ZH
EN
ES
Подготовка образцов для атомно-силовой микроскопии
Подготовка образцов для атомно-силовой микроскопии, Всего: 45 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Подготовка образцов для атомно-силовой микроскопии, являются: Физика. Химия, Аналитическая химия, Материалы для аэрокосмического строительства, Термодинамика и измерения температуры, Линейные и угловые измерения, Условия и процедуры испытаний в целом, Оптика и оптические измерения, Атомная энергетика, Керамика, Защита от опасных грузов.
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Подготовка образцов для атомно-силовой микроскопии
- GB/T 32262-2015 Подготовка образца дезоксирибонуклеиновой кислоты для измерения с помощью атомно-силового микроскопа
ESDU - Engineering Sciences Data Unit, Подготовка образцов для атомно-силовой микроскопии
- SPB-M6-3-2010 Апрель 08: Атомно-силовая микроскопия (основы техники)
- SPB-M2-1-2007 Межфазные и реологические свойства асфальтенов изучены методом атомно-силовой микроскопии.
- SPB-M6-1-2010 Апрель 08: Межфазные и реологические свойства асфальтенов, исследованные с помощью АСМ.
- SPB-M14-1-2010 10 сентября: Взаимодействия и реологические свойства асфальтенов, изученные с помощью атомно-силовой микроскопии.
- SPB-M6-2-2010 Апрель 08: Коллоидные взаимодействия между асфальтенами и различными поверхностями, измеренные с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ)
International Organization for Standardization (ISO), Подготовка образцов для атомно-силовой микроскопии
- ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера.
- ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR.
- ISO 13095:2014 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Процедура определения in situ профиля хвостовика зонда АСМ, используемого для измерения наноструктур.
- ISO/DIS 19606:2023 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических пленок методом атомно-силовой микроскопии.
British Standards Institution (BSI), Подготовка образцов для атомно-силовой микроскопии
- BS ISO 23729:2022 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера
- 21/30412880 DC BS ISO 23729. Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Руководство по процедуре восстановления изображений атомно-силовой микроскопии, расширенных зондом конечного размера
- BS ISO 21222:2020 Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
- 19/30351707 DC BS ISO 21222. Химический анализ поверхности. Сканирующая зондовая микроскопия. Процедура определения модулей упругости податливых материалов с использованием атомно-силового микроскопа и двухточечного метода JKR
- BS ISO 13095:2014 Химический анализ поверхности. Атомно-силовая микроскопия. Процедура определения in situ профиля хвостовика зонда АСМ, используемого для измерения наноструктур
- 23/30461942 DC BS ISO 19606. Тонкая керамика (высокотехнологичная керамика, современная техническая керамика). Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических пленок методом атомно-силовой микроскопии
Group Standards of the People's Republic of China, Подготовка образцов для атомно-силовой микроскопии
- T/CSTM 00003-2019 Измерение толщины двумерных материалов Атомно-силовая микроскопия (АСМ)
- T/QGCML 1940-2023 Устройство для высокотемпературных механических испытаний сканирующего электронного микроскопа in-situ
- T/GDASE 0008-2020 Определение модуля Юнга графеновой пленки
American Society for Testing and Materials (ASTM), Подготовка образцов для атомно-силовой микроскопии
- ASTM E2859-11(2017) Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
- ASTM E285-08(2015) Стандартный метод испытаний теплоизоляционных материалов ацетиленовой абляцией
- ASTM E2382-04(2020) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
- ASTM E2382-04 Руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
- ASTM E2859-11(2023) Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
- ASTM E2382-04(2012) Стандартное руководство по артефактам, связанным со сканером и наконечником, в сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии
- ASTM E2859-11 Стандартное руководство по измерению размера наночастиц с помощью атомно-силовой микроскопии
- ASTM E2530-06 Стандартная практика калибровки Z-увеличения атомно-силового микроскопа на субнанометровых уровнях смещения с использованием моноатомных ступеней Si(111)
- ASTM D6480-05(2010) Стандартный метод испытаний для отбора проб с поверхностей, непрямой подготовки и анализа концентрации структурного числа асбеста с помощью просвечивающей электронной микроскопии
- ASTM D6480-99 Стандартный метод испытаний для отбора проб с поверхностей, непрямой подготовки и анализа концентрации структурного числа асбеста с помощью просвечивающей электронной микроскопии
- ASTM D6480-05 Стандартный метод испытаний для отбора проб с поверхностей, непрямой подготовки и анализа концентрации структурного числа асбеста с помощью просвечивающей электронной микроскопии
German Institute for Standardization, Подготовка образцов для атомно-силовой микроскопии
- DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Подготовка образцов для атомно-силовой микроскопии
- GB/T 28872-2012 Методика испытаний магнитно-слабоударного атомно-силового микроскопа для нанотопографии живых клеток
- GB/T 31227-2014 Метод контроля шероховатости поверхности атомно-силовым микроскопом напыленных тонких пленок
- GB/T 32189-2015 Атомно-силовая микроскопия. Исследование шероховатости поверхности монокристаллической подложки нитрида галлия.
- GB/T 27760-2011 Метод испытаний для калибровки z-увеличения атомно-силового микроскопа на субнанометровых уровнях смещения с использованием одноатомных ступеней Si(111)
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Подготовка образцов для атомно-силовой микроскопии
- GB/T 40066-2021 Нанотехнологии — Измерение толщины оксида графена — Атомно-силовая микроскопия (АСМ).
Professional Standard - Nuclear Industry, Подготовка образцов для атомно-силовой микроскопии
- EJ/T 20176-2018 Метод измерения остроты кромки алмазного инструмента с помощью атомно-силового микроскопа
RU-GOST R, Подготовка образцов для атомно-силовой микроскопии
- GOST 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
- GOST R 8.635-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод калибровки
- GOST R 8.593-2009 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод проверки
- GOST R 8.700-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Метод измерения эффективной высоты шероховатости поверхности с помощью сканирующего зондового атомно-силового микроскопа
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Подготовка образцов для атомно-силовой микроскопии
- JIS R 1683:2007 Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических пленок методом атомно-силовой микроскопии
- JIS R 1683:2014 Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических пленок методом атомно-силовой микроскопии
- JIS R 1633:1998 Способ подготовки образцов тонкой керамики и мелкодисперсных керамических порошков для наблюдения на сканирующем электронном микроскопе
International Electrotechnical Commission (IEC), Подготовка образцов для атомно-силовой микроскопии
- IEC TS 62607-6-2:2023 Нанопроизводство. Ключевые характеристики контроля. Часть 6-2. Графен. Количество слоев: атомно-силовая микроскопия, оптическое пропускание, рамановская спектроскопия.