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microscopio de barrido spm

microscopio de barrido spm, Total: 44 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en microscopio de barrido spm son: Química analítica, Metales no ferrosos, Equipo óptico, Óptica y medidas ópticas., Medidas lineales y angulares., Vocabularios, Educación, Calidad del aire, Protección contra el crimen, Termodinámica y mediciones de temperatura..


International Organization for Standardization (ISO), microscopio de barrido spm

  • ISO 11952:2019 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: calibración de sistemas de medición.
  • ISO 11952:2014 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: calibración de sistemas de medición
  • ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
  • ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario

British Standards Institution (BSI), microscopio de barrido spm

  • BS ISO 11952:2019 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: Calibración de sistemas de medida
  • 18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), microscopio de barrido spm

  • KS D 2714-2016(2021) Microscopio de sonda de barrido-Método para microscopio de fuerza lateral
  • KS D 2714-2016 Microscopio de sonda de barrido-Método para microscopio de fuerza lateral
  • KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Vocabulario
  • KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
  • KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Vocabulario
  • KS M 0044-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS I 0051-1999(2019) Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS D 2714-2006 Microscopio de sonda de barrido-Método para microscopio de fuerza lateral

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), microscopio de barrido spm

  • JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • JIS K 3850-1:2006 Determinación de partículas fibrosas en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, microscopio de barrido spm

  • JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)
  • JJF 1351-2012 Especificación de calibración para microscopios de sonda de barrido

Professional Standard - Machinery, microscopio de barrido spm

  • JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
  • JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, microscopio de barrido spm

  • JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
  • JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.

KR-KS, microscopio de barrido spm

  • KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, microscopio de barrido spm

  • GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas

American Society for Testing and Materials (ASTM), microscopio de barrido spm

  • ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
  • ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
  • ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
  • ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido

Professional Standard - Commodity Inspection, microscopio de barrido spm

  • SN/T 4388-2015 Identificación del cuero. Microscopía electrónica de barrido y microscopía óptica.

Professional Standard - Education, microscopio de barrido spm

  • JY/T 0582-2020 Reglas generales para los métodos analíticos de microscopía de sonda de barrido
  • JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.
  • JY/T 010-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de barrido analítica.
  • JY/T 0586-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía confocal de barrido láser.

Professional Standard - Petroleum, microscopio de barrido spm

  • SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
  • SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
  • SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, microscopio de barrido spm

  • DB31/T 297-2003 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de barrido.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, microscopio de barrido spm

  • GB/T 29190-2012 Métodos de medición de la tasa de deriva del microscopio de sonda de barrido.
  • GB/T 42659-2023 Análisis químico de superficies Microscopía de sonda de barrido Determinación de cantidades geométricas mediante microscopía de sonda de barrido: calibración del sistema de medición

国家能源局, microscopio de barrido spm

  • SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.

Professional Standard - Judicatory, microscopio de barrido spm

Group Standards of the People's Republic of China, microscopio de barrido spm





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