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Preparación de muestras de microscopio de fuerza atómica.
Preparación de muestras de microscopio de fuerza atómica., Total: 45 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Preparación de muestras de microscopio de fuerza atómica. son: Física. Química, Química analítica, Materiales para la construcción aeroespacial., Termodinámica y mediciones de temperatura., Medidas lineales y angulares., Condiciones y procedimientos de prueba en general., Óptica y medidas ópticas., ingeniería de energía nuclear, Cerámica, Protección contra mercancías peligrosas.
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Preparación de muestras de microscopio de fuerza atómica.
- GB/T 32262-2015 Preparación de muestra de ácido desoxirribonucleico para medición con microscopio de fuerza atómica.
ESDU - Engineering Sciences Data Unit, Preparación de muestras de microscopio de fuerza atómica.
- SPB-M6-3-2010 08 de abril: Microscopía de fuerza atómica (antecedentes de la técnica)
- SPB-M2-1-2007 Propiedades interfaciales y reológicas de asfaltenos estudiadas mediante microscopía de fuerza atómica.
- SPB-M6-1-2010 08 de abril: Propiedades interfaciales y reológicas de los asfaltenos investigadas utilizando AFM
- SPB-M14-1-2010 10 de septiembre: Interacciones y propiedades reológicas de los asfaltenos estudiadas mediante microscopía de fuerza atómica.
- SPB-M6-2-2010 08 de abril: Interacciones coloidales entre asfalteno y diferentes superficies medidas mediante microscopía de fuerza atómica (AFM)
International Organization for Standardization (ISO), Preparación de muestras de microscopio de fuerza atómica.
- ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Microscopía de fuerza atómica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito.
- ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles utilizando un microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
- ISO 13095:2014 Análisis químico de superficies - Microscopía de fuerza atómica - Procedimiento para la caracterización in situ del perfil del vástago de la sonda AFM utilizado para la medición de nanoestructuras
- ISO/DIS 19606:2023 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada): método de prueba para determinar la rugosidad superficial de películas cerámicas finas mediante microscopía de fuerza atómica
British Standards Institution (BSI), Preparación de muestras de microscopio de fuerza atómica.
- BS ISO 23729:2022 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito
- 21/30412880 DC BS ISO 23729. Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Directrices para el procedimiento de restauración de imágenes de microscopía de fuerza atómica dilatadas por un tamaño de sonda finito
- BS ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
- 19/30351707 DC BS ISO 21222. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
- BS ISO 13095:2014 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Procedimiento para la caracterización in situ del perfil del vástago de la sonda AFM utilizado para la medición de nanoestructuras
- 23/30461942 DC BS ISO 19606. Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de prueba para la rugosidad superficial de películas cerámicas finas mediante microscopía de fuerza atómica.
Group Standards of the People's Republic of China, Preparación de muestras de microscopio de fuerza atómica.
American Society for Testing and Materials (ASTM), Preparación de muestras de microscopio de fuerza atómica.
- ASTM E2859-11(2017) Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
- ASTM E285-08(2015) Método de prueba estándar para pruebas de ablación con oxiacetileno de materiales de aislamiento térmico
- ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2859-11(2023) Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2859-11 Guía estándar para la medición del tamaño de nanopartículas mediante microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2530-06 Práctica estándar para calibrar el aumento Z de un microscopio de fuerza atómica a niveles de desplazamiento subnanométrico utilizando pasos monoatómicos de Si(111)
- ASTM D6480-05(2010) Método de prueba estándar para muestreo de superficies por limpieza, preparación indirecta y análisis de concentración del número de estructuras de asbesto mediante microscopía electrónica de transmisión
- ASTM D6480-99 Método de prueba estándar para muestreo de superficies por limpieza, preparación indirecta y análisis de concentración del número de estructuras de asbesto mediante microscopía electrónica de transmisión
- ASTM D6480-05 Método de prueba estándar para muestreo de superficies por limpieza, preparación indirecta y análisis de concentración del número de estructuras de asbesto mediante microscopía electrónica de transmisión
German Institute for Standardization, Preparación de muestras de microscopio de fuerza atómica.
- DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Preparación de muestras de microscopio de fuerza atómica.
- GB/T 28872-2012 Método de prueba del microscopio de fuerza atómica en modo magnético de impacto ligero para nanotopografía de células vivas
- GB/T 31227-2014 Método de prueba para la rugosidad de la superficie mediante microscopio de fuerza atómica para películas delgadas pulverizadas
- GB/T 32189-2015 Examen de microscopía de fuerza atómica de la rugosidad de la superficie del sustrato monocristalino de nitruro de galio
- GB/T 27760-2011 Método de prueba para calibrar el aumento z de un microscopio de fuerza atómica a niveles de desplazamiento subnanométricos utilizando pasos monoatómicos de Si(111)
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Preparación de muestras de microscopio de fuerza atómica.
- GB/T 40066-2021 Nanotecnologías—Medición del espesor del óxido de grafeno—Microscopía de fuerza atómica (AFM)
Professional Standard - Nuclear Industry, Preparación de muestras de microscopio de fuerza atómica.
- EJ/T 20176-2018 Microscopio de fuerza atómica Método de medición de la nitidez del borde de la herramienta de diamante
RU-GOST R, Preparación de muestras de microscopio de fuerza atómica.
- GOST 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
- GOST R 8.635-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de calibración
- GOST R 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
- GOST R 8.700-2010 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Método de medición de la altura efectiva de la rugosidad superficial mediante microscopio de fuerza atómica con sonda de barrido
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Preparación de muestras de microscopio de fuerza atómica.
- JIS R 1683:2007 Método de prueba para la rugosidad superficial de películas delgadas cerámicas mediante microscopía de fuerza atómica.
- JIS R 1683:2014 Método de prueba para la rugosidad superficial de películas delgadas cerámicas mediante microscopía de fuerza atómica.
- JIS R 1633:1998 Método de preparación de muestras de cerámicas finas y polvos cerámicos finos para observación con microscopio electrónico de barrido.
International Electrotechnical Commission (IEC), Preparación de muestras de microscopio de fuerza atómica.
- IEC TS 62607-6-2:2023 Nanofabricación - Características clave de control - Parte 6-2: Grafeno - Número de capas: microscopía de fuerza atómica, transmisión óptica, espectroscopia Raman