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Cómo analizar cuantitativamente la difracción de rayos X

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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Cómo analizar cuantitativamente la difracción de rayos X son: Refractarios, pruebas de metales, Química analítica, Minerales no metalíferos, Materiales semiconductores, Vocabularios, Calidad del aire, Educación, Ingredientes de pintura, Productos de la industria química., Pruebas no destructivas, Óptica y medidas ópticas., químicos inorgánicos, Equipo óptico, Materiales de construcción, Productos petrolíferos en general, Metales no ferrosos, Minerales metalíferos, Protección contra el fuego, Combustibles, Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general..

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Cómo analizar cuantitativamente la difracción de rayos X

YB/T 172-2000 Análisis cuantitativo de fases de ladrillos de sílice. Método de difracción de rayos X.
YB/T 5320-2006 Método del valor K de difracción de rayos X para el análisis de fase cuantitativo de materiales metálicos
YB/T 5336-2006 Análisis cuantitativo de la fase de carburo en acero de alta velocidad mediante el método de difracción de rayos X

工业和信息化部, Cómo analizar cuantitativamente la difracción de rayos X

YB/T 172-2020 Análisis de fase cuantitativa de ladrillos de sílice mediante el método de difracción de rayos X.
YS/T 1160-2016 Análisis de fase cuantitativa del polvo de silicio industrial Determinación del contenido de sílice Método del valor K de difracción de rayos X
YS/T 1033-2015 Determinación del contenido de elementos de materiales secos antifiltración mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X.
YS/T 806-2020 Métodos de análisis químico para aluminio y aleaciones de aluminio. Determinación del contenido elemental. Espectrometría de fluorescencia de rayos X.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Cómo analizar cuantitativamente la difracción de rayos X

GB/T 5225-1985 Materiales metálicos--Análisis de fase cuantitativo--Método de difracción de rayos X del "valor K"
GB/T 8359-1987 Carburos en acero rápido. Análisis de fase cuantitativa. Método de difractómetro de rayos X.
GB/T 6609.32-2009 Métodos de análisis químico y determinación del rendimiento físico de la alúmina. Parte 32: Determinación del contenido de alúmina mediante difracción de rayos X.
GB/T 18873-2002 Especificación general del microscopio electrónico de transmisión (TEM): microanálisis cuantitativo del espectro dispersivo de energía de rayos X (EDS) para muestras biológicas delgadas
GB/T 18873-2008 Guía general de microanálisis cuantitativo con microscopio electrónico de transmisión (TEM) y espectrometría de dispersión de energía de rayos X (EDS) para muestras biológicas delgadas
GB/T 19421.1-2003 Métodos de prueba de disilicato de sodio en capas cristalinas - Análisis cualitativo de disilicato de sodio en capas cristalinas delta - Método de difractómetro de rayos X
GB/T 17359-1998
GB/T 8156.10-1987
GB/T 17416.2-1998 Método de análisis químico de minerales de circonio. Determinación del contenido de circonio y hafnio. Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
GB/T 14506.28-1993
GB/T 14849.5-2010 Análisis químico del metal león.Parte 5: Determinación del contenido de elementos.Análisis mediante un método de fluorescencia de rayos X.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Cómo analizar cuantitativamente la difracción de rayos X

JIS K 0131:1996 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
JIS A 1481-3:2014 Determinación del amianto en productos de materiales de construcción. Parte 3: Análisis cuantitativo de la contenido de amianto mediante el método de difracción de rayos X.
JIS A 1481-3 AMD 1:2022 Determinación del amianto en productos de materiales de construcción. Parte 3: Análisis cuantitativo de la contenido de amianto mediante el método de difracción de rayos X (Enmienda 1).

Professional Standard - Customs, Cómo analizar cuantitativamente la difracción de rayos X

HS/T 12-2006 Análisis cuantitativo de fase mixta de talco, clorito y magnesita. Método de difractómetro de rayos X

Professional Standard - Petroleum, Cómo analizar cuantitativamente la difracción de rayos X

SY/T 5163-1995 Método de análisis de difracción de rayos X para el contenido relativo de minerales arcillosos en rocas sedimentarias
SY/T 6210-1996 Método de análisis cuantitativo de difracción de rayos X de minerales arcillosos totales y minerales no arcillosos comunes en rocas sedimentarias

German Institute for Standardization, Cómo analizar cuantitativamente la difracción de rayos X

DIN 51418-2:2015 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
DIN 51418-2:1996 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
DIN 51418-2:2015-03 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
DIN 51418-2 Bb.1:2000 Espectrometría de rayos X - Análisis de emisión de rayos X y fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados; información adicional y ejemplos de cálculo
DIN 25703:1993 Determinación del contenido de uranio y plutonio en soluciones de ácido nítrico mediante análisis de fluorescencia de rayos X dispersivos de longitud de onda.
DIN 51440-1:2003 Ensayos de gasolinas - Determinación del contenido de fósforo - Parte 1: Análisis mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda (XRS)
DIN EN ISO 14597:1999 Productos derivados del petróleo - Determinación del contenido de vanadio y níquel - Espectrometría de fluorescencia de rayos X de longitud de onda dispersiva (ISO 14597:1997); Versión alemana EN ISO 14597:1999

Association Francaise de Normalisation, Cómo analizar cuantitativamente la difracción de rayos X

NF ISO 22262-3:2017 Calidad del aire - Materiales sólidos - Parte 3: determinación cuantitativa del amianto mediante el método de difracción de rayos X
NF X43-066-3*NF ISO 22262-3:2017 Calidad del aire - Materiales a granel - Parte 3: determinación cuantitativa del amianto mediante el método de difracción de rayos X
NF ISO 16258-2:2015 Aire en los lugares de trabajo. Fracción respirable de sílice cristalina mediante difracción de rayos X. Parte 2: método de análisis indirecto.
NF M07-095*NF EN ISO 14597:1999 Productos derivados del petróleo. Determinación del contenido de vanadio y níquel. Espectrometría de fluorescencia de rayos X de longitud de onda dispersiva.
NF ISO 16258-1:2015 Aire en los lugares de trabajo. Fracción respirable de sílice cristalina mediante difracción de rayos X. Parte 1: método de análisis de filtro directo.
NF X21-003:2006 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda.
NF X21-006:2007 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis puntual cuantitativo de muestras a granel mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva.

Standard Association of Australia （SAA）, Cómo analizar cuantitativamente la difracción de rayos X

AS 2879.3:2010 Alúmina, Parte 3: Determinación del contenido de alfa alúmina mediante difracción de rayos X

International Organization for Standardization (ISO), Cómo analizar cuantitativamente la difracción de rayos X

ISO 22262-3:2016 Calidad del aire - Materiales a granel - Parte 3: Determinación cuantitativa del amianto mediante el método de difracción de rayos X
ISO 17470:2014 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis cualitativo de puntos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
ISO 22489:2006 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva
ISO 22489:2016 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda

Professional Standard - Agriculture, Cómo analizar cuantitativamente la difracción de rayos X

SN/T 3323.7-2023 Incrustación de óxido de hierro - Parte 7: Determinación del contenido de α-SiO2 libre Método del valor K de difracción de rayos X

Professional Standard - Education, Cómo analizar cuantitativamente la difracción de rayos X

JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difracción de rayos X de cristal único
JY/T 008-1996 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difractómetro de rayos X de cristal único de cuatro círculos

American Society for Testing and Materials (ASTM), Cómo analizar cuantitativamente la difracción de rayos X

ASTM D5380-93(2003) Método de prueba estándar para la identificación de pigmentos cristalinos y extensores en pintura mediante análisis de difracción de rayos X
ASTM D5380-93(2021) Método de prueba estándar para la identificación de pigmentos cristalinos y extensores en pintura mediante análisis de difracción de rayos X
ASTM C1365-06 Método de prueba estándar para la determinación de la proporción de fases en el cemento Portland y el clinker de cemento Portland mediante análisis de difracción de rayos X en polvo
ASTM C1365-06(2011) Método de prueba estándar para la determinación de la proporción de fases en el cemento Portland y el clinker de cemento Portland mediante análisis de difracción de rayos X en polvo
ASTM C1365-98 Método de prueba estándar para la determinación de la proporción de fases en el cemento Portland y el clinker de cemento Portland mediante análisis de difracción de rayos X en polvo
ASTM C1365-98(2004) Método de prueba estándar para la determinación de la proporción de fases en el cemento Portland y el clinker de cemento Portland mediante análisis de difracción de rayos X en polvo
ASTM C1365-18 Método de prueba estándar para la determinación de la proporción de fases en el cemento Portland y el clinker de cemento Portland mediante análisis de difracción de rayos X en polvo
ASTM E1588-07e1 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM E1588-07 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Cómo analizar cuantitativamente la difracción de rayos X

KS M 1068-2005 Cribado cualitativo/cuantitativo mediante espectrometría XRF
KS M ISO 14597:2003 Productos derivados del petróleo－Determinación del contenido de vanadio y níquel－Espectrometría de fluorescencia de rayos X de longitud de onda dispersiva
KS D ISO 22489:2012 Análisis de microhaz－Microanálisis con sonda electrónica－Análisis puntual cuantitativo para muestras a granel mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva
KS D ISO 22489:2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis puntual cuantitativo de muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.

RU-GOST R, Cómo analizar cuantitativamente la difracción de rayos X

GOST 19647-1974 Métodos y medios de análisis de rayos X con radioisótopos. Términos y definiciones

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Cómo analizar cuantitativamente la difracción de rayos X

YS/T 438.5-2013 Métodos para la determinación del rendimiento físico de la alúmina Sandy. Parte 5: Método del espectro de difracción de rayos X para la determinación del contenido de α-alúmina
YS/T 703-2014
YS/T 575.23-2009 Método para el análisis químico de minerales de aluminio. Parte 23: Determinación del contenido de elementos Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X.

(U.S.) Ford Automotive Standards, Cómo analizar cuantitativamente la difracción de rayos X

FORD FLTM BI 017-03-2001 DETERMINACIÓN DEL PESO DEL RECUBRIMIENTO - MÉTODO DE ANÁLISIS DE RAYOS X PORTASPEC DEL COMPLEJO DE CROMO/POLVO DE ZINC
FORD FLTM BI 017-3-2001 DETERMINACIÓN DEL PESO DEL RECUBRIMIENTO - MÉTODO DE ANÁLISIS DE RAYOS X PORTASPEC DEL COMPLEJO DE CROMO/POLVO DE ZINC

KR-KS, Cómo analizar cuantitativamente la difracción de rayos X

KS D ISO 22489-2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis puntual cuantitativo de muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.
KS D ISO 22489-2018(2023) Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis puntual cuantitativo de muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, Cómo analizar cuantitativamente la difracción de rayos X

DB37/T 266-1999 Método de análisis de fluorescencia de rayos X para determinar la cantidad de escoria residual añadida en productos de materiales de construcción.

British Standards Institution (BSI), Cómo analizar cuantitativamente la difracción de rayos X

BS ISO 22489:2007 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva
BS ISO 22489:2016 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis de puntos cuantitativos para muestras a granel mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda

Group Standards of the People's Republic of China, Cómo analizar cuantitativamente la difracción de rayos X

T/NAIA 0128-2022 Determinación rápida de hidróxido de aluminio Determinación del contenido de elementos mediante análisis espectroscópico de fluorescencia de rayos X (tableta)