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Análisis cuantitativo mediante difractómetro de rayos X.
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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Análisis cuantitativo mediante difractómetro de rayos X. son: pruebas de metales, Minerales no metalíferos, Refractarios, Química analítica, Protección de radiación, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, Metales no ferrosos, Productos de la industria química., Materiales semiconductores, Pruebas no destructivas, Educación, químicos inorgánicos, Materiales de construcción.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Análisis cuantitativo mediante difractómetro de rayos X.
- GB/T 8359-1987 Carburos en acero rápido. Análisis de fase cuantitativa. Método de difractómetro de rayos X.
- GB 16355-1996 Normas de protección radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
- GB/T 5225-1985 Materiales metálicos--Análisis de fase cuantitativo--Método de difracción de rayos X del "valor K"
- GB/T 8362-1987 Austenita retenida en acero--Determinación cuantitativa--Método de difractómetro de rayos X
- GB/T 8360-1987 Determinación de la constante de red de metales: método del difractómetro de rayos X
- GB/T 30904-2014 Productos químicos inorgánicos para uso industrial. Análisis de forma cristalina. Método de difracción de rayos X.
Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Análisis cuantitativo mediante difractómetro de rayos X.
- YB/T 5336-2006 Análisis cuantitativo de la fase de carburo en acero de alta velocidad mediante el método de difracción de rayos X
- YB/T 172-2000 Análisis cuantitativo de fases de ladrillos de sílice. Método de difracción de rayos X.
- YB/T 5320-2006 Método del valor K de difracción de rayos X para el análisis de fase cuantitativo de materiales metálicos
- YB/T 5338-2006 Método de difracción de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita retenida en acero
- YB/T 5337-2006 Método de determinación del método del difractómetro de rayos X constante de red metálica
Professional Standard - Customs, Análisis cuantitativo mediante difractómetro de rayos X.
- HS/T 12-2006 Análisis cuantitativo de fase mixta de talco, clorito y magnesita. Método de difractómetro de rayos X
PT-IPQ, Análisis cuantitativo mediante difractómetro de rayos X.
工业和信息化部, Análisis cuantitativo mediante difractómetro de rayos X.
- YB/T 172-2020 Análisis de fase cuantitativa de ladrillos de sílice mediante el método de difracción de rayos X.
- YB/T 5338-2019 Método de difractómetro de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita en acero.
- YS/T 1178-2017 Método de difracción de rayos X de análisis de fase de escoria de aluminio.
- YS/T 1160-2016 Análisis de fase cuantitativa del polvo de silicio industrial Determinación del contenido de sílice Método del valor K de difracción de rayos X
- YB/T 5360-2020 Determinación de cifras polares cuantitativas de materiales metálicos mediante el método de difracción de rayos X.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Análisis cuantitativo mediante difractómetro de rayos X.
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Análisis cuantitativo mediante difractómetro de rayos X.
Occupational Health Standard of the People's Republic of China, Análisis cuantitativo mediante difractómetro de rayos X.
- GBZ 115-2002 Estándares radiológicos para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Análisis cuantitativo mediante difractómetro de rayos X.
- JIS K 0131:1996 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
American National Standards Institute （ANSI), Análisis cuantitativo mediante difractómetro de rayos X.
- ANSI N43.2-2001 Seguridad radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
- ANSI/ASTM E915:1996 Método para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ANSI/ASTM E1426:1994 Método de prueba para determinar el parámetro elástico efectivo para mediciones de tensión residual por difracción de rayos X
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Análisis cuantitativo mediante difractómetro de rayos X.
- GB/T 36923-2018 Identificación de polvo de perlas: análisis de difracción de rayos X.
- GB/T 37983-2019 Métodos de prueba de difracción de rayos X para determinar la orientación de materiales cristalinos por rotación.
- GB/T 40407-2021 Método de análisis de difracción de rayos X en polvo para determinar las fases en el clinker de cemento portland
Professional Standard - Petroleum, Análisis cuantitativo mediante difractómetro de rayos X.
- SY/T 5163-1995 Método de análisis de difracción de rayos X para el contenido relativo de minerales arcillosos en rocas sedimentarias
American Society for Testing and Materials (ASTM), Análisis cuantitativo mediante difractómetro de rayos X.
- ASTM E915-96 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E915-16 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E915-96(2002) Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
Professional Standard - Education, Análisis cuantitativo mediante difractómetro de rayos X.
- JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difracción de rayos X de cristal único