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薄膜的弯曲测试

本专题涉及薄膜的弯曲测试的标准有9条。

国际标准分类中，薄膜的弯曲测试涉及到半导体分立器件、电子电信设备用机电元件。

在中国标准分类中，薄膜的弯曲测试涉及到半导体分立器件综合。

英国标准学会，关于薄膜的弯曲测试的标准

• BS IEC 62951-1:2017 半导体器件 柔性和可拉伸半导体器件 柔性基板上导电薄膜的弯曲测试方法
• BS EN 62047-18:2013 半导体器件.微型机电装置.薄膜材料的弯曲测试方法

SCC，关于薄膜的弯曲测试的标准

• DIN EN 62951-1 E:2015 文件草案 半导体器件 柔性和可拉伸半导体器件 第1部分：柔性基板上导电薄膜的弯曲测试方法 (IEC 47/2224/CD:2015)
• DANSK DS/EN 62047-18:2013 半导体器件 微机电器件 第18部分：薄膜材料的弯曲测试方法
• DIN EN 62047-18 E:2011 半导体器件 微机电器件 第 18 部分：薄膜材料的弯曲测试方法 (IEC 47F/76/CD:2011) 草案

德国标准化学会，关于薄膜的弯曲测试的标准

• DIN EN 62047-18:2014-04 半导体器件-微机电器件-第18部分：薄膜材料的弯曲测试方法

ES-UNE，关于薄膜的弯曲测试的标准

• UNE-EN 62047-18:2013 半导体器件 微机电器件 第18部分：薄膜材料的弯曲测试方法

GSO，关于薄膜的弯曲测试的标准

• GSO IEC 62047-18:2021 半导体器件 微机电器件 第18部分：薄膜材料的弯曲测试方法

国际电工委员会，关于薄膜的弯曲测试的标准

• IEC 62047-18:2013 半导体器件.微型机电器件.第18部分:薄膜材料的弯曲测试方法

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