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Prueba de flexión de película

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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Prueba de flexión de película son: Dispositivos semiconductores, Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones..


British Standards Institution (BSI), Prueba de flexión de película

  • BS IEC 62951-1:2017 Dispositivos semiconductores. Dispositivos semiconductores flexibles y estirables: método de prueba de flexión para películas delgadas conductoras sobre sustratos flexibles
  • BS EN 62047-18:2013 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Métodos de prueba de flexión de materiales de película delgada.

German Institute for Standardization, Prueba de flexión de película

  • DIN EN 62047-18:2014-04 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 18: Métodos de prueba de flexión de materiales de película delgada (IEC 62047-18:2013); Versión alemana EN 62047-18:2013

ES-UNE, Prueba de flexión de película

  • UNE-EN 62047-18:2013 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 18: Métodos de ensayo de flexión de materiales de película delgada (Ratificada por AENOR en noviembre de 2013.)

International Electrotechnical Commission (IEC), Prueba de flexión de película

  • IEC 62047-18:2013 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 18: Métodos de prueba de flexión de materiales de película delgada.




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