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Sonda afm para microscopio de fuerza atómica

Sonda afm para microscopio de fuerza atómica, Total: 10 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Sonda afm para microscopio de fuerza atómica son: Química analítica, Metales no ferrosos, Medidas lineales y angulares..

International Organization for Standardization (ISO), Sonda afm para microscopio de fuerza atómica

ISO 13095:2014 Análisis químico de superficies - Microscopía de fuerza atómica - Procedimiento para la caracterización in situ del perfil del vástago de la sonda AFM utilizado para la medición de nanoestructuras
ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Microscopía de fuerza atómica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito.

British Standards Institution (BSI), Sonda afm para microscopio de fuerza atómica

BS ISO 13095:2014 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Procedimiento para la caracterización in situ del perfil del vástago de la sonda AFM utilizado para la medición de nanoestructuras
BS ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito
21/30412880 DC BS ISO 23729. Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Sonda afm para microscopio de fuerza atómica

KS D 2714-2016(2021) Microscopio de sonda de barrido－Método para microscopio de fuerza lateral
KS D 2714-2016 Microscopio de sonda de barrido－Método para microscopio de fuerza lateral

German Institute for Standardization, Sonda afm para microscopio de fuerza atómica

DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)

RU-GOST R, Sonda afm para microscopio de fuerza atómica

GOST 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
GOST R 8.635-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de calibración