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Otros osciladores

Otros osciladores, Total: 500 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Otros osciladores son: Filtros electricos, Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos., Equipo medico, Materiales de construcción, Estructuras de edificios, válvulas, Pruebas ambientales, Componentes electrónicos en general., Aeronaves y vehículos espaciales en general., Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Equipos terminales de telecomunicaciones, Instalaciones en edificios, Componentes y accesorios para equipos de telecomunicaciones., Vocabularios, Odontología, Dispositivos semiconductores, Materiales para la construcción aeroespacial., Circuitos integrados. Microelectrónica, Sistemas de telecomunicaciones, Medición del tiempo, velocidad, aceleración, velocidad angular., Horología, Telecomunicaciones en general, Ejes y acoplamientos, Medición de volumen, masa, densidad, viscosidad., Termodinámica y mediciones de temperatura., Radiocomunicaciones, ingenieria electrica en general, Maquinaria rotativa, Física. Química, Ingeniería de audio, vídeo y audiovisual., Estandarización. Reglas generales, Compatibilidad electromagnética (CEM), Transformadores. reactores, Metrología y medición en general., tubos electronicos, Motos y ciclomotores, Estructuras mecánicas para equipos electrónicos., Equipos para industrias de petróleo y gas natural., Equipos de manipulación de petróleo, productos derivados del petróleo y gas natural., Pruebas eléctricas y electrónicas., Centrales eléctricas en general, Aparatos de calefacción domésticos, comerciales e industriales., Componentes para equipos eléctricos., Equipo de cocina, Goma, Productos de hierro y acero., Dispositivos de almacenamiento de fluidos, Pruebas mecánicas, Equipos de manipulación continua, Aspectos.

Professional Standard - Nuclear Industry, Otros osciladores

• EJ 220-1984 Soporte del oscilador

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Otros osciladores

• CNS 12253-1988 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores (para 1 MHz - 125 MHz)
• CNS 12254-1988 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores (para 200-1000 kHz)
• CNS 3770-1989 Dimensiones y devanado del transformador de frecuencia intermedia y la bobina del oscilador para radio de transistores

Professional Standard - Medicine, Otros osciladores

• YY 0156-1994 Oscilador mínimo

German Institute for Standardization, Otros osciladores

• DIN 4235-1:1978 Compactación del Concreto por Vibración; Vibradores y Mecánica de Vibración
• DIN 4235-5:1978 Compactación del Concreto por Vibración; Compactación mediante vibradores de superficie
• DIN IEC 60679-2:1997 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo (IEC 60679-2:1981)
• DIN EN ISO 1797:2017-09 Odontología - Mangos para instrumentos rotatorios y oscilantes (ISO 1797:2017); Versión alemana EN ISO 1797:2017
• DIN 4235-4:1978 Compactación del Concreto por Vibración; Compactación In-situ mediante Vibradores de Encofrado
• DIN IEC 60679-2:1997-09 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo (IEC 60679-2:1981)
• DIN EN 61338-2:2005 Resonadores dieléctricos de tipo guía de ondas. Parte 2: Directrices para aplicaciones de osciladores y filtros (IEC 61338-2:2004); Versión alemana EN 61338-2:2004
• DIN EN 61338-2:2005-02 Resonadores dieléctricos de tipo guía de ondas. Parte 2: Directrices para aplicaciones de osciladores y filtros (IEC 61338-2:2004); Versión alemana EN 61338-2:2004
• DIN EN 60679-6:2011 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW. Directrices de aplicación (IEC 60679-6:2011); Versión alemana EN 60679-6:2011
• DIN 4235-3:1978 Compactación del Concreto por Vibración; Compactación mediante vibradores externos durante la fabricación de elementos prefabricados
• DIN IEC 61080:1993 Guía para la medición de parámetros eléctricos equivalentes de unidades de cristal de cuarzo; idéntico a IEC 61080:1991
• DIN EN 169200:1996 Especificación seccional: Osciladores controlados por cristal de cuarzo (aprobación de calificación); Versión alemana EN 169200:1995
• DIN EN 168201:1992 Especificación detallada en blanco; unidades de cristal de cuarzo (aprobación de calificación); versión alemana EN 168201:1992
• DIN EN 168101:1992 Especificación detallada en blanco; unidades de cristal de cuarzo (aprobación de capacidad); versión alemana EN 168101:1992
• DIN EN ISO 15212-1 Berichtigung 1:2009-07 Densímetros de tipo oscilatorio. Parte 1: Instrumentos de laboratorio (ISO 15212-1:1998); Versión alemana EN ISO 15212-1:1999, corrección de errores según DIN EN ISO 15212-1:1999-06; Versión alemana EN ISO 15212-1:1999/AC:2009
• DIN EN ISO 15212-1:1999-06 Densímetros de tipo oscilatorio. Parte 1: Instrumentos de laboratorio (ISO 15212-1:1998); Versión alemana EN ISO 15212-1:1999
• DIN EN 169200:1996-05 Especificación seccional: Osciladores controlados por cristal de cuarzo (aprobación de calificación); Versión alemana EN 169200:1995
• DIN EN 60747-16-5:2021-08 Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - Osciladores (IEC 60747-16-5:2013 + A1:2020 + COR1:2020); Versión alemana EN 60747-16-5:2013 + A1:2020 / Nota: DIN EN 60747-16-5 (2014-04) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2023...
• DIN 4235-2:1978 Compactación del Concreto por Vibración; Compactación mediante vibradores internos
• DIN EN 62570:2016-09 Práctica estándar para marcar dispositivos médicos y otros elementos de seguridad en el entorno de resonancia magnética (IEC 62570:2014); Versión alemana EN 62570:2015
• DIN EN 169201:1996 Especificación detallada en blanco: osciladores controlados por cristal de cuarzo (aprobación de calificación); Versión alemana EN 169201:1995
• DIN EN ISO 15212-2 Berichtigung 1:2009-07 Densímetros de tipo oscilación. Parte 2: Instrumentos de proceso para líquidos homogéneos (ISO 15212-2:2002); Versión alemana EN ISO 15212-2:2002, corrección de errores según DIN EN ISO 15212-2:2002-07; Versión alemana EN ISO 15212-2:2002/AC:2009
• DIN EN ISO 15212-2:2002-07 Densímetros de tipo oscilación. Parte 2: Instrumentos de proceso para líquidos homogéneos (ISO 15212-2:2002); Versión alemana EN ISO 15212-2:2002
• DIN EN 169201:1996-05 Especificación detallada en blanco: osciladores controlados por cristal de cuarzo (aprobación de calificación); Versión alemana EN 169201:1995
• DIN 8313-2:1977 Requisitos técnicos y verificación de relojes y mecanismos de relojería con fuente de energía eléctrica; frecuencia del resonador 1000 Hz, condiciones de entrega para mecanismos de reloj
• DIN EN 60679-1:2008 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 1: Especificación genérica (IEC 60679-1:2007); Versión alemana EN 60679-1:2007
• DIN 8313-1:1975 Requisitos técnicos y verificación para relojes y mecanismos de relojería con fuente de energía eléctrica; frecuencia del sistema oscilante 1000 Hz
• DIN EN 60747-16-5/A1:2019 Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - Osciladores (IEC 47E/649/CD:2019); Texto en alemán e inglés.
• DIN EN 60679-5:1999-05 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5: Especificación seccional; aprobación de calificación (IEC 60679-5:1998); Versión alemana EN 60679-5:1998
• DIN EN 60679-1:2018-04 Osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos de calidad evaluada. Parte 1: Especificación genérica (IEC 60679-1:2017); Versión alemana EN 60679-1:2017 / Nota: DIN EN 60679-1 (2008-02) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 30 de agosto de 2020.
• DIN EN 60679-4:1998-11 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Especificaciones seccionales. Aprobación de capacidad (IEC 60679-4:1997); Versión alemana EN 60679-4:1998
• DIN EN 60679-4-1:1998-12 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4-1: Especificación detallada del blanco; aprobación de capacidad (IEC 60679-4-1:1998); Versión alemana EN 60679-4-1:1998 / Nota: Aplica en conjunto con DIN EN 60679-1 (2008-02), DIN EN 60679-4 (1...
• DIN EN 60679-5-1:1999-05 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5-1: Especificación detallada del blanco; aprobación de calificación (IEC 60679-5-1:1998); Versión alemana EN 60679-5-1:1998 / Nota: Aplica en conjunto con DIN EN 60679-1 (1998-09), DIN EN 60679-5...
• DIN 8312-2:1975 Requisitos técnicos y verificación de relojes y mecanismos de relojería; relojes con fuente de energía eléctrica, frecuencia del sistema oscilante 1000 Hz
• DIN EN 62884-1:2018-02 Técnicas de medición de osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos - Parte 1: Métodos básicos para la medición (IEC 62884-1:2017); Versión alemana EN 62884-1:2017
• DIN EN 60679-4:1998 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Especificaciones seccionales. Aprobación de capacidad (IEC 60679-4:1997); Versión alemana EN 60679-4:1998

U.S. Military Regulations and Norms, Otros osciladores

• ARMY MIL-O-14850 NOTICE 1-1997 OSCILADOR, ALTO VOLTAJE, 10549785
• ARMY MIL-O-14850 (1)-1973 OSCILADOR, ALTO VOLTAJE, 10549785
• ARMY MIL-O-14850-1969 OSCILADOR, ALTO VOLTAJE, 10549785
• ARMY MIL-PRF-55310/32 A-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1,544 MHZ HASTA 125 MHZ, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, CMOS AVANZADO
• ARMY MIL-G-45717-1961 GENERADOR DE PULSO SG-95/MPQ-25
• ARMY MIL-PRF-55310/29 C-2011 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 0,2 MHz HASTA 85 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, HCMOS
• ARMY MIL-PRF-55310/34 C-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 500 KHz HASTA 150 MHz, SELLO HERMÉTICO, CMOS DE BAJO VOLTAJE
• ARMY MIL-PRF-55310/38 B-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 500 KHz HASTA 150 MHz, SELLO HERMÉTICO, CMOS DE BAJO VOLTAJE
• ARMY MIL-PRF-55310/28 C VALID NOTICE 1-2013 Oscilador, Controlado por Cristal, Tipo 1 (Oscilador de Cristal (XO)), 1,0 MHz a 85 MHz, Sello Hermético, Onda Cuadrada, TTL
• ARMY MIL-PRF-55310/30 D VALID NOTICE 1-2013 Oscilador, Controlado por Cristal, Tipo 1 (Oscilador de Cristal (XO)), 450 KHz a 100 MHz, Sello Hermético, CMOS de Bajo Voltaje
• ARMY QPL-55310-70-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
• ARMY QPL-55310-71-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
• ARMY QPL-55310-74-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
• ARMY MIL-PRF-55310/36 B-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO), 1 MHz A 100 MHz, SELLO HERMÉTICO, BAJO VOLTAJE 1.8V CMOS
• ARMY MIL-PRF-55310/27 C-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1,0 MHZ HASTA 85 MHZ, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, CMOS DE ALTA VELOCIDAD
• ARMY MIL-PRF-55310/40 B-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1 MHz HASTA 100 MHz, SELLO HERMÉTICO, BAJO VOLTAJE 1,8 V CMOS
• ARMY MIL-PRF-55310/27 D VALID NOTICE 1-2013 Oscilador, controlado por cristal, tipo 1 (oscilador de cristal (XO)), 1,0 MHz a 85 MHz, sello hermético, onda cuadrada, CMOS de alta velocidad
• ARMY QPL-55310-69-2006
• ARMY QPL-55310-76-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
• ARMY QPL-55310-81-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
• ARMY QPL-55310-83-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
• ARMY QPL-55310-84-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
• ARMY MIL-PRF-55310/25 D-2009 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 25 MHz HASTA 175 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, LÓGICA EMISOR ACOPLADO
• ARMY MIL-PRF-49192 A-1997 GENERADOR, SEÑAL, VHF SG-1170/U
• ARMY MIL-PRF-55310/35-2007 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO), 1 MHz A 133 MHz, SELLO HERMÉTICO, BAJO VOLTAJE 2.5V CMOS
• ARMY MIL-PRF-55310/28 C-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1,0 MHz HASTA 85 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, TTL
• ARMY MIL-PRF-55310/8 J-2009 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 50 Hz HASTA 50 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, TTL
• ARMY MIL-PRF-55310/30 D-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 450 kHz HASTA 100 MHz, SELLO HERMÉTICO, CMOS DE BAJO VOLTAJE
• ARMY MIL-PRF-55310/12 H-2009 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 0,05 MHz HASTA 10 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, CMOS
• ARMY MIL-PRF-55310/37 A-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO), 500 KHz A 85 MHz, SELLO HERMÉTICO, CMOS
• ARMY MIL-PRF-55310/27 D-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1,0 MHz HASTA 85 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, CMOS DE ALTA VELOCIDAD
• ARMY MIL-PRF-55310/32 B-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1.544 MHz HASTA 125 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, CMOS AVANZADO
• ARMY MIL-PRF-55310/18 F-2009 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 0,01 Hz HASTA 15,0 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, CMOS
• ARMY MIL-PRF-55310/31 A-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 0,75 MHz HASTA 200 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, CMOS AVANZADO
• ARMY MIL-PRF-55310/33 B-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 500 KHz HASTA 85 MHz, SELLO HERMÉTICO, CMOS
• ARMY MIL-PRF-55310/34 B-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 500 KHz HASTA 150 MHz, SELLO HERMÉTICO, CMOS DE BAJO VOLTAJE
• ARMY MIL-PRF-55310/38 A-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO), 500 KHz A 150 MHz, SELLO HERMÉTICO, CMOS DE BAJO VOLTAJE
• ARMY MIL-L-63119-1977 OSCILADOR/MEZCLADOR LOCAL HÍBRIDO PARA RECEPTOR DE DISPOSITIVO DE DISPARO XM122
• ARMY MIL-PRF-55310/35 A-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO), 1 MHz A 133 MHz, SELLO HERMÉTICO, BAJO VOLTAJE 2.5V CMOS
• ARMY MIL-PRF-55310/36 A-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO), 1 MHz A 100 MHz, SELLO HERMÉTICO, BAJO VOLTAJE 1.8V CMOS
• ARMY MIL-PRF-55310/39 A-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO), 1 MHz A 133 MHz, SELLO HERMÉTICO, BAJO VOLTAJE 2.5V CMOS
• ARMY MIL-PRF-55310/40 A-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1 MHz HASTA 100 MHz, SELLO HERMÉTICO, BAJO VOLTAJE 1,8 V CMOS

TR-TSE, Otros osciladores

• TS 2319-1976 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores
• TS 2268-1976 Soportes de unidades de cristal de cuarzo para osciladores y conectores de clavijas
• TS 3521-1980 ACCESORIOS CÓNICOS PARA JERINGAS AGUJAS Y OTROS EQUIPOS MÉDICOS

Military Standards (MIL-STD), Otros osciladores

• DOD A-A-50891 A-1993 VIBRADOR, MOLDURA DENTAL

United States Navy, Otros osciladores

• NAVY MIL-O-85432 B NOTICE 1-1996 OSCILADOR, CONTROLADO POR TENSIÓN
• NAVY MIL-O-85432 B-1988 OSCILADOR, CONTROLADO POR TENSIÓN
• NAVY MIL-O-81144 B NOTICE 1-1996 SUBCONJUNTO DEL OSCILADOR (PARA TORPEDO MARK 37 MODS 0, 2 Y 3)
• NAVY MIL-O-81144 B-1970 SUBCONJUNTO DEL OSCILADOR (PARA TORPEDO MARK 37 MODS 0, 2 Y 3)
• NAVY MIL-B-82564 NOTICE 1-1998 CONJUNTO MULTIVIBRADOR BISTABLE LD 546989 (PARA ORIENTACIÓN) mostrar 86 558 m

Professional Standard - Electron, Otros osciladores

• SJ/T 10104-1991 Osciladores de nivel para tipo YX5071
• SJ/Z 9155.2-1987 Oscilador de cristal de cuarzo Parte 2: Guía para el uso del oscilador de cristal de cuarzo
• SJ 2942-1988 Métodos de medición de osciladores de nivel.
• SJ 1852-1981 Términos para osciladores controlados por cristal de cuarzo
• SJ 51648/5-1997 Tipo ZC 503, osciladores, cristal, especificación detallada para
• SJ 2941-1988 Especificaciones generales para osciladores de nivel.
• SJ/T 10638-1995 Métodos de medición para osciladores de cristal de cuarzo.
• SJ 51648.4-1995 Oscilador, cristal, tipo ZC505E, especificación detallada para
• SJ 2762-1987 Términos para osciladores de ondas acústicas de superficie (SAW)
• SJ 2763-1987 Términos para osciladores de ondas acústicas de superficie (SAW)
• SJ 51648/1-1994 Oscilador, cristal, especificación detallada tipo ZF507 para
• SJ 51648/2-1994 Oscilador, tipo cristal ZD509, especificación detallada para
• SJ/T 9570.3-1995 Estándar de clasificación de calidad para osciladores de cristal de cuarzo
• SJ 20803-2001 Circuitos de microondas Métodos de medición para oscilador controlado por voltaje.
• SJ 51648/3-1994 Oscilador, cristal, tipo ZC505 (A ~ D) especificación detallada para
• SJ 20527.2-1995 Conjunto de microondas. Especificación detallada para el oscilador controlado por voltaje modelo WFZ817
• SJ 20527.3-2001 Especificación detallada del conjunto de microondas para el oscilador controlado por voltaje modelo WFZ816A
• SJ/T 11457.2-2022 Resonadores dieléctricos de guía de ondas, parte 2: pautas de uso para osciladores y filtros
• SJ 20527.7-2003 Especificación detallada del conjunto de microondas para el oscilador resonador dieléctrico bloqueado en fases modelo WFZ1006
• SJ 2073-1982 Núcleos para transformadores IF y bobinas osciladoras de onda media de receptores de radio transistores
• SJ/T 11256-2001 Osciladores controlados ctratales de cristal de cuarzo de calidad evaluada Parte 1: Especificación genérica
• SJ/T 10685-1995 Transformadores de frecuencia intermedia y bobinas de oscilador para receptores de radiodifusión con modulación de amplitud transistorizada.
• SJ/T 11257-2001 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5: Especificación seccional Aprobación de calificación.
• SJ 2072-1982 Núcleos para transformadores IF de transistores y para bobinas de osciladores de onda corta de receptores de radio.
• SJ/T 11743.3-2019 Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos para control y selección de frecuencia – Glosario – Parte 3: Osciladores piezoeléctricos y dieléctricos （IEC/TS 61994-3:2011, Dispositivos piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos y materiales asociados para frecuencia...

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Otros osciladores

• KS C 6503-1999 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores.
• KS C 6503-1984 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores.
• KS C IEC 60679-2:2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo.
• KS C IEC 60679-2-2023 Oscilador de cristal de cuarzo, parte 2: una guía para usar un oscilador de cristal de cuarzo
• KS C 6509-1991 Reglas generales de los osciladores controlados por cristal de cuarzo
• KS C 6508-2013 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores (para 200∼1000kHz)
• KS C 6509-1991(2011) Reglas generales de los osciladores controlados por cristal de cuarzo
• KS C 6504-1987 Hornos para Unidades de Cristal de Cuarzo
• KS C 6508-1990 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores (para 200∼1000kHz)
• KS C IEC 60679-6:2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW. Directrices de aplicación.
• KS C IEC 60679-6-2023 Osciladores de cristal de cuarzo calificados, Parte 6: Directrices de aplicación para métodos de medición de fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores de ondas acústicas de superficie
• KS C 6503-1999(2009) UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA OSCILADORES
• KS C IEC 61338-2:2018 Resonadores dieléctricos de tipo guía de ondas. Parte 2: Directrices para aplicaciones de osciladores y filtros.
• KS C IEC 61338-2-2023 Resonadores dieléctricos de guía de ondas Parte 2: Guía de aplicación de osciladores y filtros
• KS C 6509-2013 Reglas generales de los osciladores controlados por cristal de cuarzo
• KS C 6508-1990(2010) Unidades de cristal de cuarzo para osciladores (para 200∼1000kHz)
• KS B ISO 15212-1:2006 Densímetros de tipo oscilación－Parte 1: Instrumentos de laboratorio
• KS B ISO 15212-1-2006(2016) Densímetros de tipo oscilación－Parte 1: Instrumentos de laboratorio
• KS B ISO 15212-1-2006(2021) Densímetros de tipo oscilación－Parte 1: Instrumentos de laboratorio
• KS C IEC 62860-1:2018 Métodos de prueba para la caracterización de osciladores en anillo basados en transistores orgánicos
• KS B ISO 7475-2004(2009) Vibración mecánica－Máquinas equilibradoras－Cerros y otras medidas de protección para la estación de medición
• KS B ISO 15212-2:2006 Densímetros de tipo oscilación －Parte 2: Instrumentos de proceso para líquidos homogéneos
• KS B ISO 7475:2004 Vibraciones mecánicas-Máquinas equilibradoras-Cerramientos y otras medidas de protección para la estación de medición
• KS B ISO 7475:2014 Vibración mecánica－Máquinas equilibradoras－Cerros y otras medidas de protección para la estación de medición
• KS C IEC 60679-1:2018 Osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos de calidad evaluada – Parte 1: Especificación genérica
• KS C IEC 60679-1-2023 Osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos calificados Parte 1: Especificaciones generales
• KS C IEC 60679-5:2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5: Especificaciones seccionales. Aprobación de calificación.
• KS C IEC 60679-4:2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Especificaciones seccionales. Aprobación de capacidad.
• KS C IEC 60679-4-2023 Evaluación de la calidad de los osciladores de cristal de cuarzo Parte 4: Certificación de competencia según las especificaciones del segmento
• KS C IEC 60679-5-2023 Evaluación de la calidad de los osciladores de cristal de cuarzo Parte 5: Calificación de especificación parcial
• KS C IEC 60679-3:2021 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 3: esquemas estándar y conexiones de conductores.
• KS C IEC 62884-1:2019 Técnicas de medición de osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos. Parte 1: Métodos básicos de medición.
• KS D 3543-2009 Placas de acero de aleación de cromo-molibdeno para calderas y recipientes a presión.
• KS T ISO 2139-2006(2016) Equipos de manipulación mecánica continua de materiales sueltos a granel — Transportadores oscilantes y alimentadores agitadores o alternativos con artesa tubular

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Otros osciladores

• JIS C 6701:1995 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores.
• JIS T 5504:2021 Instrumentos dentales rotatorios y oscilantes - Mangos
• JIS C 6710:1995 Reglas generales de los osciladores controlados por cristal de cuarzo.
• JIS C 6710:1999 Especificación genérica de osciladores controlados por cristal.
• JIS C 6710:2007 Especificación genérica de osciladores controlados por cristal.
• JIS C 6710:2021 Especificación genérica y métodos de prueba de osciladores.
• JIS W 0613:1979 Resistencia y rigidez del avión, aleteo, divergencia y otras inestabilidades aeroelásticas.
• JIS W 0610:1987 Resistencia y rigidez del avión, cargas diversas.
• JIS K 6300-2:2001 Caucho sin vulcanizar. Propiedades físicas. Parte 2: Determinación de las características de curado con curímetros oscilantes.

工业和信息化部/国家能源局, Otros osciladores

• JB/T 12922-2016 Agitador de cultivo a temperatura constante
• JB/T 13352-2017 Rodamientos y cojinetes para amortiguadores de automóviles y sus unidades.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Otros osciladores

• JJG(电子) 11005-1988 Regulaciones de verificación de prueba de oscilador electrónico de banda de frecuencia de 18,6 MHz y superiores
• JJG 374-1997 Regulación de verificación del oscilador de nivel
• JJG(航天) 8-1985 Reglamento de verificación para osciladores de frecuencia de batido
• JJG(铁道) 126-1991 Reglamento de Verificación de Osciladores de Nivel
• JJG(邮电) 013-1992 Especificación para la verificación de osciladores de nivel.
• JJG(电子) 12008-1987 Regulaciones de verificación de prueba del oscilador tipo 3080B de 1 kHz
• JJG(电子) 11004-1988 Regulaciones de verificación de prueba del oscilador de nivel de 620 kHz ~ 18,6 MHz
• JJG(电子) 01002-1989 Regulaciones de verificación del oscilador de cristal controlado por voltaje QF16101GAJF 5MHz
• JJG 180-2002 Regulación de verificación de osciladores de cristal dentro de instrumentos de medición eléctricos.
• JJG(电子) 11002-1988 Regulaciones de verificación de prueba para osciladores de nivel de baja frecuencia por debajo de 620 kHz

International Electrotechnical Commission (IEC), Otros osciladores

• IEC 60679-2:1981 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo.
• IEC PAS 60679-6:2008 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW - Guía de aplicación
• IEC 60679-6:2011 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW - Guía de aplicación
• IEC 61338-2:2004 Resonadores dieléctricos tipo guía de ondas - Parte 2: Directrices para aplicaciones de osciladores y filtros
• IEC 60747-16-5:2013 Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - Osciladores
• IEC 60747-16-5:2013+AMD1:2020 CSV Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - Osciladores
• IEC 60050-702:1992 Vocabulario electrotécnico internacional; Capítulo 702: Oscilaciones, señales y dispositivos relacionados.
• IEC 60050-702:1992/COR1:1992 Vocabulario electrotécnico internacional; capítulo 702: oscilaciones, señales y dispositivos conexos; Errata 1.
• IEC 60050-702:1992/COR2:1994 Vocabulario electrotécnico internacional; capítulo 702: oscilaciones, señales y dispositivos conexos; Errata 2.
• IEC 60747-16-5:2013/AMD1:2020 Enmienda 1 - Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - Osciladores
• IEC 60747-16-5:2013/AMD1:2020/COR1:2020 Corrigendum 1 - Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - Osciladores
• IEC 60679-1:1997 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 1: Especificación genérica
• IEC 60679-1:2007 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 1: Especificación genérica
• IEC 62860-1:2013 Métodos de prueba para la caracterización de osciladores en anillo basados en transistores orgánicos
• IEC 60679-3:1989 Osciladores controlados por cristal de cuarzo; parte 3: contornos estándar y conexiones de cables
• IEC 60679-1/AMD1:2002 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 1: Especificación genérica; Enmienda 1
• IEC 60122-3:2010 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 3: esquemas estándar y conexiones de cables.
• IEC 60679-1:1980 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 1: Información general, condiciones y métodos de prueba.
• IEC 60679-1/AMD1:1985 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 1: Información general, condiciones y métodos de prueba.
• IEC 60679-4:1997 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Especificaciones seccionales. Aprobación de capacidad.
• IEC 60679-1:2017 Osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos de calidad evaluada. Parte 1: Especificaciones genéricas.
• IEC 60679-5:1998 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5: Especificaciones seccionales. Aprobación de calificación.
• IEC 62884-1:2017 Técnicas de medida de osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos - Parte 1: Métodos básicos para la medida
• IEC TS 61994-3:2004 Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos para control y selección de frecuencia - Glosario - Parte 3: Osciladores piezoeléctricos y dieléctricos
• IEC 60679-1/AMD2:2003 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 1: Especificación genérica; Enmienda 2

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Otros osciladores

• GB/T 32710.13-2016
• GB 12274-1990 Osciladores controlados por cristal de cuarzo Especificación genérica para
• GB/T 14733.7-1993 Terminología para las telecomunicaciones. Oscilaciones, señales y dispositivos relacionados.
• GB/T 12275-1990 La regla de designación de tipo para osciladores de cristal de cuarzo.
• GB/T 14733.7-2008 Terminología de telecomunicaciones. Oscilaciones, señales y dispositivos relacionados.
• GB 12275-1990 Nomenclatura del modelo de oscilador de cristal de cuarzo
• GB/T 12274-1990 Osciladores controlados por cristal de cuarzo: especificación genérica para
• GB/T 20870.5-2023 Dispositivos semiconductores Parte 16-5: Osciladores de circuito integrado de microondas
• GB/T 12274.1-2012 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 1: Especificación genérica

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Otros osciladores

• GJB 3160-1998 Especificaciones generales para osciladores giromagnéticos.
• GJB 1648-1993 Especificaciones generales para osciladores de cristal.
• GJB 1648-2-2011 Especificación general para osciladores de cristal.
• GJB 1648A-2011 Especificación general para osciladores de cristal.
• GJB 3515-1999 Especificación general para osciladores de ondas acústicas de superficie.
• GJB/Z 45.2-1993 Oscilador de cristal de espectro de serie de dispositivos piezoeléctricos militares
• GJB 1648/1-2011 Especificación detallada para el oscilador de cristal tipo ZA511 (ZPB-5)
• GJB 1648/2-2011 Especificación detallada para osciladores de cristal con compensación de temperatura tipo ZC547(ZWB-1)
• GJB 1648/3-2011 Especificación detallada para el oscilador de cristal con compensación de temperatura tipo ZC545 (ZWC-6B-1/2)
• GJB 3480-1998 Método de prueba en túnel de viento de baja velocidad para el movimiento de rotación y oscilación de modelos de aeronaves
• GJB 3480A-2021 Método de prueba en túnel de viento de baja velocidad para el movimiento de rotación y oscilación de modelos de aeronaves
• GJB 2438/23-2021 Circuito integrado híbrido WHZD950M1050M-10 tipo microondas híbrido oscilador controlado por voltaje integrado especificaciones detalladas
• GJB 2438/24-2021 Circuito integrado híbrido WHZD800M1100M-10 tipo microondas híbrido integrado oscilador controlado por voltaje especificaciones detalladas
• GJB 2438/28-2021 Circuito integrado híbrido WHZD2200M2600M-10 tipo microondas híbrido integrado oscilador controlado por voltaje especificaciones detalladas
• GJB 2438/21-2021 Circuito integrado híbrido Especificaciones detalladas del oscilador controlado por voltaje integrado híbrido de microondas tipo WHZD8240M8600M-10
• GJB 2438/25-2021 Especificaciones detalladas para el circuito integrado híbrido WHZD6500M-11 oscilador controlado por voltaje integrado híbrido de microondas

KR-KS, Otros osciladores

• KS C IEC 60679-2-2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo.
• KS C IEC 60679-2-2018(2023) Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo.
• KS C IEC 60679-6-2018(2023) Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW. Directrices de aplicación.
• KS C IEC 60679-6-2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW. Directrices de aplicación.
• KS B ISO 3159-2008 Instrumentos de cronometraje－Cronómetros de muñeca con oscilador de equilibrio de resorte
• KS C IEC 61338-2-2018 Resonadores dieléctricos de tipo guía de ondas. Parte 2: Directrices para aplicaciones de osciladores y filtros.
• KS C IEC 61338-2-2018(2023) Resonadores dieléctricos de tipo guía de ondas. Parte 2: Directrices para aplicaciones de osciladores y filtros.
• KS C IEC 62860-1-2018 Métodos de prueba para la caracterización de osciladores en anillo basados en transistores orgánicos
• KS C IEC 62860-1-2018(2023) Métodos de prueba para la caracterización de osciladores en anillo basados en transistores orgánicos
• KS C IEC 60679-1-2018 Osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos de calidad evaluada – Parte 1: Especificación genérica
• KS C IEC 60679-1-2018(2023) Osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos de calidad evaluada – Parte 1: Especificación genérica
• KS C IEC 60679-4-2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Especificaciones seccionales. Aprobación de capacidad.
• KS C IEC 60679-5-2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5: Especificaciones seccionales. Aprobación de calificación.
• KS C IEC 60679-5-2018(2023) Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5: Especificaciones seccionales. Aprobación de calificación.
• KS C IEC 60679-4-2018(2023) Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Especificaciones seccionales. Aprobación de capacidad.
• KS C IEC 62884-1-2019 Técnicas de medición de osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos. Parte 1: Métodos básicos de medición.
• KS C IEC 60679-3-2021 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 3: esquemas estándar y conexiones de conductores.

Professional Standard - Post and Telecommunication, Otros osciladores

• YD 301-1983 Método de prueba para oscilador de nivel.
• YD/T 650-1994 Criterios de clasificación de calidad del oscilador de nivel de 620 kHz
• YD/T 294-1982 Principal requisito técnico para osciladores de nivel de 620 KHz

American National Standards Institute （ANSI), Otros osciladores

• ANSI/AWWA C713-2010 Medidores de agua fría: tipo oscilador de fluidos
• ANSI/AWWA C713-2005 Medidores de agua fría: tipo oscilador fluídico
• ANSI/AWWA C713-2015 Medidores de agua fría: tipo oscilador de fluidos
• ANSI/IEEE 1620.1:2006 Norma para métodos de prueba para la caracterización de osciladores en anillo basados en transistores orgánicos

Group Standards of the People's Republic of China, Otros osciladores

• T/HEBQIA 135-2022 Oscilador de cristal de temperatura constante OC1409
• T/CASME 403-2023 Vco para circuitos integrados híbridos
• T/SHDSGY 120-2022 Dispositivo de control y regulación de temperatura para oscilador termostático giratorio.
• T/ZZB 1236-2019 Rodamientos y unidades para amortiguadores de automóviles.
• T/CSEE 0112-2019 Directrices para la prueba de tensión de impulso de operación oscilante de inducción de campo para transformadores de potencia sumergidos en aceite

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Otros osciladores

• JJF 1982-2022 Especificaciones de calibración del oscilador de nivel
• JJF(纺织)105-2023 Especificación de calibración para oscilador de baño de agua a temperatura constante
• JJF 2016-2022 Especificación de calibración para simulador de ondas oscilatorias amortiguadas
• JJF 1984-2022 Especificación para la calibración de osciladores de cristal de cuarzo en instrumentos de medición electrónicos.

Association Francaise de Normalisation, Otros osciladores

• NF C93-620-6*NF EN 60679-6:2011 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 6: método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW. Directrices de aplicación.
• NF EN 60679-6:2011 Osciladores accionados por cristal de calidad garantizada. Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal y osciladores SAW. Directrices de aplicación.
• NF EN ISO 1797:2017 Medicina oral - Mangos para instrumentos rotativos y oscilantes
• NF C96-627-2*NF EN 61338-2:2004 Resonadores dieléctricos tipo guía de ondas - Parte 2: directrices para aplicaciones de osciladores y filtros
• NF UTE C93-611:1975 Dispositivos piezoeléctricos - Osciladores de cuarzo - Colección de láminas especiales.
• NF EN ISO 15212-1:1999 Densímetros oscilantes - Parte 1: instrumentos de laboratorio
• NF EN 61338-2:2004 Resonadores dieléctricos guiados por modo - Parte 2: guía para la aplicación a filtros y osciladores
• NF C93-611:1975 Componentes para equipos electrónicos. Dispositivos piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo para osciladores.
• NF C96-016-5*NF EN 60747-16-5:2014 Dispositivos semiconductores. Parte 16-5: circuitos integrados de microondas. Osciladores.
• NF EN 60747-16-5/A1:2020 Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: circuitos integrados de microondas - Osciladores
• NF EN 60747-16-5:2014 Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - osciladores
• NF EN ISO 15212-2:2002 Densímetros oscilantes - Parte 2: instrumentos industriales para líquidos homogéneos
• NF C74-237*NF EN 62570:2015 Práctica estándar para marcar dispositivos médicos y otros artículos para mayor seguridad en el entorno de resonancia magnética
• NF EN ISO 389-3:2016 Acústica. Cero de referencia para la calibración de equipos audiométricos. Parte 3: niveles de referencia equivalentes de la fuerza de vibración umbral para vibradores y osivibradores de tonos puros.
• NF C93-620-1:2013 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 1: especificación genérica
• NF B35-212-2*NF EN ISO 15212-2:2002 Densímetros de tipo oscilatorio - Parte 2: instrumentos de proceso para líquidos homogéneos
• UTE C93-611U*UTE C93-611:1975 Componentes para equipos eléctricos. Dispositivos piezoeléctricos. Unidades de cristal de cuarzo para osciladores.
• NF EN 60679-4-1:1999 Osciladores controlados por cuarzo bajo control de calidad - Parte 4-1: especificación del marco particular. Aprobación del know-how.
• NF EN 60679-5:1999 Osciladores accionados por cuarzo bajo control de calidad. Parte 5: especificación intermedia. Aprobación
• NF EN 60679-5-1:2000 Osciladores controlados por cuarzo bajo control de calidad - Parte 5-1: especificación del marco particular - Aprobación
• NF EN 60679-3:2013 Osciladores controlados por cuarzo bajo control de calidad - Parte 3: dimensiones estandarizadas y conexiones de salida
• NF EN 60679-1:2017 Osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos bajo control de calidad - Parte 1: especificación genérica
• NF C93-620-3:2002 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 3: esquemas estándar y conexiones de cables.
• NF C93-620-3*NF EN 60679-3:2013 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 3: esquemas estándar y conexiones de cables.
• NF C93-620-4*NF EN 60679-4:1999 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: especificación seccional. Aprobación de capacidad.
• NF EN 62884-1:2017 Técnicas de medición de osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos - Parte 1: métodos fundamentales de medición
• NF EN 60068-2-47:2005 Ensayos ambientales - Parte 2-47: ensayos - Fijación de muestras para vibraciones, impactos y otros ensayos dinámicos

British Standards Institution (BSI), Otros osciladores

• BS EN 60679-6:2011 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Método de medición de fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW. Pautas de solicitud
• BS EN 61338-2:2004 Resonadores dieléctricos tipo guía de ondas: pautas para aplicaciones de osciladores y filtros
• BS EN 60747-16-5:2013+A1:2020 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados de microondas. Osciladores
• BS ISO 3159:2009 Instrumentos de cronometraje. Cronómetros de pulsera con oscilador de volante de resorte.
• BS EN 60747-16-5:2013 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados de microondas. Osciladores
• BS ISO 3159:2010 Instrumentos de cronometraje - Cronómetros de pulsera con oscilador de volante de resorte
• BS EN 60679-1:2007 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Especificación genérica
• BS IEC 62860-1:2013 Métodos de prueba para la caracterización de osciladores en anillo basados en transistores orgánicos.
• BS EN 60679-1:2017 Osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos de calidad evaluada. Especificación genérica
• 19/30393894 DC BS EN 60747-16-5 AMD1. Dispositivos semiconductores. Parte 16-5. Circuitos integrados de microondas. Osciladores
• BS EN ISO 15212-2:2002 Densímetros de tipo oscilatorio. Parte 2: Instrumentos de proceso para líquidos homogéneos.
• BS 9620:1975 Especificación para osciladores de cristal de cuarzo de calidad evaluada: datos genéricos y métodos de prueba.
• BS EN 60679-3:2013 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Contornos estándar y conexiones de cables.
• BS EN 62884-1:2017 Técnicas de medida de osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos - Métodos básicos para la medida
• BS EN ISO 12185:1996 Métodos de prueba para el petróleo y sus productos. Petróleo crudo y productos petrolíferos. Determinación de la densidad. Método del tubo en U oscilante
• BS EN 62884-2:2017 Técnicas de medición de osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos - Método de medición de fluctuación de fase
• BS EN IEC 62884-3:2018 Técnicas de medida de osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos. Métodos de prueba de envejecimiento de frecuencia.
• BS 9625:1983 Especificación detallada en blanco para osciladores de cristal de cuarzo de calidad evaluada: nivel de evaluación completo
• BS EN 60679-4:1998 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Especificación seccional. Aprobación de capacidad
• BS EN 60679-5:1998 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Especificación seccional. Aprobación de calificación
• BS EN 169000:1993 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificación genérica. Osciladores controlados por cristal de cuarzo
• BS EN 169100:1993 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos. Especificación seccional: osciladores controlados por cristal de cuarzo (aprobación de capacidad)
• BS EN 62570:2015 Práctica estándar para marcar dispositivos médicos y otros artículos para la seguridad en el entorno de resonancia magnética
• BS EN IEC 62884-4:2019 Técnicas de medición de osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos. Métodos de prueba de estabilidad de frecuencia a corto plazo.
• BS EN 60679-4-1:1998 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Especificación detallada en blanco. Aprobación de capacidad
• BS EN 60679-5-1:1998 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Especificación detallada en blanco. Aprobación de calificación
• BS 1101:1977 Especificación para recipientes a presión para pintura y otras sustancias similares.
• BS EN 50708-2-3:2022 Transformadores de poder. Requisitos europeos adicionales - Transformador de media potencia. Accesorios

IEC - International Electrotechnical Commission, Otros osciladores

• PAS 60679-6-2008 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada – Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW – Guía de aplicación (Edición 1.0)
• IEC TR 61869-102:2014 Transformadores de medida – Parte 102: Oscilaciones de ferroresonancia en subestaciones con transformadores de tensión inductivos (Edición 1.0)

Danish Standards Foundation, Otros osciladores

• DS/EN 60679-6:2011
• DS/EN 61338-2:2004
• DS/EN ISO 15212-1:1999 Densímetros de tipo oscilatorio - Parte 1: Instrumentos de laboratorio
• DS/EN ISO 15212-1/AC:2009 Densímetros de tipo oscilatorio - Parte 1: Instrumentos de laboratorio
• DS/EN 169200:1998 Especificación seccional: Osciladores controlados por cristal de cuarzo (Aprobación de calificación)
• DS/EN 60747-16-5:2013 Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - Osciladores
• DS/EN ISO 15212-2/AC:2009 Densímetros de tipo oscilatorio - Parte 2: Instrumentos de proceso para líquidos homogéneos
• DS/EN ISO 15212-2:2002 Densímetros de tipo oscilatorio - Parte 2: Instrumentos de proceso para líquidos homogéneos
• DS/EN 169201:1998 Especificación detallada en blanco: osciladores controlados por cristal de cuarzo (aprobación de calificación)
• DS/EN 60679-1:2007
• DS/EN 60679-4:1998
• DS/EN 60679-5:1999

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Otros osciladores

• EN 60679-6:2011 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW. Directrices de aplicación.
• EN 169200:1995 Especificación seccional: Osciladores controlados por cristal de cuarzo (aprobación de calificación)
• EN 169201:1995 Especificación detallada en blanco: Osciladores controlados por cristal de cuarzo (aprobación de calificación)
• EN 60679-1:1998 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada Parte 1: Especificación genérica (Incorpora la Enmienda A1: 2002)

Defense Logistics Agency, Otros osciladores

• DLA MIL-PRF-55310/21 F-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1,0 MHz HASTA 60,0 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, TTL
• DLA MIL-PRF-55310/21 G-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1,0 MHz HASTA 60,0 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, TTL
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• DLA SMD-5962-82022 REV A-2001 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, FLIP-FLOP HEX D, SILICIO MONOLÍTICO
• DLA SMD-5962-88757 REV C-2013 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS DE ALTA VELOCIDAD, BUCLE DE BLOQUEO DE FASE CON OSCILADOR CONTROLADO POR TENSIÓN, ENTRADAS COMPATIBLES TTL, SILICIO MONOLÍTICO
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• DLA DSCC-DWG-05013-2006 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, 3,3 VOLTIOS, HABILITADO/TRI-ESTADO, 312 KHZ A 170 MHZ, COMPATIBLE CON TTL Y CMOS, MONTAJE EN SUPERFICIE
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• LST EN 168201-2001 Especificación detallada en blanco. Unidades de cristal de cuarzo (aprobación de calificación)
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PK-PSQCA, Otros osciladores

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American Bureau of Shipping , Otros osciladores

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