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Muestras de microscopio de fuerza atómica.
Muestras de microscopio de fuerza atómica., Total: 24 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Muestras de microscopio de fuerza atómica. son: Física. Química, Química analítica, Medidas lineales y angulares., Óptica y medidas ópticas., Materiales para la construcción aeroespacial., Termodinámica y mediciones de temperatura., Condiciones y procedimientos de prueba en general..
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Muestras de microscopio de fuerza atómica.
- GB/T 32262-2015 Preparación de muestra de ácido desoxirribonucleico para medición con microscopio de fuerza atómica.
ESDU - Engineering Sciences Data Unit, Muestras de microscopio de fuerza atómica.
- SPB-M6-3-2010 08 de abril: Microscopía de fuerza atómica (antecedentes de la técnica)
International Organization for Standardization (ISO), Muestras de microscopio de fuerza atómica.
- ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Microscopía de fuerza atómica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito.
British Standards Institution (BSI), Muestras de microscopio de fuerza atómica.
- BS ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito
- 21/30412880 DC BS ISO 23729. Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito
American Society for Testing and Materials (ASTM), Muestras de microscopio de fuerza atómica.
- ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2859-11(2017) Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
- ASTM E285-08(2015) Método de prueba estándar para pruebas de ablación con oxiacetileno de materiales de aislamiento térmico
- ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2859-11(2023) Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2859-11 Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
Group Standards of the People's Republic of China, Muestras de microscopio de fuerza atómica.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Muestras de microscopio de fuerza atómica.
- GB/T 28872-2012 Método de prueba del microscopio de fuerza atómica en modo magnético de impacto ligero para nanotopografía de células vivas
- GB/T 18295-2001 Método de análisis de muestras de arenisca de yacimientos de petróleo y gas mediante microscopio electrónico de barrido.
- GB/T 31227-2014 Método de prueba para la rugosidad de la superficie mediante microscopio de fuerza atómica para películas delgadas pulverizadas
Professional Standard - Petroleum, Muestras de microscopio de fuerza atómica.
- SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
- SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
- SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas
国家能源局, Muestras de microscopio de fuerza atómica.
- SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.
German Institute for Standardization, Muestras de microscopio de fuerza atómica.
- DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Muestras de microscopio de fuerza atómica.
- GB/T 40066-2021 Nanotecnologías—Medición del espesor del óxido de grafeno—Microscopía de fuerza atómica (AFM)