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Objetivo monocristal

Objetivo monocristal, Total: 500 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Objetivo monocristal son: Materiales semiconductores, Metales no ferrosos, Hornos industriales, Papel y cartón, Fluidos aislantes, Vocabularios, Productos de metales no ferrosos., Productos de hierro y acero., Instalaciones en edificios, pruebas de metales, Componentes y accesorios para equipos de telecomunicaciones., Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos., Óptica y medidas ópticas., Pilas y baterías galvánicas., Herramientas de corte, Dispositivos de visualización electrónica., Herramientas de máquina, Dispositivos semiconductores, Metalurgia de polvos, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, Equipo óptico, Ingeniería de energía y transferencia de calor en general., ingeniería de energía solar, Comunicaciones de fibra óptica., Productos de la industria química., Calidad del aire, ingeniería de energía nuclear, Circuitos integrados. Microelectrónica, GENERALIDADES. TERMINOLOGÍA. ESTANDARIZACIÓN. DOCUMENTACIÓN, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Filtros electricos, Rectificadores. Convertidores. Fuente de alimentación estabilizada, Materiales para el refuerzo de composites., Cerámica, Optoelectrónica. Equipo láser, Lámparas y equipos relacionados., válvulas, Materiales conductores, Joyería, Terminología (principios y coordinación).

Professional Standard - Education, Objetivo monocristal

JY/T 009-1996 Principios generales del método de derivación de rayos X de policristales con objetivo giratorio

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Objetivo monocristal

GB/T 5238-2019 Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
GB/T 20230-2022 Monocristal de fosfuro de indio
GB/T 20229-2022 Monocristal de fosfuro de galio
GB/T 20228-2021 Monocristal de arseniuro de galio
GB/T 39137-2020 Determinación de la orientación de un monocristal de metal refractario.
GB/T 12964-2018 Obleas pulidas de silicio monocristalino
GB/T 26069-2022 Obleas de silicio monocristalino recocido
GB/T 39865-2021 Método para medir el índice de refracción de cristales ópticos uniaxiales.
GB/T 25076-2018 Silicio monocristalino para células solares.
GB/T 36648-2018 Especificación para monómeros de cristal líquido TFT
GB/T 36647-2018 Especificación para monómeros de cristal líquido.
GB/T 12965-2018 Silicio monocristalino en forma de obleas cortadas y obleas lapeadas
GB/T 26071-2018 Obleas de silicio monocristalino para células solares
GB/T 37418-2019 Oxiortosilicato de lutecio, monocristales de centelleo de oxiortosilicato de lutecio-itrio
GB/T 41325-2022 Obleas de silicio monocristalino pulidas con origen cristalino de baja densidad para circuitos integrados
GB/T 18910.201-2021 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 20-1: Inspección visual. Celdas de visualización de cristal líquido monocromáticas.
GB/T 19346.3-2021 Métodos de medición de aleaciones amorfas y nanocristalinas. Parte 3: Propiedades magnéticas de CA de una tira amorfa a base de Fe utilizando una muestra de una sola hoja.
GB/T 11094-2020 Monocristal de arseniuro de galio y oblea de corte cultivada mediante el método Bridgman horizontal
GB/T 5252-2020 Método de prueba para la densidad de dislocación del germanio monocristalino.
GB/T 18910.202-2021 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 20-2: Inspección visual. Módulos de visualización de cristal líquido de matriz monocromática.
GB/T 8760-2020 Método de prueba para la densidad de dislocación del arseniuro de galio monocristalino

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Objetivo monocristal

GB/T 5238-2009 Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
GB/T 5238-2009(英文版) Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
GB/T 31092-2014 Lingote de zafiro monocristalino
GB/T 31092-2022 Barra de zafiro monocristalino
GB/T 12962-1996 silicio monocristalino
GB/T 12962-2005 Silicio monocristalino
GB/T 5238-1995
GB/T 12962-2015 monocristal de silicio
GB/T 15713-1995 Rodajas de germanio monocristalino.
GB/T 29504-2013 Silicio monocristalino de 300 mm.
GB/T 20229-2006 Cristal de señal de fosfuro de galio
GB/T 20230-2006 Cristal de señal de fosfuro de indio
GB/T 20228-2006 Monocristal de arseniuro de galio
GB/T 14843-1993 Monocristales de niobato de litio
GB/T 1555-1997 Métodos de prueba para determinar la orientación de un monocristal semiconductor.
GB/T 11072-1989 Policristal de antimonuro de indio, monocristales y rodajas cortadas
GB/T 11072-2009 Policristal de antimonuro de indio, cristales individuales y rodajas cortadas
GB/T 1555-2023 Método para determinar la orientación cristalina de un monocristal semiconductor
GB/T 1555-2009 Métodos de prueba para determinar la orientación de un monocristal semiconductor.
GB/T 12964-2003 Obleas pulidas de silicio monocristalino
GB/T 29506-2013 Obleas de silicio monocristalino pulido de 300 mm
GB/T 30656-2014 Obleas de carburo de silicio monocristalino pulido
GB/T 25076-2010 Silicio monocristalino de célula solar.
GB/T 30656-2023 Oblea pulida de un solo cristal de carburo de silicio
GB/T 26072-2010 Célula solar monocristal de germanio
GB/T 41751-2022 Método de prueba para determinar el radio de curvatura del plano cristalino en obleas de sustrato monocristalino de GaN
GB/T 42676-2023 Método de difracción de rayos X para probar la calidad del monocristal semiconductor
GB/T 12965-1996 Silicio monocristalino en forma de rodajas cortadas y rodajas traslapadas
GB/T 12965-2005 Rebanadas cortadas de silicio monocristalino y rebanadas traslapadas
GB/T 12632-1990 Especificaciones generales de células solares individuales de silicio.
GB/T 1551-2009 Método de prueba para medir la resistividad del silicio monocristal.
GB/T 26065-2010 Especificación para obleas de silicio de prueba pulidas
GB/T 30858-2014 Producto de sustrato de zafiro monocristalino pulido
GB/T 13843-1992 Sustratos de zafiro monocristalino pulido
GB/T 30118-2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW). Especificaciones y métodos de medición
GB/T 13066-1991 Especificación detallada en blanco para transistores unijunction
GB/T 25075-2010 Monocristal de arseniuro de galio para células solares
GB/T 29420-2012 Dispositivos de cristal láser de vanadato dopado con Nd
GB/T 29508-2013 Silicio monocristalino de 300 mm en rodajas cortadas y trituradas
GB/T 34213-2023 Alúmina de alta pureza para monocristal de zafiro
GB/T 11094-2007 Oblea de corte y cristal único de arseniuro de galio cultivado en Bridgman horizontal
GB/T 26071-2010 Silicio monocristalino en rodajas para células solares fotovoltaicas
GB/T 29421-2012 Dispositivos de cristal birrebringente de vanadato
GB/T 11094-1989 Monocristales de arseniuro de galio cultivados en barcos y rodajas cortadas
GB/T 9532-2012 Designaciones para cristales piezoeléctricos
GB/T 30866-2014 Método de prueba para medir el diámetro de obleas de carburo de silicio monocristalino.
GB/T 18032-2000 El método de inspección del defecto microscópico AB en monocristal de arseniuro de galio
GB/T 32278-2015 Método de prueba para determinar la planitud de una oblea única de carburo de silicio
GB/T 32188-2015 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de la curva de oscilación de rayos X de cristal doble del sustrato de cristal único de GaN
GB/T 5252-1985 Monocristal de germanio: inspección de la densidad de las picaduras de grabado por dislocación
GB/T 11093-1989 Monocristales de arseniuro de galio cultivados en czochralski encapsulados en líquido y rodajas cortadas en forma de As
GB/T 5252-2006 Monocristal de germanio. Inspección de la densidad de las fosas de grabado por dislocación
GB/T 8760-2006 Determinación de la densidad de dislocaciones en monocristal de arseniuro de galio
GB/T 11093-2007 Monocristales de arseniuro de galio cultivados en czochralski encapsulados en líquido y rodajas cortadas
GB/T 26044-2010 Alambre de cobre redondo monocristalino y material de trefilado para transmisión de señal
GB 8760-1988 Monocristal de arseniuro de galio－Determinación de la densidad de dislocaciones
GB/T 41765-2022 Método de prueba para la densidad de dislocaciones de carburo de silicio monocristalino.
GB/T 8760-1988 Monocristal de arseniuro de galio: determinación de la densidad de dislocaciones
GB/T 1552-1995 Método de prueba para medir la resistividad de silicio monocristalino y germanio con una matriz colineal de cuatro sondas
GB/T 1551-1995
GB/T 26074-2010 Monocristal de germanio.Medición de resistividad-Sonda lineal de cuatro puntos DC
GB 29447-2022 La norma de consumo de energía por unidad de productos de polisilicio y germanio.
GB 29447-2012 La norma de consumo de energía por unidad de producto de la empresa de polisilicio.
GB/T 15250-1994 Método de prueba para la atenuación masiva de ondas acústicas de cristales piezoeléctricos de niobato de litio.
GB/T 10067.410-2014 Especificaciones básicas para instalaciones de electrocalentamiento.Parte 410: Horno de cultivo monocristalino.
GB/T 30839.46-2015 Clasificación del consumo energético de instalaciones industriales de electrocalentamiento. Parte 46: Hornos de cultivo de cristales.
GB/T 42263-2022 Determinación del contenido de nitrógeno en monocristal de silicio: método de espectrometría de masas de iones secundarios

Professional Standard - Machinery, Objetivo monocristal

JB/T 10439-2004 Hornos de cultivo de cristales Hornos de cultivo de cristales de la serie TDR mediante el método Czochralski
JB/T 5633-1991 Horno monocristalino. Clasificación del consumo de energía.
JB/T 7996-1999 Abrasivo común Alundum simple
JB/T 7996-2012 Abrasivo convencional. Alúmina fundida monocristalina.
JB/T 12068-2014
JB/T 5203-1991 Método de alúmina fundida monocristalina para análisis químico.
JB/T 5203-2012 Métodos de análisis químico para alúmina fundida monocristalina.
JB/T 7826.2-1996 Módulo puente monofásico para tiristores serie MTQ (MFQ)
JB/T 7826.3-1995 Módulo puente monofásico de tiristores serie MTS (MFS)
JB/T 7826.2-1995 Módulo puente monofásico de tiristores serie MTQ (MFQ)

UNKNOWN, Objetivo monocristal

YB 1602-1983 monocristal de silicio
YB 1602-83 monocristal de silicio
YB 1603-83 Discos de corte y discos abrasivos monocristalinos de silicio

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, Objetivo monocristal

DB13/T 1314-2010 Varilla cuadrada de silicio monocristalino de grado solar, oblea de silicio monocristalino
DB13/T 1828-2013 Oblea de silicio monocristalino de grado solar
DB13/T 5092-2019 Requisitos técnicos generales para cristales semilla cuadrados para lingotes de silicio monocristalino de grado solar

Group Standards of the People's Republic of China, Objetivo monocristal

T/ZSA 72-2019 Carburo de silicio monocristalino
T/IAWBS 001-2021 Monocristal de carburo de silicio
T/ZZB 0497-2018 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie
T/ZZB 1389-2019 Células fotovoltaicas de silicio monocristalino
T/ZZB 2675-2022 Silicio monocristalino como obleas lapeadas para TVS
T/ZZB 0044-2016 Hornos de cultivo de cristales serie TDR
T/ZZB 1927-2020 Máquina automática de corte de monosilicio
T/JSAS 015-2021 Células solares de silicio monocristalino
T/GZHG 006-2019 Óxido de manganeso, litio, cobalto, níquel monocristalino grande (NCM523)
T/CISA 167-2021 Aleación maestra de superaleación monocristalina DD419
T/HEBQIA 073-2022 Imanes superconductores de silicio monocristalino de Czochralski
T/CISA 086-2021 Aleación maestra de superaleación de cristal único DD405
T/SZBX 118-2023 Obleas de silicio monocristalino para células solares
T/CASME 465-2023 Texturizador sin IPA para monosilicio
T/IAWBS 005-2018 Obleas de carburo de silicio monocristalino pulido de 6 pulgadas
T/CEC 290-2019 Requisitos técnicos para la oblea de cristal único de contacto posterior
T/CEMIA 004-2018 Crisoles de cuarzo para el crecimiento de silicio monocristalino en la industria fotovoltaica
T/IAWBS 017-2022 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de curva de oscilación de rayos X de cristal doble de sustrato de cristal único de diamante
T/IAWBS 015-2021 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de la curva de oscilación de rayos X de cristal doble del sustrato de cristal único de Ga2O3
T/IAWBS 016-2022 Método de prueba FWHM de curva oscilante de doble cristal de rayos X para oblea única de carburo de silicio
T/CEMIA 023-2021 Crisol de cuarzo para crecimiento de monosilicio semiconductor.
T/CECA 69-2022 Sustratos de película delgada monocristalinos para dispositivos SAW
T/ZZB 0648-2018 Obleas pulidas de silicio Czochralski monocristalino fuertemente dopadas con fósforo de 200 mm
T/NXCL 017-2022 Obleas pulidas de silicio Czochralski monocristalino fuertemente dopadas con fósforo de 300 mm
T/NXCL 016-2022 Oblea pulida de silicio Czochralski monocristalino fuertemente dopada con antimonio de 200 mm
T/ZZB 1372-2019 Módulos fotovoltaicos (PV) terrestres de silicio cristalino de un solo lado y doble vidrio
T/CSTM 00033-2020 Términos de monocristales ópticos inorgánicos para la detección de radiación nuclear.
T/SBX 039-2020 Determinación de la pureza del monómero de cristal líquido de alquilbifenilcianuro
T/CECA 83-2023 Obleas monocristalinas reducidas de tantalato de litio y niobato de litio: requisitos técnicos y métodos de medición de la luminosidad y la diferencia de color
T/CEMIA 005-2018 Prácticas de fabricación de crisoles de cuarzo para el crecimiento de silicio monocristalino fotovoltaico
T/ZZB 2283-2021 Polvo de grafito de pureza ultraalta para cristal semiconductor de carburo de silicio
T/SBX 026-2019 Determinación del punto de fusión del monómero de cristal líquido mediante calorimetría diferencial de barrido
T/ICMTIA SM0027-2022 Oblea pulida de cristal único de silicio tipo P de 300 mm para tecnología de memoria avanzada
T/IAWBS 014-2021 Método de prueba para determinar la densidad de dislocaciones de obleas pulidas de carburo de silicio
T/CEMIA 024-2021 Prácticas de fabricación de crisoles de cuarzo para el crecimiento del monosilicio semiconductor
T/IAWBS 018-2022 Método de prueba para determinar la densidad de dislocación de obleas pulidas de monocristal de diamante

Professional Standard - Light Industry, Objetivo monocristal

QB/T 1173-2002 Azúcar de roca monocristalino
QB/T 1173-1991 Azúcar de roca monocristalino

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Objetivo monocristal

YS/T 554-2007 Monocristales de niobato de litio
YS/T 42-2010 Monocristales de tantalato de litio
YS/T 554-2006 Monocristal de niobato de litio
YS/T 1167-2016 Obleas grabadas de silicio monocristalino
YS 783-2012 La norma de consumo de energía por unidad de producto de monocristal de germanio infrarrojo.
YS/T 978-2014 Escudo guía de compuestos de carbono/carbono de horno monocristalino
YS/T 977-2014 Cilindro de aislamiento térmico de compuestos de carbono/carbono de horno monocristalino
YS/T 792-2012 Crisol de compuestos carbono-carbono utilizado en horno monocristalino
YS/T 557-2006 Método de prueba para la atenuación de ondas acústicas del monocristal piezoeléctrico de niobato de litio

轻工业部, Objetivo monocristal

QB 1173-1991 Azúcar de roca monocristalino

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Objetivo monocristal

GB/T 34210-2017 Método de prueba para determinar la orientación del monocristal de zafiro.
GB/T 33763-2017 Método de prueba para la densidad de dislocaciones de un monocristal de zafiro.
GB/T 35305-2017 Obleas pulidas de arseniuro de galio monocristalino para células solares

Professional Standard - Electron, Objetivo monocristal

SJ/T 11500-2015 Método de prueba para medir la orientación cristalográfica de carburo de silicio monocristalino.
SJ/T 11501-2015 Método de prueba para determinar el tipo de cristal de carburo de silicio monocristalino.
SJ/Z 2655-1986 Colección de defectos de germaninm monocristalinos.
SJ 20607-1996 Especificación para cristal de molibdeno
SJ 20444-1994 Especificación para monocristal de niobato de litio
SJ 3244.3-1989 Métodos de medición para la orientación cristalina de monocristales de arseniuro de galio y fosfuro de indio
SJ 3241-1989 Oblea y barra monocristalina de arseniuro de galio
SJ 3243-1989 Barras y obleas monocristalinas de fosfuro de indio
SJ/T 10173-1991 Célula solar de silicio monocristalino TDA75
SJ 20606-1996 Especificación para monocristal de dióxido de telurio
SJ/T 10333-1993 Métodos de medición para transistores uni-unión.
SJ/T 11450-2013 Especificaciones de consumo de energía del horno monocristalino
SJ/T 11854-2022 Horno de silicio monocristalino Czochralski para energía fotovoltaica
SJ/T 11502-2015 Especificación para obleas de carburo de silicio monocristalino pulido
SJ/T 11505-2015 Especificación de obleas pulidas de cristal único de zafiro
SJ/T 11853-2022 Horno de silicio monocristalino de fusión de zona suspendida de presión positiva
SJ 2572-1985 Varillas y láminas de silicio monocristalino para células solares.
SJ/T 11864-2022 Sustrato monocristalino de carburo de silicio semiaislante
SJ 3245-1989 Métodos para medir la dislocación del monocristal de fosfuro de indio.
SJ 2592-1985 Filtros monolíticos de cristal de cuarzo para tipo LSP10.7MA(～E)
SJ 20641-1997 Especificación para monocristales de antimonuro de indio para uso en detectores de infrarrojos
SJ/T 11499-2015 Método de prueba para medir las propiedades eléctricas del carburo de silicio monocristalino.
SJ 20640-1997 Especificación para rodajas monocristalinas de antimonuro de indio para uso en detectores de infrarrojos
SJ 20750-1999 Especificación para obleas de silicio monocristalino endurecidas por radiación para circuitos integrados militares CMOS
SJ 20858-2002 Métodos de medición de parámetros eléctricos del material monocristalino de carburo de silicio.
SJ/T 9570.2-1995 Norma de clasificación de calidad para filtros monolíticos de cristal de cuarzo.
SJ 20605-1996 Especificación para el monocristal de tantalato de litio utilizado en dispositivos SAW
SJ 51508.5-1995 Filtro, cristal de cuarzo, monolítico, tipo LSP21.4M, especificación detallada para
SJ/T 2428-1983 Calibración de células solares de silicio monocristalino estándar astronáuticas
SJ 51508/8-1999 Filtro, cristal de cuarzo, monolítico, tipo LP12, especificación detallada para
SJ 2915-1988 Términos y definiciones para dispositivos de ferrita de microondas de cristal único
SJ/T 31108-1994 Requisitos de preparación y métodos de inspección y evaluación para hornos monocristalinos CG3000.
SJ/T 31109-1994 Requisitos de preparación y métodos de inspección y evaluación para hornos monocristalinos de alta presión.
SJ/T 11504-2015 Método de prueba para medir la calidad de la superficie de carburo de silicio monocristalino pulido
SJ 20844-2002 Método de prueba para la homogeneidad de microzonas de arseniuro de galio monocristalino semiaislante
SJ 20843-2002 Determinación cuantitativa de la densidad de defectos microscópicos AB en monocristal de arseniuro de galio
SJ/T 2429-1983 Método de prueba para las características eléctricas de células solares de silicio monocristalino astronáuticas.
SJ 51508/3-1994 Filtro, cristal de cuarzo, tipo LSP10.7M(1~3), especificación detallada para

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Objetivo monocristal

GJB 5956-2007(XG1-2015) Hoja de modificación del vehículo de comunicación de procedimientos generales de prueba de rango de comunicación 1-2015
GJB 5955-2007(XG1-2015) Hoja de modificación de fuente de alimentación química de procedimientos generales de prueba de rango de comunicación 1-2015
GJB 2917-1997 Especificación de oblea única de fosfuro de indio
GJB 3076A-2021 Especificación de chip único de fosfuro de galio
GJB 3076-1997 Especificación de chip único de fosfuro de galio
GJB 2917A-2018 Especificación de oblea única de fosfuro de indio
GJB 2917A-2004 Especificación de oblea única de fosfuro de indio
GJB 5954-2007(XG1-2015) Hoja de modificación 1-2015 para estaciones de radio de onda larga en procedimientos generales de prueba para rangos de comunicación
GJB 1926-1994 Especificación del material monocristalino de arseniuro de galio
GJB 10343-2021 Especificación para obleas monocristalinas de antimonuro de galio pulido
GJB 10342-2021 Especificación para obleas monocristalinas de antimonuro de indio pulido
GJB 1927-1994 Método de prueba de material monocristalino de arseniuro de galio
GJB 1927A-2021 Método de prueba de material monocristalino de arseniuro de galio
GJB 9804-2020 Especificación para varillas monocristalinas de aleación de molibdeno-niobio para uso nuclear
GJB 395-1987 Fluoruro de magnesio monocristalino para placa de modulación de misiles aire-aire
GJB 1431-1992 Especificaciones generales para células solares de silicio monocristalino para uso espacial.
GJB 1431A-2014 Especificación general para células solares de silicio monocristalino para aplicaciones espaciales.
GJB 581-1988 Fluoruro de calcio monocristalino para misiles "tierra-aire" con guía infrarroja
GJB 2918-1997 Especificación para monolitos de silicio fundido de zona de alta resistencia de grado detector
GJB 1944A-2017 Especificación de monocristales de silicio para células solares espaciales
GJB 2452-1995 Especificación para obleas monocristalinas de telururo de cadmio para detectores de infrarrojos
GJB 757-1989 Chip único grande de mica sintética para dispositivos de microondas con radar.
GJB 2652-1996 Especificación para materiales monocristalinos de telururo de zinc y cadmio para detectores de infrarrojos
GJB 2652A-2004 Especificación para materiales monocristalinos de telururo de zinc y cadmio para detectores de infrarrojos
GJB 2918A-2017 Especificación para obleas pulidas de monocristal de silicio fundido en zona de alta resistencia de grado detector
GJB 8512-2015 Especificación para obleas monocristalinas de germanio pulido para células solares espaciales
GJB 1431/1-2000 Especificaciones de las células solares de silicio monocristalino de las series TDJ y TDB para uso espacial
GJB 1431/1A-2021 Especificaciones de las células solares de silicio monocristalino de las series TDJ y TDB para uso espacial
GJB 396-1987 Método de prueba para fluoruro de magnesio monocristalino para uso en discos moduladores de misiles aire-aire

RU-GOST R, Objetivo monocristal

GOST 16153-1980 Germanio monocristalino. Especificaciones
GOST R IEC 61747-20-1-2017 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 20-1. Inspección visual. Celdas de visualización de cristal líquido monocromáticas (excluidas todas las celdas de visualización de cristal líquido de matriz activa)
GOST R IEC 61747-3-2017 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 3. Celdas de pantalla de cristal líquido (LCD). Especificación seccional
GOST 24392-1980 Silicio monocristalino y germanio. Medición de la resistividad eléctrica por el método de las cuatro sondas.

ES-UNE, Objetivo monocristal

UNE-EN 168100:1993 SS: UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1996.)
UNE-EN 120007:1992 BDS: DISPLAYS DE CRISTAL LÍQUIDO. LCDS MONOCROMOS SIN CIRCUITO ELECTRÓNICO. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
UNE-EN 168200/A1:1993 SS: UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO (APROBACIÓN DE CALIFICACIÓN). (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
UNE-EN 168200:1993 SS: UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO (APROBACIÓN DE CALIFICACIÓN). (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
UNE-EN 60444-9:2007 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 9: Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico (IEC 60444-9:2007). (Ratificada por AENOR en agosto de 2007.)
UNE-EN 62276:2016 Obleas monocristalinas para aplicaciones en dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW) - Especificaciones y métodos de medida (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2017.)
UNE-EN 61747-3:2006 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 3: Celdas de visualización de cristal líquido (LCD). Especificación seccional (IEC 61747-3:2006). (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)
UNE-EN 61747-4:2012 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 4: Módulos y celdas de visualización de cristal líquido - Clasificaciones y características esenciales (Ratificada por AENOR en febrero de 2013.)
UNE-EN 168201:1992 ESPECIFICACIÓN DE DETALLE EN BLANCO: UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO (APROBACIÓN DE CALIFICACIÓN). (Ratificada por AENOR en noviembre de 1997.)
UNE-EN 168101:1992 ESPECIFICACIÓN DE DETALLE EN BLANCO: UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO (APROBACIÓN DE CAPACIDAD). (Ratificada por AENOR en noviembre de 1997.)
UNE-EN 61747-3-1:2006 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 3-1: Celdas de visualización de cristal líquido (LCD). Especificación detallada en blanco (IEC 61747-3-1:2006). (Ratificada por AENOR en febrero de 2007.)

IN-BIS, Objetivo monocristal

IS 9709-1980
IS 4570 Pt.11-1989 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 11 SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE DOS PINES, METÁLICO, SOLDADO, TIPO DQ
IS 4570 Pt.8-1985 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 8 SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE TRES HILOS, METÁLICO, SOLDADO, TIPO DK
IS 4570 Pt.13/Sec.5-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 5 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 05
IS 4570 Pt.13/Sec.4-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 4 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 04
IS 4570 Pt.6-1984 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 6 METAL, SELLO DE SOLDADURA, SOPORTE DE UNIDAD DE CRISTAL DE DOS PINES TIPO CX
IS 4570 Pt.13/Sec.3-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDAD DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 3 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 03
IS 4570 Pt.13/Sec.2-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 2 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 02
IS 4570 Pt.13/Sec.1-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 1 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 01
IS 4570 Pt.7-1985 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 7 MICROMINIATURA, METAL, SELLO DE SOLDADURA, SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE DOS HILOS TIPO DJ
IS 4570 Pt.12-1989 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 12 SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE DOS HILOS, MICROMINIATURA, METÁLICO, SOLDADO EN FRÍO, TIPO EB
IS 4570 Pt.3-1984 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 3 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL TIPO TUBO (VIDRIO) TIPOS AP, AR, AS, AT Y AU
IS 8271 Pt.2/Sec.3-1981 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅱ SERIE AA Sección 3 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-03
IS 8271 Pt.2/Sec.5-1981 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅱ SERIE AA Sección 5 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-05
IS 8271 Pt.2/Sec.2-1981 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅱ SERIE AA Sección 2 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-02
IS 8271 Pt.2/Sec.1-1981 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅱ SERIE AA Sección 1 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-01
IS 8271 Pt.2/Sec.4-1981 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅱ SERIE AA Sección 4 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-04
IS 8271 Pt.2/Sec.6-1981 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅱ SERIE AA Sección 6 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-06
IS 4570 Pt.5-1984 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 5 ftfiETAL, SELLO DE SOLDADURA, SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL DE DOS HILOS TIPOS BF, EF/1 Y BG, BG 1
IS 8271 Pt.3/Sec.6-1982 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅲ SERIE BC Sección 6 Unidad de cristal de cuarzo tipo BC-06
IS 8271 Pt.3/Sec.7-1982 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅲ SERIE BC Sección 7 Unidad de cristal de cuarzo tipo BC-07
IS 4540-1968 ESPECIFICACIÓN PARA CONJUNTOS Y EQUIPOS DE RECTIFICADOR DE SEMICONDUCTOR MONOCRISTALINO
IS 3895-1966 ESPECIFICACIÓN PARA PILAS Y CÉLULAS RECTIFICADORES DE SEMICONDUCTOR MONOCRISTALINO
IS 8271 Pt.6/Sec.4-1988 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE 6 SERIE BF PARA OSCILADORES Sección 4 Unidad de cristal de cuarzo tipo BF-04
IS 8271 Pt.2/Sec.22-1985 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE 2 SERIE AA PARA OSCILADORES Sección 22 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-22
IS 8271 Pt.2/Sec.8-1982 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE Ⅱ SERIE AA PARA OSCILADORES Sección 8 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-08
IS 8271 Pt.2/Sec.10-1984 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE 2 SERIE AA PARA OSCILADORES Sección 10 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-10
IS 8271 Pt.4/Sec.1-1983 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE 4 SERIE AB PARA OSCILADORES Sección 1 Unidad de cristal de cuarzo tipo AB-01
IS 8271 Pt.2/Sec.18-1985 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE 2 SERIE AA PARA OSCILADORES Sección 18 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-18
IS 8271 Pt.4/Sec.2-1983 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE 4 SERIE AB PARA OSCILADORES Sección 2 Unidad de cristal de cuarzo tipo AB-02
IS 8271 Pt.5/Sec.6-1988 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE 5 SERIE CX PARA OSCILADORES Sección 6 Unidad de cristal de cuarzo tipo CX-06
IS 8271 Pt.2/Sec.21-1985 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE 2 SERIE AA PARA OSCILADORES Sección 21 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-21
IS 8271 Pt.5/Sec.9-1989 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE 5 SERIE CX PARA OSCILADORES Sección 9 Unidad de cristal de cuarzo tipo CX-09
IS 8271 Pt.2/Sec.9-1982 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE Ⅱ SERIE AA PARA OSCILADORES Sección 9 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-09
IS 8271 Pt.4/Sec.4-1984 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE 4 SERIE AB PARA OSCILADORES Sección 4 Unidad de cristal de cuarzo tipo AB-04
IS 8271 Pt.6/Sec.3-1988 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE 6 SERIE BF PARA OSCILADORES Sección 3 Unidad de cristal de cuarzo tipo BF-03
IS 8271 Pt.5/Sec.7-1989
IS 8271 Pt.2/Sec.7-1982 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE Ⅱ SERIE AA PARA OSCILADORES Sección 7 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-07
IS 8271 Pt.4/Sec.3-1984 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE 4 SERfES AB PARA OSCILADORES Sección 3 Unidad de cristal de cuarzo tipo AB-03
IS 8271 Pt.3/Sec.4-1982 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE Ⅲ SERIE BC PARA OSCILADORES Sección 4 Unidad de cristal de cuarzo tipo BC-04
IS 8271 Pt.3/Sec.5-1982 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE Ⅲ SERIE BC PARA OSCILADORES Sección 5 Unidad de cristal de cuarzo tipo BC-05
IS 8271 Pt.5/Sec.17-1990 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA — ESPECIFICACIÓN PARTE 5 SERIE CX PARA OSCILADORES Sección 17 Unidad de cristal de cuarzo tipo CX-17
IS 8271 Pt.5/Sec.10-1989 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA — ESPECIFICACIÓN PARTE 5 SERIE CX PARA OSCILADORES Sección 10 Unidad de cristal de cuarzo tipo CX-10
IS 8271 Pt.5/Sec.13-1990 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA — ESPECIFICACIÓN PARTE 5 SERIE CX PARA OSCILADORES Sección 13 Unidad de cristal de cuarzo tipo CX-13
IS 8271 Pt.3/Sec.3-1982 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE Ⅲ SERIE BC PARA OSCILADORES Sección 3 Unidad de cristal de cuarzo tipo BC-03
IS 8271 Pt.6/Sec.6-1991 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA — ESPECIFICACIÓN PARTE 6 SERIE BF PARA OSCILADORES Sección 6 Unidad de cristal de cuarzo tipo BF-06
IS 8271 Pt.3/Sec.8-1982 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE Ⅲ SERIE BC PARA OSCILADORES Sección 8 Unidad de cristal de cuarzo tipo BC-08
IS 8271 Pt.2/Sec.13-1984 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE 2 SERIE AA PARA OSCILADORES Sección 13 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-13
IS 8271 Pt.3/Sec.1-1982 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE Ⅲ SERIE BC PARA OSCILADORES Sección 1 Unidad de cristal de cuarzo tipo BC-01
IS 8271 Pt.5/Sec.11-1990 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA — ESPECIFICACIÓN PARTE 5 SERIE CX PARA OSCILADORES Sección 11 Unidad de cristal Qutrtz tipo CX-11
IS 8271 Pt.2/Sec.11-1984 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE 2 SERIE AA PARA OSCILADORES Sección 11 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-11
IS 8271 Pt.2/Sec.14-1984 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE 2 SERIE AA PARA OSCILADORES Sección 14 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-14
IS 8271 Pt.6/Sec.5-1991
IS 8271 Pt.2/Sec.19-1985 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE 2 SERIE AA PARA OSCILADOR Sección 19 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-19
IS 8271 Pt.5/Sec.16-1990 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA — ESPECIFICACIÓN PARTE 5 SERIE CX PARA OSCILADORES Sección 16 Unidad de cristal de cuarzo tipo CX-16
IS 8271 Pt.2/Sec.15-1985 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE 2 SERIE AA PARA OSCILADORES Sección 15 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-15
IS 8271 Pt.2/Sec.20-1985 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE 2 SERIE AA PARA OSCILADORES Sección 20 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-20
IS 8271 Pt.2/Sec.17-1985 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE 2 SERIE AA PARA OSCILADORES Sección 17 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-17
IS 8271 Pt.5/Sec.15-1990 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA — ESPECIFICACIÓN PARTE 5 SERIE CX PARA OSCILADORES Sección 15 Unidad de cristal de cuarzo tipo CX-15
IS 8271 Pt.5/Sec.12-1990 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA — ESPECIFICACIÓN PARTE 5 SERIE CX PARA OSCILADORES Sección 12 Unidad de cristal de cuarzo tipo CX-12
IS 8271 Pt.2/Sec.12-1984 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE 2 SERIE AA PARA OSCILADORES Sección 12 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-12
IS 8271 Pt.5/Sec.14-1990 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA — ESPECIFICACIÓN PARTE 5 SERIE CX PARA OSCILADORES Sección 14 Unidad de cristal de cuarzo tipo CX-14
IS 8271 Pt.3/Sec.9-1982 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE Ⅲ SERIE BC PARA OSCILADORES Sección 9 Unidad de cristal de cuarzo tipo BC-09
IS 8271 Pt.3/Sec.2-1982 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE Ⅲ SERIE BC PARA OSCILADORES Sección 2 Unidad de cristal de cuarzo tipo BC-02
IS 8271 Pt.2/Sec.16-1985 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA PARTE 2 SERIE AA PARA OSCILADORES Sección 16 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-16
IS 8271 Pt.5/Sec.8-1989 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS PARA EL CONTROL Y SELECCIÓN DE FRECUENCIA ?ESPECIFICACIÓN PARTE 5 SERIE CX PARA OSCILADORES Sección 8 Unidad de cristal de cuarzo tipo CX-08

U.S. Military Regulations and Norms, Objetivo monocristal

ARMY MIL-PRF-3098/104 F-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR102/U
ARMY MIL-PRF-3098/105 H-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR103/U
ARMY MIL-PRF-3098/80 G-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR105/U
ARMY MIL-PRF-3098/88 H-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR112/U
ARMY MIL-PRF-3098/86 F-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR110/U
ARMY MIL-PRF-3098/82 E-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR106/U
ARMY MIL-PRF-3098/83 G-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR107/U
ARMY MIL-PRF-3098/89 E-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR113/U
ARMY MIL-PRF-3098/92 F-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR116/U
ARMY MIL-PRF-3098/100 E-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR123/U
ARMY MIL-PRF-3098/99 E-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR122/U
ARMY MIL-PRF-3098/108 E-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR128/U
ARMY MIL-PRF-3098/101 D-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR124/U
ARMY MIL-PRF-3098/113 E-2011 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR134/U
ARMY MIL-PRF-3098/115 E-2011 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR136/U
ARMY MIL-PRF-3098/116 E-2011 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR137/U
ARMY MIL-PRF-3098/120 E-2011 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR131/U
ARMY MIL-PRF-3098/132 E-2011 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR151/U
ARMY MIL-PRF-3098/137 D-2011 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR157/U
ARMY MIL-PRF-3098 K-2010 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
ARMY MIL-PRF-3098 K (1)-2011 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
ARMY MIL-PRF-3098 K (1) SUPP 1-2013 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA

Defense Logistics Agency, Objetivo monocristal

DLA MIL-PRF-3098/79 F-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR104/U
DLA MIL-PRF-3098/85 D-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR109/U
DLA MIL-PRF-3098/93 C-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR117/U
DLA MIL-PRF-3098/102 D-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR125/U
DLA MIL-PRF-3098/106 D-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR127/U
DLA MIL-PRF-3098/114 D-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR135/U
DLA MIL-PRF-3098/123 D-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR142/U
DLA MIL-PRF-3098/129 D-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR148/U
DLA QPL-3098-92-2008 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
DLA QPL-3098-93-2010 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
DLA QPL-3098-95-2010 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
DLA QPL-3098-97-2013 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
DLA QPL-3098-98-2013 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
DLA QPL-3098-99-2013 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
DLA SMD-5962-87711 REV A-2001 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, TTL, MULTIVIBRADOR MONOESTABLE DOBLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA MIL-M-38510/114 B VALID NOTICE 1-2008 MICROCIRCUITOS LINEALES, AMPLIFICADORES OPERACIONALES BI-FET, SILICIO MONOLÍTICO
DLA DSCC-DWG-94023 REV B-2007 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, MINIATURA, MONTAJE EN SUPERFICIE
DLA SMD-5962-87778 REV A-2001 MICROCIRCUITO, LINEAL, TRANSISTOR DE POTENCIA, SILICIO MONOLÍTICO
DLA MIL-M-38510/108 A VALID NOTICE 1-2008 Microcircuitos, lineales, matrices de transistores, silicio monolítico
DLA SMD-5962-87778 REV B-2011 MICROCIRCUITO, LINEAL, TRANSISTOR DE POTENCIA, SILICIO MONOLÍTICO
DLA MIL-M-38510/108 A VALID NOTICE 2-2013 Microcircuitos, lineales, matrices de transistores, silicio monolítico
DLA MIL-M-38510/314 C VALID NOTICE 1-2008 MICROCIRCUITOS DIGITALES, SCHOTTKY DE BAJA POTENCIA, TTL, MULTIVIBRADORES MONOESTABLES, SILICIO MONOLÍTICO
DLA DSCC-DWG-94024 REV B-2007 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, MINIATURA, MONTAJE EN CIRCUITO IMPRESO
DLA SMD-5962-89876 REV B-2002 MICROCIRCUITO, LINEAL, MATRIZ DE TRANSISTORES, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-90798-1992 MICROCIRCUITOS, DIGITALES, RÁPIDOS, CMOS, GENERADOR/CHECKERS DE PARIDAD IMPAR DUAL, COMPATIBLE CON TTL, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-85508 REV C-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY DE BAJA POTENCIA, TTL, MULTIPLEXOR, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-86708 REV A-2007 MICROCIRCUITO, DIGITAL, SCHOTTKY TTL DE BAJA CONSUMO, REGISTRO DE ALTA VELOCIDAD, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-87777 REV B-2001 MICROCIRCUITO, LINEAL, MATRICES DE TRANSISTORES/PAR EMPAREJADO, SILICIO MONOLÍTICO
DLA MIL-S-19500/425 VALID NOTICE 3-2011 Dispositivo semiconductor, transistor, PN, silicio, unión unida JAN2N5431 y JANTX2N5431
DLA SMD-5962-97553 REV A-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, TTL, MULTIVIBRADOR MONOESTABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89669 REV A-2001 MICROCIRCUITO, LINEAL, QUAD, SPST JFET, INTERRUPTOR ANALÓGICO, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-86075 REV C-2007 MICROCIRCUITO, DIGITAL, SCHOTTKY TTL AVANZADO, CAMBIO, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-90889 REV C-2008 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS BIPOLAR, PUERTA BUFFER DE BUS CUÁDRUPLE, COMPATIBLE CON TTL, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-87595 REV B-2001 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO, TRANSCEPTOR DE BUS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-86069-1986 MICROCIRCUITO, DIGITAL, SCHOTTKY TTL AVANZADO, COMPARADOR DE MAGNITUD, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-86710 REV B-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, AVANZADO, SCHOTTKY TTL, UNIDAD LÓGICA ARITMÉTICA, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-90781 REV B-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY AVANZADO, TTL, BUFFER, TRES ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-86872 REV B-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, SCHOTTKY TTL AVANZADO, NAND BUFFER, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-87517 REV B-2001
DLA MIL-S-19500/425 VALID NOTICE 2-2004 DISPOSITIVO SEMICONDUCTOR, TRANSISTOR, PN, SILICIO, UNIJUNCIÓN JAN2N5431 Y JANTX2N5431
DLA SMD-5962-94749 REV B-2001 MICROCIRCUITO, LINEAL, FRECUENCIA ULTRA ALTA, DISTRIBUCIÓN DE TRANSISTORES TODO NPN, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-88664 REV A-2002 MICROCIRCUITO, LINEAL, ALTA CORRIENTE, MATRIZ DE TRANSISTORES NPN, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-85126 REV C-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, BUFFERS, SILICIO MONOLÍTICO

工业和信息化部, Objetivo monocristal

JC/T 2417-2017 Material monocristalino piezoeléctrico de tetraborato de litio
YS/T 1182-2016 Especificaciones de producción de seguridad de monocristal de germanio.
YB/T 4589-2017 Materiales compuestos de carbono/carbono para aislamiento de hornos monocristalinos
YB/T 4587-2017 Elemento calefactor compuesto de carbono/carbono para horno monocristalino
YB/T 4588-2017 Estructura de placa de carbono/materiales compuestos de carbono para hornos monocristalinos.
JC/T 2545-2019 Monocristal piroeléctrico para detectores infrarrojos de alto rendimiento

IEC - International Electrotechnical Commission, Objetivo monocristal

IEC 61747-20-1:2015 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 20-1: Inspección visual - Celdas de visualización de cristal líquido monocromáticas (excluidas todas las celdas de visualización de cristal líquido de matriz activa) (Edición 1.0)
PAS 62276-2001 Obleas monocristalinas aplicadas a dispositivos de ondas acústicas de superficie: especificación y método de medición (Edición 1.0)
PAS 62277-2001 Accesorio de prueba de unidades de cristal de cuarzo de montaje en superficie (Edición 1.0;)

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Objetivo monocristal

KS D 2715-2006 Muestra de tracción de materiales de película nano/microcristalina monocristalina y policristalina
KS C IEC 60122-4:2022 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Unidades de cristal con termistores.
KS D 2715-2017 Muestra de tracción de materiales de película nano/microcristalina monocristalina y policristalina
KS C IEC 61747-20-1-2015(2020) DISPOSITIVOS DE PANTALLA DE CRISTAL LÍQUIDO ― Parte 20-3: Inspección visual ― Celdas de pantalla LCD monocromáticas (excluidas todas las celdas de cristal líquido de matriz activa)
KS C 7110-2007(2017) Dispositivos de visualización de cristal líquido－Métodos de medición de la unidad de retroiluminación para pantallas de cristal líquido
KS C IEC 61747-20-1:2015 DISPOSITIVOS DE PANTALLA DE CRISTAL LÍQUIDO ― Parte 20-3: Inspección visual ― Celdas de pantalla LCD monocromáticas (excluidas todas las celdas de cristal líquido de matriz activa)
KS C 7110-2007(2022) Dispositivos de visualización de cristal líquido－Métodos de medición de la unidad de retroiluminación para pantallas de cristal líquido
KS D 0070-2002 Método de prueba de propiedades magnéticas de metales amorfos utilizando una muestra de una sola hoja.
KS C 6503-1999(2009) UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA OSCILADORES
KS C IEC 61747-3-2002(2017) Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido－Parte 3: Especificación seccional de celdas de pantalla de cristal líquido (LCD)
KS C IEC 61747-3-2002(2022) Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido－Parte 3: Especificación seccional de celdas de pantalla de cristal líquido (LCD)
KS C 6508-1990(2010) Unidades de cristal de cuarzo para osciladores (para 200∼1000kHz)
KS C IEC 61747-3-1-2002(2017) Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido. Parte 3-1: Celdas de pantalla de cristal líquido (LCD). Especificación detallada en blanco.
KS C IEC 61747-3-1-2002(2022) Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido - Parte 3-1: Celdas de pantalla de cristal líquido (LCD) - Especificación detallada en blanco
KS D 0070-2002(2022) Método de prueba de propiedades magnéticas de metales amorfos utilizando una muestra de una sola hoja.
KS D 2715-2006(2011) Muestra de tracción de materiales de película nano/microcristalina monocristalina y policristalina
KS D 0260-1999 MÉTODOS DE PRUEBA DE RESISTIVIDAD PARA OBLEAS DE SILICIO DE CRISTAL ÚNICO CON SONDA DE CUATRO PUNTOS

CEN - European Committee for Standardization, Objetivo monocristal

EN IEC 60122-4:2019 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 4: Unidades de cristal con termistores

KR-KS, Objetivo monocristal

KS C IEC 60122-4-2022 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Unidades de cristal con termistores.
KS C IEC 61080-2018(2023) Guía para la medición de parámetros eléctricos equivalentes de unidades de cristal de cuarzo.

German Institute for Standardization, Objetivo monocristal

DIN EN IEC 60122-4:2019-10 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Unidades de cristal con termistores (IEC 60122-4:2019); Versión alemana EN IEC 60122-4:2019
DIN EN 60444-9:2007-12 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 9: Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico (IEC 60444-9:2007); Versión alemana EN 60444-9:2007
DIN EN 60444-8:2017-11 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie (IEC 60444-8:2016); Versión alemana EN 60444-8:2017 / Nota: DIN EN 60444-8 (2004-03) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 19 de enero de 2020.
DIN EN 60444-7:2004-11 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 7: Medición de la actividad y caídas de frecuencia de unidades de cristal de cuarzo (IEC 60444-7:2004); Versión alemana EN 60444-7:2004
DIN EN IEC 62276:2023-05 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición (IEC 49/1401/CD:2022); Texto en alemán e inglés / Nota: Fecha de emisión 2023-04-28*Destinado a sustituir a DIN EN 62276 (2017-08).
DIN EN 62276:2017-08 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW): especificaciones y métodos de medición (IEC 62276:2016); Versión alemana EN 62276:2016 / Nota: DIN EN 62276 (2013-08) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 28-11-2019.
DIN EN 120007:1993-06 Especificación detallada en blanco: Pantallas de cristal líquido; LCD monocromáticos sin circuito electrónico; Versión alemana EN 120007:1992
DIN EN 120007:1993 Especificación detallada en blanco: Pantallas de cristal líquido; LCD monocromáticos sin circuito electrónico; Versión alemana EN 120007:1992
DIN 50431:1988 Pruebas de materiales semiconductores; Medición de la resistividad de monocristales de silicio o germanio mediante el método de cuatro sondas/corriente continua con matriz colineal.
DIN EN 61747-4:2013-07 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 4: Módulos y celdas de visualización de cristal líquido. Clasificaciones y características esenciales (IEC 61747-4:2012); Versión alemana EN 61747-4:2012 / Nota: DIN EN 61747-4 (1999-07) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 20...
DIN EN 168101:1992-09 Especificación detallada en blanco; unidades de cristal de cuarzo (aprobación de capacidad); Versión alemana EN 168101:1992
DIN V VDE V 0126-18-3:2007 Obleas solares - Parte 3: Daño por corrosión alcalina de obleas de silicio cristalino - Método para determinar la velocidad de corrosión de obleas de silicio mono y multicristalinas (tal como se cortan)

British Standards Institution (BSI), Objetivo monocristal

13/30276532 DC BS EN 61747-20-1. Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 20-1. Inspección visual. Celdas de visualización de cristal líquido monocromáticas (excluidas todas las celdas de visualización de cristal líquido de matriz activa)
BS EN 61747-2-1:1998 Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido. Módulos LCD monocromáticos de matriz pasiva. Especificación de detalle en blanco
BS EN 61747-2-1:2013 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Módulos LCD monocromáticos de matriz pasiva. Especificación de detalle en blanco
14/30277702 DC BS EN 61747-3. Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 3. Celdas de pantalla de cristal líquido (LCD). Especificación seccional
BS EN 61747-2-1:2001 Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido - Módulos LCD monocromáticos de matriz pasiva - Especificación detallada en blanco
23/30468947 DC BS EN 62276. Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW). Especificaciones y métodos de medición.
BS EN 60444-2:1997 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Método de compensación de fase para medir la capacitancia de movimiento de unidades de cristal de cuarzo.
14/30300376 DC BS EN 61747-3-1. Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 3-1. Celdas de pantalla de cristal líquido (LCD). Especificación de detalle en blanco

International Electrotechnical Commission (IEC), Objetivo monocristal

IEC 60122-4:2019 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 4: Unidades de cristal con termistores
IEC 61747-3:2015 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 3: Celdas de visualización de cristal líquido (LCD) - Especificación seccional
IEC 61747-2-1:2013 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 2-1: Módulos LCD monocromáticos de matriz pasiva - Especificación detallada en blanco
IEC 61747-20-2:2015 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 20-2: Inspección visual. Módulos de visualización de cristal líquido de matriz monocromática (excluidos todos los módulos de visualización de cristal líquido de matriz activa).

Jiangxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Objetivo monocristal

DB36/ 771-2013 Cuota de consumo de energía por unidad de producto de silicio monocristalino de Czochralski
DB36/ 652-2012 La norma de consumo de energía por unidad de producto de polisilicio.

Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, Objetivo monocristal

DB15/T 2234-2021 Cuota de consumo de energía por unidad de producto de silicio monocristalino de Czochralski

SE-SIS, Objetivo monocristal

SIS SEN 43 60 01-1964 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores.
SIS SS-CECC 68000-1991 Especificación genérica: unidades de cristal de cuarzo.
SIS SS-CECC 68100-1991 Especificación seccional: Unidades de cristal de cuarzo (aprobación de capacidad)
SIS SS-CECC 68200-1991 Especificación seccional: Unidades de cristal de cuarzo (Aprobación de calificación)
SIS SS-CECC 68201-1991 Especificación detallada en blanco: Crystalun/ts de cuarzo (aprobación de calificación)
SIS SS-CECC 68101-1991 Especificación detallada en blanco: Unidades de cristal de cuarzo (aprobación de capacidad)

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Objetivo monocristal

JJG 48-2004 Rebanada estándar de resistividad de silicio monocristalino
JJG 48-1990 Regulación de verificación de la rebanada estándar de resistividad de silicio monocristalino

Professional Standard - Building Materials, Objetivo monocristal

JC/T 1048-2007 Crisoles de cuarzo fundido para el crecimiento de silicio monocristalino
JC/T 1048-2018 Crisol de cuarzo para crecimiento de silicio monocristalino.
JC/T 2025-2010 Monocristales piezoeléctricos de titanato de niobato de magnesio y plomo (PMNT)
JC/T 2343-2015 Tubo de alúmina monocristalino preparado mediante crecimiento de cristal alimentado con película de borde definido
JC/T 2139-2012 Monocristal de paratelurito de alta pureza para física nuclear

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Objetivo monocristal

YB 1603-1983 Discos de corte y desbaste monocristalinos de silicio

机械电子工业部, Objetivo monocristal

JB 5203-1991 Método de análisis químico de corindón monocristalino.

American National Standards Institute （ANSI), Objetivo monocristal

ANSI/ASTM D6058:2001 Práctica para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral
ANSI/ASTM D6057:2001 Método de prueba para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía de contraste de fases
ANSI/ASTM D6059:2001 Método de prueba para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido
ANSI/ASTM D6056:2001 Método de prueba para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de transmisión

Association Francaise de Normalisation, Objetivo monocristal

NF C93-616:2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW): especificaciones y métodos de medición
NF EN 61747-3:2007 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 3: celdas de visualización de cristal líquido (LCD). Especificación intermedia.
NF C93-616*NF EN 62276:2018 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición
NF EN 61747-3-1:2006 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 3-1: Celdas de visualización de cristal líquido (LCD) - Marco de especificaciones particulares
NF EN 61747-4:2013 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 4: módulos y celdas de visualización de cristal líquido - Valores límite y características esenciales
NF C93-547-2-1*NF EN 61747-2-1:2013 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 2-1: módulos LCD monocromáticos de matriz pasiva - Especificación detallada en blanco
NF C93-616:2006 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Objetivo monocristal

JIS C 6760:2014 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW). Especificaciones y métodos de medición.
JIS H 0612:1975 Métodos de prueba de resistividad para obleas de silicio monocristalino con sonda de cuatro puntos
JIS C 6701:2021 Especificación genérica y métodos de prueba de unidades de cristal de cuarzo.

Danish Standards Foundation, Objetivo monocristal

DS/EN 60444-9:2007
DS/EN 61747-3:2007
DS/EN 62276:2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición
DS/EN 61747-3-1:2007
DS/EN 61747-4:2013 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 4: Módulos y celdas de visualización de cristal líquido. Clasificaciones y características esenciales.

Association of German Mechanical Engineers, Objetivo monocristal

VDI/VDE 5575 Blatt 8-2013 Sistemas ópticos de rayos X - Cristales monocromadores

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Objetivo monocristal

DB31/ 792-2014 Norma de consumo de energía por unidad de producto para silicio monocristalino y obleas de silicio.
DB31/T 792-2014 Cuota de consumo de energía por unidad de producto de monocristal de silicio y su oblea de silicio
DB31/ 792-2020 Cuota de consumo de energía por unidad de producto de monocristal de silicio y su oblea de silicio

Professional Standard - Aviation, Objetivo monocristal

HB 6742-1993 Determinación de la orientación del cristal de láminas de cristal único mediante fotografía Laue con retrosoplado de rayos X
HB 7762-2005 Especificación para aleaciones maestras de superaleaciones monocristalinas y solidificadas direccionalmente para motores de aviación

Professional Standard - Agriculture, Objetivo monocristal

1027药典化学药和生物制品卷-2010 Capítulo 12 Fármacos antineoplásicos Sección 3 Terapia biológica dirigida Bevacizumab
1025药典化学药和生物制品卷-2010 Capítulo 12 Fármacos antineoplásicos Sección 3 Fármaco de terapia biológica dirigida Rituximab
1023药典化学药和生物制品卷-2010 Capítulo 12 Fármacos antineoplásicos Sección 3 Terapia biológica dirigida Trastuzumab
1024药典化学药和生物制品卷-2010 Capítulo 12 Fármacos antineoplásicos Sección 3 Terapia biológica dirigida Nimotuzumab
1026药典化学药和生物制品卷-2010 Capítulo 12 Fármacos antineoplásicos Sección 3 Fármaco de terapia biológica dirigida Cetuximab

Lithuanian Standards Office , Objetivo monocristal

LST EN 60444-9-2007 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 9: Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico (IEC 60444-9:2007)
LST EN 61747-3-2007 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 3: Celdas de visualización de cristal líquido (LCD). Especificación seccional (IEC 61747-3:2006).
LST EN 60444-8-2004 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie (IEC 60444-8:2003)
LST EN 60444-7-2004 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 7: Medición de actividad y caídas de frecuencia de unidades de cristal de cuarzo (IEC 60444-7:2004)
LST EN 120007-2001 Especificación detallada en blanco. Pantallas de cristal líquido. LCD monocromáticos sin circuito electrónico
LST EN 62276-2006 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW). Especificaciones y métodos de medición (IEC 62276:2005)
LST EN 62276-2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW): especificaciones y métodos de medición (IEC 62276:2012)
LST EN 61747-3-1-2007 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 3-1: Celdas de visualización de cristal líquido (LCD). Especificación detallada en blanco (IEC 61747-3-1:2006)

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Objetivo monocristal

JJF 1256-2010 Especificación de calibración para equipos de orientación de monocristales de rayos X
JJF 1760-2019 Especificación de calibración para cortes estándar de resistividad de silicio monocristalino

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Objetivo monocristal

DB61/T 512-2011 Normas de inspección para obleas de silicio monocristalino para células solares
DB61/T 511-2011 Normas de inspección para varillas de silicio monocristalino para células solares.

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Objetivo monocristal

EN 62276:2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Objetivo monocristal

EN 62276:2016 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición
EN 61747-4:2012 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 4: Módulos y celdas de visualización de cristal líquido. Clasificaciones y características esenciales.

IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components, Objetivo monocristal

QC 720200-1998 Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido - Parte 3: Especificación seccional para celdas de visualización de cristal líquido (LCD)

American Society for Testing and Materials (ASTM), Objetivo monocristal

ASTM F847-94(1999) Métodos de prueba estándar para medir la orientación cristalográfica de planos en obleas de silicio monocristalino mediante técnicas de rayos X
ASTM D6058-96(2011) Práctica estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral
ASTM D6058-96(2016)
ASTM D3942-03(2008) Método de prueba estándar para determinar la dimensión de la celda unitaria de una zeolita tipo faujasita
ASTM D3942-03 Método de prueba estándar para determinar la dimensión de la celda unitaria de una zeolita tipo faujasita
ASTM D3942-97 Método de prueba estándar para determinar la dimensión de la celda unitaria de una zeolita tipo faujasita

CZ-CSN, Objetivo monocristal

CSN 35 8490 Z1-1996 Piezoelektrické krystalové jednotky pro oscilatory a filtry

European Standard for Electrical and Electronic Components, Objetivo monocristal

EN 150012:1991 Especificación detallada en blanco: transistores de efecto de campo de puerta única

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Objetivo monocristal

CNS 11364-1985 Método para determinar la dimensión de la celda unitaria de una zeolita tipo faujasita

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Objetivo monocristal

GJB 5971-2007 Especificación para filtros de cristal de cuarzo monolíticos de paso de banda de 1OMH~100MHz

Beijing Provincial Standard of the People's Republic of China, Objetivo monocristal

DB11/T 982-2013 Cuotas de consumo de energía por unidad de producto de pantallas de cristal líquido
DB11/T 982-2022 Cuotas de consumo de energía por unidad de producto de dispositivos de visualización de cristal líquido

Sichuan Provincial Standard of the People's Republic of China, Objetivo monocristal

DB51/T 2499-2018 Juicio de denominación y calificación del tratamiento de relleno de gemas monocristalinas

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Objetivo monocristal

DB35/T 1118-2011 Componentes monocristalinos ópticos no lineales del fosfato de titanilo del potasio Anti-incineración