Lámina de cristal único

Lámina de cristal único, Total: 500 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Lámina de cristal único son: Productos de metales no ferrosos., Materiales semiconductores, Metales no ferrosos, Hornos industriales, Papel y cartón, Fluidos aislantes, Vocabularios, Materiales para la construcción aeroespacial., Instalaciones en edificios, pruebas de metales, Condensadores, TECNOLOGÍA DE CUIDADO DE LA SALUD, GENERALIDADES. TERMINOLOGÍA. ESTANDARIZACIÓN. DOCUMENTACIÓN, Componentes y accesorios para equipos de telecomunicaciones., Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos., Óptica y medidas ópticas., Pilas y baterías galvánicas., Herramientas de corte, ingeniería de energía solar, Dispositivos de visualización electrónica., Herramientas de máquina, Dispositivos semiconductores, Metalurgia de polvos, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, Equipo óptico, Ingeniería de energía y transferencia de calor en general., Productos de hierro y acero., Comunicaciones de fibra óptica., Productos de la industria química., Calidad del aire, ingeniería de energía nuclear, Circuitos integrados. Microelectrónica, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Filtros electricos, Rectificadores. Convertidores. Fuente de alimentación estabilizada, Materiales para el refuerzo de composites., Vaso, Cerámica, Optoelectrónica. Equipo láser.

工业和信息化部, Lámina de cristal único

YS/T 1517-2022 Tiras y láminas de cobre sin oxígeno de grano fino
JC/T 2417-2017 Material monocristalino piezoeléctrico de tetraborato de litio
YS/T 1182-2016 Especificaciones de producción de seguridad de monocristal de germanio.
YB/T 4589-2017 Materiales compuestos de carbono/carbono para aislamiento de hornos monocristalinos
YB/T 4587-2017 Elemento calefactor compuesto de carbono/carbono para horno monocristalino
JC/T 2545-2019 Monocristal piroeléctrico para detectores infrarrojos de alto rendimiento
YB/T 4588-2017 Estructura de placa de carbono/materiales compuestos de carbono para hornos monocristalinos.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Lámina de cristal único

GB/T 5238-2019 Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
GB/T 20228-2021 Monocristal de arseniuro de galio
GB/T 20229-2022 Monocristal de fosfuro de galio
GB/T 20230-2022 Monocristal de fosfuro de indio
GB/T 39137-2020 Determinación de la orientación de un monocristal de metal refractario.
GB/T 12964-2018 Obleas pulidas de silicio monocristalino
GB/T 26069-2022 Obleas de silicio monocristalino recocido
GB/T 39865-2021 Método para medir el índice de refracción de cristales ópticos uniaxiales.
GB/T 25076-2018 Silicio monocristalino para células solares.
GB/T 36648-2018 Especificación para monómeros de cristal líquido TFT
GB/T 36647-2018 Especificación para monómeros de cristal líquido.
GB/T 12965-2018 Silicio monocristalino en forma de obleas cortadas y obleas lapeadas
GB/T 26071-2018 Obleas de silicio monocristalino para células solares
GB/T 37418-2019 Oxiortosilicato de lutecio, monocristales de centelleo de oxiortosilicato de lutecio-itrio
GB/T 18910.201-2021 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 20-1: Inspección visual. Celdas de visualización de cristal líquido monocromáticas.
GB/T 41325-2022 Obleas de silicio monocristalino pulidas con origen cristalino de baja densidad para circuitos integrados
GB/T 19346.3-2021 Métodos de medición de aleaciones amorfas y nanocristalinas. Parte 3: Propiedades magnéticas de CA de una tira amorfa a base de Fe utilizando una muestra de una sola hoja.
GB/T 11094-2020 Monocristal de arseniuro de galio y oblea de corte cultivada mediante el método Bridgman horizontal
GB/T 5252-2020 Método de prueba para la densidad de dislocación del germanio monocristalino.
GB/T 18910.202-2021 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 20-2: Inspección visual. Módulos de visualización de cristal líquido de matriz monocromática.
GB/T 8760-2020 Método de prueba para la densidad de dislocación del arseniuro de galio monocristalino

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Lámina de cristal único

GB/T 5238-2009 Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
GB/T 5238-2009(英文版) Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
GB/T 5238-2009e Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
GB/T 31092-2014 Lingote de zafiro monocristalino
GB/T 31092-2022 Barra de zafiro monocristalino
GB/T 12962-1996 silicio monocristalino
GB/T 12962-2005 Silicio monocristalino
GB/T 5238-1995
GB/T 12962-2015 monocristal de silicio
GB/T 15713-1995 Rodajas de germanio monocristalino.
GB/T 29504-2013 Silicio monocristalino de 300 mm.
GB/T 20229-2006 Cristal de señal de fosfuro de galio
GB/T 20230-2006 Cristal de señal de fosfuro de indio
GB/T 20228-2006 Monocristal de arseniuro de galio
GB/T 14843-1993 Monocristales de niobato de litio
GB/T 1555-1997 Métodos de prueba para determinar la orientación de un monocristal semiconductor.
GB/T 11072-2009 Policristal de antimonuro de indio, cristales individuales y rodajas cortadas
GB/T 1555-2023 Método para determinar la orientación cristalina de un monocristal semiconductor
GB/T 1555-2009 Métodos de prueba para determinar la orientación de un monocristal semiconductor.
GB/T 12964-2003 Obleas pulidas de silicio monocristalino
GB/T 29506-2013 Obleas de silicio monocristalino pulido de 300 mm
GB/T 30656-2014 Obleas de carburo de silicio monocristalino pulido
GB/T 25076-2010 Silicio monocristalino de célula solar.
GB/T 30656-2023 Oblea pulida de un solo cristal de carburo de silicio
GB/T 43724-2024 Método de prueba de cristal líquido único
GB/T 26072-2010 Célula solar monocristal de germanio
GB/T 41751-2022 Método de prueba para determinar el radio de curvatura del plano cristalino en obleas de sustrato monocristalino de GaN
GB/T 42676-2023 Método de difracción de rayos X para probar la calidad del monocristal semiconductor
GB/T 12965-1996 Silicio monocristalino en forma de rodajas cortadas y rodajas traslapadas
GB/T 12965-2005 Rebanadas cortadas de silicio monocristalino y rebanadas traslapadas
GB/T 1551-2009 Método de prueba para medir la resistividad del silicio monocristal.
GB/T 26065-2010 Especificación para obleas de silicio de prueba pulidas
GB/T 30858-2014 Producto de sustrato de zafiro monocristalino pulido
GB/T 13843-1992 Sustratos de zafiro monocristalino pulido
GB/T 30118-2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW). Especificaciones y métodos de medición
GB/T 25075-2010 Monocristal de arseniuro de galio para células solares
GB/T 29420-2012 Dispositivos de cristal láser de vanadato dopado con Nd
GB/T 29508-2013 Silicio monocristalino de 300 mm en rodajas cortadas y trituradas
GB/T 34213-2023 Alúmina de alta pureza para monocristal de zafiro
GB/T 43897-2024 Fundición de aleación maestra de aleación de alta temperatura monocristal
GB 29442-2012 La norma de consumo de energía por unidad de productos de láminas, tiras y láminas de cobre y aleaciones de cobre.
GB/T 11094-2007 Oblea de corte y cristal único de arseniuro de galio cultivado en Bridgman horizontal
GB/T 26071-2010 Silicio monocristalino en rodajas para células solares fotovoltaicas
GB/T 29421-2012 Dispositivos de cristal birrebringente de vanadato
GB/T 9532-2012 Designaciones para cristales piezoeléctricos
GB/T 30866-2014 Método de prueba para medir el diámetro de obleas de carburo de silicio monocristalino.
GB/T 18032-2000 El método de inspección del defecto microscópico AB en monocristal de arseniuro de galio
GB/T 32278-2015 Método de prueba para determinar la planitud de una oblea única de carburo de silicio
GB/T 32188-2015 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de la curva de oscilación de rayos X de cristal doble del sustrato de cristal único de GaN
GB/T 5252-2006 Monocristal de germanio. Inspección de la densidad de las fosas de grabado por dislocación
GB/T 8760-2006 Determinación de la densidad de dislocaciones en monocristal de arseniuro de galio
GB/T 11093-2007 Monocristales de arseniuro de galio cultivados en czochralski encapsulados en líquido y rodajas cortadas
GB/T 26044-2010 Alambre de cobre redondo monocristalino y material de trefilado para transmisión de señal
GB 8760-1988 Monocristal de arseniuro de galio－Determinación de la densidad de dislocaciones
GB/T 41765-2022 Método de prueba para la densidad de dislocaciones de carburo de silicio monocristalino.

Society of Automotive Engineers (SAE), Lámina de cristal único

SAE AMS7851B-1995 LÁMINA, HOJA, TIRA Y PLACA, ALEACIÓN DE COLUMBIUM 10W - 2.5Zr Recristalizado
SAE AMS7851D-2017 Lámina, lámina, tira y placa de aleación de columbio (niobio) 10 W - 2,5 Zr recristalizado
SAE AMS7851C-2008 Lámina, lámina, tira y placa de aleación de columbio (niobio), 10 W - 2,5 Zr recristalizado
SAE AMS7851E-2022 Lámina, lámina, tira y placa de aleación de columbio (niobio) 10 W - 2,5 Zr recristalizado
SAE AMS7851C-2003 Lámina, lámina, tira y placa de aleación de columbio (niobio), 10 W - 2,5 Zr recristalizado
SAE AMS7851D-2013 Lámina, lámina, tira y placa de aleación de columbio (niobio), 10 W 2,5 Zr recristalizado

Professional Standard - Machinery, Lámina de cristal único

JB/T 10439-2004 Hornos de cultivo de cristales Hornos de cultivo de cristales de la serie TDR mediante el método Czochralski
JB/T 5633-1991 Horno monocristalino. Clasificación del consumo de energía.
JB/T 7996-1999 Abrasivo común Alundum simple
JB/T 7996-2012 Abrasivo convencional. Alúmina fundida monocristalina.
JB/T 12068-2014
JB/T 5203-1991 Método de alúmina fundida monocristalina para análisis químico.
JB/T 5203-2012 Métodos de análisis químico para alúmina fundida monocristalina.
JB/T 5203-2023 Métodos de análisis químico para alúmina fundida monocristalina.
JB/T 7826.2-1996 Módulo puente monofásico para tiristores serie MTQ (MFQ)
JB/T 7826.3-1995 Módulo puente monofásico de tiristores serie MTS (MFS)
JB/T 7826.2-1995 Módulo puente monofásico de tiristores serie MTQ (MFQ)

UNKNOWN, Lámina de cristal único

YB 1602-1983 monocristal de silicio
YB 1602-83 monocristal de silicio
YB 1603-83 Discos de corte y discos abrasivos monocristalinos de silicio

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, Lámina de cristal único

DB13/T 1314-2010 Varilla cuadrada de silicio monocristalino de grado solar, oblea de silicio monocristalino
DB13/T 1828-2013 Oblea de silicio monocristalino de grado solar
DB13/T 5092-2019 Requisitos técnicos generales para cristales semilla cuadrados para lingotes de silicio monocristalino de grado solar

British Standards Institution (BSI), Lámina de cristal único

BS EN 3938:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B46001 (NiCo20Si5B3) Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
BS EN 3919:1998 Aleación a base de níquel NI-B41202 (NiCr14Si5B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
BS EN 3921:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B41203 (NiCr7Si5B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
BS EN 3941:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B41204 (NiCr13Si4B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
BS EN 4085:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B40002 (NiSi4B2) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
13/30276532 DC BS EN 61747-20-1. Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 20-1. Inspección visual. Celdas de visualización de cristal líquido monocromáticas (excluidas todas las celdas de visualización de cristal líquido de matriz activa)
BS EN 4250:2001 Serie aeroespacial - Aleaciones a base de níquel NI-B41001 (NiCr19Si7B) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
BS EN 3925:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B40001 (NiSi5B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
BS EN 3932:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B13001 (NiP11) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
BS EN 3934:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B21001 (NiCr15B4) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
BS EN 61747-2-1:1998 Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido. Módulos LCD monocromáticos de matriz pasiva. Especificación de detalle en blanco
BS EN 61747-2-1:2013 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Módulos LCD monocromáticos de matriz pasiva. Especificación de detalle en blanco
14/30277702 DC BS EN 61747-3. Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 3. Celdas de pantalla de cristal líquido (LCD). Especificación seccional

Group Standards of the People's Republic of China, Lámina de cristal único

T/ZSA 72-2019 Carburo de silicio monocristalino
T/IAWBS 001-2021 Monocristal de carburo de silicio
T/ZZB 0497-2018 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie
T/ZZB 1389-2019 Células fotovoltaicas de silicio monocristalino
T/CEEIA 769-2023 Hornos monocristalinos de silicio totalmente automáticos
T/ZZB 2675-2022 Silicio monocristalino como obleas lapeadas para TVS
T/ZZB 0044-2016 Hornos de cultivo de cristales serie TDR
T/SCSJXH 001-2024 Células solares PERC de silicio monocristalino
T/ZZB 1927-2020 Máquina automática de corte de monosilicio
T/JSAS 015-2021 Células solares de silicio monocristalino
T/GZHG 006-2019 Óxido de manganeso, litio, cobalto, níquel monocristalino grande (NCM523)
T/CISA 167-2021 Aleación maestra de superaleación monocristalina DD419
T/HEBQIA 073-2022 Imanes superconductores de silicio monocristalino de Czochralski
T/CISA 086-2021 Aleación maestra de superaleación de cristal único DD405
T/SZBX 118-2023 Obleas de silicio monocristalino para células solares
T/CASME 465-2023 Texturizador sin IPA para monosilicio
T/IAWBS 005-2018 Obleas de carburo de silicio monocristalino pulido de 6 pulgadas
T/CEC 290-2019 Requisitos técnicos para la oblea de cristal único de contacto posterior
T/NXCL 30-2024 Silicio Czochralski monocristalino de bajo contenido de oxígeno de 300 mm
T/CEMIA 004-2018 Crisoles de cuarzo para el crecimiento de silicio monocristalino en la industria fotovoltaica
T/IAWBS 005-2024 Obleas de carburo de silicio monocristalino pulido de 6 a 8 pulgadas
T/ZS 0596-2024 Crisol de cuarzo para el crecimiento de silicio monocristalino fotovoltaico
T/IAWBS 017-2022 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de curva de oscilación de rayos X de cristal doble de sustrato de cristal único de diamante
T/IAWBS 015-2021 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de la curva de oscilación de rayos X de cristal doble del sustrato de cristal único de Ga2O3
T/IAWBS 016-2022 Método de prueba FWHM de curva oscilante de doble cristal de rayos X para oblea única de carburo de silicio
T/CEMIA 023-2021 Crisol de cuarzo para crecimiento de monosilicio semiconductor.
T/CECA 69-2022 Sustratos de película delgada monocristalinos para dispositivos SAW
T/ZZB 0648-2018 Obleas pulidas de silicio Czochralski monocristalino fuertemente dopadas con fósforo de 200 mm
T/NXCL 017-2022 Obleas pulidas de silicio Czochralski monocristalino fuertemente dopadas con fósforo de 300 mm
T/NXCL 016-2022 Oblea pulida de silicio Czochralski monocristalino fuertemente dopada con antimonio de 200 mm
T/ZZB 1372-2019 Módulos fotovoltaicos (PV) terrestres de silicio cristalino de un solo lado y doble vidrio
T/CSTM 00033-2020 Términos de monocristales ópticos inorgánicos para la detección de radiación nuclear.
T/NXCL 29-2024 Obleas pulidas de silicio Czochralski monocristalino de 300 mm de bajo contenido de oxígeno

Professional Standard - Light Industry, Lámina de cristal único

QB/T 1173-2002 Azúcar de roca monocristalino
QB/T 1173-1991 Azúcar de roca monocristalino

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Lámina de cristal único

YS/T 554-2007 Monocristales de niobato de litio
YS/T 42-2010 Monocristales de tantalato de litio
YS/T 554-2006 Monocristal de niobato de litio
YS/T 1167-2016 Obleas grabadas de silicio monocristalino
YS 783-2012 La norma de consumo de energía por unidad de producto de monocristal de germanio infrarrojo.
YS/T 978-2014 Escudo guía de compuestos de carbono/carbono de horno monocristalino
YS/T 977-2014 Cilindro de aislamiento térmico de compuestos de carbono/carbono de horno monocristalino
YS/T 792-2012 Crisol de compuestos carbono-carbono utilizado en horno monocristalino

轻工业部, Lámina de cristal único

QB 1173-1991 Azúcar de roca monocristalino

YU-JUS, Lámina de cristal único

JUS U.M3.229-1989 Láminas de aluminio recubiertas por una cara. Requisitos de calidad

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Lámina de cristal único

GB/T 34210-2017 Método de prueba para determinar la orientación del monocristal de zafiro.
GB/T 33763-2017 Método de prueba para la densidad de dislocaciones de un monocristal de zafiro.
GB/T 35305-2017 Obleas pulidas de arseniuro de galio monocristalino para células solares

未注明发布机构, Lámina de cristal único

SEMI M55-0308-2008 ESPECIFICACIÓN PARA OBLEAS DE CARBURO DE SILICIO MONOCRISTALINO PULIDO
SEMI M81-0611-2011 GUÍA DE DEFECTOS ENCONTRADOS EN SUSTRATOS DE CARBURO DE SILICIO MONOCRISTALINO

Professional Standard - Electron, Lámina de cristal único

SJ/T 10557.2-1994 Métodos de medición de la estructura del grano cristalino del papel de aluminio para condensadores electrolíticos de alto voltaje.
SJ/T 11500-2015 Método de prueba para medir la orientación cristalográfica de carburo de silicio monocristalino.
SJ/T 11501-2015 Método de prueba para determinar el tipo de cristal de carburo de silicio monocristalino.
SJ/Z 2655-1986 Colección de defectos de germaninm monocristalinos.
SJ 20607-1996 Especificación para cristal de molibdeno
SJ 20444-1994 Especificación para monocristal de niobato de litio
SJ 3244.3-1989 Métodos de medición para la orientación cristalina de monocristales de arseniuro de galio y fosfuro de indio
SJ 3241-1989 Oblea y barra monocristalina de arseniuro de galio
SJ 3243-1989 Barras y obleas monocristalinas de fosfuro de indio
SJ/T 10173-1991 Célula solar de silicio monocristalino TDA75
SJ 20606-1996 Especificación para monocristal de dióxido de telurio
SJ/T 10333-1993 Métodos de medición para transistores uni-unión.
SJ/T 11450-2013 Especificaciones de consumo de energía del horno monocristalino
SJ/T 11854-2022 Horno de silicio monocristalino Czochralski para energía fotovoltaica
SJ/T 11450-2023 Especificación para la norma de consumo de energía del cultivador de monocristal de silicio.
SJ/T 11502-2015 Especificación para obleas de carburo de silicio monocristalino pulido
SJ/T 11505-2015 Especificación de obleas pulidas de cristal único de zafiro
SJ/T 11853-2022 Horno de silicio monocristalino de fusión de zona suspendida de presión positiva
SJ 2572-1985 Varillas y láminas de silicio monocristalino para células solares.
SJ/T 11864-2022 Sustrato monocristalino de carburo de silicio semiaislante
SJ 3245-1989 Métodos para medir la dislocación del monocristal de fosfuro de indio.
SJ 2592-1985 Filtros monolíticos de cristal de cuarzo para tipo LSP10.7MA(～E)
SJ 20641-1997 Especificación para monocristales de antimonuro de indio para uso en detectores de infrarrojos
SJ/T 11499-2015 Método de prueba para medir las propiedades eléctricas del carburo de silicio monocristalino.
SJ 20640-1997 Especificación para rodajas monocristalinas de antimonuro de indio para uso en detectores de infrarrojos

European Association of Aerospace Industries, Lámina de cristal único

AECMA PREN 3919-1994 Metal de aportación de aleación con base de níquel NI-B41202 de la serie aeroespacial para soldar lámina amorfa Edición P 1
AECMA PREN 3921-2001 Aleación con base de níquel serie aeroespacial NI-B41203 Metal de aportación para soldadura fuerte Lámina amorfa Edición P 2; Reemplaza la Edición P 1; enero de 1994; [Reemplazado por: CEN EN 3921]
AECMA PREN 3929-1995 Metal de aportación de aleación con base de níquel NI-B31001 de la serie aeroespacial para soldar lámina amorfa Edición P 2
AECMA PREN 3932-2001 Aleación con base de níquel serie aeroespacial NI-B13001 Metal de aportación para soldadura fuerte Lámina amorfa Edición P 2; Reemplaza a la Edición P 1: enero de 1994; Reemplazado por EN 3932
AECMA PREN 3934-1993 Metal de aportación NI-B21001 de aleación con base de níquel serie aeroespacial para soldadura fuerte de lámina amorfa Edición P1
AECMA PREN 3934-2001 Metal de aportación de aleación con base de níquel NI-B21001 de la serie aeroespacial para soldar lámina amorfa Edición P 2
AECMA PREN 3937-2001 Aleación con base de níquel serie aeroespacial NI-B44101 Metal de aporte para polvo o pasta para soldadura fuerte Edición P 2; Reemplaza a la Edición P 1: enero de 1994; Reemplazado por EN 3937
AECMA PREN 3938-2001 Metal de aportación de aleación con base de níquel NI-B46001 de la serie aeroespacial para soldar lámina amorfa Edición P 2
AECMA PREN 3941-2001 Aleación con base de níquel serie aeroespacial NI-B41204 Metal de aportación para soldadura fuerte Lámina amorfa Edición P 2; Reemplaza a la edición P 1: enero de 1994; Reemplazado por EN 3941
AECMA PREN 3951-1993 Metal de aportación AG-B32101 de aleación con base de plata serie aeroespacial para soldadura fuerte de lámina laminada Edición P1

Association Francaise de Normalisation, Lámina de cristal único

NF EN 3921:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B41203 (NiCr7FeSi5B3) - Metal de aporte para soldadura fuerte - Tira amorfa
NF C93-616:2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW): especificaciones y métodos de medición
NF EN 61747-3:2007 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 3: celdas de visualización de cristal líquido (LCD). Especificación intermedia.
NF C93-616*NF EN 62276:2018 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición
NF EN 61747-3-1:2006 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 3-1: Celdas de visualización de cristal líquido (LCD) - Marco de especificaciones particulares

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Lámina de cristal único

DB31/ 574-2011 Cuota de consumo de energía por unidad de producto de papel de aluminio.
DB31/ 574-2020 Cuota de consumo de energía por unidad de producto de papel de aluminio.
DB31/ 832-2014 Consumo de energía por unidad de producto de lámina compuesta de transferencia de calor de aluminio
DB31/ 792-2014 Norma de consumo de energía por unidad de producto para silicio monocristalino y obleas de silicio.
DB31/T 792-2014 Cuota de consumo de energía por unidad de producto de monocristal de silicio y su oblea de silicio
DB31/ 792-2020 Cuota de consumo de energía por unidad de producto de monocristal de silicio y su oblea de silicio
DB31/ 793-2014 Norma de consumo de energía por unidad de productos de láminas, tiras y láminas de cobre y aleaciones de cobre.

RU-GOST R, Lámina de cristal único

GOST 16153-1980 Germanio monocristalino. Especificaciones
GOST R IEC 61747-20-1-2017 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 20-1. Inspección visual. Celdas de visualización de cristal líquido monocromáticas (excluidas todas las celdas de visualización de cristal líquido de matriz activa)
GOST R IEC 61747-3-2017 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 3. Celdas de pantalla de cristal líquido (LCD). Especificación seccional

ES-UNE, Lámina de cristal único

UNE-EN 168100:1993 SS: UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1996.)
UNE-EN 120007:1992 BDS: DISPLAYS DE CRISTAL LÍQUIDO. LCDS MONOCROMOS SIN CIRCUITO ELECTRÓNICO. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
UNE-EN 168200/A1:1993 SS: UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO (APROBACIÓN DE CALIFICACIÓN). (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
UNE-EN 168200:1993 SS: UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO (APROBACIÓN DE CALIFICACIÓN). (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
UNE-EN 60444-9:2007 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 9: Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico (IEC 60444-9:2007). (Ratificada por AENOR en agosto de 2007.)
UNE-EN 62276:2016 Obleas monocristalinas para aplicaciones en dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW) - Especificaciones y métodos de medida (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2017.)
UNE-EN 61747-3:2006 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 3: Celdas de visualización de cristal líquido (LCD). Especificación seccional (IEC 61747-3:2006). (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)

U.S. Military Regulations and Norms, Lámina de cristal único

ARMY MIL-PRF-3098/104 F-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR102/U
ARMY MIL-PRF-3098/105 H-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR103/U
ARMY MIL-PRF-3098/80 G-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR105/U
ARMY MIL-PRF-3098/88 H-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR112/U
ARMY MIL-PRF-3098/86 F-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR110/U
ARMY MIL-PRF-3098/82 E-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR106/U
ARMY MIL-PRF-3098/83 G-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR107/U
ARMY MIL-PRF-3098/89 E-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR113/U
ARMY MIL-PRF-3098/92 F-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR116/U
ARMY MIL-PRF-3098/100 E-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR123/U
ARMY MIL-PRF-3098/99 E-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR122/U
ARMY MIL-PRF-3098/108 E-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR128/U
ARMY MIL-PRF-3098/101 D-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR124/U
ARMY MIL-PRF-3098/113 E-2011 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR134/U
ARMY MIL-PRF-3098/115 E-2011 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR136/U
ARMY MIL-PRF-3098/116 E-2011 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR137/U
ARMY MIL-PRF-3098/120 E-2011 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR131/U
ARMY MIL-PRF-3098/132 E-2011 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR151/U
ARMY MIL-PRF-3098/137 D-2011 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR157/U
ARMY MIL-PRF-3098 K-2010 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
ARMY MIL-PRF-3098 K (1)-2011 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
ARMY MIL-PRF-3098 K (1) SUPP 1-2013 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA

Defense Logistics Agency, Lámina de cristal único

DLA MIL-PRF-3098/79 F-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR104/U
DLA MIL-PRF-3098/85 D-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR109/U
DLA MIL-PRF-3098/93 C-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR117/U
DLA MIL-PRF-3098/102 D-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR125/U
DLA MIL-PRF-3098/106 D-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR127/U
DLA MIL-PRF-3098/114 D-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR135/U
DLA MIL-PRF-3098/123 D-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR142/U
DLA MIL-PRF-3098/129 D-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR148/U
DLA QPL-3098-92-2008 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
DLA QPL-3098-93-2010 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
DLA QPL-3098-95-2010 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
DLA QPL-3098-97-2013 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
DLA QPL-3098-98-2013 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
DLA QPL-3098-99-2013 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
DLA SMD-5962-87711 REV A-2001 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, TTL, MULTIVIBRADOR MONOESTABLE DOBLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA MIL-M-38510/114 B VALID NOTICE 1-2008 MICROCIRCUITOS LINEALES, AMPLIFICADORES OPERACIONALES BI-FET, SILICIO MONOLÍTICO
DLA DSCC-DWG-94023 REV B-2007 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, MINIATURA, MONTAJE EN SUPERFICIE
DLA SMD-5962-87778 REV A-2001 MICROCIRCUITO, LINEAL, TRANSISTOR DE POTENCIA, SILICIO MONOLÍTICO
DLA MIL-M-38510/108 A VALID NOTICE 1-2008 Microcircuitos, lineales, matrices de transistores, silicio monolítico
DLA SMD-5962-87778 REV B-2011 MICROCIRCUITO, LINEAL, TRANSISTOR DE POTENCIA, SILICIO MONOLÍTICO
DLA MIL-M-38510/108 A VALID NOTICE 2-2013 Microcircuitos, lineales, matrices de transistores, silicio monolítico
DLA MIL-M-38510/314 C VALID NOTICE 1-2008 MICROCIRCUITOS DIGITALES, SCHOTTKY DE BAJA POTENCIA, TTL, MULTIVIBRADORES MONOESTABLES, SILICIO MONOLÍTICO
DLA DSCC-DWG-94024 REV B-2007 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, MINIATURA, MONTAJE EN CIRCUITO IMPRESO
DLA SMD-5962-89876 REV B-2002 MICROCIRCUITO, LINEAL, MATRIZ DE TRANSISTORES, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-90798-1992 MICROCIRCUITOS, DIGITALES, RÁPIDOS, CMOS, GENERADOR/CHECKERS DE PARIDAD IMPAR DUAL, COMPATIBLE CON TTL, SILICIO MONOLÍTICO

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Lámina de cristal único

GJB 3076A-2021 Especificación de chip único de fosfuro de galio
GJB 3076-1997 Especificación de chip único de fosfuro de galio
GJB 2917A-2018 Especificación de oblea única de fosfuro de indio
GJB 2917A-2004 Especificación de oblea única de fosfuro de indio
GJB 2917-1997 Especificación de oblea única de fosfuro de indio
GJB 1926-1994 Especificación del material monocristalino de arseniuro de galio
GJB 10342-2021 Especificación para obleas monocristalinas de antimonuro de indio pulido
GJB 10343-2021 Especificación para obleas monocristalinas de antimonuro de galio pulido
GJB 1927A-2021 Método de prueba de material monocristalino de arseniuro de galio
GJB 1927-1994 Método de prueba de material monocristalino de arseniuro de galio
GJB 9804-2020 Especificación para varillas monocristalinas de aleación de molibdeno-niobio para uso nuclear
GJB 1431-1992 Especificaciones generales para células solares de silicio monocristalino para uso espacial.
GJB 395-1987 Fluoruro de magnesio monocristalino para placa de modulación de misiles aire-aire
GJB 1431A-2014 Especificación general para células solares de silicio monocristalino para aplicaciones espaciales.
GJB 581-1988 Fluoruro de calcio monocristalino para misiles "tierra-aire" con guía infrarroja
GJB 1944A-2017 Especificación de monocristales de silicio para células solares espaciales
GJB 2452-1995 Especificación para obleas monocristalinas de telururo de cadmio para detectores de infrarrojos
GJB 2918-1997 Especificación para monolitos de silicio fundido de zona de alta resistencia de grado detector

IN-BIS, Lámina de cristal único

IS 9709-1980
IS 4570 Pt.11-1989 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 11 SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE DOS PINES, METÁLICO, SOLDADO, TIPO DQ
IS 4570 Pt.8-1985 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 8 SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE TRES HILOS, METÁLICO, SOLDADO, TIPO DK
IS 4570 Pt.13/Sec.5-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 5 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 05
IS 4570 Pt.13/Sec.4-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 4 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 04
IS 4570 Pt.6-1984 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 6 METAL, SELLO DE SOLDADURA, SOPORTE DE UNIDAD DE CRISTAL DE DOS PINES TIPO CX
IS 4570 Pt.13/Sec.3-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDAD DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 3 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 03
IS 4570 Pt.13/Sec.2-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 2 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 02
IS 4570 Pt.13/Sec.1-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 1 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 01
IS 4570 Pt.7-1985 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 7 MICROMINIATURA, METAL, SELLO DE SOLDADURA, SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE DOS HILOS TIPO DJ
IS 4570 Pt.12-1989 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 12 SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE DOS HILOS, MICROMINIATURA, METÁLICO, SOLDADO EN FRÍO, TIPO EB
IS 4570 Pt.3-1984 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 3 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL TIPO TUBO (VIDRIO) TIPOS AP, AR, AS, AT Y AU
IS 8271 Pt.2/Sec.3-1981 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅱ SERIE AA Sección 3 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-03
IS 8271 Pt.2/Sec.5-1981 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅱ SERIE AA Sección 5 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-05
IS 8271 Pt.2/Sec.2-1981 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅱ SERIE AA Sección 2 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-02
IS 8271 Pt.2/Sec.1-1981 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅱ SERIE AA Sección 1 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-01
IS 8271 Pt.2/Sec.4-1981 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅱ SERIE AA Sección 4 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-04
IS 8271 Pt.2/Sec.6-1981 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅱ SERIE AA Sección 6 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-06
IS 4570 Pt.5-1984 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 5 ftfiETAL, SELLO DE SOLDADURA, SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL DE DOS HILOS TIPOS BF, EF/1 Y BG, BG 1
IS 8271 Pt.3/Sec.6-1982 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅲ SERIE BC Sección 6 Unidad de cristal de cuarzo tipo BC-06
IS 8271 Pt.3/Sec.7-1982 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅲ SERIE BC Sección 7 Unidad de cristal de cuarzo tipo BC-07

GSO, Lámina de cristal único

GSO IEC 61747-20-1:2016 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 20-1: Inspección visual. Celdas de visualización de cristal líquido monocromáticas (excluidas todas las celdas de visualización de cristal líquido de matriz activa).
BH GSO IEC 61747-20-1:2017 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 20-1: Inspección visual. Celdas de visualización de cristal líquido monocromáticas (excluidas todas las celdas de visualización de cristal líquido de matriz activa).
OS GSO IEC 61747-3:2014 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 3: Celdas de visualización de cristal líquido (LCD) - Especificación seccional
GSO IEC 60444-7:2014 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 7: Medición de la actividad y caídas de frecuencia de unidades de cristal de cuarzo
BH GSO IEC 60444-7:2016 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 7: Medición de la actividad y caídas de frecuencia de unidades de cristal de cuarzo
GSO IEC 62276:2014 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición
OS GSO IEC 62276:2014 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición
OS GSO IEC 61747-3-1:2014 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 3-1: Celdas de visualización de cristal líquido (LCD) - Especificación detallada en blanco

German Institute for Standardization, Lámina de cristal único

DIN EN 3938:2001-10 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B46001 (NiCo20Si5B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte, lámina amorfa; Versión alemana EN 3938:2001
DIN EN 3925:2001-10 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B40001 (NiSi5B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte, lámina amorfa; Versión alemana EN 3925:2001
DIN EN 3932:2001-10 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B13001 (NiP11) - Metal de aportación para soldadura fuerte, lámina amorfa; Versión alemana EN 3932:2001
DIN EN 3934:2001-10 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B21001 (NiCr15B4) - Metal de aportación para soldadura fuerte, lámina amorfa; Versión alemana EN 3934:2001
DIN EN 3941:2001-10 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B41204 (NiCr13Si4B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte, lámina amorfa; Versión alemana EN 3941:2001
DIN EN 3921:2001-10 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B41203 (NiCr7Si5B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte, lámina amorfa; Versión alemana EN 3921:2001
DIN EN 3919:1998-06 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B41202 (NiCr14Si5B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa; Versión alemana EN 3919:1998
DIN EN 4250:2002-08 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B41001 (NiSr19Si7B) - Metal de aportación para soldadura fuerte, lámina amorfa; Versión alemana EN 4250:2001
DIN EN IEC 60122-4:2019-10 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Unidades de cristal con termistores (IEC 60122-4:2019); Versión alemana EN IEC 60122-4:2019
DIN EN 3925:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B40001 (NiSi5B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte, lámina amorfa; Versión alemana EN 3925:2001
DIN EN 3921:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B41203 (NiCr7Si5B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte, lámina amorfa; Versión alemana EN 3921:2001
DIN EN 4085:2002 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B40002 (NiSi4B2) - Metal de aportación para soldadura fuerte; lámina amorfa; Versión alemana EN 4085:2001
DIN EN 4250:2002 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B41001 (NiSr19Si7B) - Metal de aportación para soldadura fuerte, lámina amorfa; Versión alemana EN 4250:2001
DIN EN 3941:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B41204 (NiCr13Si4B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte, lámina amorfa; Versión alemana EN 3941:2001
DIN EN 3938:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B46001 (NiCo20Si5B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte, lámina amorfa; Versión alemana EN 3938:2001
DIN EN 3934:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B21001 (NiCr15B4) - Metal de aportación para soldadura fuerte, lámina amorfa; Versión alemana EN 3934:2001
DIN EN 3932:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B13001 (NiP11) - Metal de aportación para soldadura fuerte, lámina amorfa; Versión alemana EN 3932:2001
DIN EN 60444-9:2007-12 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 9: Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico (IEC 60444-9:2007); Versión alemana EN 60444-9:2007
DIN EN 60444-8:2017-11 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie (IEC 60444-8:2016); Versión alemana EN 60444-8:2017 / Nota: DIN EN 60444-8 (2004-03) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 19 de enero de 2020.
DIN EN 60444-7:2004-11 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 7: Medición de la actividad y caídas de frecuencia de unidades de cristal de cuarzo (IEC 60444-7:2004); Versión alemana EN 60444-7:2004
DIN EN 62276:2017-08 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW): especificaciones y métodos de medición (IEC 62276:2016); Versión alemana EN 62276:2016 / Nota: DIN EN 62276 (2013-08) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 28-11-2019.
DIN EN IEC 62276:2023-05 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición (IEC 49/1401/CD:2022); Texto en alemán e inglés / Nota: Fecha de emisión 2023-04-28*Destinado a sustituir a DIN EN 62276 (2017-08).
DIN EN 120007:1993-06 Especificación detallada en blanco: Pantallas de cristal líquido; LCD monocromáticos sin circuito electrónico; Versión alemana EN 120007:1992
DIN 50431:1988 Pruebas de materiales semiconductores; Medición de la resistividad de monocristales de silicio o germanio mediante el método de cuatro sondas/corriente continua con matriz colineal.

SCC, Lámina de cristal único

DANSK DS/EN 3932:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B13001 (NiP11) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
NS-EN 3921:2001 Serie aeroespacial — Aleación a base de níquel NI-B41203 (NiCr7Si5B3) — Metal de aportación para soldadura fuerte — Lámina amorfa
DANSK DS/EN 3938:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B46001 (NiCo20Si5B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
NS-EN 3932:2001 Serie aeroespacial — Aleación a base de níquel NI-B13001 (NiP11) — Metal de aportación para soldadura fuerte — Lámina amorfa
DANSK DS/EN 3934:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B21001(NiCr15B4) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
NS-EN 4085:2001 Serie aeroespacial — Aleación a base de níquel NI-B40002 (NiSi4B2) — Metal de aportación para soldadura fuerte — Lámina amorfa
NS-EN 3925:2001 Serie aeroespacial — Aleación a base de níquel NI-B40001 (NiSi5B3) — Metal de aportación para soldadura fuerte — Lámina amorfa
DANSK DS/EN 3941:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B41204 (NiCr13Si4B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
NS-EN 3938:2001 Serie aeroespacial — Aleación a base de níquel NI-B46001 (NiCo20Si5B3) — Metal de aportación para soldadura fuerte — Lámina amorfa
DANSK DS/EN 3925:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B40001 (NiSi5B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
NS-EN 4250:2001 Serie aeroespacial — Aleaciones a base de níquel NI-B41001 (NiCr19Si7B) — Metal de aportación para soldadura fuerte — Lámina amorfa
NS-EN 3919:1998 Serie aeroespacial — Aleación a base de níquel NI-B41202 (NiCr14Si5B3) — Metal de aportación para soldadura fuerte — Lámina amorfa
DANSK DS/EN 3919:1998 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B41202 (NiCr14Si5B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
DANSK DS/EN 4085:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B40002 (NiSi4B2) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
DANSK DS/EN 3921:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B41203 (NiCr7Si5B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
NS-EN 3934:2001 Serie aeroespacial — Aleación a base de níquel NI-B21001 (NiCr15B4) — Metal de aportación para soldadura fuerte — Lámina amorfa
NS-EN 3941:2001 Serie aeroespacial — Aleación a base de níquel NI-B41204 (NiCr13Si4B3) — Metal de aportación para soldadura fuerte — Lámina amorfa
ASD-STAN PREN 3925:2001 Metal de aportación de aleación con base de níquel NI-B40001 de la serie aeroespacial para soldar lámina amorfa
ASD-STAN PREN 3938:2001 Metal de aportación de aleación con base de níquel NI-B46001 de la serie aeroespacial para soldar lámina amorfa
AS 1713D:1974 Botellas de leche de vidrio de 1 litro con tapa de lámina metálica Unidades Métricas
DANSK DS/EN 4250:2001 Serie aeroespacial - Aleaciones a base de níquel NI-B41001 (NiCr19Si7B) - Metal de aportación para soldadura fuerte Lámina amorfa
DANSK DS/EN 60444-9:2007 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 9: Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico.
CEI EN 60444-8:2017 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie
CEI EN 60444-9:2009 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo Parte 9: Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico
DANSK DS/EN 61747-3:2007 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 3: Celdas de visualización de cristal líquido (LCD) - Especificación seccional
CEI EN 61747-3:2007 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 3: Celdas de visualización de cristal líquido (LCD) - Especificación seccional
DIN EN 61747-20-1 E:2013 Borrador de documento - Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 20-1: Inspección visual - Celdas de visualización de cristal líquido monocromáticas (IEC 110/416/CD:2012)
DIN EN 60122-4 E:2018 Borrador de documento - Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 4: Unidades de cristal con termistores (IEC 49/1244/CD:2017)
CEI EN 60444-7:2005 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 7: Medición de la actividad y caídas de frecuencia de unidades de cristal de cuarzo
DANSK DS/EN 60444-7:2004 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo - Parte 7: Medición de la actividad y caídas de frecuencia de unidades de cristal de cuarzo
04/30123439 DC IEC 60444-9 ED 1. Medición de parámetros de unidades de cristal piezoeléctrico. Parte 9. Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico.
CEI EN 62276:2017 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición
DANSK DS/EN 62276:2016 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición
CEI EN 61747-3-1:2007 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 3-1: Celdas de visualización de cristal líquido (LCD) - Especificación detallada en blanco
DANSK DS/EN 61747-3-1:2006 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 3-1: Celdas de visualización de cristal líquido (LCD) - Especificación detallada en blanco
DIN EN 60444-8:2017 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie (IEC 60444-8:2016); Versión alemana EN 60444-8:2017
IEC PAS 62277:2001 Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo de montaje en superficie
DANSK DS/EN 168100:2016 Especificación seccional: Unidades de cristal de cuarzo (aprobación de capacidad)
IEC 60122-2:1962 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores - Parte 2: Guía para el uso de cristales de oscilador de cuarzo

IEC - International Electrotechnical Commission, Lámina de cristal único

IEC 61747-20-1:2015 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 20-1: Inspección visual - Celdas de visualización de cristal líquido monocromáticas (excluidas todas las celdas de visualización de cristal líquido de matriz activa) (Edición 1.0)
PAS 62276-2001 Obleas monocristalinas aplicadas a dispositivos de ondas acústicas de superficie: especificación y método de medición (Edición 1.0)

Danish Standards Foundation, Lámina de cristal único

DS/EN 3919:1998 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B41202 (NiCr14Si5B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
DS/EN 3921:2001
DS/EN 3925:2001
DS/EN 3932:2001
DS/EN 3934:2001
DS/EN 3938:2001
DS/EN 3941:2001
DS/EN 4085:2001
DS/EN 4250:2001
DS/EN 60444-9:2007
DS/EN 61747-3:2007
DS/EN 62276:2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición
DS/EN 61747-3-1:2007

Lithuanian Standards Office , Lámina de cristal único

LST EN 4250-2002 Serie aeroespacial - Aleaciones a base de níquel NI-B41001 (NiCr19Si7B) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
LST EN 3932-2003 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B13001 (NiP11) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
LST EN 3925-2002 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B40001 (NiSi5B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
LST EN 3921-2002 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B41203 (NiCr7Si5B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
LST EN 3919-2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B41202 (NiCr14Si5B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
LST EN 3941-2002 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B41204 (NiCr13Si4B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
LST EN 3938-2002 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B46001 (NiCo20Si5B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
LST EN 3934-2002 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B21001 (NiCr15B4) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
LST EN 4085-2002 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B40002 (NiSi4B2) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
LST EN 60444-9-2007 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 9: Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico (IEC 60444-9:2007)
LST EN 61747-3-2007 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 3: Celdas de visualización de cristal líquido (LCD). Especificación seccional (IEC 61747-3:2006).
LST EN 60444-8-2004 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie (IEC 60444-8:2003)
LST EN 60444-7-2004 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 7: Medición de actividad y caídas de frecuencia de unidades de cristal de cuarzo (IEC 60444-7:2004)
LST EN 120007-2001 Especificación detallada en blanco. Pantallas de cristal líquido. LCD monocromáticos sin circuito electrónico

AENOR, Lámina de cristal único

UNE-EN 4250:2002 Serie aeroespacial - Aleaciones a base de níquel NI-B41001 (NiCr19Si7B) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa.
UNE-EN 3925:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B40001 (NiSi5B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
UNE-EN 3921:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B41203 (NiCr7Si5B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
UNE-EN 3941:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B41204 (NiCr13Si4B3) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
UNE-EN 3938:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B46001 (NiCo20Si5B3) - metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
UNE-EN 4085:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B40002 (NiSi4B2) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa
UNE-EN 3934:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B21001 (NiCr15B4) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa.
UNE-EN 3932:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B13001 (NiP11) - Metal de aportación para soldadura fuerte - Lámina amorfa

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KS D 2715-2006 Muestra de tracción de materiales de película nano/microcristalina monocristalina y policristalina
KS C IEC 60122-4:2022 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Unidades de cristal con termistores.
KS D 2715-2017 Muestra de tracción de materiales de película nano/microcristalina monocristalina y policristalina
KS C IEC 61747-20-1-2015(2020) DISPOSITIVOS DE PANTALLA DE CRISTAL LÍQUIDO ― Parte 20-3: Inspección visual ― Celdas de pantalla LCD monocromáticas (excluidas todas las celdas de cristal líquido de matriz activa)
KS C 7110-2007(2017) Dispositivos de visualización de cristal líquido－Métodos de medición de la unidad de retroiluminación para pantallas de cristal líquido
KS C IEC 61747-20-1:2015 DISPOSITIVOS DE PANTALLA DE CRISTAL LÍQUIDO ― Parte 20-3: Inspección visual ― Celdas de pantalla LCD monocromáticas (excluidas todas las celdas de cristal líquido de matriz activa)
KS C IEC 60444-9-2021 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 9: Medición de resonancia espuria de unidades de cristal piezoeléctrico.
KS C 7110-2007(2022) Dispositivos de visualización de cristal líquido－Métodos de medición de la unidad de retroiluminación para pantallas de cristal líquido
KS C 7110-2022 Dispositivos de visualización de cristal líquido－Métodos de medición de la unidad de retroiluminación para pantallas de cristal líquido
KS C IEC 61747-20-1-2020 DISPOSITIVOS DE PANTALLA DE CRISTAL LÍQUIDO ― Parte 20-3: Inspección visual ― Celdas de pantalla LCD monocromáticas (excluidas todas las celdas de cristal líquido de matriz activa)
KS D 0070-2002 Método de prueba de propiedades magnéticas de metales amorfos utilizando una muestra de una sola hoja.
KS C 6503-1999(2009) UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA OSCILADORES
KS C IEC 61747-3-2002(2017) Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido－Parte 3: Especificación seccional de celdas de pantalla de cristal líquido (LCD)
KS C IEC 60444-7-2021 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 7: Medición de la actividad y caídas de frecuencia de unidades de cristal de cuarzo.
KS C IEC 61747-3-2002(2022) Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido－Parte 3: Especificación seccional de celdas de pantalla de cristal líquido (LCD)
KS C IEC 61747-3-2022 Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido－Parte 3: Especificación seccional de celdas de pantalla de cristal líquido (LCD)
KS C 6508-1990(2010) Unidades de cristal de cuarzo para osciladores (para 200∼1000kHz)
KS C IEC 61747-3-1-2002(2017) Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido. Parte 3-1: Celdas de pantalla de cristal líquido (LCD). Especificación detallada en blanco.

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EN IEC 60122-4:2019 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 4: Unidades de cristal con termistores

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KS C IEC 60122-4-2022 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Unidades de cristal con termistores.

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DB34/T 3087-2018 Cuota integral de consumo de energía por unidad de producto de laminados revestidos de cobre

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EN 4085:2001 Serie aeroespacial - Aleación a base de níquel NI-B40002 (NiSi4B2) - Metal de aportación para soldadura fuerte; lámina amorfa
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Jiangxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Lámina de cristal único

DB36/ 771-2013 Cuota de consumo de energía por unidad de producto de silicio monocristalino de Czochralski

Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, Lámina de cristal único

DB15/T 2234-2021 Cuota de consumo de energía por unidad de producto de silicio monocristalino de Czochralski

SE-SIS, Lámina de cristal único

SIS SEN 43 60 01-1964 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores.
SIS SS-CECC 68000-1991 Especificación genérica: unidades de cristal de cuarzo.
SIS SS-CECC 68100-1991 Especificación seccional: Unidades de cristal de cuarzo (aprobación de capacidad)
SIS SS-CECC 68200-1991 Especificación seccional: Unidades de cristal de cuarzo (Aprobación de calificación)

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Lámina de cristal único

JJG 48-2004 Rebanada estándar de resistividad de silicio monocristalino
JJG 48-1990 Regulación de verificación de la rebanada estándar de resistividad de silicio monocristalino

Professional Standard - Building Materials, Lámina de cristal único

JC/T 1048-2007 Crisoles de cuarzo fundido para el crecimiento de silicio monocristalino
JC/T 1048-2018 Crisol de cuarzo para crecimiento de silicio monocristalino.
JC/T 2796-2023 Polvo de grafito de alta pureza para monocristal de carburo de silicio
JC/T 2025-2010 Monocristales piezoeléctricos de titanato de niobato de magnesio y plomo (PMNT)
JC/T 2343-2015 Tubo de alúmina monocristalino preparado mediante crecimiento de cristal alimentado con película de borde definido
JC/T 2139-2012 Monocristal de paratelurito de alta pureza para física nuclear

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Lámina de cristal único

YB 1603-1983 Discos de corte y desbaste monocristalinos de silicio

机械电子工业部, Lámina de cristal único

JB 5203-1991 Método de análisis químico de corindón monocristalino.

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ANSI/ASTM D6058:2001 Práctica para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral

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PREN 4061-1994 Metal de aportación de la serie aeroespacial para soldadura fuerte Espesor de lámina amorfa 25 micrómetros inferior o igual a dimensiones inferiores o iguales a 65 micrómetros
PREN 3934-1994 Metal de aportación NI-B21001 de aleación con base de níquel serie aeroespacial para soldadura fuerte de lámina amorfa (edición P1)
PREN 3925-1994 Metal de aportación NI-B40001 de aleación con base de níquel serie aeroespacial para soldadura fuerte de lámina amorfa (Edición P1)
PREN 3929-1995 Metal de aportación NI-B31001 de aleación con base de níquel serie aeroespacial para soldadura fuerte de lámina amorfa (Edición P 2)
PREN 3925-2001 Metal de aportación NI-B40001 de aleación con base de níquel serie aeroespacial para soldadura fuerte de lámina amorfa (Edición P 2)
PREN 3934-2001 Metal de aportación NI-B21001 de aleación con base de níquel serie aeroespacial para soldadura fuerte de lámina amorfa (Edición P 2)
PREN 4250-2001 Metal de aportación NI-B41001 de aleación con base de níquel serie aeroespacial para soldadura fuerte de lámina amorfa (Edición P 2)
PREN 3919-1994 Aleación con base de níquel serie aeroespacial NI-B41202 Metal de aportación para soldadura fuerte de lámina amorfa (Edición P 1)
PREN 3938-1994 Aleación con base de níquel serie aeroespacial NI-B46001 Metal de aportación para soldadura fuerte de lámina amorfa (Edición P 1)
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Association of German Mechanical Engineers, Lámina de cristal único

VDI/VDE 5575 Blatt 8-2013 Sistemas ópticos de rayos X - Cristales monocromadores

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, Lámina de cristal único

VDI/VDE 5575 BLATT 8-2019 Sistemas ópticos de rayos X: cristales monocromadores.
VDI/VDE 5575 Blatt 8-2011 Sistemas ópticos de rayos X: cristales monocromadores.
VDI/VDE 5575 BLATT 8-2018 Sistemas ópticos de rayos X: cristales monocromadores.

Professional Standard - Aviation, Lámina de cristal único

HB 6742-1993 Determinación de la orientación del cristal de láminas de cristal único mediante fotografía Laue con retrosoplado de rayos X
HB 7762-2005 Especificación para aleaciones maestras de superaleaciones monocristalinas y solidificadas direccionalmente para motores de aviación

(U.S.) Ford Automotive Standards, Lámina de cristal único

FORD WSS-M99G170-A-1995 CONDUCTOR TÉRMICO, PAPEL DE ALUMINIO RECUBIERTO DE GOMA DE SILICONA, RECUBIERTO DE ADHESIVO, UNO
FORD WSS-M3G232-A-2012 CINTA DE PAPEL DE ALUMINIO - SENSIBLE A LA PRESIÓN - UNA CARA, INTERIOR ***PARA UTILIZAR CON FORD WSS-M99P1111-A***

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Lámina de cristal único

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DB61/T 511-2011 Normas de inspección para varillas de silicio monocristalino para células solares.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Lámina de cristal único

JJF 1256-2010 Especificación de calibración para equipos de orientación de monocristales de rayos X
JJF 1760-2019 Especificación de calibración para cortes estándar de resistividad de silicio monocristalino

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Lámina de cristal único

EN 62276:2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Lámina de cristal único

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GOST 25734-1983 Alúmina. Método para la determinación cristalóptica de monocristales en alúmina no metalúrgica.

IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components, Lámina de cristal único

QC 720200-1998 Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido - Parte 3: Especificación seccional para celdas de visualización de cristal líquido (LCD)

American Society for Testing and Materials (ASTM), Lámina de cristal único

ASTM F847-94(1999) Métodos de prueba estándar para medir la orientación cristalográfica de planos en obleas de silicio monocristalino mediante técnicas de rayos X
ASTM D6058-96(2011) Práctica estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral
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Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Lámina de cristal único

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CZ-CSN, Lámina de cristal único

CSN 35 8490 Z1-1996 Piezoelektrické krystalové jednotky pro oscilatory a filtry