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Microscopía y escaneo de fuerza atómica.

Microscopía y escaneo de fuerza atómica., Total: 16 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Microscopía y escaneo de fuerza atómica. son: Medidas lineales y angulares., Metales no ferrosos, Termodinámica y mediciones de temperatura., Equipo óptico, Óptica y medidas ópticas., Química analítica.


American Society for Testing and Materials (ASTM), Microscopía y escaneo de fuerza atómica.

  • ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
  • ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
  • ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Microscopía y escaneo de fuerza atómica.

Group Standards of the People's Republic of China, Microscopía y escaneo de fuerza atómica.

International Organization for Standardization (ISO), Microscopía y escaneo de fuerza atómica.

  • ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Microscopía y escaneo de fuerza atómica.

  • JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Microscopía y escaneo de fuerza atómica.

  • JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)

Professional Standard - Machinery, Microscopía y escaneo de fuerza atómica.

  • JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
  • JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Microscopía y escaneo de fuerza atómica.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Microscopía y escaneo de fuerza atómica.

  • GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas

KR-KS, Microscopía y escaneo de fuerza atómica.

  • KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario




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