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Preparación de muestras de microscopía de fuerza atómica.

Preparación de muestras de microscopía de fuerza atómica., Total: 13 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Preparación de muestras de microscopía de fuerza atómica. son: Física. Química, Medidas lineales y angulares., Óptica y medidas ópticas., Cerámica, pruebas de metales, Protección contra mercancías peligrosas, Calidad del aire.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Preparación de muestras de microscopía de fuerza atómica.

GB/T 32262-2015 Preparación de muestra de ácido desoxirribonucleico para medición con microscopio de fuerza atómica.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Preparación de muestras de microscopía de fuerza atómica.

ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
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ASTM D6480-99 Método de prueba estándar para muestreo de superficies por limpieza, preparación indirecta y análisis de concentración del número de estructuras de asbesto mediante microscopía electrónica de transmisión
ASTM E1741-00 Práctica estándar para la preparación de muestras de partículas de plomo en el aire recolectadas durante las actividades de reducción y construcción para su análisis posterior mediante espectrometría atómica

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Preparación de muestras de microscopía de fuerza atómica.

GB/T 28872-2012 Método de prueba del microscopio de fuerza atómica en modo magnético de impacto ligero para nanotopografía de células vivas

German Institute for Standardization, Preparación de muestras de microscopía de fuerza atómica.

DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)

PL-PKN, Preparación de muestras de microscopía de fuerza atómica.

PN H87903-1972 Irwestigaciones o? aleaciones de cobre piezas fundidas Preparación y muestreo de ?es? piezas para exámenes de microscopía

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Preparación de muestras de microscopía de fuerza atómica.

JIS R 1633:1998 Método de preparación de muestras de cerámicas finas y polvos cerámicos finos para observación con microscopio electrónico de barrido.

IT-UNI, Preparación de muestras de microscopía de fuerza atómica.

UNI 7604-1976 Examen con microscopio electrónico de materiales metálicos mediante la técnica de réplica. Preparación de réplicas para examen de microfractografía.
UNI 7329-1974 Examen con microscopio electrónico de materiales metálicos mediante la técnica de réplica. Preparación de réplicas para examen de microestructura.

International Electrotechnical Commission (IEC), Preparación de muestras de microscopía de fuerza atómica.

IEC TS 62607-6-2:2023 Nanofabricación - Características clave de control - Parte 6-2: Grafeno - Número de capas: microscopía de fuerza atómica, transmisión óptica, espectroscopia Raman