro de media altura.

AIR FORCE A-A-59684 A-2009 ANALIZADOR DE ESPECTRO ÓPTICO
AIR FORCE A-A-59684-2004 ANALIZADOR DE ESPECTRO ÓPTICO

GB-REG, Espectrómetro de media altura.

REG NASA-LLIS-0903-2000 Lecciones aprendidas: accidente en la prueba del generador de imágenes espectroscópicas de alta energía

中国气象局, Espectrómetro de media altura.

QX/T 523-2019 Ceilómetro láser
QX/T 532-2019 Especificaciones de calibración del espectrómetro Brewer
QX/T 565-2020 Medidor de fenómeno de precipitación de espectro de caída láser

European Committee for Standardization (CEN), Espectrómetro de media altura.

CEN EN 62129-2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
CEN EN 62129-2006_ Calibración de analizadores de espectro óptico.
EN ISO 8599:1996 Óptica e Instrumentos Ópticos - Lentes de Contacto - Determinación de la Transmitancia Espectral y Luminosa ISO 8599 : 1994
EN ISO 15253:2021 Óptica e instrumentos oftálmicos. Dispositivos ópticos y electroópticos para mejorar la baja visión (ISO 15253:2021)
EN ISO 15254:2002
EN ISO 15254:2009 Óptica e instrumentos oftálmicos. Dispositivos electroópticos para mejorar la baja visión (ISO 15254:2009)
EN ISO 15253:2000 Óptica e instrumentos oftálmicos: dispositivos ópticos para mejorar la baja visión ISO 15253: 2000

Association Francaise de Normalisation, Espectrómetro de media altura.

NF C93-845:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
NF C93-846-1*NF EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: analizadores de espectro óptico.
NF S11-687:1997 Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Determinación de la transmitancia espectral y luminosa.
NF EN 15111:2007 Productos alimenticios - Determinación de oligoelementos - Determinación de yodo mediante espectrometría de emisión con plasma inducido de alta frecuencia y espectrómetro de masas (ICP-MS)
NF X21-008:2012 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos dispersivos de energía para su uso en microanálisis con sonda electrónica
NF S12-210:2009 Óptica e instrumentos oftálmicos - Dispositivos electroópticos para mejorar la baja visión.
NF C46-251-7*NF EN 61207-7:2014 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas. Parte 7: analizadores de gas láser semiconductores sintonizables.
NF S12-200*NF EN ISO 15253:2021 Óptica e instrumentos oftálmicos: dispositivos ópticos y electroópticos para mejorar la baja visión.
NF EN 61207-7:2014 Expresión del rendimiento del analizador de gases: Parte 7: Analizadores de gases láser semiconductores sintonizables
NF B44-103*NF ISO 10677:2011 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada) - Fuente de luz ultravioleta para probar materiales fotocatalíticos semiconductores
NF M60-827:2014 Calidad del agua - Isótopos de uranio - Método de prueba mediante espectrometría alfa
NF EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN 62129-1:2016 Calibración de dispositivos de medición de longitud de onda/dispositivos ópticos de medición de frecuencia - Parte 1: analizadores de espectro óptico
NF X21-055:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía.
NF C93-805-3-1*NF EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN 61290-3-1:2004 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 3-1: parámetros del factor de ruido. Método del analizador de espectro óptico.
NF C93-805-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF C93-805-1-1*NF EN 61290-1-1:2017 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
NF EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 1-1: parámetros de potencia y ganancia - Método del analizador de espectro óptico

British Standards Institution (BSI), Espectrómetro de media altura.

BS EN 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Analizadores de espectro óptico
BS EN 62129:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
BS ISO 19618:2017 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de medición de la emisividad espectral normal utilizando referencia de cuerpo negro con un espectrómetro FTIR
18/30352698 DC BS IEC 63085. Instrumentación de protección radiológica. Sistema de identificación espectral de líquidos en recipientes transparentes y semitransparentes.
BS IEC 63085:2021 Instrumentación de protección radiológica. Sistema de identificación espectral de líquidos en recipientes transparentes y semitransparentes (sistemas Raman)
BS ISO 14135-2:2003 Óptica e instrumentos ópticos - Especificaciones para miras telescópicas - Instrumentos de alto rendimiento
BS EN 61207-7:2014 Expresión de rendimiento de analizadores de gases. Analizadores de gases láser semiconductores sintonizables
BS EN 61290-5-1:2006 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros de reflectancia - Método del analizador de espectro óptico
BS ISO 14135-2:2014 Óptica y fotónica. Especificaciones para miras telescópicas. Instrumentos de alto rendimiento
BS ISO 14135-2:2017 Óptica y fotónica. Especificaciones para miras telescópicas. Instrumentos de alto rendimiento
BS EN ISO 15254:2009 Óptica e instrumentos oftálmicos - Dispositivos electroópticos para mejorar la baja visión.
BS ISO 14135-2:2021 Óptica y fotónica. Especificaciones para miras telescópicas. Instrumentos de alto rendimiento
BS PD ISO/TR 18231:2016 Minerales de hierro. Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda. Determinación de la precisión
PD ISO/TR 18231:2016 Minerales de hierro. Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda. Determinación de la precisión
BS ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y de electrones Auger. Linealidad de la escala de intensidad.
BS ISO 18381:2013 Sistemas de transferencia de información y datos espaciales. Compresión de imágenes multiespectrales e hiperespectrales sin pérdidas
BS EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba - Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
BS ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
20/30391483 DC BS ISO 24121. Sistemas de transferencia de información y datos espaciales. Transformación de preprocesamiento espectral para compresión de imágenes multiespectrales e hiperespectrales
BS EN 61280-1-1:1998 Amplificadores de fibra óptica. Analizadores de espectro básicos - Medición de potencia óptica de salida de transmisor para cable de fibra óptica monomodo
BS EN 16215:2012 Alimentos para animales. Determinación de dioxinas y PCB similares a las dioxinas mediante GC/HRMS y de PCB indicadores mediante GC/HRMS
BS ISO 10677:2011 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Fuente de luz ultravioleta para probar materiales fotocatalíticos semiconductores.
BS IEC 60747-5-15:2022 Dispositivos semiconductores - Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba del voltaje de banda plana basado en la espectroscopia de electrorreflectancia.
BS EN 61290-10-2:2009 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parámetros multicanal. Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
BS EN 61290-10-2:2008 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 10-2: Parámetros multicanal. Método de impulsos utilizando un analizador de espectro óptico controlado.
BS ISO 13166:2014 Calidad del agua. Isótopos de uranio. Método de prueba mediante espectrometría alfa.
BS EN 62533:2016 Instrumentación de protección radiológica. Instrumentos portátiles de alta sensibilidad para la detección de fotones de material radiactivo
18/30382086 DC BS EN 61452. Instrumentación nuclear. Medición de tasas de emisión de rayos gamma de radionucleidos. Calibración y uso de espectrómetros de germanio.
BS ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
BS IEC 62533:2010 Instrumentación de protección radiológica: instrumentos portátiles de alta sensibilidad para la detección de fotones de material radiactivo
BS ISO 16129:2018 Cambios rastreados. Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro fotoelectrónico de rayos X
BS EN 61290-10-2:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un analizador de espectro óptico controlado
BS ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
BS EN ISO 20884:2011 Productos derivados del petróleo. Determinación del contenido de azufre en combustibles para automoción. Espectrometría de fluorescencia de rayos X de longitud de onda dispersiva
BS ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
BS IEC 60747-5-16:2023 Dispositivos semiconductores - Dispositivos optoelectrónicos. La luz emite diodos. Método de prueba del voltaje de banda plana de diodos emisores de luz basados en GaN basado en la espectroscopia de fotocorriente
20/30412413 DC BS EN IEC 61452. Instrumentación nuclear. Medición de tasas de emisión de rayos gamma de radionucleidos. Calibración y uso de espectrómetros de germanio.
BS ISO 14133-2:2006 Óptica e instrumentos ópticos - Especificaciones para binoculares, monoculares y catalejos - Instrumentos de alto rendimiento
BS EN 61290-10-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
BS ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
BS EN 61290-10-4:2007 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parámetros multicanal - Método de resta de fuente interpolada mediante un analizador de espectro óptico

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Espectrómetro de media altura.

IEEE 1131-1987 DIMENSIONES ESTÁNDAR DE LA TAPA EXTREMA DEL CRIOSTATO PARA ESPECTRÓMETROS DE RAYOS GAMMA DE SEMICONDUCTOR DE GERMANIO

International Electrotechnical Commission (IEC), Espectrómetro de media altura.

IEC PAS 62129:2004 Calibración de analizadores de espectro óptico.
IEC 62129:2006 Calibración de analizadores de espectro óptico.
IEC 60759:1983 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
IEC 61976:2000 Instrumentación nuclear - Espectrometría - Caracterización del fondo espectral en espectrometría de rayos gamma nuclear HPGe
IEC 63085:2021 Instrumentación de protección radiológica - Sistema de identificación espectral de líquidos en recipientes transparentes y semitransparentes (sistemas Raman)
IEC 60759:1983/AMD1:1991 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores; enmienda 1
IEC 60937:1988 Dimensiones de la tapa del criostato para detectores semiconductores de germanio para espectrómetros de rayos gamma
IEC 62129-1:2016 Calibración de instrumentos de medición de longitud de onda/frecuencia óptica. Parte 1: Analizadores de espectro óptico.
IEC 61239:1993 Instrumentación nuclear; espectrómetros y medidores de radiación gamma portátiles utilizados para prospecciones; definiciones, requisitos y calibración
IEC 61207-7:2013/COR1:2015 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas. Parte 7: Analizadores de gas láser semiconductores sintonizables; Corrección 1
IEC TR3 61276:1994
IEC 61290-3-1:2003 Amplificadores ópticos - Métodos de prueba - Parte 3-1: Parámetros del factor de ruido; Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2020 RLV Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.
IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia. Método del analizador de espectro óptico.

Danish Standards Foundation, Espectrómetro de media altura.

DS/EN 62129/Corr. 1:2007
DS/EN 62129:2006
DS/EN 61290-5-1:2006
DS/EN 15483:2009 Calidad del aire ambiente: mediciones atmosféricas cerca del suelo con espectroscopía FTIR
DS/EN 61290-3-1:2004
DS/EN 61290-1-1:2007
DS/EN IEC 61290-1-1:2020 Amplificadores ópticos – Métodos de prueba – Parte 1-1: Parámetros de potencia y ganancia – Método del analizador de espectro óptico

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Espectrómetro de media altura.

JIS C 6192:2008 Calibración de analizadores de espectro óptico.
JIS M 8205:2000 Minerales de hierro: análisis espectrométrico de fluorescencia de rayos X
JIS C 6183-1:2019 Analizadores de espectro óptico. Parte 1: Métodos de prueba.
JIS C 6183:1992 Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
JIS H 1632-3:2014 Titanio. Espectrometría de emisión atómica ICP. Parte 3: Determinación de boro.
JIS K 0166:2011 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
JIS K 0162:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

RU-GOST R, Espectrómetro de media altura.

GOST 27176-1986 Instrumentos ópticos espectroscópicos. Términos y definiciones
GOST 22091.8-1984 Dispositivos de rayos X. Método de medición de la estructura espectral y la contaminación relativa del espectro.
GOST 29283-1992 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos y circuitos integrados. Parte 5. Dispositivos optoelectrónicos
GOST 14828-1969 Instrumentos para la medida de cantidades físico-químicas. Radioespectrómetros. Términos
GOST 25567-1982 Caolín concentrado. Método de análisis del espectro.
GOST 3178-1975
GOST 19834.3-1976 Emisores semiconductores. Métodos para medir la distribución relativa de energía espectral y el ancho de banda espectral.
GOST 27981.1-1988
GOST 27981.1-2015 Cobre de alta pureza. Método de análisis atómico-espectral.
GOST 23116.2-1978 Cadmio de alta pureza. Método de determinación espectrográfica de mercurio.
GOST 23116.4-1978 Cadmio de alta pureza. Método de determinación espectrográfica de zinc.
GOST 22518.4-1977 Plomo de alta pureza. Método espectral para la determinación del mercurio.
GOST 23116.5-1978 Cadmio de alta pureza. Método químico-espectral de determinación del talio.
GOST 24977.2-1981 Telurio de alta pureza. Método espectral para la determinación de impurezas.
GOST 27981.3-1988 Cobre de alta pureza. Método de análisis espectral de emisión con registro fotoeléctrico del espectro / Nota: Será reemplazado por GOST 31382 (2009).
GOST 20766-1975 Detectores de espectrómetros semiconductores de radiación ionizante. Tipos y parámetros básicos.
GOST 21195-1984 Fuentes espectrales de radiación óptica de descarga de gas de alta intensidad. Especificaciones generales
GOST 24977.1-1981 Telurio de alta pureza. Método de determinación química y espectral de impurezas.
GOST 4.450-1986 Sistema de índice de calidad del producto. Instrumentos para análisis espectral. Nomenclatura de índices
GOST 22518.1-1977 Plomo de alta pureza. Método espectral químico para la determinación de adiciones.
GOST 23116.0-1983 Cadmio de alta pureza. Requisitos generales para los métodos de análisis espectral.
GOST 23116.3-1978 Cadmio de alta pureza. Método de determinación espectrográfica de hierro, cobre, níquel, estaño y plomo.
GOST 24977.3-1981 Telurio de alta pureza. Método espectral para la determinación de arsénico, autimónico, mercurio y cadmio.
GOST 8.197-2013 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Esquema de verificación estatal para instrumentos que miden la radiancia espectral, la potencia radiante espectral, la irradiancia espectral, la intensidad radiante espectral, la potencia y la intensidad radiante en el rango espectral.
GOST 17173-1981 Rendijas espectrales y accesorios a ellas. Tipos, parámetros básicos y dimensiones. Requerimientos técnicos
GOST 26874-1986 Espectrómetros de potencia de radiación ionizante. Métodos de medición de parámetros básicos.
GOST 18230-1972 Fuentes de alimentación para detectores espectrométricos de radiación semiconductora. Tipos y parámetros básicos.

SE-SIS, Espectrómetro de media altura.

SIS SS IEC 759:1986 Instrumentación nuclear. Procedimientos de prueba para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores.
SIS SS IEC 714:1983 Equipos electrónicos de medida - Expresión de las propiedades de los analizadores de espectro.

Professional Standard - Medicine, Espectrómetro de media altura.

YY 1289-2016 Equipo de terapia con láser Instrumento de fotocoagulación con láser de diodo oftálmico
YY/T 1174-2010
YY 91060-1999 Vocabulario de instrumentos bioquímicos. Espectrofotometría UV-VIS.
YY/T 1807-2022 Ensayos rápidos y no destructivos de componentes principales de materiales metálicos para restauraciones dentales Método de espectrómetro de fluorescencia de rayos X portátil (método semicuantitativo)
YY/T 1304.1-2015 Sistema de detección de fluoroinmunoensayo de resolución temporal. Parte 1: Analizador de fluoroinmunoensayo semiautomático de resolución temporal.

International Organization for Standardization (ISO), Espectrómetro de media altura.

ISO 19618:2017 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada): método de medición de la emisividad espectral normal utilizando referencia de cuerpo negro con un espectrómetro FTIR
ISO 8599:1994 Óptica e instrumentos ópticos - Lentes de contacto - Determinación de la transmitancia espectral y luminosa
ISO 15632:2021 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para su uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA).
ISO 15632:2012 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica
ISO 6286:1982 Espectrometría de absorción molecular; Vocabulario; General; Aparato
ISO 15632:2002 Análisis de microhaces: especificación instrumental para espectrómetros de rayos X de energía dispersiva con detectores de semiconductores
ISO/TR 18231:2016 Minerales de hierro - Espectrómetros de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda - Determinación de la precisión
ISO 14135-2:2003
ISO 15253:2000 Óptica e instrumentos oftálmicos - Dispositivos ópticos para mejorar la baja visión.
ISO 15253:2021 Óptica e instrumentos oftálmicos: dispositivos ópticos y electroópticos para mejorar la baja visión.
ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
ISO 18381:2013 Sistemas de transferencia de información y datos espaciales: compresión de imágenes multiespectrales e hiperespectrales sin pérdidas
ISO 15254:2009 Óptica e instrumentos oftálmicos - Dispositivos electroópticos para mejorar la baja visión.
ISO 15254:2002 Óptica e instrumentos oftálmicos - Dispositivos electroópticos para mejorar la baja visión.
ISO 16129:2012 Análisis químico de superficies - Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X - Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
ISO 16129:2018 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Procedimientos para evaluar el rendimiento diario de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X.
ISO 14135-2:2014 Óptica y fotónica - Especificaciones para miras telescópicas - Parte 2: Instrumentos de alto rendimiento
ISO 13166:2014 Calidad del agua - Isótopos de uranio - Método de prueba mediante espectrometría alfa
ISO 14135-2:2017 Óptica y fotónica. Especificaciones para miras telescópicas. Parte 2: Instrumentos de alto rendimiento.
ISO 14135-2:2021 Óptica y fotónica. Especificaciones para miras telescópicas. Parte 2: Instrumentos de alto rendimiento.
ISO 14605:2013 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Fuente de luz para probar materiales fotocatalíticos semiconductores utilizados en entornos de iluminación interior.
ISO 21501-1:2009 Determinación de la distribución del tamaño de partículas. Métodos de interacción de la luz con una sola partícula. Parte 1: Espectrómetro de aerosol de dispersión de luz.
ISO/TS 10867:2010 Nanotecnologías: caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante espectroscopia de fotoluminiscencia en el infrarrojo cercano
ISO 17974:2002 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución - Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
ISO 15472:2010 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
ISO 15472:2001 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
ISO 15470:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 9022-8:1994 Óptica e instrumentos ópticos. Métodos de prueba ambientales. Parte 8: Alta presión, baja presión, inmersión.
ISO 22309:2006 Análisis de microhaces: análisis cuantitativo mediante espectrometría de dispersión de energía (EDS)

Consultative Committee for Space Data Systems (CCSDS), Espectrómetro de media altura.

CCSDS 123.0-B-1-2012 Compresión de imágenes multiespectrales e hiperespectrales sin pérdida.
CCSDS 123.0-B-2 Technical Corrigendum 3-2021 Compresión de imágenes multiespectrales e hiperespectrales de baja complejidad, sin pérdidas y casi sin pérdidas; Corrigendum técnico 3

HU-MSZT, Espectrómetro de media altura.

MSZ 2446-1958 F?LG?MBFEJ? T?VIGMENETES F?NYES M?SZERCSAVAR

Professional Standard - Military and Civilian Products, Espectrómetro de media altura.

WJ 1010-1994 Piezas de instrumentos ópticos Volante de media oreja
WJ 1003-1994 Piezas de instrumentos ópticos volante de 12 dientes semicirculares
WJ 2300-1995 Reglamento de verificación para espectrógrafo de rejilla plana
WJ 974-1977 Componentes del molde de fundición a la cera perdida para instrumentos ópticos, molde de fundición a la cera perdida para instrumentos ópticos, mango de cabeza semicircular
WJ 1249-1980 Herramienta universal para el montaje de instrumentos ópticos, remachadora de cabeza media redonda.
WJ 747-1994 Método de prueba de alta temperatura para adhesivos utilizados en instrumentos ópticos.
WJ 749-1994 Métodos de prueba de inmersión en agua, baja temperatura, alta temperatura y alta humedad para pegamento utilizado en instrumentos ópticos
WJ 2299-1995 Reglamento de verificación del espectrómetro de barrido secuencial de plasma acoplado inductivamente

CZ-CSN, Espectrómetro de media altura.

CSN 75 7554-1998
CSN 35 6575 Z1-1997 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
CSN 35 6535-1983 Instrumentos electrónicos de medida. Analizadores de espectros de procesos sucesivos. Nomenclatura de parámetros
CSN 42 0600 Cast.5-1975 Antimonio de alta pureza. Métodos de análisis químico y espectral. Determinación de plata, bismuto. cobre, hierro. níquel, plomo. y estaño por método espectral
CSN 42 0600 Cast.3-1975 Antimonio de alta paridad. Métodos de análisis químico y espectral. Eliminación de arsénico por método fotométrico.

RO-ASRO, Espectrómetro de media altura.

STAS 12814-1990 ALUMINIO Y ALEACIONES DE ALUMINIO Análisis por espectrometría de emisión óptica
STAS 10837/2-1977 SELENIO Determinación espectral semicuantitativa de impurezas de hierro, silicio, plata, cobre, magnesio, plomo, estaño, estibio y arsénico.
STAS 11564-1982 ACEROS RÁPIDOS PARA HERRAMIENTAS Análisis espectrográfico en emisión
STAS 11607-1981 ACEROS AL CARBONO DE BAJA Y MEDIA ALEACIÓN Análisis espectrográfico

Professional Standard - Ocean, Espectrómetro de media altura.

HY/T 175-2014 Analizador óptico del tamaño de partículas de sedimentos en suspensión
HY/T 125-2009

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Espectrómetro de media altura.

JJF 1544-2015
JJF 1329-2011 Especificación de calibración para instrumentos espectrales instantáneos
JJF 1601-2016 Especificación de calibración para espectrofotómetros para medición de reflectancia difusa
JJF 2024-2023 Especificaciones de calibración para espectrómetros de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva
JJF 1603-2016 Especificación de calibración para espectrómetros de terahercios (0,1 ~ 2,5) THz
JJF 1818-2020 Especificación de calibración para dispositivos de calibración de espectrómetros Raman
JJF 1319-2011 Especificación de calibración para espectrómetros infrarrojos por transformada de Fourier
JJF 1133-2005 Especificación de calibración del medidor de oro mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X
JJF 1929-2021 Especificación de calibración para espectrómetros de emisión atómica con electrodos de disco giratorio
JJF 1930-2021 Especificación de calibración para espectrómetros de masas de sector magnético orgánico de alta resolución
JJF 1953-2021 Especificación de calibración para cromatógrafos de gases con detector de quimioluminiscencia de azufre

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Espectrómetro de media altura.

KS C 6918-1995 Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
KS I 2000-2014 Evaluación funcional de cromatógrafo líquido de alta resolución.
KS C IEC 60759:2009 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
KS C IEC 60759-2009(2019) Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
KS C 6918-1995(2020) Métodos de prueba del analizador de espectro de fibra óptica.
KS B ISO 8599:2004 Óptica e instrumentos ópticos-Lentes de contacto-Determinación de la transmitancia espectral y luminosa
KS B ISO 8599:2014 Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Determinación de la transmitancia espectral y luminosa.
KS B ISO 8599-2014(2019) Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Determinación de la transmitancia espectral y luminosa.
KS M ISO 6286:2010 Espectrometría de absorción molecular-Vocabulario-General-Aparato
KS M ISO 6286-2010(2020) Espectrometría de absorción molecular－Vocabulario－General－Aparato
KS D ISO 15632:2012 Análisis de microhaces－Especificaciones instrumentales para espectrómetros de rayos X de energía dispersiva con detectores de semiconductores
KS B ISO 14135-2:2006 Óptica e instrumentos ópticos-Especificaciones para miras telescópicas-Parte 2: Instrumentos de alto rendimiento
KS B ISO 14135-2-2016(2021) Óptica e instrumentos ópticos－Especificaciones para miras telescópicas－Parte 2: Instrumentos de alto rendimiento
KS B ISO 14135-2:2016 Óptica e instrumentos ópticos－Especificaciones para miras telescópicas－Parte 2: Instrumentos de alto rendimiento
KS D ISO 10701:2002 Acero y hierro－Determinación del contenido de azufre－Método espectrofotométrico de azul de metileno
KS D ISO 21270:2005 Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS I 2000-2010 Evaluación funcional de cromatógrafo líquido de alta resolución.
KS D ISO 21270-2005(2020) Análisis químico de superficies－Fotoelectrones de rayos X y espectrómetros de electrones Auger－Linealidad de escala de intensidad
KS D ISO 15472:2003 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X-Calibración de escalas de energía
KS C IEC 61290-5-1-2007(2022) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 5－1：Parámetros de reflectancia －Método del analizador de espectro óptico
KS C IEC 61290-5-1-2007(2017) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 5－1：Parámetros de reflectancia －Método del analizador de espectro óptico
KS D ISO 17974-2011(2021) Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS D 2717-2008 Evaluación de la relación metálica/semiconductora de hollines de nanotubos de carbono de pared simple mediante espectroscopia de absorción UV-VIS-NIR
KS B ISO 10934-2-2011(2021) Óptica e instrumentos ópticos－Vocabulario para microscopía－Parte 2：Técnicas avanzadas en microscopía óptica
KS B ISO 10934-2-2011(2016) Óptica e instrumentos ópticos－Vocabulario para microscopía－Parte 2：Técnicas avanzadas en microscopía óptica
KS C IEC 61452-2017(2022) Instrumentación nuclear. Medición de las tasas de emisión de rayos gamma de radionucleidos. Calibración y utilización de espectrómetros de germanio.
KS C IEC 61290-3-1-2005(2020) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 3－1：Parámetros de la figura de ruido－Método del analizador de espectro óptico
KS D ISO 17974:2011 Análisis químico de superficies－Espectrómetros de electrones Auger de alta resolución－Calibración de escalas de energía para análisis elemental y de estados químicos
KS E ISO 15247:2012 Concentrados de sulfuro de zinc-Determinación del contenido de plata-Método espectrométrico de disolución ácida y absorción atómica de llama
KS D ISO 3497-2002(2017) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Métodos espectrométricos de rayos X
KS B ISO 9022-8-2017(2022) Óptica e instrumentos ópticos－Métodos de prueba ambientales－Parte 8: Alta presión, baja presión, inmersión
KS B ISO 9022-8:2017 Óptica e instrumentos ópticos－Métodos de prueba ambientales－Parte 8: Alta presión, baja presión, inmersión
KS D ISO 17054:2018 Método de rutina para el análisis de acero de alta aleación mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF) mediante el uso de una técnica cercana
KS C IEC 61290-3-1:2005 Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 3－1：Parámetros de la figura de ruido－Método del analizador de espectro óptico
KS D ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS C IEC 61290-10-1-2005(2020) Amplificadores ópticos－Métodos de prueba－Parte 10－1：Parámetros multicanal－Método de pulso utilizando un interruptor óptico y un analizador de espectro óptico
KS B ISO 9022-8:2002 Óptica e instrumentos ópticos－Métodos de prueba ambientales－Parte 8: Alta presión, baja presión, inmersión
KS P ISO 9913-1-2014(2019) Óptica e instrumentos ópticos. Lentes de contacto. Parte 1: Determinación de la permeabilidad y transmisibilidad al oxígeno con el método polarográfico.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Espectrómetro de media altura.

GB/T 40219-2021 Especificaciones generales para espectrómetros Raman.
GB/T 21548-2021 Métodos de medición de láseres semiconductores de alta velocidad modulados directamente para sistemas de comunicación por fibra óptica.
GB/T 41211-2021 Especificaciones generales para instrumentos de detección espectral in situ lunares y planetarios.
GB/T 36301-2018 Niveles de productos de preprocesamiento para datos de imágenes hiperespectrales espaciales

American Society for Testing and Materials (ASTM), Espectrómetro de media altura.

ASTM E388-04(2023) Método de prueba estándar para la precisión de la longitud de onda y el ancho de banda espectral de los espectrómetros de fluorescencia
ASTM E1507-98 Guía estándar para describir y especificar el espectrómetro de un instrumento de lectura directa por emisión óptica
ASTM E388-04(2015) Método de prueba estándar para la precisión de la longitud de onda y el ancho de banda espectral de los espectrómetros de fluorescencia
ASTM E3029-15(2023) Práctica estándar para determinar factores de corrección espectral relativa para señales de emisión de espectrómetros de fluorescencia
ASTM E1217-11 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
ASTM E356-78(1996) Prácticas para describir y especificar el espectrógrafo
ASTM E1217-00 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
ASTM E1217-05 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
ASTM E3029-15 Práctica estándar para determinar factores de corrección espectral relativa para señales de emisión de espectrómetros de fluorescencia
ASTM E1866-97(2007) Guía estándar para establecer pruebas de rendimiento de espectrofotómetros
ASTM E1866-97(2002) Guía estándar para establecer pruebas de rendimiento de espectrofotómetros
ASTM E1866-97 Guía estándar para establecer pruebas de rendimiento de espectrofotómetros
ASTM E1683-02(2014)e1 Práctica estándar para probar el rendimiento de espectrómetros Raman de barrido
ASTM E996-04 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E996-10 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
ASTM E958-13 Práctica estándar para la estimación del ancho de banda espectral de espectrofotómetros ultravioleta-visible
ASTM E2529-06(2022) Guía estándar para probar la resolución de un espectrómetro Raman
ASTM E2529-06e1 Guía estándar para probar la resolución de un espectrómetro Raman
ASTM F2405-04(2011) Método de prueba estándar para trazas de impurezas metálicas en cobre de alta pureza mediante espectrómetro de masas de descarga luminosa de alta resolución
ASTM F2405-04 Método de prueba estándar para trazas de impurezas metálicas en cobre de alta pureza mediante espectrómetro de masas de descarga luminosa de alta resolución
ASTM E1770-95 Práctica estándar para la optimización de equipos espectrométricos de absorción atómica electrotérmica
ASTM E1770-95(2006) Práctica estándar para la optimización de equipos espectrométricos de absorción atómica electrotérmica
ASTM E2911-23 Guía estándar para la corrección de la intensidad relativa de espectrómetros Raman
ASTM E2911-13
ASTM D5381-93(2014) Guía estándar para fluorescencia de rayos X 40;XRF41; Espectroscopía de pigmentos y extensores.
ASTM E2529-06 Guía estándar para probar la resolución de un espectrómetro Raman
ASTM E2529-06(2014) Guía estándar para probar la resolución de un espectrómetro Raman
ASTM E1840-96(2022) Guía estándar para estándares de desplazamiento Raman para calibración de espectrómetros
ASTM F1710-97 Método de prueba estándar para trazas de impurezas metálicas en titanio de grado electrónico mediante espectrómetro de masas de descarga luminosa de alta resolución
ASTM F1710-97(2002) Método de prueba estándar para trazas de impurezas metálicas en titanio de grado electrónico mediante espectrómetro de masas de descarga luminosa de alta resolución
ASTM E902-05 Práctica estándar para verificar las características operativas de los espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
ASTM D8340-20a Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM D8340-20 Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM E1683-02(2022) Práctica estándar para probar el rendimiento de espectrómetros Raman de barrido
ASTM D8340-22 Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM E1016-07(2020) Guía estándar de literatura que describe las propiedades de los espectrómetros de electrones electrostáticos
ASTM E932-89(2002) Práctica estándar para describir y medir el rendimiento de espectrómetros infrarrojos dispersivos
ASTM E932-89(1997) Práctica estándar para describir y medir el rendimiento de espectrómetros infrarrojos dispersivos
ASTM E1840-96(2002) Guía estándar para estándares de desplazamiento Raman para calibración de espectrómetros
ASTM E932-89(2021) Práctica estándar para describir y medir el rendimiento de espectrómetros infrarrojos dispersivos
ASTM E932-89(2013) Práctica estándar para describir y medir el rendimiento de espectrómetros infrarrojos dispersivos
ASTM E1770-14 Práctica estándar para la optimización de equipos espectrométricos de absorción atómica electrotérmica
ASTM E307-72(1996)e1 Método de prueba estándar para emitancia espectral normal a temperaturas elevadas
ASTM E307-72(2002) Método de prueba estándar para emitancia espectral normal a temperaturas elevadas
ASTM G177-03(2020) Tablas estándar para distribuciones espectrales ultravioleta solares de referencia: hemisféricas en 37° Superficie inclinada
ASTM D8340-21 Práctica estándar para la calificación basada en el rendimiento de sistemas analizadores espectroscópicos
ASTM E1812-96 Práctica estándar para la optimización de equipos espectrométricos de absorción atómica de llama
ASTM E307-72(2019) Método de prueba estándar para emitancia espectral normal a temperaturas elevadas
ASTM F1593-08(2016) Método de prueba estándar para trazas de impurezas metálicas en aluminio de calidad electrónica mediante espectrómetro de masas de descarga luminosa de alta resolución
ASTM F1710-08(2016) Método de prueba estándar para trazas de impurezas metálicas en titanio de grado electrónico mediante espectrómetro de masas de descarga luminosa de alta resolución
ASTM G177-03(2012) Tablas estándar para distribuciones espectrales ultravioleta solares de referencia: hemisférica en 37 grados; Superficie inclinada
ASTM D7751-12 Método de prueba estándar para la determinación de elementos aditivos en aceites lubricantes mediante análisis EDXRF
ASTM G138-96 Método de prueba estándar para la calibración de un espectrorradiómetro utilizando una fuente estándar de irradiancia

ZA-SANS, Espectrómetro de media altura.

SANS 62129:2008 Calibración de analizadores de espectro óptico.
SANS 61290-5-1:2007 Amplificadores ópticos. Métodos de prueba. Parte 5-1: Parámetros de reflectancia. Método del analizador de espectro óptico.

GM Daewoo, Espectrómetro de media altura.

GMKOREA EDS-T-7826-2006 ¿FTIR? ??? ????,???? ???? ????

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Espectrómetro de media altura.

ANSI/IEEE Std 1131-1987 Dimensiones de la tapa del extremo del criostato estándar IEEE para espectómetros de rayos gamma semiconductores de germanio
ANSI/IEEE Std 759-1984 Procedimientos de prueba estándar IEEE para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores

Professional Standard - Agriculture, Espectrómetro de media altura.

JJG(教委) 024-1996 Reglamento de verificación para cromatografía líquida de alta resolución
JJG(教委) 023-1996 Reglamento de verificación para espectrómetro de absorción atómica
JJG(教委) 016-1996 Reglas de verificación para el espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de longitud de onda
JJG(教委) 022-1996 Reglamento de Verificación de Espectrómetros de Absorción Ultravioleta y Visible
JJG(教委) 001-1996 Reglamento de verificación para el espectrómetro infrarrojo por transformada de Fourier
JJG(教委) 015-1996 Reglamento de verificación para espectrómetro de emisión atómica de plasma acoplado inductivamente

Lithuanian Standards Office , Espectrómetro de media altura.

LST EN 62129-2006 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006)
LST EN 62129-2006/AC-2007 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006)
LST EN 15483-2009 Calidad del aire ambiente: mediciones atmosféricas cerca del suelo con espectroscopía FTIR
LST EN ISO 10703:2021 Calidad del agua - Radionucleidos emisores de rayos gamma - Método de prueba mediante espectrometría de rayos gamma de alta resolución (ISO 10703:2021)

German Institute for Standardization, Espectrómetro de media altura.

DIN EN 62129:2007 Calibración de analizadores de espectro óptico (IEC 62129:2006); Versión alemana EN 62129:2006
DIN 10785:2013 Análisis de café y productos de café - Determinación de acrilamida - Métodos utilizando HPLC-MS/MS y GC-MS después de la derivatización
DIN ISO 15632:2015 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica (ISO 15632:2012)
DIN 51820:2013-12 Ensayos de lubricantes - Análisis de grasas mediante espectrómetro infrarrojo - Registro e interpretación de un espectro infrarrojo / Nota: Aplica en conjunto con DIN 51451 (2004-09).
DIN ISO 14135-2:2005 Óptica e instrumentos ópticos. Especificaciones para miras telescópicas. Parte 2: Instrumentos de alto rendimiento (ISO 14135-2:2003)
DIN EN ISO 15253:2001 Óptica e instrumentos oftálmicos. Dispositivos ópticos para mejorar la baja visión (ISO 15253:2000); Versión alemana EN ISO 15253:2000
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