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cristal individual
cristal individual, Total: 332 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en cristal individual son: Materiales semiconductores, Metales no ferrosos, Hornos industriales, Papel y cartón, Fluidos aislantes, Vocabularios, Productos de metales no ferrosos., Componentes y accesorios para equipos de telecomunicaciones., Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos., Pilas y baterías galvánicas., Herramientas de corte, Herramientas de máquina, Metalurgia de polvos, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, Productos de hierro y acero., Instalaciones en edificios, pruebas de metales, ingeniería de energía solar, Comunicaciones de fibra óptica., Dispositivos semiconductores, Productos de la industria química., Ingeniería de energía y transferencia de calor en general., Óptica y medidas ópticas., ingeniería de energía nuclear, Materiales para el refuerzo de composites., Circuitos integrados. Microelectrónica, Cerámica, Optoelectrónica. Equipo láser, GENERALIDADES. TERMINOLOGÍA. ESTANDARIZACIÓN. DOCUMENTACIÓN, Equipo óptico, Materiales conductores, Joyería, Terminología (principios y coordinación), Calidad del aire, Elementos de edificios., Componentes para equipos eléctricos., Mediciones de radiación, Física. Química, Vaso, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., Lámparas y equipos relacionados., Componentes electrónicos en general..
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, cristal individual
- GB/T 5238-2019 Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
- GB/T 20230-2022 Monocristal de fosfuro de indio
- GB/T 20229-2022 Monocristal de fosfuro de galio
- GB/T 20228-2021 Monocristal de arseniuro de galio
- GB/T 12964-2018 Obleas pulidas de silicio monocristalino
- GB/T 26069-2022 Obleas de silicio monocristalino recocido
- GB/T 25076-2018 Silicio monocristalino para células solares.
- GB/T 12965-2018 Silicio monocristalino en forma de obleas cortadas y obleas lapeadas
- GB/T 26071-2018 Obleas de silicio monocristalino para células solares
- GB/T 39137-2020 Determinación de la orientación de un monocristal de metal refractario.
- GB/T 37418-2019 Oxiortosilicato de lutecio, monocristales de centelleo de oxiortosilicato de lutecio-itrio
- GB/T 11094-2020 Monocristal de arseniuro de galio y oblea de corte cultivada mediante el método Bridgman horizontal
- GB/T 5252-2020 Método de prueba para la densidad de dislocación del germanio monocristalino.
- GB/T 8760-2020 Método de prueba para la densidad de dislocación del arseniuro de galio monocristalino
- GB/T 41325-2022 Obleas de silicio monocristalino pulidas con origen cristalino de baja densidad para circuitos integrados
- GB/T 39123-2020 Especificación para material monocristalino de telururo de cadmio-zinc para detectores de rayos X y rayos γ
- GB/T 1551-2021 Método de prueba para medir la resistividad del silicio monocristalino: método de sonda de cuatro puntos en línea y método de sonda de dos puntos de corriente continua
- GB/T 41153-2021 Determinación del contenido de impurezas de boro, aluminio y nitrógeno en un monocristal de carburo de silicio: espectrometría de masas de iones secundarios
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, cristal individual
- GB/T 5238-2009 Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
- GB/T 5238-2009(英文版) Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
- GB/T 12962-1996 silicio monocristalino
- GB/T 12962-2005 Silicio monocristalino
- GB/T 5238-1995
- GB/T 12962-2015 monocristal de silicio
- GB/T 15713-1995 Rodajas de germanio monocristalino.
- GB/T 29504-2013 Silicio monocristalino de 300 mm.
- GB/T 20229-2006 Cristal de señal de fosfuro de galio
- GB/T 20230-2006 Cristal de señal de fosfuro de indio
- GB/T 20228-2006 Monocristal de arseniuro de galio
- GB/T 14843-1993 Monocristales de niobato de litio
- GB/T 31092-2014 Lingote de zafiro monocristalino
- GB/T 31092-2022 Barra de zafiro monocristalino
- GB/T 12964-2003 Obleas pulidas de silicio monocristalino
- GB/T 29506-2013 Obleas de silicio monocristalino pulido de 300 mm
- GB/T 30656-2014 Obleas de carburo de silicio monocristalino pulido
- GB/T 25076-2010 Silicio monocristalino de célula solar.
- GB/T 30656-2023 Oblea pulida de un solo cristal de carburo de silicio
- GB/T 26072-2010 Célula solar monocristal de germanio
- GB/T 1555-1997 Métodos de prueba para determinar la orientación de un monocristal semiconductor.
- GB/T 11072-1989 Policristal de antimonuro de indio, monocristales y rodajas cortadas
- GB/T 11072-2009 Policristal de antimonuro de indio, cristales individuales y rodajas cortadas
- GB/T 1555-2023 Método para determinar la orientación cristalina de un monocristal semiconductor
- GB/T 1555-2009 Métodos de prueba para determinar la orientación de un monocristal semiconductor.
- GB/T 12965-1996 Silicio monocristalino en forma de rodajas cortadas y rodajas traslapadas
- GB/T 12965-2005 Rebanadas cortadas de silicio monocristalino y rebanadas traslapadas
- GB/T 12632-1990 Especificaciones generales de células solares individuales de silicio.
- GB/T 1551-2009 Método de prueba para medir la resistividad del silicio monocristal.
- GB/T 26065-2010 Especificación para obleas de silicio de prueba pulidas
- GB/T 30858-2014 Producto de sustrato de zafiro monocristalino pulido
- GB/T 13843-1992 Sustratos de zafiro monocristalino pulido
- GB/T 25075-2010 Monocristal de arseniuro de galio para células solares
- GB/T 29420-2012 Dispositivos de cristal láser de vanadato dopado con Nd
- GB/T 29508-2013 Silicio monocristalino de 300 mm en rodajas cortadas y trituradas
- GB/T 34213-2023 Alúmina de alta pureza para monocristal de zafiro
- GB/T 11094-2007 Oblea de corte y cristal único de arseniuro de galio cultivado en Bridgman horizontal
- GB/T 26071-2010 Silicio monocristalino en rodajas para células solares fotovoltaicas
- GB/T 29421-2012 Dispositivos de cristal birrebringente de vanadato
- GB/T 11094-1989 Monocristales de arseniuro de galio cultivados en barcos y rodajas cortadas
- GB/T 9532-2012 Designaciones para cristales piezoeléctricos
- GB/T 30866-2014 Método de prueba para medir el diámetro de obleas de carburo de silicio monocristalino.
- GB/T 18032-2000 El método de inspección del defecto microscópico AB en monocristal de arseniuro de galio
- GB/T 32278-2015 Método de prueba para determinar la planitud de una oblea única de carburo de silicio
- GB/T 5252-1985 Monocristal de germanio: inspección de la densidad de las picaduras de grabado por dislocación
- GB/T 11093-1989 Monocristales de arseniuro de galio cultivados en czochralski encapsulados en líquido y rodajas cortadas en forma de As
- GB/T 5252-2006 Monocristal de germanio. Inspección de la densidad de las fosas de grabado por dislocación
- GB/T 8760-2006 Determinación de la densidad de dislocaciones en monocristal de arseniuro de galio
- GB/T 11093-2007 Monocristales de arseniuro de galio cultivados en czochralski encapsulados en líquido y rodajas cortadas
- GB/T 26044-2010 Alambre de cobre redondo monocristalino y material de trefilado para transmisión de señal
- GB 8760-1988 Monocristal de arseniuro de galio－Determinación de la densidad de dislocaciones
- GB/T 41765-2022 Método de prueba para la densidad de dislocaciones de carburo de silicio monocristalino.
- GB/T 8760-1988 Monocristal de arseniuro de galio: determinación de la densidad de dislocaciones
- GB/T 1552-1995 Método de prueba para medir la resistividad de silicio monocristalino y germanio con una matriz colineal de cuatro sondas
- GB/T 1551-1995
- GB/T 26074-2010 Monocristal de germanio.Medición de resistividad-Sonda lineal de cuatro puntos DC
- GB/T 41751-2022 Método de prueba para determinar el radio de curvatura del plano cristalino en obleas de sustrato monocristalino de GaN
- GB/T 42676-2023 Método de difracción de rayos X para probar la calidad del monocristal semiconductor
- GB/T 15250-1994 Método de prueba para la atenuación masiva de ondas acústicas de cristales piezoeléctricos de niobato de litio.
- GB/T 30118-2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW). Especificaciones y métodos de medición
- GB/T 10067.410-2014 Especificaciones básicas para instalaciones de electrocalentamiento.Parte 410: Horno de cultivo monocristalino.
- GB/T 30839.46-2015 Clasificación del consumo energético de instalaciones industriales de electrocalentamiento. Parte 46: Hornos de cultivo de cristales.
- GB/T 42263-2022 Determinación del contenido de nitrógeno en monocristal de silicio: método de espectrometría de masas de iones secundarios
- GB/T 30867-2014 Método de prueba para medir el espesor y la variación total del espesor de obleas de carburo de silicio monocristalino.
- GB/T 31351-2014 Método de prueba no destructivo para determinar la densidad de microtubos de obleas de carburo de silicio monocristalino pulidas
- GB/T 11297.7-1989 Método de prueba de resistividad y coeficiente Hall en monocristales de InSb
- GB/T 22452-2008 Estado técnico general de los dispositivos ópticos de cristal de borato no lineales.
- GB/T 22453-2008 Método de medición de dispositivos de cristal de borato óptico no lineal
- GB/T 24574-2009 Métodos de prueba para el análisis de fotoluminiscencia de silicio monocristalino para impurezas Ⅲ-Ⅴ
- GB 11297.7-1989 Método de prueba para la resistividad y el coeficiente Hall del monocristal de InSb
- GB/T 30868-2014 Método de prueba para medir la densidad de microtubos de obleas de carburo de silicio monocristalino. Grabado químico
- GB/T 42271-2022 Método de prueba de resistividad de carburo de silicio monocristalino semiaislante mediante medición sin contacto
- GB/T 11297.6-1989 Método estándar para mostrar y medir los hoyos de grabado de dislocación en un monocristal de antimonuro de indio
- GB/T 13389-1992 Práctica para la conversión entre resistividad y densidad dopante para silicio dopado con boro y fósforo
- GB/T 32282-2015 Medición de la densidad de dislocación en monocristal de nitruro de galio mediante microscopía de catodoluminiscencia
- GB/T 19199-2015 Métodos de prueba para la concentración de aceptores de carbono en monocristales semiaislantes de arseniuro de galio mediante espectroscopia de absorción infrarroja
- GB/T 19199-2003 Método de prueba para la concentración de carbono de arseniuro de galio monocristalino semiaislante mediante medición del método de absorción infrarroja
- GB/T 32188-2015 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de la curva de oscilación de rayos X de cristal doble del sustrato de cristal único de GaN
- GB/T 13389-2014 Práctica para la conversión entre resistividad y densidad dopante para silicio dopado con boro, fósforo y arsénico
- GB/T 4326-1984 Monocristales semiconductores extrínsecos: medición de la movilidad de Hall y del coeficiente de Hall
- GB/T 4326-2006 Medición de monocristales semiconductores extrínsecos de movilidad Hall y coeficiente Hall
- GB 4326-1984 Monocristales semiconductores extrínsecos: medición de la movilidad de Hall y el coeficiente de Hall
- GB/T 32189-2015 Examen de microscopía de fuerza atómica de la rugosidad de la superficie del sustrato monocristalino de nitruro de galio
- GB/T 17170-2015
- GB/T 35306-2023 Determinación del contenido de carbono y oxígeno en espectroscopia infrarroja por transformada de Fourier de baja temperatura de monocristal de silicio
- GB/T 13066-1991 Especificación detallada en blanco para transistores unijunction
- GB/T 9532-1988 Designaciones para cristales piezoeléctricos LiNbO3, LiTaO3, Bi12GeO20, Bi12SiO20
Professional Standard - Machinery, cristal individual
UNKNOWN, cristal individual
Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, cristal individual
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- DB13/T 1828-2013 Oblea de silicio monocristalino de grado solar
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- T/ZZB 0044-2016 Hornos de cultivo de cristales serie TDR
- T/ZZB 1927-2020 Máquina automática de corte de monosilicio
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- T/CISA 086-2021 Aleación maestra de superaleación de cristal único DD405
- T/SZBX 118-2023 Obleas de silicio monocristalino para células solares
- T/CASME 465-2023 Texturizador sin IPA para monosilicio
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- T/CAB 0181-2022 Los métodos de medición de los parámetros característicos de los centelleadores LYSO y LSO.
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- T/IAWBS 011-2019 Métodos de prueba para medir la resistividad de obleas conductoras de carburo de silicio con un medidor de corrientes parásitas sin contacto
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- T/CECA 83-2023 Obleas monocristalinas reducidas de tantalato de litio y niobato de litio: requisitos técnicos y métodos de medición de la luminosidad y la diferencia de color
Professional Standard - Light Industry, cristal individual
Professional Standard - Non-ferrous Metal, cristal individual
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- YS/T 977-2014 Cilindro de aislamiento térmico de compuestos de carbono/carbono de horno monocristalino
- YS/T 792-2012 Crisol de compuestos carbono-carbono utilizado en horno monocristalino
- YS/T 557-2006 Método de prueba para la atenuación de ondas acústicas del monocristal piezoeléctrico de niobato de litio
- YS/T 1600-2023 Determinación de elementos traza de impurezas en monocristales de carburo de silicio: espectrometría de masas de descarga luminosa
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- GJB 2917-1997 Especificación de oblea única de fosfuro de indio
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- GJB 10343-2021 Especificación para obleas monocristalinas de antimonuro de galio pulido
- GJB 1927A-2021 Método de prueba de material monocristalino de arseniuro de galio
- GJB 1927-1994 Método de prueba de material monocristalino de arseniuro de galio
- GJB 9804-2020 Especificación para varillas monocristalinas de aleación de molibdeno-niobio para uso nuclear
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- GJB 395-1987 Fluoruro de magnesio monocristalino para placa de modulación de misiles aire-aire
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