Oscilador

Oscilador, Total: 497 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Oscilador son: Equipo medico, válvulas, Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos., Pruebas ambientales, Filtros electricos, Componentes electrónicos en general., Aeronaves y vehículos espaciales en general., Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Equipos terminales de telecomunicaciones, Instalaciones en edificios, Vocabularios, Circuitos integrados. Microelectrónica, Dispositivos semiconductores, Materiales de construcción, Estructuras de edificios, Componentes y accesorios para equipos de telecomunicaciones., Sistemas de telecomunicaciones, Materiales para la construcción aeroespacial., Horología, Medición del tiempo, velocidad, aceleración, velocidad angular., Termodinámica y mediciones de temperatura., Maquinaria rotativa, Física. Química, Radiocomunicaciones, Ingredientes de pintura, Metrología y medición en general., Odontología, Estructuras mecánicas para equipos electrónicos., tubos electronicos, Componentes para equipos eléctricos..

Professional Standard - Nuclear Industry, Oscilador

EJ 220-1984 Soporte del oscilador

Professional Standard - Medicine, Oscilador

YY 0156-1994 Oscilador mínimo

U.S. Military Regulations and Norms, Oscilador

ARMY MIL-O-14850 NOTICE 1-1997 OSCILADOR, ALTO VOLTAJE, 10549785
ARMY MIL-O-14850 (1)-1973 OSCILADOR, ALTO VOLTAJE, 10549785
ARMY MIL-O-14850-1969 OSCILADOR, ALTO VOLTAJE, 10549785
ARMY MIL-PRF-55310/32 A-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1,544 MHZ HASTA 125 MHZ, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, CMOS AVANZADO
ARMY MIL-G-45717-1961 GENERADOR DE PULSO SG-95/MPQ-25
ARMY MIL-PRF-55310/29 C-2011 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 0,2 MHz HASTA 85 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, HCMOS
ARMY MIL-PRF-55310/34 C-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 500 KHz HASTA 150 MHz, SELLO HERMÉTICO, CMOS DE BAJO VOLTAJE
ARMY MIL-PRF-55310/38 B-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 500 KHz HASTA 150 MHz, SELLO HERMÉTICO, CMOS DE BAJO VOLTAJE
ARMY MIL-PRF-55310/28 C VALID NOTICE 1-2013 Oscilador, Controlado por Cristal, Tipo 1 (Oscilador de Cristal (XO)), 1,0 MHz a 85 MHz, Sello Hermético, Onda Cuadrada, TTL
ARMY MIL-PRF-55310/30 D VALID NOTICE 1-2013 Oscilador, Controlado por Cristal, Tipo 1 (Oscilador de Cristal (XO)), 450 KHz a 100 MHz, Sello Hermético, CMOS de Bajo Voltaje
ARMY QPL-55310-70-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
ARMY QPL-55310-71-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
ARMY QPL-55310-74-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
ARMY MIL-PRF-55310/36 B-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO), 1 MHz A 100 MHz, SELLO HERMÉTICO, BAJO VOLTAJE 1.8V CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/27 C-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1,0 MHZ HASTA 85 MHZ, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, CMOS DE ALTA VELOCIDAD
ARMY MIL-PRF-55310/40 B-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1 MHz HASTA 100 MHz, SELLO HERMÉTICO, BAJO VOLTAJE 1,8 V CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/27 D VALID NOTICE 1-2013 Oscilador, controlado por cristal, tipo 1 (oscilador de cristal (XO)), 1,0 MHz a 85 MHz, sello hermético, onda cuadrada, CMOS de alta velocidad
ARMY QPL-55310-69-2006
ARMY QPL-55310-76-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
ARMY QPL-55310-81-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
ARMY QPL-55310-83-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
ARMY QPL-55310-84-2013 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
ARMY MIL-PRF-55310/25 D-2009 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 25 MHz HASTA 175 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, LÓGICA EMISOR ACOPLADO
ARMY MIL-PRF-55310/35-2007 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO), 1 MHz A 133 MHz, SELLO HERMÉTICO, BAJO VOLTAJE 2.5V CMOS
ARMY MIL-PRF-49192 A-1997 GENERADOR, SEÑAL, VHF SG-1170/U
ARMY MIL-PRF-55310/28 C-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1,0 MHz HASTA 85 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, TTL
ARMY MIL-PRF-55310/8 J-2009 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 50 Hz HASTA 50 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, TTL
ARMY MIL-PRF-55310/30 D-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 450 kHz HASTA 100 MHz, SELLO HERMÉTICO, CMOS DE BAJO VOLTAJE
ARMY MIL-PRF-55310/12 H-2009 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 0,05 MHz HASTA 10 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/37 A-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO), 500 KHz A 85 MHz, SELLO HERMÉTICO, CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/27 D-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1,0 MHz HASTA 85 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, CMOS DE ALTA VELOCIDAD
ARMY MIL-PRF-55310/32 B-2008 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1.544 MHz HASTA 125 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, CMOS AVANZADO
ARMY MIL-PRF-55310/18 F-2009 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 0,01 Hz HASTA 15,0 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/31 A-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 0,75 MHz HASTA 200 MHz, SELLO HERMÉTICO, ONDA CUADRADA, CMOS AVANZADO
ARMY MIL-PRF-55310/33 B-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 500 KHz HASTA 85 MHz, SELLO HERMÉTICO, CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/34 B-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 500 KHz HASTA 150 MHz, SELLO HERMÉTICO, CMOS DE BAJO VOLTAJE
ARMY MIL-PRF-55310/38 A-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO), 500 KHz A 150 MHz, SELLO HERMÉTICO, CMOS DE BAJO VOLTAJE
ARMY MIL-PRF-55310/35 A-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO), 1 MHz A 133 MHz, SELLO HERMÉTICO, BAJO VOLTAJE 2.5V CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/36 A-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO), 1 MHz A 100 MHz, SELLO HERMÉTICO, BAJO VOLTAJE 1.8V CMOS
ARMY MIL-PRF-55310/39 A-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO), 1 MHz A 133 MHz, SELLO HERMÉTICO, BAJO VOLTAJE 2.5V CMOS
ARMY MIL-L-63119-1977 OSCILADOR/MEZCLADOR LOCAL HÍBRIDO PARA RECEPTOR DE DISPOSITIVO DE DISPARO XM122
ARMY MIL-PRF-55310/40 A-2010 OSCILADOR, CONTROLADO POR CRISTAL, TIPO 1 (OSCILADOR DE CRISTAL (XO)), 1 MHz HASTA 100 MHz, SELLO HERMÉTICO, BAJO VOLTAJE 1,8 V CMOS

TR-TSE, Oscilador

TS 2319-1976 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores
TS 2268-1976 Soportes de unidades de cristal de cuarzo para osciladores y conectores de clavijas

Military Standards (MIL-STD), Oscilador

DOD A-A-50891 A-1993 VIBRADOR, MOLDURA DENTAL

United States Navy, Oscilador

NAVY MIL-O-85432 B NOTICE 1-1996 OSCILADOR, CONTROLADO POR TENSIÓN
NAVY MIL-O-85432 B-1988 OSCILADOR, CONTROLADO POR TENSIÓN
NAVY MIL-O-81144 B NOTICE 1-1996 SUBCONJUNTO DEL OSCILADOR (PARA TORPEDO MARK 37 MODS 0, 2 Y 3)
NAVY MIL-O-81144 B-1970 SUBCONJUNTO DEL OSCILADOR (PARA TORPEDO MARK 37 MODS 0, 2 Y 3)
NAVY MIL-B-82564 NOTICE 1-1998 CONJUNTO MULTIVIBRADOR BISTABLE LD 546989 (PARA ORIENTACIÓN) mostrar 86 558 m
NAVY MIL-B-82564 (3)-1972 CONJUNTO MULTIVIBRADOR BISTABLE LD 546989 (PARA JUEGO DE PRUEBA DE CONTROL DE GUIADO MK 443 MOD 0 Y MOD 1)
NAVY MIL-B-82564-1968 CONJUNTO MULTIVIBRADOR BISTABLE LD 546989 (PARA JUEGO DE PRUEBA DE CONTROL DE GUIADO MK 443 MOD 0 Y MOD 1)

Professional Standard - Electron, Oscilador

SJ/T 10104-1991 Osciladores de nivel para tipo YX5071
SJ/Z 9155.2-1987 Oscilador de cristal de cuarzo Parte 2: Guía para el uso del oscilador de cristal de cuarzo
SJ 2942-1988 Métodos de medición de osciladores de nivel.
SJ 1852-1981 Términos para osciladores controlados por cristal de cuarzo
SJ 51648/5-1997 Tipo ZC 503, osciladores, cristal, especificación detallada para
SJ 2941-1988 Especificaciones generales para osciladores de nivel.
SJ/T 10638-1995 Métodos de medición para osciladores de cristal de cuarzo.
SJ 51648.4-1995 Oscilador, cristal, tipo ZC505E, especificación detallada para
SJ 2762-1987 Términos para osciladores de ondas acústicas de superficie (SAW)
SJ 2763-1987 Términos para osciladores de ondas acústicas de superficie (SAW)
SJ 51648/1-1994 Oscilador, cristal, especificación detallada tipo ZF507 para
SJ 51648/2-1994 Oscilador, tipo cristal ZD509, especificación detallada para
SJ/T 9570.3-1995 Estándar de clasificación de calidad para osciladores de cristal de cuarzo
SJ 20803-2001 Circuitos de microondas Métodos de medición para oscilador controlado por voltaje.
SJ 51648/3-1994 Oscilador, cristal, tipo ZC505 (A ~ D) especificación detallada para
SJ 20527.2-1995 Conjunto de microondas. Especificación detallada para el oscilador controlado por voltaje modelo WFZ817
SJ 20527.3-2001 Especificación detallada del conjunto de microondas para el oscilador controlado por voltaje modelo WFZ816A
SJ 20527.7-2003 Especificación detallada del conjunto de microondas para el oscilador resonador dieléctrico bloqueado en fases modelo WFZ1006
SJ/T 11256-2001 Osciladores controlados ctratales de cristal de cuarzo de calidad evaluada Parte 1: Especificación genérica
SJ/T 11457.2-2022 Resonadores dieléctricos de guía de ondas, parte 2: pautas de uso para osciladores y filtros
SJ/T 11257-2001 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5: Especificación seccional Aprobación de calificación.
SJ/T 11258-2001 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada Parte 5-1: Especificación detallada en blanco Aprobación de calificación
SJ/T 11743.3-2019 Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos para control y selección de frecuencia – Glosario – Parte 3: Osciladores piezoeléctricos y dieléctricos （IEC/TS 61994-3:2011, Dispositivos piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos y materiales asociados para frecuencia...

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Oscilador

KS C 6503-1999 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores.
KS C 6503-1984 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores.
KS C IEC 60679-2:2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo.
KS C IEC 60679-2-2023 Oscilador de cristal de cuarzo, parte 2: una guía para usar un oscilador de cristal de cuarzo
KS C 6509-1991 Reglas generales de los osciladores controlados por cristal de cuarzo
KS C 6508-2013 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores (para 200∼1000kHz)
KS C 6509-1991(2011) Reglas generales de los osciladores controlados por cristal de cuarzo
KS C IEC 60679-6:2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW. Directrices de aplicación.
KS C IEC 60679-6-2023 Osciladores de cristal de cuarzo calificados, Parte 6: Directrices de aplicación para métodos de medición de fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores de ondas acústicas de superficie
KS C 6504-1987 Hornos para Unidades de Cristal de Cuarzo
KS C 6508-1990 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores (para 200∼1000kHz)
KS C 6503-1999(2009) UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA OSCILADORES
KS C 6509-2013 Reglas generales de los osciladores controlados por cristal de cuarzo
KS C 6508-1990(2010) Unidades de cristal de cuarzo para osciladores (para 200∼1000kHz)
KS C IEC 60122-2-1-2021 Unidades de cristal de cuarzo para control y selección de frecuencia－Parte 2: Guía para el uso de unidades de cristal de cuarzo para control y selección de frecuencia－Sección uno: Unidades de cristal de cuarzo para suministro de reloj por microprocesador
KS B ISO 3159-2013 Instrumentos de cronometraje－Cronómetros de muñeca con oscilador de equilibrio de resorte
KS C IEC 62860-1:2018 Métodos de prueba para la caracterización de osciladores en anillo basados en transistores orgánicos
KS C IEC 61338-2:2018 Resonadores dieléctricos de tipo guía de ondas. Parte 2: Directrices para aplicaciones de osciladores y filtros.
KS C IEC 61338-2-2023 Resonadores dieléctricos de guía de ondas Parte 2: Guía de aplicación de osciladores y filtros
KS C IEC 62860-1-2023 Métodos de prueba para la caracterización de osciladores en anillo basados en transistores orgánicos
KS C IEC 60679-1:2018 Osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos de calidad evaluada – Parte 1: Especificación genérica
KS C IEC 60679-1-2023 Osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos calificados Parte 1: Especificaciones generales
KS C IEC 60679-5:2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5: Especificaciones seccionales. Aprobación de calificación.
KS C IEC 60679-4:2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Especificaciones seccionales. Aprobación de capacidad.
KS C IEC 60679-4-2023 Evaluación de la calidad de los osciladores de cristal de cuarzo Parte 4: Certificación de competencia según las especificaciones del segmento
KS C IEC 60679-5-2023 Evaluación de la calidad de los osciladores de cristal de cuarzo Parte 5: Calificación de especificación parcial
KS C IEC 60679-3:2021 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 3: esquemas estándar y conexiones de conductores.
KS C IEC 62884-1:2019 Técnicas de medición de osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos. Parte 1: Métodos básicos de medición.
KS C IEC 62884-2:2019 Técnicas de medición de osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos. Parte 2: Método de medición de la fluctuación de fase.
KS C IEC 60679-5-1-2002(2017) Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 5 - 1: Especificación detallada en blanco - Aprobación de calificación
KS C IEC 60679-4-1-2002(2017) Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada－Parte 4－1: Especificación detallada en blanco－Aprobación de capacidad
KS C IEC 60679-4-1-2022 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada－Parte 4－1: Especificación detallada en blanco－Aprobación de capacidad
KS C IEC 60679-5-1-2022 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 5 - 1: Especificación detallada en blanco - Aprobación de calificación

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Oscilador

JIS C 6701:1995 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores.
JIS C 6710:1995 Reglas generales de los osciladores controlados por cristal de cuarzo.
JIS C 6710:1999 Especificación genérica de osciladores controlados por cristal.
JIS C 6710:2007 Especificación genérica de osciladores controlados por cristal.
JIS C 6710:2021 Especificación genérica y métodos de prueba de osciladores.
JIS T 5504:2021 Instrumentos dentales rotatorios y oscilantes - Mangos

工业和信息化部/国家能源局, Oscilador

JB/T 12922-2016 Agitador de cultivo a temperatura constante

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, Oscilador

CNS 12253-1988 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores (para 1 MHz - 125 MHz)
CNS 12254-1988 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores (para 200-1000 kHz)

International Electrotechnical Commission (IEC), Oscilador

IEC 60679-2:1981 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo.
IEC PAS 60679-6:2008 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW - Guía de aplicación
IEC 60679-6:2011 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW - Guía de aplicación
IEC 61338-2:2004 Resonadores dieléctricos tipo guía de ondas - Parte 2: Directrices para aplicaciones de osciladores y filtros
IEC 60747-16-5:2013 Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - Osciladores
IEC 60747-16-5:2013+AMD1:2020 CSV Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - Osciladores
IEC 60679-1:1997 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 1: Especificación genérica
IEC 60679-1:2007 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 1: Especificación genérica
IEC 62860-1:2013 Métodos de prueba para la caracterización de osciladores en anillo basados en transistores orgánicos
IEC 60679-3:1989 Osciladores controlados por cristal de cuarzo; parte 3: contornos estándar y conexiones de cables
IEC 60747-16-5:2013/AMD1:2020 Enmienda 1 - Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - Osciladores
IEC 60747-16-5:2013/AMD1:2020/COR1:2020 Corrigendum 1 - Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - Osciladores
IEC 60679-1/AMD1:2002 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 1: Especificación genérica; Enmienda 1
IEC 60122-3:2010 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 3: esquemas estándar y conexiones de cables.
IEC 60679-4:1997 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Especificaciones seccionales. Aprobación de capacidad.
IEC 60679-1:2017 Osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos de calidad evaluada. Parte 1: Especificaciones genéricas.
IEC 60679-1:1980 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 1: Información general, condiciones y métodos de prueba.
IEC 60679-1/AMD1:1985 Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 1: Información general, condiciones y métodos de prueba.
IEC 60679-5:1998 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5: Especificaciones seccionales. Aprobación de calificación.
IEC 62884-1:2017 Técnicas de medida de osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos - Parte 1: Métodos básicos para la medida
IEC 60679-1/AMD2:2003 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 1: Especificación genérica; Enmienda 2
IEC 62884-3:2018 Técnicas de medición de osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos. Parte 3: Métodos de prueba de envejecimiento de frecuencia.
IEC 60679-3:2012 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 3: esquemas estándar y conexiones de conductores.
IEC 62884-2:2017 Técnicas de medición de osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos - Parte 2: Método de medición de la fluctuación de fase
IEC 60679-4-1:1998 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4-1: Especificaciones detalladas del blanco. Aprobación de capacidad.
IEC 60679-3:2001 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 3: esquemas estándar y conexiones de conductores.
IEC 60679-5-1:1998 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5-1: Especificaciones detalladas en blanco. Aprobación de calificación.
IEC TS 61994-3:2004 Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos para control y selección de frecuencia - Glosario - Parte 3: Osciladores piezoeléctricos y dieléctricos

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Oscilador

GJB 3160-1998 Especificaciones generales para osciladores giromagnéticos.
GJB 1648-1993 Especificaciones generales para osciladores de cristal.
GJB 1648-2-2011 Especificación general para osciladores de cristal.
GJB 1648A-2011 Especificación general para osciladores de cristal.
GJB 3515-1999 Especificación general para osciladores de ondas acústicas de superficie.
GJB 1648/1-2011 Especificación detallada para el oscilador de cristal tipo ZA511 (ZPB-5)
GJB/Z 45.2-1993 Oscilador de cristal de espectro de serie de dispositivos piezoeléctricos militares
GJB 1648/2-2011 Especificación detallada para osciladores de cristal con compensación de temperatura tipo ZC547(ZWB-1)
GJB 1648/3-2011 Especificación detallada para el oscilador de cristal con compensación de temperatura tipo ZC545 (ZWC-6B-1/2)
GJB 2438/25-2021 Especificaciones detalladas para el circuito integrado híbrido WHZD6500M-11 oscilador controlado por voltaje integrado híbrido de microondas
GJB 2438/23-2021 Circuito integrado híbrido WHZD950M1050M-10 tipo microondas híbrido oscilador controlado por voltaje integrado especificaciones detalladas
GJB 2438/24-2021 Circuito integrado híbrido WHZD800M1100M-10 tipo microondas híbrido integrado oscilador controlado por voltaje especificaciones detalladas
GJB 2438/28-2021 Circuito integrado híbrido WHZD2200M2600M-10 tipo microondas híbrido integrado oscilador controlado por voltaje especificaciones detalladas
GJB 2438/21-2021 Circuito integrado híbrido Especificaciones detalladas del oscilador controlado por voltaje integrado híbrido de microondas tipo WHZD8240M8600M-10

British Standards Institution (BSI), Oscilador

BS EN 60679-6:2011 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Método de medición de fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW. Pautas de solicitud
BS EN 61338-2:2004 Resonadores dieléctricos tipo guía de ondas: pautas para aplicaciones de osciladores y filtros
BS EN 60747-16-5:2013+A1:2020 Dispositivos semiconductores - Circuitos integrados de microondas. Osciladores
BS EN 60747-16-5:2013 Dispositivos semiconductores. Circuitos integrados de microondas. Osciladores
BS ISO 3159:2009 Instrumentos de cronometraje. Cronómetros de pulsera con oscilador de volante de resorte.
BS EN 60679-1:2007 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Especificación genérica
BS ISO 3159:2010 Instrumentos de cronometraje - Cronómetros de pulsera con oscilador de volante de resorte
BS IEC 62860-1:2013 Métodos de prueba para la caracterización de osciladores en anillo basados en transistores orgánicos.
BS EN 60679-1:2017 Osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos de calidad evaluada. Especificación genérica
BS 9620:1975 Especificación para osciladores de cristal de cuarzo de calidad evaluada: datos genéricos y métodos de prueba.
BS EN 60679-3:2013 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Contornos estándar y conexiones de cables.
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BS EN 60679-4-1:1998 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Especificación detallada en blanco. Aprobación de capacidad
BS EN 60679-5-1:1998 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Especificación detallada en blanco. Aprobación de calificación
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12/30274095 DC BS EN 60679-1 AMD1. Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 1. Especificación genérica

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NF EN 60679-5:1999 Osciladores accionados por cuarzo bajo control de calidad. Parte 5: especificación intermedia. Aprobación
NF EN 60679-5-1:2000 Osciladores controlados por cuarzo bajo control de calidad - Parte 5-1: especificación del marco particular - Aprobación
NF EN 60679-3:2013 Osciladores controlados por cuarzo bajo control de calidad - Parte 3: dimensiones estandarizadas y conexiones de salida
NF EN 60679-1:2017 Osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos bajo control de calidad - Parte 1: especificación genérica
NF C93-620-4*NF EN 60679-4:1999 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: especificación seccional. Aprobación de capacidad.
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NF EN 60679-4:1999 Osciladores controlados por cuarzo bajo control de calidad - Parte 4: especificación intermedia - Aprobación del know-how
NF EN IEC 62884-3:2018 Técnicas de medición para osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos. Parte 3: Métodos de prueba de envejecimiento de frecuencia.
NF EN 62884-2:2017 Técnicas de medición de osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos. Parte 2: método de medición de la fluctuación de fase.
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NF C93-620-3:2002 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 3: esquemas estándar y conexiones de cables.
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KR-KS, Oscilador

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KS C IEC 60679-2-2018(2023) Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo.
KS C IEC 60679-6-2018(2023) Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW. Directrices de aplicación.
KS C IEC 60679-6-2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW. Directrices de aplicación.
KS B ISO 3159-2008 Instrumentos de cronometraje－Cronómetros de muñeca con oscilador de equilibrio de resorte
KS C IEC 62860-1-2018 Métodos de prueba para la caracterización de osciladores en anillo basados en transistores orgánicos
KS C IEC 61338-2-2018 Resonadores dieléctricos de tipo guía de ondas. Parte 2: Directrices para aplicaciones de osciladores y filtros.
KS C IEC 61338-2-2018(2023) Resonadores dieléctricos de tipo guía de ondas. Parte 2: Directrices para aplicaciones de osciladores y filtros.
KS C IEC 62860-1-2018(2023) Métodos de prueba para la caracterización de osciladores en anillo basados en transistores orgánicos
KS C IEC 60679-1-2018 Osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos de calidad evaluada – Parte 1: Especificación genérica
KS C IEC 60679-1-2018(2023) Osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos de calidad evaluada – Parte 1: Especificación genérica
KS C IEC 60679-4-2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Especificaciones seccionales. Aprobación de capacidad.
KS C IEC 60679-5-2018 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5: Especificaciones seccionales. Aprobación de calificación.
KS C IEC 60679-5-2018(2023) Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5: Especificaciones seccionales. Aprobación de calificación.
KS C IEC 60679-4-2018(2023) Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Especificaciones seccionales. Aprobación de capacidad.
KS C IEC 62884-1-2019 Técnicas de medición de osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos. Parte 1: Métodos básicos de medición.
KS C IEC 60679-3-2021 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 3: esquemas estándar y conexiones de conductores.
KS C IEC 62884-2-2019 Técnicas de medición de osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos. Parte 2: Método de medición de la fluctuación de fase.
KS C IEC 62884-3-2023 Técnicas de medición de osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos. Parte 3: Métodos de prueba de envejecimiento de frecuencia.

GSO, Oscilador

GSO IEC 60679-6:2014 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW. Directrices de aplicación.
BH GSO IEC 60679-6:2016 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW. Directrices de aplicación.
OS GSO IEC 60679-6:2014 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW. Directrices de aplicación.
GSO IEC 60679-2:2014 Osciladores controlados por cristal de cuarzo - Parte 2: Guía para el uso de osciladores controlados por cristal de cuarzo
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OS GSO ISO 3159:2007 INSTRUMENTOS DE cronometraje CRONÓMETROS DE MUÑECA CON OSCILADOR DE EQUILIBRIO DE MUELLE
GSO IEC 61338-2:2014 Resonadores dieléctricos tipo guía de ondas - Parte 2: Directrices para aplicaciones de osciladores y filtros
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GSO ISO 8780-2:2014 Pigmentos y diluyentes. Métodos de dispersión para la evaluación de las características de dispersión. Parte 2: Dispersión utilizando una máquina agitadora oscilatoria.
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GSO IEC 60235-8:2014 Medición de las propiedades eléctricas de tubos de microondas. Parte 8: Tubos osciladores de onda invertida - '0' tipo
OS GSO IEC 60235-8:2014 Medición de las propiedades eléctricas de tubos de microondas. Parte 8: Tubos osciladores de onda invertida - '0' tipo
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OS GSO IEC 60679-1:2014 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 1: Especificación genérica
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GSO IEC 60235-8A:2014 Medición de las propiedades eléctricas de los tubos de microondas - Parte 8: Tubos osciladores de onda invertida - 'O' tipo - Primer suplemento
GSO IEC 60679-4:2014 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Especificaciones seccionales. Aprobación de capacidad.
GSO IEC 60679-5:2014 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5: Especificaciones seccionales. Aprobación de calificación.
BH GSO IEC 60679-5:2016 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5: Especificaciones seccionales. Aprobación de calificación.
BH GSO IEC 60679-4:2016 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Especificaciones seccionales. Aprobación de capacidad.
OS GSO IEC 60679-5:2014 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5: Especificaciones seccionales. Aprobación de calificación.
OS GSO IEC 60679-4:2014 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Especificaciones seccionales. Aprobación de capacidad.
GSO IEC 60679-3:2014 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 3: esquemas estándar y conexiones de conductores.
OS GSO IEC 60235-8A:2014 Medición de las propiedades eléctricas de los tubos de microondas - Parte 8: Tubos osciladores de onda invertida - 'O' tipo - Primer suplemento
BH GSO IEC 60235-8A:2016 Medición de las propiedades eléctricas de los tubos de microondas - Parte 8: Tubos osciladores de onda invertida - 'O' tipo - Primer suplemento
OS GSO IEC 60679-3:2014 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 3: esquemas estándar y conexiones de conductores.
BH GSO IEC 60679-5-1:2016 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5-1: Especificaciones detalladas en blanco. Aprobación de calificación.
BH GSO IEC 60679-4-1:2016 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4-1: Especificaciones detalladas del blanco. Aprobación de capacidad.
OS GSO IEC 60679-4-1:2014 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4-1: Especificaciones detalladas del blanco. Aprobación de capacidad.
GSO IEC 60679-5-1:2014 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5-1: Especificaciones detalladas en blanco. Aprobación de calificación.
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JJG(电子) 01002-1989 Regulaciones de verificación del oscilador de cristal controlado por voltaje QF16101GAJF 5MHz
JJG(电子) 11002-1988 Regulaciones de verificación de prueba para osciladores de nivel de baja frecuencia por debajo de 620 kHz
JJG 180-2002 Regulación de verificación de osciladores de cristal dentro de instrumentos de medición eléctricos.
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YD/T 650-1994 Criterios de clasificación de calidad del oscilador de nivel de 620 kHz
YD/T 294-1982 Principal requisito técnico para osciladores de nivel de 620 KHz

American National Standards Institute （ANSI), Oscilador

ANSI/AWWA C713-2010 Medidores de agua fría: tipo oscilador de fluidos
ANSI/AWWA C713-2005 Medidores de agua fría: tipo oscilador fluídico
ANSI/AWWA C713-2015 Medidores de agua fría: tipo oscilador de fluidos
ANSI/IEEE 1620.1:2006 Norma para métodos de prueba para la caracterización de osciladores en anillo basados en transistores orgánicos

Group Standards of the People's Republic of China, Oscilador

T/HEBQIA 135-2022 Oscilador de cristal de temperatura constante OC1409
T/CASME 403-2023 Vco para circuitos integrados híbridos
T/SHDSGY 120-2022 Dispositivo de control y regulación de temperatura para oscilador termostático giratorio.

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Oscilador

JJF 1982-2022 Especificaciones de calibración del oscilador de nivel
JJF(纺织) 105-2023 Especificaciones de calibración para osciladores en baño de agua a temperatura constante.
JJF(纺织)105-2023 Especificación de calibración para oscilador de baño de agua a temperatura constante
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DS/EN 169200:1998 Especificación seccional: Osciladores controlados por cristal de cuarzo (Aprobación de calificación)
DS/EN 61338-2:2004
DS/EN 60747-16-5:2013 Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - Osciladores
DS/EN 169201:1998 Especificación detallada en blanco: osciladores controlados por cristal de cuarzo (aprobación de calificación)
DS/EN 60679-1:2007
DS/EN 60679-4:1998
DS/EN 60679-5:1999
DS/EN 60679-3:2002
DS/EN 60679-3:2013 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 3: esquemas estándar y conexiones de conductores.

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EN 60679-6:2011 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 6: Método de medición de la fluctuación de fase para osciladores de cristal de cuarzo y osciladores SAW. Directrices de aplicación.
EN 169200:1995 Especificación seccional: Osciladores controlados por cristal de cuarzo (aprobación de calificación)
EN 169201:1995 Especificación detallada en blanco: Osciladores controlados por cristal de cuarzo (aprobación de calificación)
EN 60679-1:1998 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada Parte 1: Especificación genérica (Incorpora la Enmienda A1: 2002)
EN 60679-3:2001 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada, Parte 3: esquemas estándar y conexiones de conductores
EN IEC 62884-3:2018 Técnicas de medición de osciladores piezoeléctricos@ dieléctricos y electrostáticos - Parte 3: Métodos de prueba de envejecimiento de frecuencia

SCC, Oscilador

IEC 60122-2:1962 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores - Parte 2: Guía para el uso de cristales de oscilador de cuarzo
AWWA C713-2019 Medidores de agua fría: tipo oscilador de fluidos
IEC 60122-2:1962/AMD1:1969 Enmienda 1 - Unidades de cristal de cuarzo para osciladores - Parte 2: Guía para el uso de cristales de oscilador de cuarzo
NS-EN ISO 1797:2017 Odontología - Mangos para instrumentos rotatorios y oscilantes (ISO 1797:2017)
IEC 60122-3:1962 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores. Parte 3: esquemas estándar.
IEC 60122-3B:1962 Suplemento 2 - Unidades de cristal de cuarzo para osciladores - Parte 3: Esquemas estándar
IEC 60122-3A:1962 Suplemento 1 - Unidades de cristal de cuarzo para osciladores - Parte 3: Esquemas estándar
IEC 60122-3C:1962 Suplemento 3 - Unidades de cristal de cuarzo para osciladores - Parte 3: Esquemas estándar
IEC 60122-3D:1962 Suplemento 4 - Unidades de cristal de cuarzo para osciladores - Parte 3: Esquemas estándar
IEC 60747-16-5:2020 Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - Osciladores EDICIÓN CONSOLIDADA
IEC 60122-3A:1962/COR1:1969 Corrigendum 1 - Suplemento A - Unidades de cristal de cuarzo para osciladores - Sección 5: Conexiones de pines
IEC 60679-1:1997/AMD2:2003 Enmienda 2 - Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 1: Especificación genérica
IEC 60679-3:1989/AMD1:1994 Enmienda 1 - Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 3: esquemas estándar y conexiones de cables
IEC 60679-1:1997/AMD1:2002 Enmienda 1 - Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 1: Especificación genérica
IEC 60122-1:1962 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores - Sección 1: Valores y condiciones estándar - Sección 2: Condiciones de prueba
IEC 60679-1:1980/AMD1:1985 Enmienda 1 - Osciladores controlados por cristal de cuarzo. Parte 1: Información general, condiciones y métodos de prueba.

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DIN EN 60747-16-5:2021-08 Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - Osciladores (IEC 60747-16-5:2013 + A1:2020 + COR1:2020); Versión alemana EN 60747-16-5:2013 + A1:2020 / Nota: DIN EN 60747-16-5 (2014-04) sigue siendo válida junto con esta norma hasta 2023...
DIN 4235-5:1978 Compactación del Concreto por Vibración; Compactación mediante vibradores de superficie
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DIN 4235-4:1978 Compactación del Concreto por Vibración; Compactación In-situ mediante Vibradores de Encofrado
DIN EN 60679-5:1999-05 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5: Especificación seccional; aprobación de calificación (IEC 60679-5:1998); Versión alemana EN 60679-5:1998
DIN 4235-2:1978 Compactación del Concreto por Vibración; Compactación mediante vibradores internos
DIN EN 60679-1:2018-04 Osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos de calidad evaluada. Parte 1: Especificación genérica (IEC 60679-1:2017); Versión alemana EN 60679-1:2017 / Nota: DIN EN 60679-1 (2008-02) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 30 de agosto de 2020.
DIN EN 60747-16-5/A1:2019 Dispositivos semiconductores - Parte 16-5: Circuitos integrados de microondas - Osciladores (IEC 47E/649/CD:2019); Texto en alemán e inglés.
DIN EN 60679-5-1:1999-05 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5-1: Especificación detallada del blanco; aprobación de calificación (IEC 60679-5-1:1998); Versión alemana EN 60679-5-1:1998 / Nota: Aplica en conjunto con DIN EN 60679-1 (1998-09), DIN EN 60679-5...
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DIN EN 60679-4:1998-11 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Especificaciones seccionales. Aprobación de capacidad (IEC 60679-4:1997); Versión alemana EN 60679-4:1998
DIN 4235-3:1978 Compactación del Concreto por Vibración; Compactación mediante vibradores externos durante la fabricación de elementos prefabricados
DIN EN 60679-4:1998 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Especificaciones seccionales. Aprobación de capacidad (IEC 60679-4:1997); Versión alemana EN 60679-4:1998
DIN EN 62884-1:2018-02 Técnicas de medición de osciladores piezoeléctricos, dieléctricos y electrostáticos - Parte 1: Métodos básicos para la medición (IEC 62884-1:2017); Versión alemana EN 62884-1:2017
DIN EN 60679-5:1999 Osciladores controlados por cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 5: Especificación seccional; aprobación de calificación (IEC 60679-5:1998); Versión alemana EN 60679-5:1998
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DLA SMD-5962-83020 REV G-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, AVANZADO SCHOTTKY TTL DE BAJA CONSUMO, FLIP-FLOPS, SILICIO MONOLÍTICO
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DLA SMD-5962-77055 REV B-1981 MICROCIRCUITOS DIGITALES CMOS DUAL MULTIVIBRADOR MONOESTABLE REDISPARABLE/RESETABLE, SILICIO MONOLÍTICO
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DLA SMD-5962-76013 REV J-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, FLIP-FLOP, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-87505 REV C-2007 MICROCIRCUITO, DIGITAL, ECL, FLIP-FLOP, SILICIO MONOLÍTICO
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DLA SMD-5962-83019 REV G-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO DE BAJA POTENCIA, FLIP-FLOPS DE SILICIO MONOLÍTICO
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DLA DSCC-VID-V62/11604 REV A-2010 MICROCIRCUITO, DIGITAL, RESOLUCIÓN VARIABLE, CONVERTIDOR R/D DE 10 BITS A 16 BITS CON OSCILADOR DE REFERENCIA, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-77045 REV E-1987 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS DUAL, REDISPARABLE, RESETABLE, MULTIVIBRADOR MONOESTABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-89609 REV A-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS DE ALTA VELOCIDAD, BUCLE DE BLOQUEO DE FASE CON OSCILADOR CONTROLADO POR VOLTAJE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-87662 REV B-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, SCHOTTKY, DUAL REDISPARABLE, REINICIABLE, MULTIVIBRADOR MONOESTABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-87711 REV A-2001 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, TTL, MULTIVIBRADOR MONOESTABLE DOBLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-96751 REV A-2003 CHANCLAS DUAL JK DE MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, CON SILICIO MONOLÍTICO TRANSPARENTE
DLA SMD-5962-97562 REV A-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY AVANZADO, TTL, OCTAL CHANCLAS DE DISPARO POR BORDE TIPO D CON SALIDAS DE 3 ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO

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