ZH

RU

EN

¿Cómo realiza el difractómetro X el análisis cuantitativo?

¿Cómo realiza el difractómetro X el análisis cuantitativo?, Total: 33 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en ¿Cómo realiza el difractómetro X el análisis cuantitativo? son: pruebas de metales, Refractarios, Minerales no metalíferos, Materiales semiconductores, Educación, Calidad del aire, químicos inorgánicos, Productos de la industria química., Química analítica, Productos petrolíferos en general, carbones.


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, ¿Cómo realiza el difractómetro X el análisis cuantitativo?

  • GB/T 8359-1987 Carburos en acero rápido. Análisis de fase cuantitativa. Método de difractómetro de rayos X.
  • GB/T 5225-1985 Materiales metálicos--Análisis de fase cuantitativo--Método de difracción de rayos X del "valor K"
  • GB/T 19421.1-2003 Métodos de prueba de disilicato de sodio en capas cristalinas - Análisis cualitativo de disilicato de sodio en capas cristalinas delta - Método de difractómetro de rayos X
  • GB/T 6609.32-2009 Métodos de análisis químico y determinación del rendimiento físico de la alúmina. Parte 32: Determinación del contenido de alúmina mediante difracción de rayos X.

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, ¿Cómo realiza el difractómetro X el análisis cuantitativo?

  • YB/T 5336-2006 Análisis cuantitativo de la fase de carburo en acero de alta velocidad mediante el método de difracción de rayos X
  • YB/T 172-2000 Análisis cuantitativo de fases de ladrillos de sílice. Método de difracción de rayos X.
  • YB/T 5320-2006 Método del valor K de difracción de rayos X para el análisis de fase cuantitativo de materiales metálicos

工业和信息化部, ¿Cómo realiza el difractómetro X el análisis cuantitativo?

  • YB/T 172-2020 Análisis de fase cuantitativa de ladrillos de sílice mediante el método de difracción de rayos X.
  • YS/T 1160-2016 Análisis de fase cuantitativa del polvo de silicio industrial Determinación del contenido de sílice Método del valor K de difracción de rayos X

Professional Standard - Customs, ¿Cómo realiza el difractómetro X el análisis cuantitativo?

  • HS/T 12-2006 Análisis cuantitativo de fase mixta de talco, clorito y magnesita. Método de difractómetro de rayos X

Professional Standard - Education, ¿Cómo realiza el difractómetro X el análisis cuantitativo?

  • JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difracción de rayos X de cristal único
  • JY/T 008-1996 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difractómetro de rayos X de cristal único de cuatro círculos

Professional Standard - Petroleum, ¿Cómo realiza el difractómetro X el análisis cuantitativo?

  • SY/T 6210-1996 Método de análisis cuantitativo de difracción de rayos X de minerales arcillosos totales y minerales no arcillosos comunes en rocas sedimentarias

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), ¿Cómo realiza el difractómetro X el análisis cuantitativo?

  • JIS A 1481-3:2014 Determinación del amianto en productos de materiales de construcción. Parte 3: Análisis cuantitativo de la contenido de amianto mediante el método de difracción de rayos X.
  • JIS A 1481-3 AMD 1:2022 Determinación del amianto en productos de materiales de construcción. Parte 3: Análisis cuantitativo de la contenido de amianto mediante el método de difracción de rayos X (Enmienda 1).

German Institute for Standardization, ¿Cómo realiza el difractómetro X el análisis cuantitativo?

  • DIN ISO 15632:2022-09 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía (EDS) para uso con un microscopio electrónico de barrido (SEM) o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA) (ISO 15632:2...
  • DIN 51577-4:1994 Ensayos de hidrocarburos de aceites minerales y productos similares; determinación del contenido de cloro y bromo; Análisis mediante espectrometría de rayos X de energía dispersiva con instrumentos de bajo coste.
  • DIN EN ISO 21587-1:2007 Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 1: Aparatos, reactivos, disolución y sílice gravimétrica (ISO 21587-1:2007); Versión en inglés de DIN EN ISO 21587-1:2007-12

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), ¿Cómo realiza el difractómetro X el análisis cuantitativo?

  • KS D ISO 15632:2018 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sondas electrónicas.
  • KS E ISO 10086-1:2007 Carbón-Métodos para evaluar floculantes para su uso en la preparación de carbón-Parte 1:Parámetros básicos
  • KS L ISO 10058-1:2012 Análisis químico de productos refractarios de magnesita y dolomita (alternativa al método de fluorescencia de rayos X)-Parte 1: Aparatos, reactivos, disolución y determinación de sílice gravimétrica
  • KS L ISO 21587-1:2012 Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) -Parte 1: Aparatos, reactivos, disolución y determinación de sílice gravimétrica

KR-KS, ¿Cómo realiza el difractómetro X el análisis cuantitativo?

  • KS D ISO 15632-2018 Análisis de microhaces: parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de energía dispersiva para su uso en microanálisis con sondas electrónicas.

British Standards Institution (BSI), ¿Cómo realiza el difractómetro X el análisis cuantitativo?

  • 19/30394914 DC BS ISO 15632. Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía para uso en un microscopio de sonda electrónica o un microanalizador de sonda electrónica (EPMA)
  • BS EN ISO 21587-1:2007 Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Aparatos, reactivos, disolución y sílice gravimétrica
  • BS EN ISO 10058-1:2009 Análisis químico de productos refractarios de magnesita y dolomita (alternativa al método de fluorescencia de rayos X). Aparatos, reactivos, disolución y determinación de sílice gravimétrica.
  • BS EN ISO 10058-1:2008 Análisis químico de productos refractarios de magnesita y dolomita (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 1: Aparatos, reactivos, disolución y determinación de sílice gravimétrica (ISO 10058-1:2008)

Association Francaise de Normalisation, ¿Cómo realiza el difractómetro X el análisis cuantitativo?

  • NF EN ISO 13196:2015 Calidad del suelo: análisis rápido de elementos seleccionados en el suelo utilizando un espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía portátil o portátil.
  • NF B40-670-1*NF EN ISO 21587-1:2007 Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 1: aparatos, reactivos, disolución y sílice gravimétrica

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, ¿Cómo realiza el difractómetro X el análisis cuantitativo?

  • GB/T 36053-2018 Evaluación del espesor, la densidad y el ancho de la interfaz de películas delgadas mediante reflectometría de rayos X: requisitos instrumentales, alineación y posicionamiento, recopilación de datos, análisis de datos e informes.

International Organization for Standardization (ISO), ¿Cómo realiza el difractómetro X el análisis cuantitativo?

  • ISO 10058-1:2008 Análisis químico de productos refractarios de magnesita y dolomita (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 1: Aparatos, reactivos, disolución y determinación de sílice gravimétrica
  • ISO 21587-1:2007 Análisis químico de productos refractarios de aluminosilicato (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 1: Aparatos, reactivos, disolución y sílice gravimétrica

European Committee for Standardization (CEN), ¿Cómo realiza el difractómetro X el análisis cuantitativo?

  • EN ISO 20565-1:2008 Análisis químico de productos refractarios que contienen cromo y materias primas que contienen cromo (alternativa al método de fluorescencia de rayos X) - Parte 1: Aparatos, reactivos, disolución y determinación de sílice gravimétrica




©2007-2023 Reservados todos los derechos.