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Monocristal+

Monocristal+, Total: 332 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Monocristal+ son: Materiales semiconductores, Metales no ferrosos, Hornos industriales, Papel y cartón, Fluidos aislantes, Vocabularios, Productos de metales no ferrosos., Componentes y accesorios para equipos de telecomunicaciones., Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos., Pilas y baterías galvánicas., Herramientas de corte, Herramientas de máquina, Metalurgia de polvos, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, Productos de hierro y acero., Instalaciones en edificios, pruebas de metales, ingeniería de energía solar, Comunicaciones de fibra óptica., Dispositivos semiconductores, Productos de la industria química., Ingeniería de energía y transferencia de calor en general., Óptica y medidas ópticas., ingeniería de energía nuclear, Materiales para el refuerzo de composites., Circuitos integrados. Microelectrónica, Cerámica, Optoelectrónica. Equipo láser, GENERALIDADES. TERMINOLOGÍA. ESTANDARIZACIÓN. DOCUMENTACIÓN, Equipo óptico, Materiales conductores, Joyería, Terminología (principios y coordinación), Calidad del aire, Elementos de edificios., Componentes para equipos eléctricos., Mediciones de radiación, Física. Química, Vaso, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Lámparas y equipos relacionados., Componentes electrónicos en general..


国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Monocristal+

  • GB/T 5238-2019 Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
  • GB/T 20230-2022 Monocristal de fosfuro de indio
  • GB/T 20229-2022 Monocristal de fosfuro de galio
  • GB/T 20228-2021 Monocristal de arseniuro de galio
  • GB/T 12964-2018 Obleas pulidas de silicio monocristalino
  • GB/T 26069-2022 Obleas de silicio monocristalino recocido
  • GB/T 25076-2018 Silicio monocristalino para células solares.
  • GB/T 12965-2018 Silicio monocristalino en forma de obleas cortadas y obleas lapeadas
  • GB/T 26071-2018 Obleas de silicio monocristalino para células solares
  • GB/T 39137-2020 Determinación de la orientación de un monocristal de metal refractario.
  • GB/T 37418-2019 Oxiortosilicato de lutecio, monocristales de centelleo de oxiortosilicato de lutecio-itrio
  • GB/T 11094-2020 Monocristal de arseniuro de galio y oblea de corte cultivada mediante el método Bridgman horizontal
  • GB/T 5252-2020 Método de prueba para la densidad de dislocación del germanio monocristalino.
  • GB/T 8760-2020 Método de prueba para la densidad de dislocación del arseniuro de galio monocristalino
  • GB/T 41325-2022 Obleas de silicio monocristalino pulidas con origen cristalino de baja densidad para circuitos integrados
  • GB/T 39123-2020 Especificación para material monocristalino de telururo de cadmio-zinc para detectores de rayos X y rayos γ
  • GB/T 1551-2021 Método de prueba para medir la resistividad del silicio monocristalino: método de sonda de cuatro puntos en línea y método de sonda de dos puntos de corriente continua
  • GB/T 41153-2021 Determinación del contenido de impurezas de boro, aluminio y nitrógeno en un monocristal de carburo de silicio: espectrometría de masas de iones secundarios

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Monocristal+

  • GB/T 5238-2009 Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
  • GB/T 5238-2009(英文版) Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
  • GB/T 12962-1996 silicio monocristalino
  • GB/T 12962-2005 Silicio monocristalino
  • GB/T 5238-1995
  • GB/T 12962-2015 monocristal de silicio
  • GB/T 15713-1995 Rodajas de germanio monocristalino.
  • GB/T 29504-2013 Silicio monocristalino de 300 mm.
  • GB/T 20229-2006 Cristal de señal de fosfuro de galio
  • GB/T 20230-2006 Cristal de señal de fosfuro de indio
  • GB/T 20228-2006 Monocristal de arseniuro de galio
  • GB/T 14843-1993 Monocristales de niobato de litio
  • GB/T 31092-2014 Lingote de zafiro monocristalino
  • GB/T 31092-2022 Barra de zafiro monocristalino
  • GB/T 12964-2003 Obleas pulidas de silicio monocristalino
  • GB/T 29506-2013 Obleas de silicio monocristalino pulido de 300 mm
  • GB/T 30656-2014 Obleas de carburo de silicio monocristalino pulido
  • GB/T 25076-2010 Silicio monocristalino de célula solar.
  • GB/T 30656-2023 Oblea pulida de un solo cristal de carburo de silicio
  • GB/T 26072-2010 Célula solar monocristal de germanio
  • GB/T 1555-1997 Métodos de prueba para determinar la orientación de un monocristal semiconductor.
  • GB/T 11072-1989 Policristal de antimonuro de indio, monocristales y rodajas cortadas
  • GB/T 11072-2009 Policristal de antimonuro de indio, cristales individuales y rodajas cortadas
  • GB/T 1555-2023 Método para determinar la orientación cristalina de un monocristal semiconductor
  • GB/T 1555-2009 Métodos de prueba para determinar la orientación de un monocristal semiconductor.
  • GB/T 12965-1996 Silicio monocristalino en forma de rodajas cortadas y rodajas traslapadas
  • GB/T 12965-2005 Rebanadas cortadas de silicio monocristalino y rebanadas traslapadas
  • GB/T 12632-1990 Especificaciones generales de células solares individuales de silicio.
  • GB/T 1551-2009 Método de prueba para medir la resistividad del silicio monocristal.
  • GB/T 26065-2010 Especificación para obleas de silicio de prueba pulidas
  • GB/T 30858-2014 Producto de sustrato de zafiro monocristalino pulido
  • GB/T 13843-1992 Sustratos de zafiro monocristalino pulido
  • GB/T 25075-2010 Monocristal de arseniuro de galio para células solares
  • GB/T 29420-2012 Dispositivos de cristal láser de vanadato dopado con Nd
  • GB/T 29508-2013 Silicio monocristalino de 300 mm en rodajas cortadas y trituradas
  • GB/T 34213-2023 Alúmina de alta pureza para monocristal de zafiro
  • GB/T 11094-2007 Oblea de corte y cristal único de arseniuro de galio cultivado en Bridgman horizontal
  • GB/T 26071-2010 Silicio monocristalino en rodajas para células solares fotovoltaicas
  • GB/T 29421-2012 Dispositivos de cristal birrebringente de vanadato
  • GB/T 11094-1989 Monocristales de arseniuro de galio cultivados en barcos y rodajas cortadas
  • GB/T 9532-2012 Designaciones para cristales piezoeléctricos
  • GB/T 30866-2014 Método de prueba para medir el diámetro de obleas de carburo de silicio monocristalino.
  • GB/T 18032-2000 El método de inspección del defecto microscópico AB en monocristal de arseniuro de galio
  • GB/T 32278-2015 Método de prueba para determinar la planitud de una oblea única de carburo de silicio
  • GB/T 5252-1985 Monocristal de germanio: inspección de la densidad de las picaduras de grabado por dislocación
  • GB/T 11093-1989 Monocristales de arseniuro de galio cultivados en czochralski encapsulados en líquido y rodajas cortadas en forma de As
  • GB/T 5252-2006 Monocristal de germanio. Inspección de la densidad de las fosas de grabado por dislocación
  • GB/T 8760-2006 Determinación de la densidad de dislocaciones en monocristal de arseniuro de galio
  • GB/T 11093-2007 Monocristales de arseniuro de galio cultivados en czochralski encapsulados en líquido y rodajas cortadas
  • GB/T 26044-2010 Alambre de cobre redondo monocristalino y material de trefilado para transmisión de señal
  • GB 8760-1988 Monocristal de arseniuro de galio-Determinación de la densidad de dislocaciones
  • GB/T 41765-2022 Método de prueba para la densidad de dislocaciones de carburo de silicio monocristalino.
  • GB/T 8760-1988 Monocristal de arseniuro de galio: determinación de la densidad de dislocaciones
  • GB/T 1552-1995 Método de prueba para medir la resistividad de silicio monocristalino y germanio con una matriz colineal de cuatro sondas
  • GB/T 1551-1995
  • GB/T 26074-2010 Monocristal de germanio.Medición de resistividad-Sonda lineal de cuatro puntos DC
  • GB/T 41751-2022 Método de prueba para determinar el radio de curvatura del plano cristalino en obleas de sustrato monocristalino de GaN
  • GB/T 42676-2023 Método de difracción de rayos X para probar la calidad del monocristal semiconductor
  • GB/T 15250-1994 Método de prueba para la atenuación masiva de ondas acústicas de cristales piezoeléctricos de niobato de litio.
  • GB/T 30118-2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW). Especificaciones y métodos de medición
  • GB/T 10067.410-2014 Especificaciones básicas para instalaciones de electrocalentamiento.Parte 410: Horno de cultivo monocristalino.
  • GB/T 30839.46-2015 Clasificación del consumo energético de instalaciones industriales de electrocalentamiento. Parte 46: Hornos de cultivo de cristales.
  • GB/T 42263-2022 Determinación del contenido de nitrógeno en monocristal de silicio: método de espectrometría de masas de iones secundarios
  • GB/T 30867-2014 Método de prueba para medir el espesor y la variación total del espesor de obleas de carburo de silicio monocristalino.
  • GB/T 31351-2014 Método de prueba no destructivo para determinar la densidad de microtubos de obleas de carburo de silicio monocristalino pulidas
  • GB/T 11297.7-1989 Método de prueba de resistividad y coeficiente Hall en monocristales de InSb
  • GB/T 22452-2008 Estado técnico general de los dispositivos ópticos de cristal de borato no lineales.
  • GB/T 22453-2008 Método de medición de dispositivos de cristal de borato óptico no lineal
  • GB/T 24574-2009 Métodos de prueba para el análisis de fotoluminiscencia de silicio monocristalino para impurezas Ⅲ-Ⅴ
  • GB 11297.7-1989 Método de prueba para la resistividad y el coeficiente Hall del monocristal de InSb
  • GB/T 30868-2014 Método de prueba para medir la densidad de microtubos de obleas de carburo de silicio monocristalino. Grabado químico
  • GB/T 42271-2022 Método de prueba de resistividad de carburo de silicio monocristalino semiaislante mediante medición sin contacto
  • GB/T 11297.6-1989 Método estándar para mostrar y medir los hoyos de grabado de dislocación en un monocristal de antimonuro de indio
  • GB/T 13389-1992 Práctica para la conversión entre resistividad y densidad dopante para silicio dopado con boro y fósforo
  • GB/T 32282-2015 Medición de la densidad de dislocación en monocristal de nitruro de galio mediante microscopía de catodoluminiscencia
  • GB/T 19199-2015 Métodos de prueba para la concentración de aceptores de carbono en monocristales semiaislantes de arseniuro de galio mediante espectroscopia de absorción infrarroja
  • GB/T 19199-2003 Método de prueba para la concentración de carbono de arseniuro de galio monocristalino semiaislante mediante medición del método de absorción infrarroja
  • GB/T 32188-2015 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de la curva de oscilación de rayos X de cristal doble del sustrato de cristal único de GaN
  • GB/T 13389-2014 Práctica para la conversión entre resistividad y densidad dopante para silicio dopado con boro, fósforo y arsénico
  • GB/T 4326-1984 Monocristales semiconductores extrínsecos: medición de la movilidad de Hall y del coeficiente de Hall
  • GB/T 4326-2006 Medición de monocristales semiconductores extrínsecos de movilidad Hall y coeficiente Hall
  • GB 4326-1984 Monocristales semiconductores extrínsecos: medición de la movilidad de Hall y el coeficiente de Hall
  • GB/T 32189-2015 Examen de microscopía de fuerza atómica de la rugosidad de la superficie del sustrato monocristalino de nitruro de galio
  • GB/T 17170-2015
  • GB/T 35306-2023 Determinación del contenido de carbono y oxígeno en espectroscopia infrarroja por transformada de Fourier de baja temperatura de monocristal de silicio
  • GB/T 13066-1991 Especificación detallada en blanco para transistores unijunction
  • GB/T 9532-1988 Designaciones para cristales piezoeléctricos LiNbO3, LiTaO3, Bi12GeO20, Bi12SiO20

Professional Standard - Machinery, Monocristal+

UNKNOWN, Monocristal+

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, Monocristal+

  • DB13/T 1314-2010 Varilla cuadrada de silicio monocristalino de grado solar, oblea de silicio monocristalino
  • DB13/T 1828-2013 Oblea de silicio monocristalino de grado solar
  • DB13/T 5092-2019 Requisitos técnicos generales para cristales semilla cuadrados para lingotes de silicio monocristalino de grado solar
  • DB13/T 5631-2022 Especificaciones técnicas para la producción de crisoles de cuarzo para el crecimiento de silicio monocristalino para materiales electrónicos.

Group Standards of the People's Republic of China, Monocristal+

  • T/ZSA 72-2019 Carburo de silicio monocristalino
  • T/IAWBS 001-2021 Monocristal de carburo de silicio
  • T/ZZB 1389-2019 Células fotovoltaicas de silicio monocristalino
  • T/ZZB 2675-2022 Silicio monocristalino como obleas lapeadas para TVS
  • T/ZZB 0044-2016 Hornos de cultivo de cristales serie TDR
  • T/ZZB 1927-2020 Máquina automática de corte de monosilicio
  • T/JSAS 015-2021 Células solares de silicio monocristalino
  • T/GZHG 006-2019 Óxido de manganeso, litio, cobalto, níquel monocristalino grande (NCM523)
  • T/ZZB 0497-2018 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie
  • T/CISA 167-2021 Aleación maestra de superaleación monocristalina DD419
  • T/HEBQIA 073-2022 Imanes superconductores de silicio monocristalino de Czochralski
  • T/CISA 086-2021 Aleación maestra de superaleación de cristal único DD405
  • T/SZBX 118-2023 Obleas de silicio monocristalino para células solares
  • T/CASME 465-2023 Texturizador sin IPA para monosilicio
  • T/IAWBS 005-2018 Obleas de carburo de silicio monocristalino pulido de 6 pulgadas
  • T/CEC 290-2019 Requisitos técnicos para la oblea de cristal único de contacto posterior
  • T/CEMIA 004-2018 Crisoles de cuarzo para el crecimiento de silicio monocristalino en la industria fotovoltaica
  • T/CEMIA 023-2021 Crisol de cuarzo para crecimiento de monosilicio semiconductor.
  • T/CECA 69-2022 Sustratos de película delgada monocristalinos para dispositivos SAW
  • T/ZZB 0648-2018 Obleas pulidas de silicio Czochralski monocristalino fuertemente dopadas con fósforo de 200 mm
  • T/NXCL 017-2022 Obleas pulidas de silicio Czochralski monocristalino fuertemente dopadas con fósforo de 300 mm
  • T/NXCL 016-2022 Oblea pulida de silicio Czochralski monocristalino fuertemente dopada con antimonio de 200 mm
  • T/CSTM 00033-2020 Términos de monocristales ópticos inorgánicos para la detección de radiación nuclear.
  • T/CEMIA 005-2018 Prácticas de fabricación de crisoles de cuarzo para el crecimiento de silicio monocristalino fotovoltaico
  • T/ZZB 2283-2021 Polvo de grafito de pureza ultraalta para cristal semiconductor de carburo de silicio
  • T/ICMTIA SM0027-2022 Oblea pulida de cristal único de silicio tipo P de 300 mm para tecnología de memoria avanzada
  • T/IAWBS 014-2021 Método de prueba para determinar la densidad de dislocaciones de obleas pulidas de carburo de silicio
  • T/CEMIA 024-2021 Prácticas de fabricación de crisoles de cuarzo para el crecimiento del monosilicio semiconductor
  • T/IAWBS 018-2022 Método de prueba para determinar la densidad de dislocación de obleas pulidas de monocristal de diamante
  • T/STSI 7-2020 Módulos fotovoltaicos utilizados en la construcción: requisitos técnicos generales para componentes monocristalinos en forma de U
  • T/IAWBS 013-2019 El método de medición de la resistividad para un sustrato de carburo de silicio semiaislante.
  • T/ZZB 2407-2021 Hidróxido compuesto de níquel, cobalto y manganeso aplicado en material de cátodo monocristalino
  • T/IAWBS 017-2022 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de curva de oscilación de rayos X de cristal doble de sustrato de cristal único de diamante
  • T/IAWBS 015-2021 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de la curva de oscilación de rayos X de cristal doble del sustrato de cristal único de Ga2O3
  • T/IAWBS 016-2022 Método de prueba FWHM de curva oscilante de doble cristal de rayos X para oblea única de carburo de silicio
  • T/CAB 0181-2022 Los métodos de medición de los parámetros característicos de los centelleadores LYSO y LSO.
  • T/CNIA 0101-2021 Especificación técnica para la evaluación de productos de diseño ecológico Oblea pulida de carburo de silicio monocristalino
  • T/IAWBS 011-2019 Métodos de prueba para medir la resistividad de obleas conductoras de carburo de silicio con un medidor de corrientes parásitas sin contacto
  • T/ZJSEIA 004-2022 Película adhesiva de copolímero de etileno-acetato de vinilo (EVA) para módulos fotovoltaicos de silicio monocristalino
  • T/CECA 83-2023 Obleas monocristalinas reducidas de tantalato de litio y niobato de litio: requisitos técnicos y métodos de medición de la luminosidad y la diferencia de color

Professional Standard - Light Industry, Monocristal+

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Monocristal+

  • YS/T 554-2007 Monocristales de niobato de litio
  • YS/T 42-2010 Monocristales de tantalato de litio
  • YS/T 554-2006 Monocristal de niobato de litio
  • YS/T 1167-2016 Obleas grabadas de silicio monocristalino
  • YS 783-2012 La norma de consumo de energía por unidad de producto de monocristal de germanio infrarrojo.
  • YS/T 978-2014 Escudo guía de compuestos de carbono/carbono de horno monocristalino
  • YS/T 977-2014 Cilindro de aislamiento térmico de compuestos de carbono/carbono de horno monocristalino
  • YS/T 792-2012 Crisol de compuestos carbono-carbono utilizado en horno monocristalino
  • YS/T 557-2006 Método de prueba para la atenuación de ondas acústicas del monocristal piezoeléctrico de niobato de litio
  • YS/T 1600-2023 Determinación de elementos traza de impurezas en monocristales de carburo de silicio: espectrometría de masas de descarga luminosa

轻工业部, Monocristal+

Professional Standard - Electron, Monocristal+

  • SJ/Z 2655-1986 Colección de defectos de germaninm monocristalinos.
  • SJ 20607-1996 Especificación para cristal de molibdeno
  • SJ 20444-1994 Especificación para monocristal de niobato de litio
  • SJ 3241-1989 Oblea y barra monocristalina de arseniuro de galio
  • SJ 3243-1989 Barras y obleas monocristalinas de fosfuro de indio
  • SJ/T 10173-1991 Célula solar de silicio monocristalino TDA75
  • SJ 20606-1996 Especificación para monocristal de dióxido de telurio
  • SJ/T 11450-2013 Especificaciones de consumo de energía del horno monocristalino
  • SJ/T 11854-2022 Horno de silicio monocristalino Czochralski para energía fotovoltaica
  • SJ/T 11502-2015 Especificación para obleas de carburo de silicio monocristalino pulido
  • SJ/T 11505-2015 Especificación de obleas pulidas de cristal único de zafiro
  • SJ/T 11853-2022 Horno de silicio monocristalino de fusión de zona suspendida de presión positiva
  • SJ/T 11500-2015 Método de prueba para medir la orientación cristalográfica de carburo de silicio monocristalino.
  • SJ/T 11501-2015 Método de prueba para determinar el tipo de cristal de carburo de silicio monocristalino.
  • SJ 2572-1985 Varillas y láminas de silicio monocristalino para células solares.
  • SJ/T 11864-2022 Sustrato monocristalino de carburo de silicio semiaislante
  • SJ 3245-1989 Métodos para medir la dislocación del monocristal de fosfuro de indio.
  • SJ 20641-1997 Especificación para monocristales de antimonuro de indio para uso en detectores de infrarrojos
  • SJ 3244.3-1989 Métodos de medición para la orientación cristalina de monocristales de arseniuro de galio y fosfuro de indio
  • SJ/T 11499-2015 Método de prueba para medir las propiedades eléctricas del carburo de silicio monocristalino.
  • SJ 20640-1997 Especificación para rodajas monocristalinas de antimonuro de indio para uso en detectores de infrarrojos
  • SJ 20750-1999 Especificación para obleas de silicio monocristalino endurecidas por radiación para circuitos integrados militares CMOS
  • SJ 20858-2002 Métodos de medición de parámetros eléctricos del material monocristalino de carburo de silicio.
  • SJ 20605-1996 Especificación para el monocristal de tantalato de litio utilizado en dispositivos SAW
  • SJ/T 2428-1983 Calibración de células solares de silicio monocristalino estándar astronáuticas
  • SJ 2915-1988 Términos y definiciones para dispositivos de ferrita de microondas de cristal único
  • SJ/T 31108-1994 Requisitos de preparación y métodos de inspección y evaluación para hornos monocristalinos CG3000.
  • SJ/T 31109-1994 Requisitos de preparación y métodos de inspección y evaluación para hornos monocristalinos de alta presión.
  • SJ/T 11504-2015 Método de prueba para medir la calidad de la superficie de carburo de silicio monocristalino pulido
  • SJ 20844-2002 Método de prueba para la homogeneidad de microzonas de arseniuro de galio monocristalino semiaislante
  • SJ 20843-2002 Determinación cuantitativa de la densidad de defectos microscópicos AB en monocristal de arseniuro de galio
  • SJ/T 2429-1983 Método de prueba para las características eléctricas de células solares de silicio monocristalino astronáuticas.
  • SJ/T 11503-2015 Métodos de prueba para medir la rugosidad de la superficie de obleas de carburo de silicio monocristalino pulidas
  • SJ/T 11494-2015
  • SJ/T 11207-1999 Medición de propiedades magnéticas de películas magnéticas monocristalinas YIG.
  • SJ/T 10625-1995 Método de determinación del contenido de oxígeno atómico intersticial del germanio mediante absorción infrarroja
  • SJ/T 10333-1993 Métodos de medición para transistores uni-unión.
  • SJ 3249.2-1989 Métodos de medición de la concentración de carbono del monocristal semiaislante de arseniuro de Gallicem mediante absorción infrarroja
  • SJ 3249.1-1989 Métodos de medición de la resistividad del material monocristalino de arseniuro de galio y fosfuro de indio semiaislante

RU-GOST R, Monocristal+

  • GOST 16153-1980 Germanio monocristalino. Especificaciones
  • GOST 24392-1980 Silicio monocristalino y germanio. Medición de la resistividad eléctrica por el método de las cuatro sondas.
  • GOST R 57548-2017 Fusión por inducción al vacío para la obtención de productos con estructura monocristalina. Requerimientos técnicos

IN-BIS, Monocristal+

  • IS 9709-1980
  • IS 4540-1968 ESPECIFICACIÓN PARA CONJUNTOS Y EQUIPOS DE RECTIFICADOR DE SEMICONDUCTOR MONOCRISTALINO
  • IS 3895-1966 ESPECIFICACIÓN PARA PILAS Y CÉLULAS RECTIFICADORES DE SEMICONDUCTOR MONOCRISTALINO

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Monocristal+

  • GJB 3076A-2021 Especificación de chip único de fosfuro de galio
  • GJB 3076-1997 Especificación de chip único de fosfuro de galio
  • GJB 2917A-2018 Especificación de oblea única de fosfuro de indio
  • GJB 2917A-2004 Especificación de oblea única de fosfuro de indio
  • GJB 2917-1997 Especificación de oblea única de fosfuro de indio
  • GJB 1926-1994 Especificación del material monocristalino de arseniuro de galio
  • GJB 10342-2021 Especificación para obleas monocristalinas de antimonuro de indio pulido
  • GJB 10343-2021 Especificación para obleas monocristalinas de antimonuro de galio pulido
  • GJB 1927A-2021 Método de prueba de material monocristalino de arseniuro de galio
  • GJB 1927-1994 Método de prueba de material monocristalino de arseniuro de galio
  • GJB 9804-2020 Especificación para varillas monocristalinas de aleación de molibdeno-niobio para uso nuclear
  • GJB 1431-1992 Especificaciones generales para células solares de silicio monocristalino para uso espacial.
  • GJB 395-1987 Fluoruro de magnesio monocristalino para placa de modulación de misiles aire-aire
  • GJB 1431A-2014 Especificación general para células solares de silicio monocristalino para aplicaciones espaciales.
  • GJB 1944A-2017 Especificación de monocristales de silicio para células solares espaciales
  • GJB 2452-1995 Especificación para obleas monocristalinas de telururo de cadmio para detectores de infrarrojos
  • GJB 2918-1997 Especificación para monolitos de silicio fundido de zona de alta resistencia de grado detector
  • GJB 581-1988 Fluoruro de calcio monocristalino para misiles "tierra-aire" con guía infrarroja
  • GJB 2652-1996 Especificación para materiales monocristalinos de telururo de zinc y cadmio para detectores de infrarrojos
  • GJB 2652A-2004 Especificación para materiales monocristalinos de telururo de zinc y cadmio para detectores de infrarrojos
  • GJB 757-1989 Chip único grande de mica sintética para dispositivos de microondas con radar.
  • GJB 8512-2015 Especificación para obleas monocristalinas de germanio pulido para células solares espaciales
  • GJB 2918A-2017 Especificación para obleas pulidas de monocristal de silicio fundido en zona de alta resistencia de grado detector
  • GJB 1431/1-2000 Especificaciones de las células solares de silicio monocristalino de las series TDJ y TDB para uso espacial
  • GJB 1431/1A-2021 Especificaciones de las células solares de silicio monocristalino de las series TDJ y TDB para uso espacial
  • GJB 396-1987 Método de prueba para fluoruro de magnesio monocristalino para uso en discos moduladores de misiles aire-aire
  • GJB 2834-1997 Especificación para monocristales de arseniuro de galio y obleas pulidas para células solares espaciales

工业和信息化部, Monocristal+

  • JC/T 2417-2017 Material monocristalino piezoeléctrico de tetraborato de litio
  • YS/T 1182-2016 Especificaciones de producción de seguridad de monocristal de germanio.
  • YB/T 4589-2017 Materiales compuestos de carbono/carbono para aislamiento de hornos monocristalinos
  • YB/T 4587-2017 Elemento calefactor compuesto de carbono/carbono para horno monocristalino
  • YB/T 4588-2017 Estructura de placa de carbono/materiales compuestos de carbono para hornos monocristalinos.
  • JC/T 2545-2019 Monocristal piroeléctrico para detectores infrarrojos de alto rendimiento
  • JB/T 13942-2020 Síntesis de un gran diamante monocristalino para uso industrial mediante el método de presión estática superabrasiva
  • JC/T 2513-2019 Método de prueba para determinar el rendimiento antimanchas grises de componentes monocristalinos de titanilfosfato de potasio
  • JC/T 2512-2019 Requisitos técnicos para componentes monocristalinos de fosfato de titanilo de potasio con alto contenido antiincrustante para láseres de estado sólido

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Monocristal+

  • GB/T 34210-2017 Método de prueba para determinar la orientación del monocristal de zafiro.
  • GB/T 33763-2017 Método de prueba para la densidad de dislocaciones de un monocristal de zafiro.
  • GB/T 35305-2017 Obleas pulidas de arseniuro de galio monocristalino para células solares
  • GB/T 34481-2017 Método de prueba para medir la densidad de los hoyos de grabado (EPD) en rodajas de germanio monocristalino de baja densidad de dislocación
  • GB/T 35306-2017 Método de prueba para el contenido de carbono y oxígeno del silicio monocristalino: espectrometría infrarroja por transformada de Fourier de baja temperatura

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Monocristal+

  • JJG 48-2004 Rebanada estándar de resistividad de silicio monocristalino
  • JJG 48-1990 Regulación de verificación de la rebanada estándar de resistividad de silicio monocristalino

Professional Standard - Building Materials, Monocristal+

  • JC/T 1048-2007 Crisoles de cuarzo fundido para el crecimiento de silicio monocristalino
  • JC/T 1048-2018 Crisol de cuarzo para crecimiento de silicio monocristalino.
  • JC/T 2025-2010 Monocristales piezoeléctricos de titanato de niobato de magnesio y plomo (PMNT)
  • JC/T 2343-2015 Tubo de alúmina monocristalino preparado mediante crecimiento de cristal alimentado con película de borde definido
  • JC/T 2139-2012 Monocristal de paratelurito de alta pureza para física nuclear

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Monocristal+

  • YB 1603-1983 Discos de corte y desbaste monocristalinos de silicio

机械电子工业部, Monocristal+

  • JB 5203-1991 Método de análisis químico de corindón monocristalino.

Jiangxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Monocristal+

  • DB36/ 771-2013 Cuota de consumo de energía por unidad de producto de silicio monocristalino de Czochralski

Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, Monocristal+

  • DB15/T 2234-2021 Cuota de consumo de energía por unidad de producto de silicio monocristalino de Czochralski

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Monocristal+

  • JJF 1256-2010 Especificación de calibración para equipos de orientación de monocristales de rayos X
  • JJF 1760-2019 Especificación de calibración para cortes estándar de resistividad de silicio monocristalino

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Monocristal+

  • DB61/T 512-2011 Normas de inspección para obleas de silicio monocristalino para células solares
  • DB61/T 511-2011 Normas de inspección para varillas de silicio monocristalino para células solares.

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Monocristal+

  • DB31/ 792-2014 Norma de consumo de energía por unidad de producto para silicio monocristalino y obleas de silicio.
  • DB31/T 792-2014 Cuota de consumo de energía por unidad de producto de monocristal de silicio y su oblea de silicio
  • DB31/ 792-2020 Cuota de consumo de energía por unidad de producto de monocristal de silicio y su oblea de silicio

German Institute for Standardization, Monocristal+

  • DIN 50431:1988 Pruebas de materiales semiconductores; Medición de la resistividad de monocristales de silicio o germanio mediante el método de cuatro sondas/corriente continua con matriz colineal.
  • DIN EN 62276:2017-08 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW): especificaciones y métodos de medición (IEC 62276:2016); Versión alemana EN 62276:2016 / Nota: DIN EN 62276 (2013-08) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 28-11-2019.
  • DIN EN IEC 62276:2023-05 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición (IEC 49/1401/CD:2022); Texto en alemán e inglés / Nota: Fecha de emisión 2023-04-28*Destinado a sustituir a DIN EN 62276 (2017-08).

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Monocristal+

  • KS D 2715-2006 Muestra de tracción de materiales de película nano/microcristalina monocristalina y policristalina
  • KS D 2715-2017 Muestra de tracción de materiales de película nano/microcristalina monocristalina y policristalina
  • KS D 0260-1999 MÉTODOS DE PRUEBA DE RESISTIVIDAD PARA OBLEAS DE SILICIO DE CRISTAL ÚNICO CON SONDA DE CUATRO PUNTOS
  • KS C IEC 62276:2007 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW) -Especificaciones y métodos de medición
  • KS D 0260-1989(1994) MÉTODOS DE PRUEBA DE RESISTIVIDAD PARA OBLEAS DE SILICIO DE CRISTAL ÚNICO CON SONDA DE CUATRO PUNTOS
  • KS D 0257-2002(2017) Medición de la vida útil de la minoría - portador en un monocristal de silicio mediante el método de desintegración fotoconductora
  • KS D 0257-2002(2022) Medición de la vida útil de la minoría - portador en un monocristal de silicio mediante el método de desintegración fotoconductora
  • KS C IEC 62276:2019 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW): especificaciones y métodos de medición
  • KS D 0257-2002 Medición de la vida útil de la minoría - portador en un monocristal de silicio mediante el método de desintegración fotoconductora

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Monocristal+

  • JIS H 0612:1975 Métodos de prueba de resistividad para obleas de silicio monocristalino con sonda de cuatro puntos
  • JIS C 6760:2014 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW). Especificaciones y métodos de medición.
  • JIS H 0604:1995 Medición de la vida útil de los portadores minoritarios en monocristales de silicio mediante el método de desintegración fotoconductora

Sichuan Provincial Standard of the People's Republic of China, Monocristal+

  • DB51/T 2499-2018 Juicio de denominación y calificación del tratamiento de relleno de gemas monocristalinas

American National Standards Institute (ANSI), Monocristal+

  • ANSI/ASTM D6058:2001 Práctica para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral
  • ANSI/ASTM D6057:2001 Método de prueba para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía de contraste de fases

Association Francaise de Normalisation, Monocristal+

  • NF C93-616:2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW): especificaciones y métodos de medición
  • NF C93-616:2006 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición.
  • NF C93-616*NF EN 62276:2018 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Monocristal+

  • DB35/T 1118-2011 Componentes monocristalinos ópticos no lineales del fosfato de titanilo del potasio Anti-incineración

International Electrotechnical Commission (IEC), Monocristal+

  • IEC 62276:2005 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición
  • IEC 62276:2012 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición
  • IEC PAS 62276:2001 Obleas monocristalinas aplicadas a dispositivos de ondas acústicas de superficie: especificación y método de medición
  • IEC 62276:2016 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición

Professional Standard - Aviation, Monocristal+

  • HB 6742-1993 Determinación de la orientación del cristal de láminas de cristal único mediante fotografía Laue con retrosoplado de rayos X
  • HB 7762-2005 Especificación para aleaciones maestras de superaleaciones monocristalinas y solidificadas direccionalmente para motores de aviación

British Standards Institution (BSI), Monocristal+

  • BS EN 62276:2013 Obleas de cristal único para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW). Especificaciones y métodos de medición.
  • BS EN 62276:2005 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición
  • BS EN 62276:2006 Obleas monocristalinas aplicadas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificación y métodos de medición
  • BS EN 62276:2016 Obleas de cristal único para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW). Especificaciones y métodos de medición.
  • 23/30468947 DC BS EN 62276. Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW). Especificaciones y métodos de medición.

PL-PKN, Monocristal+

  • PN M59102-1973 Productos de marcado Peajes abrasivos aglomerados y monocristalinos Clasificación y designación

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Monocristal+

  • IEEE 1859-2017 Cristales individuales basados en relajantes para aplicaciones de transductores y actuadores

IEC - International Electrotechnical Commission, Monocristal+

  • PAS 62276-2001 Obleas monocristalinas aplicadas a dispositivos de ondas acústicas de superficie: especificación y método de medición (Edición 1.0)

CZ-CSN, Monocristal+

  • CSN 34 5941-1984 Arseniuro de galio y fosfuro de galio monocristalinos. Determinación de resistividad y coeficiente de Hall.

Professional Standard - Geology, Monocristal+

  • DZ/T 0294-2016 Detección e identificación de diamantes monocristalinos incoloros sintetizados por deposición química de vapor

Danish Standards Foundation, Monocristal+

  • DS/EN 62276:2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Monocristal+

  • EN 62276:2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), Monocristal+

  • EN 62276:2016 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición

ES-UNE, Monocristal+

  • UNE-EN 62276:2016 Obleas monocristalinas para aplicaciones en dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW) - Especificaciones y métodos de medida (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2017.)

American Society for Testing and Materials (ASTM), Monocristal+

  • ASTM F847-94(1999) Métodos de prueba estándar para medir la orientación cristalográfica de planos en obleas de silicio monocristalino mediante técnicas de rayos X
  • ASTM D6058-96(2011) Práctica estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral
  • ASTM D6058-96(2016)
  • ASTM D6058-96(2006) Práctica estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral
  • ASTM D6058-96(2001) Práctica estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral
  • ASTM D6058-96 Práctica estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral

廊坊市市场监督管理局, Monocristal+

  • DB1310/T 227-2020 Especificación técnica del proceso de crisol de cuarzo para el crecimiento de silicio monocristalino, un material electrónico especial

Lithuanian Standards Office , Monocristal+

  • LST EN 62276-2006 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW). Especificaciones y métodos de medición (IEC 62276:2005)
  • LST EN 62276-2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW): especificaciones y métodos de medición (IEC 62276:2012)

KR-KS, Monocristal+

  • KS C IEC 62276-2019 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW): especificaciones y métodos de medición

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Monocristal+

  • IEEE Std 1859-2017 Estándar IEEE para cristales individuales basados en relajantes para aplicaciones de transductores y actuadores
  • IEEE P1859/D7, September 2016 Borrador de estándar aprobado por IEEE para cristales individuales basados en relajantes para aplicaciones de transductores y actuadores
  • IEEE P1859/D8, February 2017 Borrador de estándar aprobado por IEEE para cristales individuales basados en relajantes para aplicaciones de transductores y actuadores

GOSTR, Monocristal+

  • PNST 406-2020 Estándares ?Verdes?. Módulos fotovoltaicos monocristalinos. Criterios e indicadores para confirmar el cumplimiento de productos ?verdes?




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