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Difractómetro de rayos X de película fina
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Professional Standard - Machinery, Difractómetro de rayos X de película fina
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Difractómetro de rayos X de película fina
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Difractómetro de rayos X de película fina
- GB 16355-1996 Normas de protección radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
- GB/T 8360-1987 Determinación de la constante de red de metales: método del difractómetro de rayos X
- GB/T 8362-1987 Austenita retenida en acero--Determinación cuantitativa--Método de difractómetro de rayos X
- GB/T 8359-1987 Carburos en acero rápido. Análisis de fase cuantitativa. Método de difractómetro de rayos X.
- GB/T 19421.1-2003 Métodos de prueba de disilicato de sodio en capas cristalinas - Análisis cualitativo de disilicato de sodio en capas cristalinas delta - Método de difractómetro de rayos X
工业和信息化部, Difractómetro de rayos X de película fina
- YB/T 5338-2019 Método de difractómetro de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita en acero.
PL-PKN, Difractómetro de rayos X de película fina
- PN C99282-06-1989 Películas médicas radiográficas Característica cualitativa y utilizable de las películas para radiografía de rayos X.
Occupational Health Standard of the People's Republic of China, Difractómetro de rayos X de película fina
- GBZ 115-2002 Estándares radiológicos para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
American National Standards Institute （ANSI), Difractómetro de rayos X de película fina
- ANSI/ASTM E915:1996 Método para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Difractómetro de rayos X de película fina
- GB/T 37983-2019 Métodos de prueba de difracción de rayos X para determinar la orientación de materiales cristalinos por rotación.
- GB/T 36401-2018 Análisis químico de superficies: espectroscopia de fotoelectrones de rayos X: informes de resultados de análisis de películas delgadas
Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Difractómetro de rayos X de película fina
- YB/T 5337-2006 Método de determinación del método del difractómetro de rayos X constante de red metálica
- YB/T 5338-2006 Método de difracción de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita retenida en acero
- YB/T 5336-2006 Análisis cuantitativo de la fase de carburo en acero de alta velocidad mediante el método de difracción de rayos X
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Difractómetro de rayos X de película fina
- JJF 1613-2017 Especificación de calibración para instrumentos de medición de espesor de película delgada mediante reflectividad de rayos X de incidencia rasante
British Standards Institution (BSI), Difractómetro de rayos X de película fina
- BS EN 13925-3:2005(2009) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
- BS EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
- BS ISO 22278:2020 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de prueba para la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo
- 20/30360821 DC BS ISO 22278. Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de prueba para la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo
- BS ISO 13424:2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X. Informe de resultados de análisis de película delgada.
- BS ISO 16413:2013 Evaluación de espesor, densidad y ancho de interfaz de películas delgadas mediante reflectometría de rayos X. Alineación y posicionamiento de requisitos instrumentales, recopilación de datos, análisis de datos e informes.
- BS ISO 16413:2020 Evaluación de espesor, densidad y ancho de interfaz de películas delgadas mediante reflectometría de rayos X. Requisitos instrumentales, alineación y posicionamiento, recopilación de datos, análisis de datos e informes.
RU-GOST R, Difractómetro de rayos X de película fina
- GOST R 8.698-2010 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Parámetros dimensionales de nanopartículas y películas delgadas. Método de medición mediante un difractómetro de dispersión de rayos X de ángulo pequeño
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Difractómetro de rayos X de película fina
- JIS H 7805:2005 Método para la determinación del tamaño de cristalitos en catalizadores metálicos mediante difractometría de rayos X.
International Organization for Standardization (ISO), Difractómetro de rayos X de película fina
- ISO 22278:2020 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada): método de prueba para determinar la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo
- ISO 17636-1:2013 Ensayos no destructivos de soldaduras - Ensayos radiográficos - Parte 1: Técnicas de rayos X y gamma con película
- ISO 13424:2013 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Informes de resultados de análisis de películas delgadas.
- ISO 16413:2013 Evaluación del espesor, densidad y ancho de la interfaz de películas delgadas mediante reflectometría de rayos X: requisitos instrumentales, alineación y posicionamiento, recopilación de datos, análisis de datos e informes.
- ISO 16413:2020 Evaluación del espesor, la densidad y el ancho de la interfaz de películas delgadas mediante reflectometría de rayos X. Requisitos instrumentales, alineación y posicionamiento, recopilación de datos, análisis de datos e informes.
American Society for Testing and Materials (ASTM), Difractómetro de rayos X de película fina
- ASTM E915-96 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E915-16 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E915-96(2002) Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E915-19 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E915-10 Método de prueba estándar para verificar la alineación de los instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E915-21 Práctica estándar para verificar la alineación de instrumentos de difracción de rayos X para la medición de tensiones residuales
- ASTM E2120-00 Práctica estándar para la evaluación del rendimiento del espectrómetro de fluorescencia de rayos X portátil para la medición de plomo en películas de pintura
German Institute for Standardization, Difractómetro de rayos X de película fina
- DIN EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
- DIN EN 13925-3:2005-07 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
- DIN EN ISO 17636-1:2013 Ensayos no destructivos de soldaduras. Ensayos radiográficos. Parte 1: Técnicas de rayos X y gamma con película (ISO 17636-1:2013); Versión alemana EN ISO 17636-1:2013
European Committee for Standardization (CEN), Difractómetro de rayos X de película fina
- EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
Association Francaise de Normalisation, Difractómetro de rayos X de película fina
Danish Standards Foundation, Difractómetro de rayos X de película fina
- DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
Lithuanian Standards Office , Difractómetro de rayos X de película fina
- LST EN 13925-3-2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
- LST EN ISO 17636-1:2013 Ensayos no destructivos de soldaduras. Ensayos radiográficos. Parte 1: Técnicas de rayos X y gamma con película (ISO 17636-1:2013)
Professional Standard - Customs, Difractómetro de rayos X de película fina
- HS/T 12-2006 Análisis cuantitativo de fase mixta de talco, clorito y magnesita. Método de difractómetro de rayos X
AENOR, Difractómetro de rayos X de película fina
- UNE-EN 13925-3:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
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Professional Standard - Education, Difractómetro de rayos X de película fina
- JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difracción de rayos X de cristal único
- JY/T 008-1996 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difractómetro de rayos X de cristal único de cuatro círculos
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Difractómetro de rayos X de película fina
- GB/T 36053-2018 Evaluación del espesor, la densidad y el ancho de la interfaz de películas delgadas mediante reflectometría de rayos X: requisitos instrumentales, alineación y posicionamiento, recopilación de datos, análisis de datos e informes.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Difractómetro de rayos X de película fina
- KS D ISO 16413:2021 Evaluación del espesor, la densidad y el ancho de la interfaz de películas delgadas mediante reflectometría de rayos X. Requisitos instrumentales, alineación y posicionamiento, recopilación de datos, análisis de datos e informes.
KR-KS, Difractómetro de rayos X de película fina
- KS D ISO 16413-2021 Evaluación del espesor, la densidad y el ancho de la interfaz de películas delgadas mediante reflectometría de rayos X. Requisitos instrumentales, alineación y posicionamiento, recopilación de datos, análisis de datos e informes.