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Monocristal policristalino

Monocristal policristalino, Total: 451 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Monocristal policristalino son: Productos de hierro y acero., Materiales semiconductores, Materiales de construcción, Equipo óptico, Hornos industriales, Optoelectrónica. Equipo láser, Materiales magnéticos, Refractarios, Equipo de trabajo sin chip, Pilas y baterías galvánicas., químicos inorgánicos, Cerámica, Ingeniería de energía y transferencia de calor en general., Componentes para equipos eléctricos., Dispositivos semiconductores, Metales no ferrosos, Materiales aislantes, Materiales para el refuerzo de composites., Organización y gestión de la empresa., Productos de la industria química., Pruebas no destructivas, Terminología (principios y coordinación), Productos de metales no ferrosos., Equipo medico, ingeniería de energía solar, Maquinaria rotativa, Educación, pruebas de metales, Papel y cartón, Fluidos aislantes, Herramientas de corte, Calidad del agua, Agricultura y silvicultura, Vocabularios, Protección del medio ambiente, Instalaciones en edificios, Química analítica, Residuos, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, Dispositivos de visualización electrónica., Óptica y medidas ópticas., Químicos orgánicos, Componentes y accesorios para equipos de telecomunicaciones., Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos., Rectificadores. Convertidores. Fuente de alimentación estabilizada, Comunicaciones de fibra óptica., Calidad del aire, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Herramientas de máquina, Metalurgia de polvos, Soldadura, soldadura fuerte y soldadura fuerte., ingeniería de energía nuclear.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Monocristal policristalino

GB/T 11072-1989 Policristal de antimonuro de indio, monocristales y rodajas cortadas
GB/T 11072-2009 Policristal de antimonuro de indio, cristales individuales y rodajas cortadas
GB/T 12963-2009 Especificación para silicio policristalino.
GB/T 12963-1996 Silicio policristalino
GB/T 12963-2014 Silicio policristalino de grado electrónico
GB/T 12963-2022 Silicio policristalino de grado electrónico
GB/T 25074-2010 Silicio policristalino de grado solar
GB/T 25074-2017(英文版) Silicio policristalino de grado solar
GB 29447-2022 La norma de consumo de energía por unidad de productos de polisilicio y germanio.
GB 29447-2012 La norma de consumo de energía por unidad de producto de la empresa de polisilicio.
GB 51034-2014 Código para diseño de planta de polisilicio.
GB/T 29055-2012 Oblea de silicio multicristalino para células solares
GB/T 5238-2009 Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
GB/T 5238-2009(英文版) Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
GB/T 29054-2012 Ladrillo de silicio multicristalino de fundición de grado solar
GB/T 31092-2014 Lingote de zafiro monocristalino
GB/T 31092-2022 Barra de zafiro monocristalino
GB/T 29055-2019(英文版) Obleas de silicio multicristalino para células solares fotovoltaicas
GB/T 4059-1983 Silicio policristalino - Método de examen - Zona de fusión sobre fósforo en atmósfera controlada
GB/T 29057-2023 Práctica para la evaluación de varillas de silicio policristalino mediante fusión por zonas y análisis espectroscópico.
GB/T 29057-2012 Práctica para la evaluación de varillas de silicio polocristalino mediante espectroscopía y crecimiento de cristales en zona flotante.
GB/T 12962-1996 silicio monocristalino
GB/T 12962-2005 Silicio monocristalino
GB/T 5238-1995
GB/T 12962-2015 monocristal de silicio
GB/T 4059-2007 Silicio policristalino. Método de examen. Fusión por zonas sobre fósforo en atmósfera controlada.
GB/T 4060-2007 Silicio policristalino. Método de examen. Fusión por zonas al vacío sobre boro.
GB/T 4060-1983 Silicio policristalino - Método de examen - Zona de fusión al vacío sobre boro
GB/T 29054-2019(英文版) Fundición de ladrillos de silicio multicristalino para células solares fotovoltaicas
GB/T 15713-1995 Rodajas de germanio monocristalino.
GB/T 29504-2013 Silicio monocristalino de 300 mm.
GB/T 1555-1997 Métodos de prueba para determinar la orientación de un monocristal semiconductor.
GB/T 1555-2023 Método para determinar la orientación cristalina de un monocristal semiconductor
GB/T 1555-2009 Métodos de prueba para determinar la orientación de un monocristal semiconductor.
GB/T 32652-2016 Cuarzo fundido utilizado para crisoles cerámicos de cuarzo para fundir silicio policristalino
GB/T 4061-2009 Silicio policristalino-método de examen-evaluación de sándwiches en sección transversal por corrosión química
GB/T 4061-1983 Silicio policristalino--Método de examen--Evaluación de sándwiches en sección transversal por corrosión química
GB/T 20229-2006 Cristal de señal de fosfuro de galio
GB/T 20230-2006 Cristal de señal de fosfuro de indio
GB/T 20228-2006 Monocristal de arseniuro de galio
GB/T 14843-1993 Monocristales de niobato de litio
GB/T 12964-2003 Obleas pulidas de silicio monocristalino
GB/T 41662-2022 Telururo de zinc y cadmio policristalino para materiales de detección y obtención de imágenes de rayos de alta energía
GB/T 29506-2013 Obleas de silicio monocristalino pulido de 300 mm
GB/T 30656-2014 Obleas de carburo de silicio monocristalino pulido
GB/T 25076-2010 Silicio monocristalino de célula solar.
GB/T 30656-2023 Oblea pulida de un solo cristal de carburo de silicio
GB/T 41751-2022 Método de prueba para determinar el radio de curvatura del plano cristalino en obleas de sustrato monocristalino de GaN
GB/T 42676-2023 Método de difracción de rayos X para probar la calidad del monocristal semiconductor
GB/T 30118-2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW). Especificaciones y métodos de medición
GB/T 26072-2010 Célula solar monocristal de germanio
GB/T 12965-1996 Silicio monocristalino en forma de rodajas cortadas y rodajas traslapadas
GB/T 12965-2005 Rebanadas cortadas de silicio monocristalino y rebanadas traslapadas
GB/T 12632-1990 Especificaciones generales de células solares individuales de silicio.
GB/T 1551-2009 Método de prueba para medir la resistividad del silicio monocristal.
GB/T 26065-2010 Especificación para obleas de silicio de prueba pulidas
GB/T 30858-2014 Producto de sustrato de zafiro monocristalino pulido
GB/T 13843-1992 Sustratos de zafiro monocristalino pulido
GB/T 24579-2009 Métodos de prueba para medir la contaminación metálica de la superficie de silicio policristalino mediante espectroscopia de absorción atómica de extracción ácida
GB/T 13066-1991 Especificación detallada en blanco para transistores unijunction
GB/T 25075-2010 Monocristal de arseniuro de galio para células solares
GB/T 29420-2012 Dispositivos de cristal láser de vanadato dopado con Nd
GB/T 29508-2013 Silicio monocristalino de 300 mm en rodajas cortadas y trituradas
GB/T 34213-2023 Alúmina de alta pureza para monocristal de zafiro
GB/T 24582-2009 Método de prueba para medir la contaminación metálica de la superficie de silicio policristalino mediante espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente con extracción ácida
GB/T 32188-2015 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de la curva de oscilación de rayos X de cristal doble del sustrato de cristal único de GaN

Group Standards of the People's Republic of China, Monocristal policristalino

T/CBCSA 36-2021 Losa policristalina de corindón
T/ZZB 0061-2016 Horno de producción de lingotes de silicio policristalino.
T/ZZB 1041-2019 Célula solar de silicio policristalino
T/ZZB 0916-2018 Ferrita policristalina giromagnética
T/ACRI 0025-2020 Ladrillo de espinela multicompuesto
T/CNIA 0014-2019 Anillos de porcelana para la producción de polisilicio.
T/CECA 72-2022 Materiales de ferrita policristalina giromagnética.
T/NXCL 015-2022 Polisilicio columnar para piezas de silicio.
T/CNIA 0013-2019 Productos de grafito para la producción de polisilicio.
T/ICMTIA SM0028-2022 Polisilicio de grado electrónico para circuitos integrados.
T/CNIA 0115-2021 Carbón activado para la purificación de gases de cola en la producción de polisilicio.
T/CEMIA 018-2019 Crisol cerámico de cuarzo fundido para silicio policristalino fotovoltaico
T/CESA 1082-2020 Requisitos de evaluación para una fábrica verde en la industria de fabricación de silicio policristalino
T/ZZB 0497-2018 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie
T/SEESA 003-2021 Especificación técnica para cristalización evaporativa de efecto múltiple con alta concentración de agua salada
T/CNIA 0021-2019 Diseño ecológico evaluación de producto especificación técnica polisilicio
T/ZSA 72-2019 Carburo de silicio monocristalino
T/IAWBS 001-2021 Monocristal de carburo de silicio
T/CNIA 0018-2019 Especificaciones operativas para la inspección de seguridad restringida contra incendios en caliente en plantas de polisilicio
T/CNIA 0114-2021 Hexaclorodisilano, un subproducto del polisilicio modificado del proceso Siemens
T/ZZB 1389-2019 Células fotovoltaicas de silicio monocristalino
T/ZZB 2675-2022 Silicio monocristalino como obleas lapeadas para TVS
T/ZZB 0044-2016 Hornos de cultivo de cristales serie TDR
T/CNIA 0060-2020 Determinación del contenido de fosfina en hidrógeno para polisilicio mediante cromatografía de gases.
T/ZZB 1927-2020 Máquina automática de corte de monosilicio
T/JSAS 015-2021 Células solares de silicio monocristalino
T/GZHG 006-2019 Óxido de manganeso, litio, cobalto, níquel monocristalino grande (NCM523)
T/CISA 167-2021 Aleación maestra de superaleación monocristalina DD419
T/HEBQIA 073-2022 Imanes superconductores de silicio monocristalino de Czochralski
T/CISA 086-2021 Aleación maestra de superaleación de cristal único DD405
T/SZBX 118-2023 Obleas de silicio monocristalino para células solares
T/CASME 465-2023 Texturizador sin IPA para monosilicio
T/IAWBS 017-2022 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de curva de oscilación de rayos X de cristal doble de sustrato de cristal único de diamante
T/IAWBS 015-2021 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de la curva de oscilación de rayos X de cristal doble del sustrato de cristal único de Ga2O3
T/IAWBS 016-2022 Método de prueba FWHM de curva oscilante de doble cristal de rayos X para oblea única de carburo de silicio
T/IAWBS 005-2018 Obleas de carburo de silicio monocristalino pulido de 6 pulgadas
T/CEC 290-2019 Requisitos técnicos para la oblea de cristal único de contacto posterior
T/CNIA 0175-2022 Método de muestreo para contaminantes gaseosos en gases de escape que contienen hidrógeno procedentes de fuentes estacionarias de contaminación en la producción de silicio policristalino

CZ-CSN, Monocristal policristalino

CSN 34 5911-1986 silicio policristalino
CSN 42 4991-1970

UNKNOWN, Monocristal policristalino

YB 1601-1983 Silicio policristalino
YB 1601-83 Silicio policristalino
YB 1602-1983 monocristal de silicio
YB 1602-83 monocristal de silicio
YB 1603-83 Discos de corte y discos abrasivos monocristalinos de silicio

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Monocristal policristalino

KS D 2715-2006 Muestra de tracción de materiales de película nano/microcristalina monocristalina y policristalina
KS D 2715-2017 Muestra de tracción de materiales de película nano/microcristalina monocristalina y policristalina
KS D 2715-2006(2011) Muestra de tracción de materiales de película nano/microcristalina monocristalina y policristalina
KS B 3620-2012 Troqueles de diamante policristalino para trefilado.
KS C IEC 60119-2014(2019) Recomendaciones para equipos y pilas de rectificadores de semiconductores policristalinos.
KS C IEC 60119:2014 Recomendaciones para equipos y pilas de rectificadores de semiconductores policristalinos.
KS C 7110-2007(2017) Dispositivos de visualización de cristal líquido－Métodos de medición de la unidad de retroiluminación para pantallas de cristal líquido
KS C IEC 60122-4:2022 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Unidades de cristal con termistores.
KS C 7110-2007(2022) Dispositivos de visualización de cristal líquido－Métodos de medición de la unidad de retroiluminación para pantallas de cristal líquido
KS C IEC 61747-3-2002(2017) Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido－Parte 3: Especificación seccional de celdas de pantalla de cristal líquido (LCD)
KS C IEC 61747-3-2002(2022) Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido－Parte 3: Especificación seccional de celdas de pantalla de cristal líquido (LCD)
KS C IEC 61747-20-1-2015(2020) DISPOSITIVOS DE PANTALLA DE CRISTAL LÍQUIDO ― Parte 20-3: Inspección visual ― Celdas de pantalla LCD monocromáticas (excluidas todas las celdas de cristal líquido de matriz activa)

Professional Standard - Light Industry, Monocristal policristalino

QB/T 1174-2002 Azúcar de roca multicristal
QB/T 1174-1991 Azúcar de roca multicristal
QB/T 1173-2002 Azúcar de roca monocristalino
QB/T 1173-1991 Azúcar de roca monocristalino

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Monocristal policristalino

GB/T 36706-2018 Fosfuro de indio policristalino
GB/T 5238-2019 Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
GB/T 29055-2019 Obleas de silicio multicristalino para células solares fotovoltaicas
GB/T 38907-2020 Empresas que ahorran agua: industria del polisilicio
GB/T 37051-2018 Método de prueba para la determinación de la densidad de defectos cristalinos en lingotes y obleas de silicio fotovoltaico.
GB/T 29054-2019 Fundición de ladrillos de silicio multicristalino para células solares fotovoltaicas.
GB/T 4059-2018 Método de prueba para determinar el contenido de fósforo en silicio policristalino mediante el método de fusión por zonas en atmósfera controlada
GB/T 4060-2018 Método de prueba para determinar el contenido de boro en silicio policristalino mediante el método de fusión en zona de vacío
GB/T 18916.47-2020 Norma de ingesta de agua. Parte 47: Producción de polisilicio.
GB/T 39137-2020 Determinación de la orientación de un monocristal de metal refractario.
GB/T 20230-2022 Monocristal de fosfuro de indio
GB/T 20229-2022 Monocristal de fosfuro de galio
GB/T 20228-2021 Monocristal de arseniuro de galio
GB/T 39865-2021 Método para medir el índice de refracción de cristales ópticos uniaxiales.
GB/T 12964-2018 Obleas pulidas de silicio monocristalino
GB/T 26069-2022 Obleas de silicio monocristalino recocido
GB/T 19346.3-2021 Métodos de medición de aleaciones amorfas y nanocristalinas. Parte 3: Propiedades magnéticas de CA de una tira amorfa a base de Fe utilizando una muestra de una sola hoja.
GB/T 25076-2018 Silicio monocristalino para células solares.
GB/T 36648-2018 Especificación para monómeros de cristal líquido TFT
GB/T 41325-2022 Obleas de silicio monocristalino pulidas con origen cristalino de baja densidad para circuitos integrados
GB/T 18910.201-2021 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 20-1: Inspección visual. Celdas de visualización de cristal líquido monocromáticas.
GB/T 36647-2018 Especificación para monómeros de cristal líquido.
GB/T 12965-2018 Silicio monocristalino en forma de obleas cortadas y obleas lapeadas
GB/T 26071-2018 Obleas de silicio monocristalino para células solares
GB/T 37418-2019 Oxiortosilicato de lutecio, monocristales de centelleo de oxiortosilicato de lutecio-itrio
GB/T 18910.202-2021 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 20-2: Inspección visual. Módulos de visualización de cristal líquido de matriz monocromática.

轻工业部, Monocristal policristalino

QB 1174-1991 azúcar de roca policristalina
QB 1173-1991 Azúcar de roca monocristalino

工业和信息化部, Monocristal policristalino

YS/T 724-2016 Polvo de silicio para silicio policristalino.
YS/T 1359-2020 Polvo policristalino de tantalato de litio
YS/T 1195-2017 Tetracloruro de silicio, un subproducto del polisilicio.
SJ/T 2268-2018 Serie de materiales de ferrita policristalina giromagnética.
YS/T 1500-2021 El silicio policristalino prepara una placa de plata para el revestimiento del horno
YS/T 1590-2022 Requisitos de evaluación de fábrica ecológica de la industria del silicio policristalino
XB/T 520-2021 Centelleador policristalino de granate de aluminio, galio y gadolinio dopado con cerio
YS/T 1290-2018 Determinación del contenido de silano en el gas de cola de la producción de silicio policristalino mediante cromatografía de gases.
JC/T 2417-2017 Material monocristalino piezoeléctrico de tetraborato de litio
YS/T 1182-2016 Especificaciones de producción de seguridad de monocristal de germanio.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Monocristal policristalino

GB/T 25074-2017 Silicio policristalino de grado solar
GB/T 34210-2017 Método de prueba para determinar la orientación del monocristal de zafiro.
GB/T 33236-2016 Silicio policristalino. Determinación de oligoelementos. Método de espectrometría de masas por descarga luminiscente.
GB/T 35309-2017 Práctica de evaluación de polisilicio granular mediante fusor-zoner y espectroscopías.

RU-GOST R, Monocristal policristalino

GOST 19658-1981 Silicio monocristalino en lingotes. Especificaciones
GOST 16153-1980 Germanio monocristalino. Especificaciones
GOST R IEC 61747-20-1-2017 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 20-1. Inspección visual. Celdas de visualización de cristal líquido monocromáticas (excluidas todas las celdas de visualización de cristal líquido de matriz activa)
GOST R IEC 61747-3-2017 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 3. Celdas de pantalla de cristal líquido (LCD). Especificación seccional
GOST R 57549-2017 Fusión por inducción al vacío para la obtención de productos con estructura policristalina. Requerimientos técnicos

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Monocristal policristalino

JIS B 4133:1983 Troqueles de diamante policristalino para trefilado.
JIS C 6760:2014 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW). Especificaciones y métodos de medición.

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, Monocristal policristalino

DB13/T 1631-2012 Lingote de polisilicio de grado solar
DB13/T 1632-2012 Bloque de polisilicio de grado solar
DB13/T 1633-2012 Oblea de polisilicio de grado solar
DB13/T 1314-2010 Varilla cuadrada de silicio monocristalino de grado solar, oblea de silicio monocristalino
DB13/T 5092-2019 Requisitos técnicos generales para cristales semilla cuadrados para lingotes de silicio monocristalino de grado solar
DB13/T 1828-2013 Oblea de silicio monocristalino de grado solar

Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, Monocristal policristalino

DB53/T 499-2013 Triclorosilano para polisilicio
DB53/T 500-2013 Determinación del contenido del componente triclorosilano para polisilicio mediante cromatografía de gases.
DB53/T 618-2014 Determinación del contenido de componentes del gas de cola de hidrogenación en la producción de polisilicio mediante cromatografía de gases
DB53/T 747-2016 Determinación del contenido de cloruro de hidrógeno en el hidrógeno recuperado de la cromatografía de gases de producción de polisilicio

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Monocristal policristalino

GJB 582-1988 Fluoruro de magnesio policristalino para lentes
GJB 582A-2020 Especificación para fluoruro de magnesio policristalino para lentes
GJB 393-1987 Campana de fluoruro de magnesio policristalino para misiles aire-aire
GJB 393B-2015 Especificación para carenados de fluoruro de magnesio policristalino para misiles
GJB 393A-1995 Especificación para carenados de fluoruro de magnesio policristalino para misiles
GJB 8715-2015 Especificación para láminas planas de fluoruro de magnesio policristalino prensadas en caliente para aplicaciones de misiles
GJB 8714-2015 Especificación para materiales de carenado de sulfuro de zinc policristalino para misiles
GJB 394-1987 Método de prueba para campanas de fluoruro de magnesio policristalino para misiles aire-aire
GJB 3076A-2021 Especificación de chip único de fosfuro de galio
GJB 3076-1997 Especificación de chip único de fosfuro de galio
GJB 2917A-2018 Especificación de oblea única de fosfuro de indio
GJB 2917A-2004 Especificación de oblea única de fosfuro de indio
GJB 2917-1997 Especificación de oblea única de fosfuro de indio
GJB 1926-1994 Especificación del material monocristalino de arseniuro de galio
GJB 10342-2021 Especificación para obleas monocristalinas de antimonuro de indio pulido
GJB 10343-2021 Especificación para obleas monocristalinas de antimonuro de galio pulido
GJB 1927A-2021 Método de prueba de material monocristalino de arseniuro de galio
GJB 1927-1994 Método de prueba de material monocristalino de arseniuro de galio

HU-MSZT, Monocristal policristalino

MSZ 12435/3-1977 SZ?LL?T?G?PEK F? M?SZAKI JELLEMZ?I Sodronyk?télpályák

Defense Logistics Agency, Monocristal policristalino

DLA SMD-5962-87711 REV A-2001 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, TTL, MULTIVIBRADOR MONOESTABLE DOBLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-85508 REV C-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY DE BAJA POTENCIA, TTL, MULTIPLEXOR, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-97553 REV A-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, TTL, MULTIVIBRADOR MONOESTABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA MIL-M-38510/314 C VALID NOTICE 1-2008 MICROCIRCUITOS DIGITALES, SCHOTTKY DE BAJA POTENCIA, TTL, MULTIVIBRADORES MONOESTABLES, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-87533 REV B-2001
DLA SMD-5962-85096 REV E-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO DE BAJA POTENCIA, MULTIPLEXOR, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-85097 REV F-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY AVANZADO DE BAJA POTENCIA, TTL, MULTIPLEXORES, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-86869 REV C-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO DE BAJA POTENCIA, MULTIPLEXOR, SILICIO MONOLÍTICO
DLA MIL-M-38510/326 C VALID NOTICE 1-2008 Microcircuitos, Digital, Schottky TTL de bajo consumo, Demultiplexores, Silicio monolítico
DLA SMD-5962-97582 REV B-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO, DECODIFICADORES/DEMULTIPLEXORES DE 3 A 8 LÍNEAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-97583 REV B-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO, SELECTORES/MULTIPLEXORES DE DATOS DOBLES 1 DE 4, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-88625 REV C-2008 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, ALS SCHOTTKY TTL, CUÁDRUPLE, 1 DE 2 SELECTORES DE DATOS/MULTIPLEXORES, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-87716 REV A-2000 MICROCIRCUITO, LINEAL, 8 CANALES, MULTIPLEXOR ANALÓGICO JFET, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-87717 REV B-2002 MICROCIRCUITO LINEAL MULTIPLEXOR ANALÓGICO JFET DE 16 CANALES, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-97530-1998 MICROCIRCUITO DIGITAL, 1394-1995 CONTROLADOR DE CAPA DE ENLACE DE USO GENERAL, ENTRADAS COMPATIBLES TTL, SILICIO MONOLÍTICO
DLA MIL-PRF-3098/79 F-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR104/U
DLA MIL-PRF-3098/85 D-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR109/U
DLA MIL-PRF-3098/93 C-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR117/U
DLA MIL-PRF-3098/102 D-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR125/U
DLA MIL-PRF-3098/106 D-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR127/U
DLA MIL-PRF-3098/114 D-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR135/U
DLA MIL-PRF-3098/123 D-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR142/U
DLA MIL-PRF-3098/129 D-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR148/U
DLA SMD-5962-96751 REV A-2003 CHANCLAS DUAL JK DE MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL DE BAJA POTENCIA, CON SILICIO MONOLÍTICO TRANSPARENTE
DLA SMD-5962-97562 REV A-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY AVANZADO, TTL, OCTAL CHANCLAS DE DISPARO POR BORDE TIPO D CON SALIDAS DE 3 ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-87698 REV A-2003 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS AVANZADO, MULTIPLEXOR DOBLE DE 4 ENTRADAS, ENTRADAS COMPATIBLES TTL, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-87718 REV A-2000 MICROCIRCUITO, LINEAL, MULTIPLEXOR ANALÓGICO JFET DIFERENCIAL DE 4 CANALES, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-87554 REV E-2004 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS, DECODIFICADOR/DEMULTIPLEXOR 1 DE 8, ENTRADAS COMPATIBLES TTL, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-97632 REV A-2007 MICROCIRCUITO, DIGITAL, SCHOTTKY TTL AVANZADO DE BAJA CONSUMO, SELECTORES/MULTIPLEXORES DE DATOS DOBLES DE 4 A 1 LÍNEA, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-95537 REV A-2001 CHANCLAS CUÁDRUPLE TIPO D DE MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO, CON SILICIO MONOLÍTICO TRANSPARENTE
DLA QPL-3098-92-2008 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
DLA QPL-3098-93-2010 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
DLA QPL-3098-95-2010 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
DLA QPL-3098-97-2013 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
DLA QPL-3098-98-2013 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
DLA QPL-3098-99-2013 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
DLA SMD-5962-87553 REV B-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS AVANZADO, DECODIFICADOR/DEMULTIPLEXOR DOBLE 1 DE 4, ENTRADAS COMPATIBLES TTL, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-91732-1993 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS DE ALTA VELOCIDAD, DECODIFICADOR/DEMULTIPLEXOR DE 3 A 8 LÍNEAS, COMPATIBLE CON TTL, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-90702 REV A-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS DE ALTA VELOCIDAD, MULTIPLEXOR NO INVERSOR CUÁDRUPLE DE 2 ENTRADAS, ENTRADAS COMPATIBLES CON TTL, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-90703 REV A-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, CMOS DE ALTA VELOCIDAD, MULTIPLEXOR INVERSOR CUÁDRUPLE DE 2 ENTRADAS, ENTRADAS COMPATIBLES TTL, SILICIO MONOLÍTICO
DLA MIL-M-38510/114 B VALID NOTICE 1-2008 MICROCIRCUITOS LINEALES, AMPLIFICADORES OPERACIONALES BI-FET, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-97549-1997 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY AVANZADO, TTL, OCTAL CHANCLAS DE DISPARO POR BORDE TIPO D CON SALIDAS DE 3 ESTADOS, SILICIO MONOLÍTICO

Jiangxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Monocristal policristalino

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NF E66-314:2004 Insertos de diamante policristalino, con punta - Dimensiones, tipos.
NF E66-314*NF ISO 16463:2014 Insertos de diamante policristalino, con punta - Dimensiones, tipos
NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: instrumentos.
NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 2: procedimientos.
NF EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 1: principios generales.
NF EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: procedimientos
NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 3: equipos
NF EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 1: principios generales
NF A09-020-11*NF EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos.
NF C93-616:2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW): especificaciones y métodos de medición
NF EN 61747-3:2007 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 3: celdas de visualización de cristal líquido (LCD). Especificación intermedia.
NF C93-616*NF EN 62276:2018 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición
NF EN 61747-3-1:2006 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 3-1: Celdas de visualización de cristal líquido (LCD) - Marco de especificaciones particulares

British Standards Institution (BSI), Monocristal policristalino

BS EN 13925-2:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
BS EN 13925-3:2005(2009) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
BS EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
BS EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
BS EN 13925-1:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
BS EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
BS ISO 16463:2004 Insertos de diamante policristalino, con punta - Dimensiones, tipos
BS ISO 16463:2014 Inserciones de diamante policristalino, con punta. Dimensiones, tipos
13/30276532 DC BS EN 61747-20-1. Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 20-1. Inspección visual. Celdas de visualización de cristal líquido monocromáticas (excluidas todas las celdas de visualización de cristal líquido de matriz activa)
BS EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
BS EN 61747-2-1:1998 Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido. Módulos LCD monocromáticos de matriz pasiva. Especificación de detalle en blanco
BS EN 61747-2-1:2013 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Módulos LCD monocromáticos de matriz pasiva. Especificación de detalle en blanco

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Z80.12-2007 Oftálmica - Lentes Intraoculares Multifocales (VC)

Professional Standard - Electron, Monocristal policristalino

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SJ/T 11501-2015 Método de prueba para determinar el tipo de cristal de carburo de silicio monocristalino.
SJ 3244.3-1989 Métodos de medición para la orientación cristalina de monocristales de arseniuro de galio y fosfuro de indio
SJ/Z 2655-1986 Colección de defectos de germaninm monocristalinos.
SJ 20607-1996 Especificación para cristal de molibdeno
SJ 20444-1994 Especificación para monocristal de niobato de litio
SJ 3241-1989 Oblea y barra monocristalina de arseniuro de galio
SJ 3243-1989 Barras y obleas monocristalinas de fosfuro de indio
SJ/T 10173-1991 Célula solar de silicio monocristalino TDA75
SJ 20606-1996 Especificación para monocristal de dióxido de telurio
SJ/T 10333-1993 Métodos de medición para transistores uni-unión.
SJ/T 11450-2013 Especificaciones de consumo de energía del horno monocristalino
SJ/T 11854-2022 Horno de silicio monocristalino Czochralski para energía fotovoltaica
SJ/T 11502-2015 Especificación para obleas de carburo de silicio monocristalino pulido
SJ/T 11505-2015 Especificación de obleas pulidas de cristal único de zafiro
SJ/T 11853-2022 Horno de silicio monocristalino de fusión de zona suspendida de presión positiva
SJ 2572-1985 Varillas y láminas de silicio monocristalino para células solares.
SJ/T 11864-2022 Sustrato monocristalino de carburo de silicio semiaislante

Professional Standard - Building Materials, Monocristal policristalino

JC/T 2143-2012 Materiales cerámicos a base de circonio tetragonal.
JC/T 2349-2015 Componentes aislantes cerámicos SiN para la producción de silicio policristalino.
JC/T 2067-2011 Crisol cerámico de sílice fundida para el crecimiento de cristales de silicio policristalino solar
JC/T 1048-2007 Crisoles de cuarzo fundido para el crecimiento de silicio monocristalino
JC/T 1048-2018 Crisol de cuarzo para crecimiento de silicio monocristalino.

Professional Standard - Medicine, Monocristal policristalino

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DIN EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
DIN EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
DIN EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
DIN EN 13925-3:2005-07 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
DIN EN 13925-2:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
DIN ISO 16463:2005 Insertos de diamante policristalino, con punta. Dimensiones, tipos (ISO 16463:2004); versión inglesa de DIN ISO 16463:2005.
DIN EN 13925-1:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
DIN EN 1330-11:2007-09 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos; Versión trilingüe EN 1330-11:2007
DIN ISO 16463:2015 Insertos de diamante policristalino, con punta. Dimensiones, tipos (ISO 16463:2014)
DIN EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos; Versión trilingüe EN 1330-11:2007
DIN EN IEC 60122-4:2019-10 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Unidades de cristal con termistores (IEC 60122-4:2019); Versión alemana EN IEC 60122-4:2019
DIN EN 60444-9:2007-12 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 9: Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico (IEC 60444-9:2007); Versión alemana EN 60444-9:2007
DIN EN 62276:2017-08 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW): especificaciones y métodos de medición (IEC 62276:2016); Versión alemana EN 62276:2016 / Nota: DIN EN 62276 (2013-08) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 28-11-2019.
DIN EN IEC 62276:2023-05 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición (IEC 49/1401/CD:2022); Texto en alemán e inglés / Nota: Fecha de emisión 2023-04-28*Destinado a sustituir a DIN EN 62276 (2017-08).
DIN EN 120007:1993-06 Especificación detallada en blanco: Pantallas de cristal líquido; LCD monocromáticos sin circuito electrónico; Versión alemana EN 120007:1992
DIN EN 120007:1993 Especificación detallada en blanco: Pantallas de cristal líquido; LCD monocromáticos sin circuito electrónico; Versión alemana EN 120007:1992

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Monocristal policristalino

JJG 629-2014
JJG 629-1989 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
JJG(地质) 1014-1990 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
JJG 48-2004 Rebanada estándar de resistividad de silicio monocristalino

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Monocristal policristalino

YS/T 1061-2015
YS/T 554-2007 Monocristales de niobato de litio
YS/T 42-2010 Monocristales de tantalato de litio
YS/T 554-2006 Monocristal de niobato de litio
YS/T 1167-2016 Obleas grabadas de silicio monocristalino
YS/T 14-2015 Método para medir el espesor de la capa heteroepitaxial y la capa policristalina de silicio.
YS/T 14-1991 Método para medir el espesor de la capa heteroepitaxial y la capa policristalina de silicio.
YS/T 983-2014 Método de prueba para medir la composición del reactor de deposición de polisilicio y el gas de ventilación del convertidor de TCS a STC
YS 783-2012 La norma de consumo de energía por unidad de producto de monocristal de germanio infrarrojo.

IN-BIS, Monocristal policristalino

IS 3136-1965 ESPECIFICACIÓN PARA EQUIPO RECTIFICADOR DE SEMICONDUCTOR POLICRISTALINO (Primera reimpresión, ABRIL DE 1980)
IS 2511-1963 ESPECIFICACIÓN PARA PILAS DE RECTIFICADORES DE SEMICONDUCTORES POLICRISTALINOS
IS 9709-1980
IS 4570 Pt.11-1989 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 11 SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE DOS PINES, METÁLICO, SOLDADO, TIPO DQ
IS 4570 Pt.8-1985 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 8 SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE TRES HILOS, METÁLICO, SOLDADO, TIPO DK
IS 4570 Pt.13/Sec.5-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 5 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 05
IS 4570 Pt.13/Sec.4-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 4 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 04
IS 4570 Pt.6-1984 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 6 METAL, SELLO DE SOLDADURA, SOPORTE DE UNIDAD DE CRISTAL DE DOS PINES TIPO CX
IS 4570 Pt.13/Sec.3-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDAD DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 3 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 03
IS 4570 Pt.13/Sec.2-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 2 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 02
IS 4570 Pt.13/Sec.1-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 1 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 01
IS 4570 Pt.7-1985 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 7 MICROMINIATURA, METAL, SELLO DE SOLDADURA, SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE DOS HILOS TIPO DJ
IS 4570 Pt.12-1989 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 12 SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE DOS HILOS, MICROMINIATURA, METÁLICO, SOLDADO EN FRÍO, TIPO EB

Professional Standard - Education, Monocristal policristalino

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JY/T 009-1996 Principios generales del método de derivación de rayos X de policristales con objetivo giratorio

Professional Standard - Machinery, Monocristal policristalino

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JB/T 12542-2015 Superabrasivo. Polvos de diamante policristalinos de detonación.
JB/T 5633-1991 Horno monocristalino. Clasificación del consumo de energía.
JB/T 7996-1999 Abrasivo común Alundum simple
JB/T 7996-2012 Abrasivo convencional. Alúmina fundida monocristalina.
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JB/T 5203-2012 Métodos de análisis químico para alúmina fundida monocristalina.

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DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
DS/EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.
DS/EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
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DS/EN 60444-9:2007
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未注明发布机构, Monocristal policristalino

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ARMY MIL-PRF-3098/88 H-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR112/U
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ARMY MIL-PRF-3098/82 E-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR106/U
ARMY MIL-PRF-3098/83 G-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR107/U
ARMY MIL-PRF-3098/89 E-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR113/U
ARMY MIL-PRF-3098/92 F-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR116/U
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ARMY MIL-PRF-3098/108 E-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR128/U
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ARMY MIL-PRF-3098/113 E-2011 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR134/U
ARMY MIL-PRF-3098/115 E-2011 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR136/U
ARMY MIL-PRF-3098/116 E-2011 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR137/U
ARMY MIL-PRF-3098/120 E-2011 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR131/U
ARMY MIL-PRF-3098/132 E-2011 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR151/U
ARMY MIL-PRF-3098/137 D-2011 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR157/U
ARMY MIL-PRF-3098 K-2010 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
ARMY MIL-PRF-3098 K (1)-2011 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
ARMY MIL-PRF-3098 K (1) SUPP 1-2013 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA

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EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos

International Organization for Standardization (ISO), Monocristal policristalino

ISO 11979-9:2006 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 9: Lentes intraoculares multifocales
ISO 16463:2004 Insertos de diamante policristalino, con punta - Dimensiones, tipos
ISO 16463:2014 Insertos de diamante policristalino, con punta - Dimensiones, tipos
ISO/TTA 3:2001 Materiales policristalinos - Determinación de tensiones residuales mediante difracción de neutrones
ISO 11979-9:2006/Amd 1:2014 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 9: Lentes intraoculares multifocales; Enmienda 1

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