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Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X., Total: 131 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X. son: Refractarios, Protección de radiación, pruebas de metales, Minerales no metalíferos, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, Química analítica, Materiales semiconductores, Pruebas no destructivas, Educación, ingeniería de energía nuclear, Vocabularios, Calidad del aire, químicos inorgánicos, Ingredientes de pintura, Óptica y medidas ópticas., Productos de la industria química., Productos petrolíferos en general, Equipo óptico, Mediciones de radiación, Materiales de construcción, Metales no ferrosos, Minerales metalíferos, Protección contra el fuego, Combustibles, carbones, Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., Odontología.

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

YB/T 172-2000 Análisis cuantitativo de fases de ladrillos de sílice. Método de difracción de rayos X.
YB/T 5336-2006 Análisis cuantitativo de la fase de carburo en acero de alta velocidad mediante el método de difracción de rayos X
YB/T 5320-2006 Método del valor K de difracción de rayos X para el análisis de fase cuantitativo de materiales metálicos
YB/T 5338-2006 Método de difracción de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita retenida en acero

工业和信息化部, Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

YB/T 172-2020 Análisis de fase cuantitativa de ladrillos de sílice mediante el método de difracción de rayos X.
YB/T 5338-2019 Método de difractómetro de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita en acero.
YS/T 1160-2016 Análisis de fase cuantitativa del polvo de silicio industrial Determinación del contenido de sílice Método del valor K de difracción de rayos X
YS/T 1033-2015 Determinación del contenido de elementos de materiales secos antifiltración mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X.
YS/T 806-2020 Métodos de análisis químico para aluminio y aleaciones de aluminio. Determinación del contenido elemental. Espectrometría de fluorescencia de rayos X.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

GB 16355-1996 Normas de protección radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
GB/T 8359-1987 Carburos en acero rápido. Análisis de fase cuantitativa. Método de difractómetro de rayos X.
GB/T 5225-1985 Materiales metálicos--Análisis de fase cuantitativo--Método de difracción de rayos X del "valor K"
GB/T 8362-1987 Austenita retenida en acero--Determinación cuantitativa--Método de difractómetro de rayos X
GB/T 19421.1-2003 Métodos de prueba de disilicato de sodio en capas cristalinas - Análisis cualitativo de disilicato de sodio en capas cristalinas delta - Método de difractómetro de rayos X
GB/T 6609.32-2009 Métodos de análisis químico y determinación del rendimiento físico de la alúmina. Parte 32: Determinación del contenido de alúmina mediante difracción de rayos X.
GB/T 22571-2008 Análisis químico de superficies. Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.
GB/T 18873-2002 Especificación general del microscopio electrónico de transmisión (TEM): microanálisis cuantitativo del espectro dispersivo de energía de rayos X (EDS) para muestras biológicas delgadas
GB/T 18873-2008 Guía general de microanálisis cuantitativo con microscopio electrónico de transmisión (TEM) y espectrometría de dispersión de energía de rayos X (EDS) para muestras biológicas delgadas
GB/T 17359-1998
GB/T 12162.4-2010/ISO 4037 4-2004 Radiación de referencia X y gamma para calibrar dosímetros y medidores de tasa de dosis y determinar su respuesta energética Parte 4: Calibración de dosímetros personales y de sitio en campos de radiación de referencia de rayos X de baja energía
GB/T 12162.4-2010/ISO 4037 4:2004 Radiación de referencia X y gamma para calibrar dosímetros y medidores de tasa de dosis y determinar su respuesta energética Parte 4: Calibración de dosímetros personales y de sitio en campos de radiación de referencia de rayos X de baja energía
GB/T 12162.4-2010 Radiación de referencia X y gamma para calibrar dosímetros y dosímetros y para determinar su respuesta en función de la energía del fotón. Parte 4: Calibración de dosímetros de área y personales en campos de radiación de referencia X de baja energía.
GB/T 8156.10-1987
GB/T 17416.2-1998 Método de análisis químico de minerales de circonio. Determinación del contenido de circonio y hafnio. Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X.
GB/T 14506.28-1993
GB/T 14849.5-2010 Análisis químico del metal león.Parte 5: Determinación del contenido de elementos.Análisis mediante un método de fluorescencia de rayos X.

Professional Standard - Customs, Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

HS/T 12-2006 Análisis cuantitativo de fase mixta de talco, clorito y magnesita. Método de difractómetro de rayos X

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

GBZ 115-2002 Estándares radiológicos para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

JIS K 0131:1996 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
JIS A 1481-3:2014 Determinación del amianto en productos de materiales de construcción. Parte 3: Análisis cuantitativo de la contenido de amianto mediante el método de difracción de rayos X.
JIS A 1481-3 AMD 1:2022 Determinación del amianto en productos de materiales de construcción. Parte 3: Análisis cuantitativo de la contenido de amianto mediante el método de difracción de rayos X (Enmienda 1).
JIS K 0162:2010 Análisis químico de superficies - Espectroscopía fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

Professional Standard - Petroleum, Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

SY/T 5163-1995 Método de análisis de difracción de rayos X para el contenido relativo de minerales arcillosos en rocas sedimentarias
SY/T 6210-1996 Método de análisis cuantitativo de difracción de rayos X de minerales arcillosos totales y minerales no arcillosos comunes en rocas sedimentarias

American Society for Testing and Materials (ASTM), Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

ASTM E915-96 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-16 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-96(2002) Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM E915-10 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
ASTM D5380-93(2003) Método de prueba estándar para la identificación de pigmentos cristalinos y extensores en pintura mediante análisis de difracción de rayos X
ASTM D5380-93(2021) Método de prueba estándar para la identificación de pigmentos cristalinos y extensores en pintura mediante análisis de difracción de rayos X
ASTM C1365-06 Método de prueba estándar para la determinación de la proporción de fases en el cemento Portland y el clinker de cemento Portland mediante análisis de difracción de rayos X en polvo
ASTM C1365-06(2011) Método de prueba estándar para la determinación de la proporción de fases en el cemento Portland y el clinker de cemento Portland mediante análisis de difracción de rayos X en polvo
ASTM C1365-98 Método de prueba estándar para la determinación de la proporción de fases en el cemento Portland y el clinker de cemento Portland mediante análisis de difracción de rayos X en polvo
ASTM C1365-98(2004) Método de prueba estándar para la determinación de la proporción de fases en el cemento Portland y el clinker de cemento Portland mediante análisis de difracción de rayos X en polvo
ASTM C1365-18 Método de prueba estándar para la determinación de la proporción de fases en el cemento Portland y el clinker de cemento Portland mediante análisis de difracción de rayos X en polvo
ASTM E1588-07e1 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM E1588-07 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva

Professional Standard - Education, Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difracción de rayos X de cristal único
JY/T 008-1996 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difractómetro de rayos X de cristal único de cuatro círculos

Professional Standard - Nuclear Industry, Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

EJ/T 684-2016 Analizador de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía portátil

Association Francaise de Normalisation, Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

NF X21-008:2012 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos dispersivos de energía para su uso en microanálisis con sonda electrónica
NF ISO 22262-3:2017 Calidad del aire - Materiales sólidos - Parte 3: determinación cuantitativa del amianto mediante el método de difracción de rayos X
NF X43-066-3*NF ISO 22262-3:2017 Calidad del aire - Materiales a granel - Parte 3: determinación cuantitativa del amianto mediante el método de difracción de rayos X
NF X21-055:2006 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía.
NF ISO 16258-2:2015 Aire en los lugares de trabajo. Fracción respirable de sílice cristalina mediante difracción de rayos X. Parte 2: método de análisis indirecto.
NF M07-095*NF EN ISO 14597:1999 Productos derivados del petróleo. Determinación del contenido de vanadio y níquel. Espectrometría de fluorescencia de rayos X de longitud de onda dispersiva.
NF ISO 16258-1:2015 Aire en los lugares de trabajo. Fracción respirable de sílice cristalina mediante difracción de rayos X. Parte 1: método de análisis de filtro directo.
NF X21-003:2006 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis de puntos cualitativos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda.
NF EN 16424:2014 Caracterización de residuos: método de detección para la determinación de la composición elemental mediante analizadores portátiles de fluorescencia de rayos X
NF X21-006:2007 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis puntual cuantitativo de muestras a granel mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva.
NF EN ISO 13196:2015 Calidad del suelo: análisis rápido de elementos seleccionados en el suelo utilizando un espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía portátil o portátil.

International Organization for Standardization (ISO), Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

ISO 15632:2021 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para su uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA).
ISO 15632:2012 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica
ISO 15632:2002 Análisis de microhaces: especificación instrumental para espectrómetros de rayos X de energía dispersiva con detectores de semiconductores
ISO 22262-3:2016 Calidad del aire - Materiales a granel - Parte 3: Determinación cuantitativa del amianto mediante el método de difracción de rayos X
ISO 15472:2010 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
ISO 15472:2001 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
ISO 15470:2004 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
ISO 17470:2014 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Directrices para el análisis cualitativo de puntos mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda
ISO 22489:2006 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva
ISO 22489:2016 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda

German Institute for Standardization, Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

DIN 51418-2:2015 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
DIN 51418-2:1996 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
DIN ISO 15632:2015 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica (ISO 15632:2012)
DIN 51418-2:2015-03 Espectrometría de rayos X - Emisión de rayos X y análisis de fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados
DIN 50433-1:1976 Ensayos de materiales inorgánicos semiconductores; determinación de la orientación de monocristales mediante difracción de rayos X
DIN 51418-2 Bb.1:2000 Espectrometría de rayos X - Análisis de emisión de rayos X y fluorescencia de rayos X (XRF) - Parte 2: Definiciones y principios básicos para mediciones, calibración y evaluación de resultados; información adicional y ejemplos de cálculo
DIN ISO 15632:2022-09 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA) (ISO 15632:2...
DIN ISO 15472:2020-05 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía (ISO 15472:2010); Texto en ingles
DIN 51577-4:1994 Ensayos de hidrocarburos de aceites minerales y productos similares; determinación del contenido de cloro y bromo; Análisis mediante espectrometría de rayos X de energía dispersiva con instrumentos de bajo coste.
DIN 25703:1993 Determinación del contenido de uranio y plutonio en soluciones de ácido nítrico mediante análisis de fluorescencia de rayos X dispersivos de longitud de onda.
DIN 51440-1:2003 Ensayos de gasolinas - Determinación del contenido de fósforo - Parte 1: Análisis mediante espectrometría de rayos X dispersiva de longitud de onda (XRS)
DIN EN ISO 14597:1999 Productos derivados del petróleo - Determinación del contenido de vanadio y níquel - Espectrometría de fluorescencia de rayos X de longitud de onda dispersiva (ISO 14597:1997); Versión alemana EN ISO 14597:1999

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

KS D ISO 15632:2012 Análisis de microhaces－Especificaciones instrumentales para espectrómetros de rayos X de energía dispersiva con detectores de semiconductores
KS D ISO 14706-2003(2018) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total
KS M 1068-2005 Cribado cualitativo/cuantitativo mediante espectrometría XRF
KS D ISO 15472:2003 Análisis químico de superficies-Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X-Calibración de escalas de energía
KS D ISO 15632:2018 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sondas electrónicas.
KS M ISO 14597:2003 Productos derivados del petróleo－Determinación del contenido de vanadio y níquel－Espectrometría de fluorescencia de rayos X de longitud de onda dispersiva
KS D ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies－Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X－Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
KS D ISO 22489:2012 Análisis de microhaz－Microanálisis con sonda electrónica－Análisis puntual cuantitativo para muestras a granel mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva
KS D ISO 22489:2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis puntual cuantitativo de muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.
KS C IEC 61017-2:2005 Instrumentación de protección radiológica－Equipos portátiles, transportables o instalados para medir la radiación X o gamma para el monitoreo ambiental－Parte 2: Integración de conjuntos
KS D ISO 19319-2005(2020) Análisis químico de superficies－Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X－Determinación de la resolución lateral, área de análisis y área de muestra vistas por el analizador
KS E ISO 10086-1:2007 Carbón－Métodos para evaluar floculantes para su uso en la preparación de carbón－Parte 1:Parámetros básicos

Standard Association of Australia （SAA）, Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

AS 2879.3:2010 Alúmina, Parte 3: Determinación del contenido de alfa alúmina mediante difracción de rayos X
AS ISO 15470:2006 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados

工业和信息化部/国家能源局, Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

JB/T 12962.2-2016 Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva Parte 2: Analizadores elementales
JB/T 12962.3-2016 Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva Parte 3: Analizador de espesor de recubrimiento

Professional Standard - Agriculture, Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

SN/T 3323.7-2023 Incrustación de óxido de hierro - Parte 7: Determinación del contenido de α-SiO2 libre Método del valor K de difracción de rayos X

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

JJF 1133-2005 Especificación de calibración del medidor de oro mediante espectrometría de fluorescencia de rayos X

KR-KS, Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

KS D ISO 14706-2003(2023) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total
KS D ISO 15472-2003(2023) Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Calibración de escala de energía
KS D ISO 15632-2018 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sondas electrónicas.
KS D ISO 22489-2018 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis puntual cuantitativo de muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.
KS D ISO 22489-2018(2023) Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis puntual cuantitativo de muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

GB/T 22571-2017 Análisis químico de superficies: espectrómetros de fotoelectrones de rayos X. Calibración de escalas de energía.
GB/T 36053-2018 Evaluación del espesor, la densidad y el ancho de la interfaz de películas delgadas mediante reflectometría de rayos X: requisitos instrumentales, alineación y posicionamiento, recopilación de datos, análisis de datos e informes.

RU-GOST R, Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

GOST 19647-1974 Métodos y medios de análisis de rayos X con radioisótopos. Términos y definiciones

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

YS/T 438.5-2013 Métodos para la determinación del rendimiento físico de la alúmina Sandy. Parte 5: Método del espectro de difracción de rayos X para la determinación del contenido de α-alúmina
YS/T 703-2014
YS/T 575.23-2009 Método para el análisis químico de minerales de aluminio. Parte 23: Determinación del contenido de elementos Método espectrométrico de fluorescencia de rayos X.

(U.S.) Ford Automotive Standards, Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

FORD FLTM BI 017-03-2001 DETERMINACIÓN DEL PESO DEL RECUBRIMIENTO - MÉTODO DE ANÁLISIS DE RAYOS X PORTASPEC DEL COMPLEJO DE CROMO/POLVO DE ZINC
FORD FLTM BI 017-3-2001 DETERMINACIÓN DEL PESO DEL RECUBRIMIENTO - MÉTODO DE ANÁLISIS DE RAYOS X PORTASPEC DEL COMPLEJO DE CROMO/POLVO DE ZINC

British Standards Institution (BSI), Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

BS ISO 15470:2005 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
BS ISO 15470:2017 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Descripción de los parámetros de interpretación instrumental seleccionados.
BS ISO 15632:2012 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sonda electrónica
BS ISO 15632:2021 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para su uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
BS ISO 22489:2007 Análisis de microhaces - Microanálisis con sonda electrónica - Análisis de puntos cuantitativos para muestras en masa mediante espectroscopía de rayos X de longitud de onda dispersiva
BS ISO 22489:2016 Análisis de microhaces. Microanálisis con sonda electrónica. Análisis de puntos cuantitativos para muestras a granel mediante espectroscopía de rayos X dispersiva de longitud de onda
BS EN ISO 21587-1:2007 Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Aparatos, reactivos, disolución y sílice gravimétrica
19/30394914 DC BS ISO 15632. Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía para uso en un microscopio de sonda electrónica o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
BS EN ISO 10058-1:2009 Análisis químico de productos refractarios de magnesita y dolomita (alternativa al método de fluorescencia de rayos X). Aparatos, reactivos, disolución y determinación de sílice gravimétrica.
BS EN ISO 10058-1:2008 Análisis químico de productos refractarios de magnesita y dolomita (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 1: Aparatos, reactivos, disolución y determinación de sílice gravimétrica (ISO 10058-1:2008)

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

DB37/T 266-1999 Método de análisis de fluorescencia de rayos X para determinar la cantidad de escoria residual añadida en productos de materiales de construcción.

International Electrotechnical Commission (IEC), Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

IEC 60846-2:2007 Instrumentación de protección radiológica. Medidores y/o monitores de dosis (velocidad) equivalente ambiental y/o direccional para radiación beta, X y gamma. Parte 2: Instrumentos portátiles de tasa de dosis y dosis de fotones y beta de alto rango para protección radiológica de emergencia.
IEC 61017-2:1994 Instrumentación de protección radiológica; equipos portátiles, transportables o instalados para medir radiación X o gamma para monitoreo ambiental; parte 2: integración de conjuntos

Group Standards of the People's Republic of China, Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

T/NAIA 0128-2022 Determinación rápida de hidróxido de aluminio Determinación del contenido de elementos mediante análisis espectroscópico de fluorescencia de rayos X (tableta)

Professional Standard - Machinery, Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

JB/T 11602.3-2013 Instrumentos de prueba no destructivos. Medición y evaluación del voltaje del tubo de rayos X. Parte 3: Detección espectrométrica
JB/T 11602.1-2013 Instrumentos de ensayo no destructivos. Medición y evaluación del voltaje del tubo de rayos X. Parte 1: Método del divisor de voltaje.

Professional Standard - Medicine, Análisis semicuantitativo con difractómetro de rayos X.

YY/T 1807-2022 Ensayos rápidos y no destructivos de componentes principales de materiales metálicos para restauraciones dentales Método de espectrómetro de fluorescencia de rayos X portátil (método semicuantitativo)