EN
RU
ES
能谱仪检测半导体
本专题涉及能谱仪检测半导体的标准有26条。
国际标准分类中，能谱仪检测半导体涉及到分析化学、核能工程、辐射测量、电学、磁学、电和磁的测量、半导体分立器件。
在中国标准分类中，能谱仪检测半导体涉及到电子光学与其他物理光学仪器、核仪器与核探测器综合、通用核仪器、质谱仪、液谱仪、能谱仪及其联用装置、半导体整流器件、通用电子测量仪器设备及系统、计量综合、光学测试仪器、电化学、热化学、光学式分析仪器、物质成份分析仪器与环境监测仪器综合。
SE-SIS，关于能谱仪检测半导体的标准
- SIS SS IEC 759:1986 核检测仪表．半导体X射线能谱仪检测程序
- SIS SS IEC 333:1986 核检测仪表．半导体带电微粒探测器测试程序
- SIS SS IEC 596:1981 核检测仪表．半导体辐射探测器及闪烁计数器检测法术语解析
- SIS SS IEC 340:1981 核检测仪表．电离辐射半导体检测器用放大器和前置放大器测试程序
国家质检总局，关于能谱仪检测半导体的标准
- GB/T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则
- GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
CZ-CSN，关于能谱仪检测半导体的标准
- CSN 35 6575 Z1-1997 半导体X射线能谱仪的标准测试程序
韩国科技标准局，关于能谱仪检测半导体的标准
- KS C IEC 60759-2009(2019) 半导体X射线能谱仪的标准测试程序
- KS C IEC 60759:2009 半导体X射线能谱仪的标准试验程序
- KS D ISO 15632:2012 微光束分析.带半导体探测器的能量发散X射线分光仪的仪器规范
美国电气电子工程师学会，关于能谱仪检测半导体的标准
- ANSI/IEEE Std 759-1984 半导体 X 射线能谱仪的 IEEE 标准测试程序
IN-BIS，关于能谱仪检测半导体的标准
- IS 12737-1988 半导体 X 射线能量光谱仪的标准测试程序
国际电工委员会，关于能谱仪检测半导体的标准
- IEC 60759:1983 半导体X射线能谱仪的标准试验程序
- IEC 60759:1983/AMD1:1991 半导体X射线能谱仪的标准试验程序 修改1
(美国)固态技术协会,隶属EIA，关于能谱仪检测半导体的标准
- JEDEC JEP78-1969 半导体红外线探测仪的相对频谱响应曲线
国家计量检定规程，关于能谱仪检测半导体的标准
- JJG(电子) 310002-2006 半导体分立器件直流参数测试仪检定规程
- JJG(电子) 310003-2006 半导体分立器件电容参数测试仪检定规程
- JJG(电子) 04008-1987 QE1A型双基极半导体管测试仪试行检定规程
- JJG(电子) 04023-1989 BJ2970型大功率半导体三极管tf测试仪检定规程
法国标准化协会，关于能谱仪检测半导体的标准
- NF X21-008:2012 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规格
国际标准化组织，关于能谱仪检测半导体的标准
- ISO 15632:2021 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范
- ISO 15632:2012 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范
- ISO 15632:2002 微光束分析.带半导体探测器的能量发散X射线分光仪的仪器规范
RU-GOST R，关于能谱仪检测半导体的标准
- GOST 19834.3-1976 半导体辐射器.辐射能量相对光谱分布和辐射光谱宽度测量方法
- GOST 29115-1991 基于半导体检波器的γ辐射检波的光谱测定块和装置.基本参数的测定方法
德国标准化学会，关于能谱仪检测半导体的标准
- DIN ISO 15632:2015 微光束分析.带半导体探测器能量发散X射线分光仪的仪器规范(ISO 15632-2012)
