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sonda de microscopio de fuerza atómica afm
sonda de microscopio de fuerza atómica afm, Total: 44 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en sonda de microscopio de fuerza atómica afm son: Metales no ferrosos, Química analítica, Medidas lineales y angulares., Equipo óptico, Física. Química, Materiales para la construcción aeroespacial., Termodinámica y mediciones de temperatura., Condiciones y procedimientos de prueba en general., Óptica y medidas ópticas., ingeniería de energía nuclear, Cerámica.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), sonda de microscopio de fuerza atómica afm
- KS D 2714-2016(2021) Microscopio de sonda de barrido－Método para microscopio de fuerza lateral
- KS D 2714-2016 Microscopio de sonda de barrido－Método para microscopio de fuerza lateral
- KS D 2714-2006 Microscopio de sonda de barrido-Método para microscopio de fuerza lateral
International Organization for Standardization (ISO), sonda de microscopio de fuerza atómica afm
- ISO 13095:2014 Análisis químico de superficies - Microscopía de fuerza atómica - Procedimiento para la caracterización in situ del perfil del vástago de la sonda AFM utilizado para la medición de nanoestructuras
- ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Microscopía de fuerza atómica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito.
- ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles utilizando un microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
- ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.
British Standards Institution (BSI), sonda de microscopio de fuerza atómica afm
- BS ISO 13095:2014 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Procedimiento para la caracterización in situ del perfil del vástago de la sonda AFM utilizado para la medición de nanoestructuras
- BS ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito
- 21/30412880 DC BS ISO 23729. Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito
- BS ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
- 19/30351707 DC BS ISO 21222. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
- 19/30394914 DC BS ISO 15632. Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía para uso en un microscopio de sonda electrónica o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
German Institute for Standardization, sonda de microscopio de fuerza atómica afm
- DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)
RU-GOST R, sonda de microscopio de fuerza atómica afm
- GOST 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
- GOST R 8.635-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de calibración
- GOST R 8.700-2010 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Método de medición de la altura efectiva de la rugosidad superficial mediante microscopio de fuerza atómica con sonda de barrido
- GOST R 8.630-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Métodos de verificación
- GOST R 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
ESDU - Engineering Sciences Data Unit, sonda de microscopio de fuerza atómica afm
- SPB-M6-2-2010 08 de abril: Interacciones coloidales entre asfalteno y diferentes superficies medidas mediante microscopía de fuerza atómica (AFM)
- SPB-M6-3-2010 08 de abril: Microscopía de fuerza atómica (antecedentes de la técnica)
- SPB-M2-1-2007 Propiedades interfaciales y reológicas de asfaltenos estudiadas mediante microscopía de fuerza atómica.
- SPB-M6-1-2010 08 de abril: Propiedades interfaciales y reológicas de los asfaltenos investigadas utilizando AFM
- SPB-M14-1-2010 10 de septiembre: Interacciones y propiedades reológicas de los asfaltenos estudiadas mediante microscopía de fuerza atómica.
Group Standards of the People's Republic of China, sonda de microscopio de fuerza atómica afm
American Society for Testing and Materials (ASTM), sonda de microscopio de fuerza atómica afm
- ASTM E2859-11(2017) Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
- ASTM E285-08(2015) Método de prueba estándar para pruebas de ablación con oxiacetileno de materiales de aislamiento térmico
- ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2859-11(2023) Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2859-11 Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2530-06 Práctica estándar para calibrar el aumento Z de un microscopio de fuerza atómica a niveles de desplazamiento subnanométrico utilizando pasos monoatómicos de Si(111)
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, sonda de microscopio de fuerza atómica afm
- GB/T 31227-2014 Método de prueba para la rugosidad de la superficie mediante microscopio de fuerza atómica para películas delgadas pulverizadas
- GB/T 32189-2015 Examen de microscopía de fuerza atómica de la rugosidad de la superficie del sustrato monocristalino de nitruro de galio
- GB/T 27760-2011 Método de prueba para calibrar el aumento z de un microscopio de fuerza atómica a niveles de desplazamiento subnanométricos utilizando pasos monoatómicos de Si(111)
- GB/T 28872-2012 Método de prueba del microscopio de fuerza atómica en modo magnético de impacto ligero para nanotopografía de células vivas
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, sonda de microscopio de fuerza atómica afm
- GB/T 40066-2021 Nanotecnologías—Medición del espesor del óxido de grafeno—Microscopía de fuerza atómica (AFM)
Professional Standard - Nuclear Industry, sonda de microscopio de fuerza atómica afm
- EJ/T 20176-2018 Microscopio de fuerza atómica Método de medición de la nitidez del borde de la herramienta de diamante
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, sonda de microscopio de fuerza atómica afm
- GB/T 32262-2015 Preparación de muestra de ácido desoxirribonucleico para medición con microscopio de fuerza atómica.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), sonda de microscopio de fuerza atómica afm
- JIS R 1683:2007 Método de prueba para la rugosidad superficial de películas delgadas cerámicas mediante microscopía de fuerza atómica.
- JIS R 1683:2014 Método de prueba para la rugosidad superficial de películas delgadas cerámicas mediante microscopía de fuerza atómica.