ZH
RU
EN

Policristalino y monocristal

Policristalino y monocristal, Total: 500 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Policristalino y monocristal son: Productos de hierro y acero., Materiales semiconductores, Metales no ferrosos, Materiales de construcción, Equipo óptico, Hornos industriales, Dispositivos piezoeléctricos y dieléctricos., Papel y cartón, Fluidos aislantes, Vocabularios, Instalaciones en edificios, pruebas de metales, Dispositivos semiconductores, Productos de metales no ferrosos., Ingeniería de energía y transferencia de calor en general., Óptica y medidas ópticas., Optoelectrónica. Equipo láser, Materiales magnéticos, Refractarios, ingeniería de energía solar, Equipo de trabajo sin chip, Pilas y baterías galvánicas., químicos inorgánicos, Cerámica, Componentes y accesorios para equipos de telecomunicaciones., Componentes para equipos eléctricos., Pruebas no destructivas, Herramientas de corte, Dispositivos de visualización electrónica., Equipo medico, Calidad del aire, Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Materiales aislantes, Materiales para el refuerzo de composites., Organización y gestión de la empresa., Productos de la industria química., Herramientas de máquina, Metalurgia de polvos, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, Condiciones y procedimientos de prueba en general., Terminología (principios y coordinación), Comunicaciones de fibra óptica., Química analítica, Maquinaria rotativa, Educación, ingeniería de energía nuclear, Calidad del agua, Agricultura y silvicultura, Filtros electricos, Rectificadores. Convertidores. Fuente de alimentación estabilizada, Circuitos integrados. Microelectrónica, Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Componentes electromecánicos para equipos electrónicos y de telecomunicaciones., Protección del medio ambiente, Lámparas y equipos relacionados., GENERALIDADES. TERMINOLOGÍA. ESTANDARIZACIÓN. DOCUMENTACIÓN, Residuos.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Policristalino y monocristal

GB/T 11072-1989 Policristal de antimonuro de indio, monocristales y rodajas cortadas
GB/T 11072-2009 Policristal de antimonuro de indio, cristales individuales y rodajas cortadas
GB/T 5238-2009 Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
GB/T 5238-2009(英文版) Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
GB/T 31092-2014 Lingote de zafiro monocristalino
GB/T 31092-2022 Barra de zafiro monocristalino
GB/T 12963-2009 Especificación para silicio policristalino.
GB/T 12963-1996 Silicio policristalino
GB/T 30118-2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW). Especificaciones y métodos de medición
GB/T 12962-1996 silicio monocristalino
GB/T 12962-2005 Silicio monocristalino
GB/T 5238-1995
GB/T 12962-2015 monocristal de silicio
GB/T 15713-1995 Rodajas de germanio monocristalino.
GB/T 29504-2013 Silicio monocristalino de 300 mm.
GB/T 1555-1997 Métodos de prueba para determinar la orientación de un monocristal semiconductor.
GB/T 1555-2023 Método para determinar la orientación cristalina de un monocristal semiconductor
GB/T 1555-2009 Métodos de prueba para determinar la orientación de un monocristal semiconductor.
GB/T 12963-2014 Silicio policristalino de grado electrónico
GB/T 12963-2022 Silicio policristalino de grado electrónico
GB/T 20229-2006 Cristal de señal de fosfuro de galio
GB/T 20230-2006 Cristal de señal de fosfuro de indio
GB/T 20228-2006 Monocristal de arseniuro de galio
GB/T 14843-1993 Monocristales de niobato de litio
GB 29447-2022 La norma de consumo de energía por unidad de productos de polisilicio y germanio.
GB 29447-2012 La norma de consumo de energía por unidad de producto de la empresa de polisilicio.
GB/T 25074-2010 Silicio policristalino de grado solar
GB/T 25074-2017(英文版) Silicio policristalino de grado solar
GB/T 12964-2003 Obleas pulidas de silicio monocristalino
GB/T 29506-2013 Obleas de silicio monocristalino pulido de 300 mm
GB 51034-2014 Código para diseño de planta de polisilicio.
GB/T 29055-2012 Oblea de silicio multicristalino para células solares
GB/T 30656-2014 Obleas de carburo de silicio monocristalino pulido
GB/T 25076-2010 Silicio monocristalino de célula solar.
GB/T 30656-2023 Oblea pulida de un solo cristal de carburo de silicio
GB/T 41751-2022 Método de prueba para determinar el radio de curvatura del plano cristalino en obleas de sustrato monocristalino de GaN
GB/T 42676-2023 Método de difracción de rayos X para probar la calidad del monocristal semiconductor
GB/T 29054-2012 Ladrillo de silicio multicristalino de fundición de grado solar
GB/T 26072-2010 Célula solar monocristal de germanio
GB/T 29057-2023 Práctica para la evaluación de varillas de silicio policristalino mediante fusión por zonas y análisis espectroscópico.
GB/T 29057-2012 Práctica para la evaluación de varillas de silicio polocristalino mediante espectroscopía y crecimiento de cristales en zona flotante.
GB/T 12965-1996 Silicio monocristalino en forma de rodajas cortadas y rodajas traslapadas
GB/T 12965-2005 Rebanadas cortadas de silicio monocristalino y rebanadas traslapadas
GB/T 12632-1990 Especificaciones generales de células solares individuales de silicio.
GB/T 1551-2009 Método de prueba para medir la resistividad del silicio monocristal.
GB/T 26065-2010 Especificación para obleas de silicio de prueba pulidas
GB/T 30858-2014 Producto de sustrato de zafiro monocristalino pulido
GB/T 13843-1992 Sustratos de zafiro monocristalino pulido
GB/T 13389-1992 Práctica para la conversión entre resistividad y densidad dopante para silicio dopado con boro y fósforo
GB/T 29055-2019(英文版) Obleas de silicio multicristalino para células solares fotovoltaicas
GB/T 4059-1983 Silicio policristalino - Método de examen - Zona de fusión sobre fósforo en atmósfera controlada
GB/T 13066-1991 Especificación detallada en blanco para transistores unijunction
GB/T 25075-2010 Monocristal de arseniuro de galio para células solares
GB/T 29420-2012 Dispositivos de cristal láser de vanadato dopado con Nd
GB/T 29508-2013 Silicio monocristalino de 300 mm en rodajas cortadas y trituradas
GB/T 34213-2023 Alúmina de alta pureza para monocristal de zafiro
GB/T 32188-2015 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de la curva de oscilación de rayos X de cristal doble del sustrato de cristal único de GaN
GB/T 4059-2007 Silicio policristalino. Método de examen. Fusión por zonas sobre fósforo en atmósfera controlada.
GB/T 4060-2007 Silicio policristalino. Método de examen. Fusión por zonas al vacío sobre boro.
GB/T 4060-1983 Silicio policristalino - Método de examen - Zona de fusión al vacío sobre boro
GB/T 11094-2007 Oblea de corte y cristal único de arseniuro de galio cultivado en Bridgman horizontal
GB/T 26071-2010 Silicio monocristalino en rodajas para células solares fotovoltaicas
GB/T 29421-2012 Dispositivos de cristal birrebringente de vanadato
GB/T 11094-1989 Monocristales de arseniuro de galio cultivados en barcos y rodajas cortadas
GB/T 9532-2012 Designaciones para cristales piezoeléctricos
GB/T 30866-2014 Método de prueba para medir el diámetro de obleas de carburo de silicio monocristalino.
GB/T 13389-2014 Práctica para la conversión entre resistividad y densidad dopante para silicio dopado con boro, fósforo y arsénico
GB/T 24177-2009 Métodos de prueba estándar para caracterizar tamaños de grano dúplex
GB/T 29054-2019(英文版) Fundición de ladrillos de silicio multicristalino para células solares fotovoltaicas
GB/T 18032-2000 El método de inspección del defecto microscópico AB en monocristal de arseniuro de galio
GB/T 32278-2015 Método de prueba para determinar la planitud de una oblea única de carburo de silicio
GB/T 3352-2012 Cristal de cuarzo sintético.Especificaciones y guía de uso.
GB/T 32652-2016 Cuarzo fundido utilizado para crisoles cerámicos de cuarzo para fundir silicio policristalino
GB/T 4061-2009 Silicio policristalino-método de examen-evaluación de sándwiches en sección transversal por corrosión química
GB/T 4061-1983 Silicio policristalino--Método de examen--Evaluación de sándwiches en sección transversal por corrosión química

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Policristalino y monocristal

GB/T 5238-2019 Germanio monocristalino y rodajas de germanio monocristalino.
GB/T 36706-2018 Fosfuro de indio policristalino
GB/T 39137-2020 Determinación de la orientación de un monocristal de metal refractario.
GB/T 20230-2022 Monocristal de fosfuro de indio
GB/T 20229-2022 Monocristal de fosfuro de galio
GB/T 20228-2021 Monocristal de arseniuro de galio
GB/T 39865-2021 Método para medir el índice de refracción de cristales ópticos uniaxiales.
GB/T 12964-2018 Obleas pulidas de silicio monocristalino
GB/T 26069-2022 Obleas de silicio monocristalino recocido
GB/T 37051-2018 Método de prueba para la determinación de la densidad de defectos cristalinos en lingotes y obleas de silicio fotovoltaico.
GB/T 19346.3-2021 Métodos de medición de aleaciones amorfas y nanocristalinas. Parte 3: Propiedades magnéticas de CA de una tira amorfa a base de Fe utilizando una muestra de una sola hoja.
GB/T 29055-2019 Obleas de silicio multicristalino para células solares fotovoltaicas
GB/T 38907-2020 Empresas que ahorran agua: industria del polisilicio
GB/T 25076-2018 Silicio monocristalino para células solares.
GB/T 36648-2018 Especificación para monómeros de cristal líquido TFT
GB/T 41325-2022 Obleas de silicio monocristalino pulidas con origen cristalino de baja densidad para circuitos integrados
GB/T 18910.201-2021 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 20-1: Inspección visual. Celdas de visualización de cristal líquido monocromáticas.
GB/T 36647-2018 Especificación para monómeros de cristal líquido.
GB/T 12965-2018 Silicio monocristalino en forma de obleas cortadas y obleas lapeadas
GB/T 26071-2018 Obleas de silicio monocristalino para células solares
GB/T 29054-2019 Fundición de ladrillos de silicio multicristalino para células solares fotovoltaicas.
GB/T 37418-2019 Oxiortosilicato de lutecio, monocristales de centelleo de oxiortosilicato de lutecio-itrio
GB/T 18910.202-2021 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 20-2: Inspección visual. Módulos de visualización de cristal líquido de matriz monocromática.
GB/T 4059-2018 Método de prueba para determinar el contenido de fósforo en silicio policristalino mediante el método de fusión por zonas en atmósfera controlada
GB/T 4060-2018 Método de prueba para determinar el contenido de boro en silicio policristalino mediante el método de fusión en zona de vacío
GB/T 18916.47-2020 Norma de ingesta de agua. Parte 47: Producción de polisilicio.
GB/T 11094-2020 Monocristal de arseniuro de galio y oblea de corte cultivada mediante el método Bridgman horizontal
GB/T 5252-2020 Método de prueba para la densidad de dislocación del germanio monocristalino.

Group Standards of the People's Republic of China, Policristalino y monocristal

T/CBCSA 36-2021 Losa policristalina de corindón
T/ZZB 0497-2018 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie
T/ZZB 0061-2016 Horno de producción de lingotes de silicio policristalino.
T/ZSA 72-2019 Carburo de silicio monocristalino
T/IAWBS 001-2021 Monocristal de carburo de silicio
T/ZZB 1041-2019 Célula solar de silicio policristalino
T/ZZB 0916-2018 Ferrita policristalina giromagnética
T/ACRI 0025-2020 Ladrillo de espinela multicompuesto
T/CNIA 0014-2019 Anillos de porcelana para la producción de polisilicio.
T/ZZB 1389-2019 Células fotovoltaicas de silicio monocristalino
T/CECA 72-2022 Materiales de ferrita policristalina giromagnética.
T/NXCL 015-2022 Polisilicio columnar para piezas de silicio.
T/ZZB 2675-2022 Silicio monocristalino como obleas lapeadas para TVS
T/ZZB 0044-2016 Hornos de cultivo de cristales serie TDR
T/CNIA 0013-2019 Productos de grafito para la producción de polisilicio.
T/ZZB 1927-2020 Máquina automática de corte de monosilicio
T/JSAS 015-2021 Células solares de silicio monocristalino
T/GZHG 006-2019 Óxido de manganeso, litio, cobalto, níquel monocristalino grande (NCM523)
T/ICMTIA SM0028-2022 Polisilicio de grado electrónico para circuitos integrados.
T/CISA 167-2021 Aleación maestra de superaleación monocristalina DD419
T/HEBQIA 073-2022 Imanes superconductores de silicio monocristalino de Czochralski
T/CISA 086-2021 Aleación maestra de superaleación de cristal único DD405
T/SZBX 118-2023 Obleas de silicio monocristalino para células solares
T/CASME 465-2023 Texturizador sin IPA para monosilicio
T/IAWBS 017-2022 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de curva de oscilación de rayos X de cristal doble de sustrato de cristal único de diamante
T/IAWBS 015-2021 Método de prueba para el ancho total a la mitad del máximo de la curva de oscilación de rayos X de cristal doble del sustrato de cristal único de Ga2O3
T/IAWBS 016-2022 Método de prueba FWHM de curva oscilante de doble cristal de rayos X para oblea única de carburo de silicio
T/IAWBS 005-2018 Obleas de carburo de silicio monocristalino pulido de 6 pulgadas
T/CEC 290-2019 Requisitos técnicos para la oblea de cristal único de contacto posterior
T/CNIA 0115-2021 Carbón activado para la purificación de gases de cola en la producción de polisilicio.
T/CEMIA 004-2018 Crisoles de cuarzo para el crecimiento de silicio monocristalino en la industria fotovoltaica
T/CEMIA 018-2019 Crisol cerámico de cuarzo fundido para silicio policristalino fotovoltaico
T/CESA 1082-2020 Requisitos de evaluación para una fábrica verde en la industria de fabricación de silicio policristalino
T/CEMIA 023-2021 Crisol de cuarzo para crecimiento de monosilicio semiconductor.
T/CECA 69-2022 Sustratos de película delgada monocristalinos para dispositivos SAW
T/ZZB 0648-2018 Obleas pulidas de silicio Czochralski monocristalino fuertemente dopadas con fósforo de 200 mm
T/NXCL 017-2022 Obleas pulidas de silicio Czochralski monocristalino fuertemente dopadas con fósforo de 300 mm
T/NXCL 016-2022 Oblea pulida de silicio Czochralski monocristalino fuertemente dopada con antimonio de 200 mm
T/CECA 83-2023 Obleas monocristalinas reducidas de tantalato de litio y niobato de litio: requisitos técnicos y métodos de medición de la luminosidad y la diferencia de color
T/SEESA 003-2021 Especificación técnica para cristalización evaporativa de efecto múltiple con alta concentración de agua salada
T/CNIA 0021-2019 Diseño ecológico evaluación de producto especificación técnica polisilicio

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Policristalino y monocristal

KS D 2715-2006 Muestra de tracción de materiales de película nano/microcristalina monocristalina y policristalina
KS D 2715-2017 Muestra de tracción de materiales de película nano/microcristalina monocristalina y policristalina
KS D 2715-2006(2011) Muestra de tracción de materiales de película nano/microcristalina monocristalina y policristalina
KS C 7110-2007(2017) Dispositivos de visualización de cristal líquido－Métodos de medición de la unidad de retroiluminación para pantallas de cristal líquido
KS B 3620-2012 Troqueles de diamante policristalino para trefilado.
KS C IEC 60122-4:2022 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Unidades de cristal con termistores.
KS C 7110-2007(2022) Dispositivos de visualización de cristal líquido－Métodos de medición de la unidad de retroiluminación para pantallas de cristal líquido
KS C IEC 61747-3-2002(2017) Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido－Parte 3: Especificación seccional de celdas de pantalla de cristal líquido (LCD)
KS C IEC 60119-2014(2019) Recomendaciones para equipos y pilas de rectificadores de semiconductores policristalinos.
KS C IEC 61747-3-2002(2022) Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido－Parte 3: Especificación seccional de celdas de pantalla de cristal líquido (LCD)
KS C IEC 61747-20-1-2015(2020) DISPOSITIVOS DE PANTALLA DE CRISTAL LÍQUIDO ― Parte 20-3: Inspección visual ― Celdas de pantalla LCD monocromáticas (excluidas todas las celdas de cristal líquido de matriz activa)
KS C IEC 61747-20-1:2015 DISPOSITIVOS DE PANTALLA DE CRISTAL LÍQUIDO ― Parte 20-3: Inspección visual ― Celdas de pantalla LCD monocromáticas (excluidas todas las celdas de cristal líquido de matriz activa)
KS D 0070-2002 Método de prueba de propiedades magnéticas de metales amorfos utilizando una muestra de una sola hoja.
KS C 6503-1999(2009) UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA OSCILADORES
KS C IEC 61747-3-1-2002(2017) Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido. Parte 3-1: Celdas de pantalla de cristal líquido (LCD). Especificación detallada en blanco.
KS C IEC 61747-3-1-2002(2022) Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido - Parte 3-1: Celdas de pantalla de cristal líquido (LCD) - Especificación detallada en blanco

CZ-CSN, Policristalino y monocristal

CSN 34 5911-1986 silicio policristalino
CSN 42 4991-1970
CSN 01 5111-1974 Muestreo de materiales sueltos y granulados.

UNKNOWN, Policristalino y monocristal

YB 1601-1983 Silicio policristalino
YB 1601-83 Silicio policristalino
YB 1602-1983 monocristal de silicio
YB 1602-83 monocristal de silicio
YB 1603-83 Discos de corte y discos abrasivos monocristalinos de silicio

Professional Standard - Machinery, Policristalino y monocristal

JB/T 10439-2004 Hornos de cultivo de cristales Hornos de cultivo de cristales de la serie TDR mediante el método Czochralski
JB/T 5633-1991 Horno monocristalino. Clasificación del consumo de energía.
JB/T 7996-1999 Abrasivo común Alundum simple
JB/T 7996-2012 Abrasivo convencional. Alúmina fundida monocristalina.
JB/T 12068-2014
JB/T 5203-1991 Método de alúmina fundida monocristalina para análisis químico.
JB/T 5203-2012 Métodos de análisis químico para alúmina fundida monocristalina.
JB/T 7826.2-1996 Módulo puente monofásico para tiristores serie MTQ (MFQ)
JB/T 7826.3-1995 Módulo puente monofásico de tiristores serie MTS (MFS)
JB/T 7826.2-1995 Módulo puente monofásico de tiristores serie MTQ (MFQ)
JB/T 12542-2015 Superabrasivo. Polvos de diamante policristalinos de detonación.

Hebei Provincial Standard of the People's Republic of China, Policristalino y monocristal

DB13/T 1314-2010 Varilla cuadrada de silicio monocristalino de grado solar, oblea de silicio monocristalino
DB13/T 1631-2012 Lingote de polisilicio de grado solar
DB13/T 1632-2012 Bloque de polisilicio de grado solar
DB13/T 1633-2012 Oblea de polisilicio de grado solar
DB13/T 5092-2019 Requisitos técnicos generales para cristales semilla cuadrados para lingotes de silicio monocristalino de grado solar
DB13/T 1828-2013 Oblea de silicio monocristalino de grado solar

Professional Standard - Light Industry, Policristalino y monocristal

QB/T 1174-2002 Azúcar de roca multicristal
QB/T 1174-1991 Azúcar de roca multicristal
QB/T 1173-2002 Azúcar de roca monocristalino
QB/T 1173-1991 Azúcar de roca monocristalino

轻工业部, Policristalino y monocristal

QB 1174-1991 azúcar de roca policristalina
QB 1173-1991 Azúcar de roca monocristalino

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Policristalino y monocristal

GB/T 34210-2017 Método de prueba para determinar la orientación del monocristal de zafiro.
GB/T 25074-2017 Silicio policristalino de grado solar
GB/T 33763-2017 Método de prueba para la densidad de dislocaciones de un monocristal de zafiro.

Professional Standard - Electron, Policristalino y monocristal

SJ/T 11500-2015 Método de prueba para medir la orientación cristalográfica de carburo de silicio monocristalino.
SJ/T 11501-2015 Método de prueba para determinar el tipo de cristal de carburo de silicio monocristalino.
SJ 3244.3-1989 Métodos de medición para la orientación cristalina de monocristales de arseniuro de galio y fosfuro de indio
SJ/Z 2655-1986 Colección de defectos de germaninm monocristalinos.
SJ 20607-1996 Especificación para cristal de molibdeno
SJ 20444-1994 Especificación para monocristal de niobato de litio
SJ 3241-1989 Oblea y barra monocristalina de arseniuro de galio
SJ 3243-1989 Barras y obleas monocristalinas de fosfuro de indio
SJ/T 10173-1991 Célula solar de silicio monocristalino TDA75
SJ 20606-1996 Especificación para monocristal de dióxido de telurio
SJ/T 10333-1993 Métodos de medición para transistores uni-unión.
SJ/T 11450-2013 Especificaciones de consumo de energía del horno monocristalino
SJ/T 11854-2022 Horno de silicio monocristalino Czochralski para energía fotovoltaica
SJ 2268-1983 Serie de materiales multicristalinos giromagnéticos fabricados a partir de óxidos magnéticos.
SJ/T 11502-2015 Especificación para obleas de carburo de silicio monocristalino pulido
SJ/T 11505-2015 Especificación de obleas pulidas de cristal único de zafiro
SJ/T 11853-2022 Horno de silicio monocristalino de fusión de zona suspendida de presión positiva
SJ 2572-1985 Varillas y láminas de silicio monocristalino para células solares.
SJ/T 11864-2022 Sustrato monocristalino de carburo de silicio semiaislante
SJ 3245-1989 Métodos para medir la dislocación del monocristal de fosfuro de indio.
SJ 2592-1985 Filtros monolíticos de cristal de cuarzo para tipo LSP10.7MA(～E)
SJ 20641-1997 Especificación para monocristales de antimonuro de indio para uso en detectores de infrarrojos

Defense Logistics Agency, Policristalino y monocristal

DLA SMD-5962-87711 REV A-2001 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, TTL, MULTIVIBRADOR MONOESTABLE DOBLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-85508 REV C-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY DE BAJA POTENCIA, TTL, MULTIPLEXOR, SILICIO MONOLÍTICO
DLA MIL-M-38510/314 C VALID NOTICE 1-2008 MICROCIRCUITOS DIGITALES, SCHOTTKY DE BAJA POTENCIA, TTL, MULTIVIBRADORES MONOESTABLES, SILICIO MONOLÍTICO
DLA MIL-PRF-3098/79 F-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR104/U
DLA MIL-PRF-3098/85 D-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR109/U
DLA MIL-PRF-3098/93 C-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR117/U
DLA MIL-PRF-3098/102 D-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR125/U
DLA MIL-PRF-3098/106 D-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR127/U
DLA MIL-PRF-3098/114 D-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR135/U
DLA MIL-PRF-3098/123 D-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR142/U
DLA MIL-PRF-3098/129 D-2009 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR148/U
DLA SMD-5962-86872 REV B-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, SCHOTTKY TTL AVANZADO, NAND BUFFER, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-97553 REV A-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, TTL, MULTIVIBRADOR MONOESTABLE, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-87533 REV B-2001
DLA SMD-5962-86833 REV C-2001 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO DE BAJA POTENCIA, PUERTAS NAND, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-85096 REV E-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO DE BAJA POTENCIA, MULTIPLEXOR, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-85097 REV F-2005 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY AVANZADO DE BAJA POTENCIA, TTL, MULTIPLEXORES, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-86869 REV C-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO DE BAJA POTENCIA, MULTIPLEXOR, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-96792 REV A-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, SCHOTTKY TTL, PUERTA NAND DE 8 ENTRADAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA QPL-3098-92-2008 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
DLA QPL-3098-93-2010 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
DLA QPL-3098-95-2010 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
DLA QPL-3098-97-2013 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
DLA QPL-3098-98-2013 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
DLA QPL-3098-99-2013 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO, ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
DLA SMD-5962-86837 REV C-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR AVANZADO DE BAJA POTENCIA, SCHOTTKY TTL, NAND GATES, SILICIO MONOLÍTICO
DLA MIL-M-38510/114 B VALID NOTICE 1-2008 MICROCIRCUITOS LINEALES, AMPLIFICADORES OPERACIONALES BI-FET, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-97581 REV A-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY AVANZADO TTL, TRIPLE 3 ENTRADAS POSITIVAS Y PUERTA, SILICIO MONOLÍTICO
DLA DSCC-DWG-94023 REV B-2007 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, MINIATURA, MONTAJE EN SUPERFICIE
DLA SMD-5962-97584 REV B-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO, PUERTA DOBLE NAND POSITIVA DE 4 ENTRADAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-90798-1992 MICROCIRCUITOS, DIGITALES, RÁPIDOS, CMOS, GENERADOR/CHECKERS DE PARIDAD IMPAR DUAL, COMPATIBLE CON TTL, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-97558 REV A-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY AVANZADO, TTL, PUERTAS NAND POSITIVAS DE 8 ENTRADAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-86708 REV A-2007 MICROCIRCUITO, DIGITAL, SCHOTTKY TTL DE BAJA CONSUMO, REGISTRO DE ALTA VELOCIDAD, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-87778 REV A-2001 MICROCIRCUITO, LINEAL, TRANSISTOR DE POTENCIA, SILICIO MONOLÍTICO
DLA MIL-M-38510/108 A VALID NOTICE 1-2008 Microcircuitos, lineales, matrices de transistores, silicio monolítico
DLA SMD-5962-87778 REV B-2011 MICROCIRCUITO, LINEAL, TRANSISTOR DE POTENCIA, SILICIO MONOLÍTICO
DLA MIL-M-38510/108 A VALID NOTICE 2-2013 Microcircuitos, lineales, matrices de transistores, silicio monolítico
DLA SMD-5962-97582 REV B-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO, DECODIFICADORES/DEMULTIPLEXORES DE 3 A 8 LÍNEAS, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-97583 REV B-2006 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, SCHOTTKY TTL AVANZADO, SELECTORES/MULTIPLEXORES DE DATOS DOBLES 1 DE 4, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-88625 REV C-2008 MICROCIRCUITO, DIGITAL, BIPOLAR, ALS SCHOTTKY TTL, CUÁDRUPLE, 1 DE 2 SELECTORES DE DATOS/MULTIPLEXORES, SILICIO MONOLÍTICO
DLA SMD-5962-86871 REV D-2006 MICROCIRCUITOS, DIGITALES, BIPOLAR, TTL SCHOTTKY AVANZADO DE BAJA CONSUMO, BÚFERS NAND POSITIVOS CUÁDRUPLES DE 2 ENTRADAS, SILICIO MONOLÍTICO

工业和信息化部, Policristalino y monocristal

YS/T 724-2016 Polvo de silicio para silicio policristalino.
YS/T 1359-2020 Polvo policristalino de tantalato de litio
YS/T 1195-2017 Tetracloruro de silicio, un subproducto del polisilicio.
JC/T 2417-2017 Material monocristalino piezoeléctrico de tetraborato de litio
YS/T 1182-2016 Especificaciones de producción de seguridad de monocristal de germanio.
SJ/T 2268-2018 Serie de materiales de ferrita policristalina giromagnética.
YS/T 1500-2021 El silicio policristalino prepara una placa de plata para el revestimiento del horno
YS/T 1590-2022 Requisitos de evaluación de fábrica ecológica de la industria del silicio policristalino
YB/T 4589-2017 Materiales compuestos de carbono/carbono para aislamiento de hornos monocristalinos
XB/T 520-2021 Centelleador policristalino de granate de aluminio, galio y gadolinio dopado con cerio
YB/T 4587-2017 Elemento calefactor compuesto de carbono/carbono para horno monocristalino

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Policristalino y monocristal

YS/T 554-2007 Monocristales de niobato de litio
YS/T 42-2010 Monocristales de tantalato de litio
YS/T 554-2006 Monocristal de niobato de litio
YS/T 1167-2016 Obleas grabadas de silicio monocristalino
YS/T 1061-2015
YS 783-2012 La norma de consumo de energía por unidad de producto de monocristal de germanio infrarrojo.
YS/T 978-2014 Escudo guía de compuestos de carbono/carbono de horno monocristalino
YS/T 977-2014 Cilindro de aislamiento térmico de compuestos de carbono/carbono de horno monocristalino
YS/T 792-2012 Crisol de compuestos carbono-carbono utilizado en horno monocristalino

German Institute for Standardization, Policristalino y monocristal

DIN V VDE V 0126-18-3:2007 Obleas solares - Parte 3: Daño por corrosión alcalina de obleas de silicio cristalino - Método para determinar la velocidad de corrosión de obleas de silicio mono y multicristalinas (tal como se cortan)
DIN EN IEC 60122-4:2019-10 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Unidades de cristal con termistores (IEC 60122-4:2019); Versión alemana EN IEC 60122-4:2019
DIN EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
DIN EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
DIN EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
DIN EN 13925-3:2005-07 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
DIN EN 13925-2:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
DIN EN 60444-9:2007-12 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 9: Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico (IEC 60444-9:2007); Versión alemana EN 60444-9:2007
DIN EN 62276:2017-08 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW): especificaciones y métodos de medición (IEC 62276:2016); Versión alemana EN 62276:2016 / Nota: DIN EN 62276 (2013-08) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 28-11-2019.
DIN EN IEC 62276:2023-05 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición (IEC 49/1401/CD:2022); Texto en alemán e inglés / Nota: Fecha de emisión 2023-04-28*Destinado a sustituir a DIN EN 62276 (2017-08).
DIN EN 13925-1:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
DIN EN 120007:1993-06 Especificación detallada en blanco: Pantallas de cristal líquido; LCD monocromáticos sin circuito electrónico; Versión alemana EN 120007:1992
DIN EN 120007:1993 Especificación detallada en blanco: Pantallas de cristal líquido; LCD monocromáticos sin circuito electrónico; Versión alemana EN 120007:1992
DIN EN 60444-8:2017-11 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 8: Dispositivo de prueba para unidades de cristal de cuarzo montadas en superficie (IEC 60444-8:2016); Versión alemana EN 60444-8:2017 / Nota: DIN EN 60444-8 (2004-03) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 19 de enero de 2020.
DIN IEC 60122-2:1993-09 Unidades de cristal de cuarzo para control y selección de frecuencia; parte 2: guía para el uso de unidades de cristal de cuarzo para el control y selección de frecuencia; idéntico a IEC 60122-2:1983
DIN ISO 16463:2005 Insertos de diamante policristalino, con punta. Dimensiones, tipos (ISO 16463:2004); versión inglesa de DIN ISO 16463:2005.
DIN EN 60444-7:2004-11 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 7: Medición de la actividad y caídas de frecuencia de unidades de cristal de cuarzo (IEC 60444-7:2004); Versión alemana EN 60444-7:2004
DIN EN 1330-11:2007-09 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos; Versión trilingüe EN 1330-11:2007
DIN EN 61747-4:2013-07 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 4: Módulos y celdas de visualización de cristal líquido. Clasificaciones y características esenciales (IEC 61747-4:2012); Versión alemana EN 61747-4:2012 / Nota: DIN EN 61747-4 (1999-07) sigue siendo válida junto con esta norma hasta el 20...

RU-GOST R, Policristalino y monocristal

GOST 19658-1981 Silicio monocristalino en lingotes. Especificaciones
GOST 16153-1980 Germanio monocristalino. Especificaciones
GOST R IEC 61747-20-1-2017 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 20-1. Inspección visual. Celdas de visualización de cristal líquido monocromáticas (excluidas todas las celdas de visualización de cristal líquido de matriz activa)
GOST R IEC 61747-3-2017 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 3. Celdas de pantalla de cristal líquido (LCD). Especificación seccional

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Policristalino y monocristal

JIS B 4133:1983 Troqueles de diamante policristalino para trefilado.
JIS C 6760:2014 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW). Especificaciones y métodos de medición.
JIS C 7311:1980 Fiabilidad asegurada TTL, puertas nand positivas, circuitos integrados

Yunnan Provincial Standard of the People's Republic of China, Policristalino y monocristal

DB53/T 499-2013 Triclorosilano para polisilicio

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Policristalino y monocristal

GJB 582-1988 Fluoruro de magnesio policristalino para lentes
GJB 3076A-2021 Especificación de chip único de fosfuro de galio
GJB 3076-1997 Especificación de chip único de fosfuro de galio
GJB 2917A-2018 Especificación de oblea única de fosfuro de indio
GJB 2917A-2004 Especificación de oblea única de fosfuro de indio
GJB 2917-1997 Especificación de oblea única de fosfuro de indio
GJB 582A-2020 Especificación para fluoruro de magnesio policristalino para lentes
GJB 1926-1994 Especificación del material monocristalino de arseniuro de galio
GJB 10342-2021 Especificación para obleas monocristalinas de antimonuro de indio pulido
GJB 10343-2021 Especificación para obleas monocristalinas de antimonuro de galio pulido
GJB 393-1987 Campana de fluoruro de magnesio policristalino para misiles aire-aire
GJB 1927A-2021 Método de prueba de material monocristalino de arseniuro de galio
GJB 1927-1994 Método de prueba de material monocristalino de arseniuro de galio
GJB 393B-2015 Especificación para carenados de fluoruro de magnesio policristalino para misiles
GJB 393A-1995 Especificación para carenados de fluoruro de magnesio policristalino para misiles
GJB 9804-2020 Especificación para varillas monocristalinas de aleación de molibdeno-niobio para uso nuclear
GJB 8715-2015 Especificación para láminas planas de fluoruro de magnesio policristalino prensadas en caliente para aplicaciones de misiles
GJB 1431-1992 Especificaciones generales para células solares de silicio monocristalino para uso espacial.
GJB 395-1987 Fluoruro de magnesio monocristalino para placa de modulación de misiles aire-aire
GJB 8714-2015 Especificación para materiales de carenado de sulfuro de zinc policristalino para misiles

ES-UNE, Policristalino y monocristal

UNE-EN 168100:1993 SS: UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO. (Ratificada por AENOR en noviembre de 1996.)
UNE-EN 120007:1992 BDS: DISPLAYS DE CRISTAL LÍQUIDO. LCDS MONOCROMOS SIN CIRCUITO ELECTRÓNICO. (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
UNE-EN 168200/A1:1993 SS: UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO (APROBACIÓN DE CALIFICACIÓN). (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
UNE-EN 168200:1993 SS: UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO (APROBACIÓN DE CALIFICACIÓN). (Ratificada por AENOR en septiembre de 1996.)
UNE-EN 62276:2016 Obleas monocristalinas para aplicaciones en dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW) - Especificaciones y métodos de medida (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en enero de 2017.)
UNE-EN 61747-3:2006 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 3: Celdas de visualización de cristal líquido (LCD). Especificación seccional (IEC 61747-3:2006). (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)
UNE-EN 60444-9:2007 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 9: Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico (IEC 60444-9:2007). (Ratificada por AENOR en agosto de 2007.)
UNE-EN 61747-4:2012 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 4: Módulos y celdas de visualización de cristal líquido - Clasificaciones y características esenciales (Ratificada por AENOR en febrero de 2013.)

Jiangxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Policristalino y monocristal

DB36/ 652-2012 La norma de consumo de energía por unidad de producto de polisilicio.
DB36/ 771-2013 Cuota de consumo de energía por unidad de producto de silicio monocristalino de Czochralski

HU-MSZT, Policristalino y monocristal

MSZ 12435/3-1977 SZ?LL?T?G?PEK F? M?SZAKI JELLEMZ?I Sodronyk?télpályák

British Standards Institution (BSI), Policristalino y monocristal

BS EN 13925-2:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
BS EN 13925-3:2005(2009) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
BS EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
BS EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
BS EN 13925-1:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
BS EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
13/30276532 DC BS EN 61747-20-1. Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 20-1. Inspección visual. Celdas de visualización de cristal líquido monocromáticas (excluidas todas las celdas de visualización de cristal líquido de matriz activa)
BS EN 61747-2-1:1998 Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido. Módulos LCD monocromáticos de matriz pasiva. Especificación de detalle en blanco
BS EN 61747-2-1:2013 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Módulos LCD monocromáticos de matriz pasiva. Especificación de detalle en blanco
14/30277702 DC BS EN 61747-3. Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 3. Celdas de pantalla de cristal líquido (LCD). Especificación seccional
BS EN 62047-9:2011 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Medición de la fuerza de unión de oblea a oblea para MEMS
BS EN 62047-9:2013 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Medición de la fuerza de unión de oblea a oblea para MEMS
BS EN 61747-2-1:2001 Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido - Módulos LCD monocromáticos de matriz pasiva - Especificación detallada en blanco
23/30468947 DC BS EN 62276. Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW). Especificaciones y métodos de medición.

IN-BIS, Policristalino y monocristal

IS 9709-1980
IS 4570 Pt.11-1989 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 11 SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE DOS PINES, METÁLICO, SOLDADO, TIPO DQ
IS 4570 Pt.8-1985 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 8 SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE TRES HILOS, METÁLICO, SOLDADO, TIPO DK
IS 4570 Pt.13/Sec.5-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 5 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 05
IS 4570 Pt.13/Sec.4-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 4 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 04
IS 3136-1965 ESPECIFICACIÓN PARA EQUIPO RECTIFICADOR DE SEMICONDUCTOR POLICRISTALINO (Primera reimpresión, ABRIL DE 1980)
IS 2511-1963 ESPECIFICACIÓN PARA PILAS DE RECTIFICADORES DE SEMICONDUCTORES POLICRISTALINOS
IS 4570 Pt.6-1984 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 6 METAL, SELLO DE SOLDADURA, SOPORTE DE UNIDAD DE CRISTAL DE DOS PINES TIPO CX
IS 4570 Pt.13/Sec.3-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDAD DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 3 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 03
IS 4570 Pt.13/Sec.2-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 2 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 02
IS 4570 Pt.13/Sec.1-1993 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL — ESPECIFICACIÓN PARTE 13 ESQUEMA DEL SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO PARA MANEJO AUTOMÁTICO Sección 1 Soporte de unidad de cristal de dos pines, metálico, sellado, tipo CU 01
IS 4570 Pt.7-1985 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 7 MICROMINIATURA, METAL, SELLO DE SOLDADURA, SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE DOS HILOS TIPO DJ
IS 4570 Pt.12-1989 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 12 SOPORTE DE UNIDADES DE CRISTAL DE DOS HILOS, MICROMINIATURA, METÁLICO, SOLDADO EN FRÍO, TIPO EB
IS 4570 Pt.3-1984 ESPECIFICACIÓN PARA SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL PARTE 3 SOPORTES DE UNIDADES DE CRISTAL TIPO TUBO (VIDRIO) TIPOS AP, AR, AS, AT Y AU
IS 8271 Pt.2/Sec.3-1981 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅱ SERIE AA Sección 3 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-03
IS 8271 Pt.2/Sec.5-1981 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅱ SERIE AA Sección 5 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-05
IS 8271 Pt.2/Sec.2-1981 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅱ SERIE AA Sección 2 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-02
IS 8271 Pt.2/Sec.1-1981 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅱ SERIE AA Sección 1 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-01
IS 8271 Pt.2/Sec.4-1981 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅱ SERIE AA Sección 4 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-04
IS 8271 Pt.2/Sec.6-1981 ESPECIFICACIÓN PARA UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO UTILIZADAS EN OSCILADORES PARTE Ⅱ SERIE AA Sección 6 Unidad de cristal de cuarzo tipo AA-06

U.S. Military Regulations and Norms, Policristalino y monocristal

ARMY MIL-PRF-3098/104 F-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR102/U
ARMY MIL-PRF-3098/105 H-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR103/U
ARMY MIL-PRF-3098/80 G-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR105/U
ARMY MIL-PRF-3098/88 H-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR112/U
ARMY MIL-PRF-3098/86 F-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR110/U
ARMY MIL-PRF-3098/82 E-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR106/U
ARMY MIL-PRF-3098/83 G-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR107/U
ARMY MIL-PRF-3098/89 E-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR113/U
ARMY MIL-PRF-3098/92 F-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR116/U
ARMY MIL-PRF-3098/100 E-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR123/U
ARMY MIL-PRF-3098/99 E-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR122/U
ARMY MIL-PRF-3098/108 E-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR128/U
ARMY MIL-PRF-3098/101 D-2013 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR124/U
ARMY MIL-PRF-3098/113 E-2011 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR134/U
ARMY MIL-PRF-3098/115 E-2011 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR136/U
ARMY MIL-PRF-3098/116 E-2011 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR137/U
ARMY MIL-PRF-3098/120 E-2011 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR131/U
ARMY MIL-PRF-3098/132 E-2011 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR151/U
ARMY MIL-PRF-3098/137 D-2011 UNIDAD DE CRISTAL, CUARZO, CR157/U
ARMY MIL-PRF-3098 K-2010 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
ARMY MIL-PRF-3098 K (1)-2011 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
ARMY MIL-PRF-3098 K (1) SUPP 1-2013 UNIDADES DE CRISTAL DE CUARZO ESPECIFICACIÓN GENERAL PARA
ARMY QPL-55681-QPD-2010 Condensador, Chip, Capa Múltiple, Fijo, Dieléctrico Cerámico

Professional Standard - Medicine, Policristalino y monocristal

YY 0290.9-2010 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 9: Lentes intraoculares multifocales.

American National Standards Institute （ANSI), Policristalino y monocristal

ANSI/ASTM D6058:2001 Práctica para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral
ANSI/ASTM D6057:2001 Método de prueba para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía de contraste de fases

Association Francaise de Normalisation, Policristalino y monocristal

NF C93-616:2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW): especificaciones y métodos de medición
NF C26-400:1971 CERÁMICA DE ALÚMINA POLICRISTALINA. MÉTODOS DE PRUEBA.
NF ISO 16463:2014 Insertos soldados con diamante policristalino - Dimensiones, tipos
NF EN 61747-3:2007 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 3: celdas de visualización de cristal líquido (LCD). Especificación intermedia.
NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: instrumentos.
NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 2: procedimientos.
NF EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
NF C93-616*NF EN 62276:2018 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición
NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 1: principios generales.
NF EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: procedimientos
NF EN 61747-3-1:2006 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 3-1: Celdas de visualización de cristal líquido (LCD) - Marco de especificaciones particulares
NF E66-314:2004 Insertos de diamante policristalino, con punta - Dimensiones, tipos.
NF E66-314*NF ISO 16463:2014 Insertos de diamante policristalino, con punta - Dimensiones, tipos
NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 3: equipos
NF EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 1: principios generales
NF EN 61747-4:2013 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 4: módulos y celdas de visualización de cristal líquido - Valores límite y características esenciales
NF A09-020-11*NF EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos.
NF C93-547-2-1*NF EN 61747-2-1:2013 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 2-1: módulos LCD monocromáticos de matriz pasiva - Especificación detallada en blanco

IEC - International Electrotechnical Commission, Policristalino y monocristal

IEC 61747-20-1:2015 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 20-1: Inspección visual - Celdas de visualización de cristal líquido monocromáticas (excluidas todas las celdas de visualización de cristal líquido de matriz activa) (Edición 1.0)
PAS 62276-2001 Obleas monocristalinas aplicadas a dispositivos de ondas acústicas de superficie: especificación y método de medición (Edición 1.0)

CEN - European Committee for Standardization, Policristalino y monocristal

EN IEC 60122-4:2019 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 4: Unidades de cristal con termistores

KR-KS, Policristalino y monocristal

KS C IEC 60122-4-2022 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada. Parte 4: Unidades de cristal con termistores.

Danish Standards Foundation, Policristalino y monocristal

DS/EN 61747-3:2007
DS/EN ISO 11979-9:2007 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 9: Lentes intraoculares multifocales
DS/EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
DS/EN 60444-9:2007
DS/EN 62276:2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición
DS/EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.
DS/EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
DS/EN 61747-3-1:2007
DS/EN 61747-4:2013 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 4: Módulos y celdas de visualización de cristal líquido. Clasificaciones y características esenciales.

未注明发布机构, Policristalino y monocristal

BS EN ISO 11979-9:2006+A1:2014 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 9: Lentes intraoculares multifocales.

International Electrotechnical Commission (IEC), Policristalino y monocristal

IEC 60122-4:2019 Unidades de cristal de cuarzo de calidad evaluada - Parte 4: Unidades de cristal con termistores
IEC 61747-3:2015 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 3: Celdas de visualización de cristal líquido (LCD) - Especificación seccional
IEC 61747-2-1:2013 Dispositivos de visualización de cristal líquido - Parte 2-1: Módulos LCD monocromáticos de matriz pasiva - Especificación detallada en blanco

ANSI - American National Standards Institute, Policristalino y monocristal

Z80.12-2007 Oftálmica - Lentes Intraoculares Multifocales (VC)

Professional Standard - Building Materials, Policristalino y monocristal

JC/T 2143-2012 Materiales cerámicos a base de circonio tetragonal.
JC/T 1048-2007 Crisoles de cuarzo fundido para el crecimiento de silicio monocristalino
JC/T 1048-2018 Crisol de cuarzo para crecimiento de silicio monocristalino.
JC/T 2025-2010 Monocristales piezoeléctricos de titanato de niobato de magnesio y plomo (PMNT)
JC/T 2349-2015 Componentes aislantes cerámicos SiN para la producción de silicio policristalino.
JC/T 2343-2015 Tubo de alúmina monocristalino preparado mediante crecimiento de cristal alimentado con película de borde definido
JC/T 2067-2011 Crisol cerámico de sílice fundida para el crecimiento de cristales de silicio policristalino solar

Professional Standard - Aviation, Policristalino y monocristal

HB 6742-1993 Determinación de la orientación del cristal de láminas de cristal único mediante fotografía Laue con retrosoplado de rayos X
HB 7762-2005 Especificación para aleaciones maestras de superaleaciones monocristalinas y solidificadas direccionalmente para motores de aviación

SE-SIS, Policristalino y monocristal

SIS SEN 43 60 01-1964 Unidades de cristal de cuarzo para osciladores.
SIS SS-CECC 68000-1991 Especificación genérica: unidades de cristal de cuarzo.
SIS SEN 27 06-1962 Pilas y equipos de rectificadores de semiconductores policristalinos.
SIS SS-CECC 68100-1991 Especificación seccional: Unidades de cristal de cuarzo (aprobación de capacidad)
SIS SS-CECC 68200-1991 Especificación seccional: Unidades de cristal de cuarzo (Aprobación de calificación)

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Policristalino y monocristal

JJG 48-2004 Rebanada estándar de resistividad de silicio monocristalino
JJG 629-2014
JJG 629-1989 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
JJG(地质) 1014-1990 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Policristalino y monocristal

YB 1603-1983 Discos de corte y desbaste monocristalinos de silicio

机械电子工业部, Policristalino y monocristal

JB 5203-1991 Método de análisis químico de corindón monocristalino.

European Committee for Standardization (CEN), Policristalino y monocristal

EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos

International Organization for Standardization (ISO), Policristalino y monocristal

ISO 11979-9:2006 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 9: Lentes intraoculares multifocales
ISO 11979-9:2006/Amd 1:2014 Implantes oftálmicos - Lentes intraoculares - Parte 9: Lentes intraoculares multifocales; Enmienda 1
ISO 16463:2004 Insertos de diamante policristalino, con punta - Dimensiones, tipos
ISO 16463:2014 Insertos de diamante policristalino, con punta - Dimensiones, tipos
ISO/TTA 3:2001 Materiales policristalinos - Determinación de tensiones residuales mediante difracción de neutrones

Lithuanian Standards Office , Policristalino y monocristal

LST EN 13925-3-2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
LST EN 13925-2-2004 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
LST EN 13925-1-2004 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.
LST EN 1330-11-2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
LST EN 61747-3-2007 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 3: Celdas de visualización de cristal líquido (LCD). Especificación seccional (IEC 61747-3:2006).
LST EN ISO 11979-9:2007 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 9: Lentes intraoculares multifocales (ISO 11979-9:2006)
LST EN 120007-2001 Especificación detallada en blanco. Pantallas de cristal líquido. LCD monocromáticos sin circuito electrónico
LST EN 60444-9-2007 Medición de parámetros de unidades de cristal de cuarzo. Parte 9: Medición de resonancias espurias de unidades de cristal piezoeléctrico (IEC 60444-9:2007)
LST EN 62276-2006 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW). Especificaciones y métodos de medición (IEC 62276:2005)
LST EN 62276-2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas de superficie (SAW): especificaciones y métodos de medición (IEC 62276:2012)

AENOR, Policristalino y monocristal

UNE-EN 13925-2:2004 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
UNE-EN 13925-3:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
UNE-EN 13925-1:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.
UNE-EN ISO 11979-9:2007 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 9: Lentes intraoculares multifocales (ISO 11979-9:2006)
UNE-EN ISO 11979-9:2007/A1:2014 Implantes oftálmicos. Lentes intraoculares. Parte 9: Lentes intraoculares multifocales (ISO 11979-9:2006/Amd 1:2014)
UNE-EN 1330-11:2008 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Términos utilizados en la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos

American Society for Testing and Materials (ASTM), Policristalino y monocristal

ASTM E2627-13(2019) Práctica estándar para determinar el tamaño promedio de grano mediante difracción de retrodispersión de electrones (EBSD) en materiales policristalinos completamente recristalizados
ASTM F1723-96 Práctica estándar para la evaluación de varillas de silicio policristalino mediante espectroscopía y crecimiento de cristales de zona flotante
ASTM F847-94(1999) Métodos de prueba estándar para medir la orientación cristalográfica de planos en obleas de silicio monocristalino mediante técnicas de rayos X
ASTM D6058-96(2011) Práctica estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral
ASTM D6058-96(2016)
ASTM E1181-02(2015) Métodos de prueba estándar para caracterizar tamaños de grano dúplex

Professional Standard - Education, Policristalino y monocristal

JY/T 0587-2020 Principios generales de los métodos de difracción de rayos X de policristales.
JY/T 009-1996 Principios generales del método de derivación de rayos X de policristales con objetivo giratorio

Association of German Mechanical Engineers, Policristalino y monocristal

VDI/VDE 5575 Blatt 8-2013 Sistemas ópticos de rayos X - Cristales monocromadores

CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Policristalino y monocristal

EN 62276:2013 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Policristalino y monocristal

EN 62276:2016 Obleas monocristalinas para aplicaciones de dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW): especificaciones y métodos de medición
EN 61747-4:2012 Dispositivos de visualización de cristal líquido. Parte 4: Módulos y celdas de visualización de cristal líquido. Clasificaciones y características esenciales.

IECQ - IEC: Quality Assessment System for Electronic Components, Policristalino y monocristal

QC 720200-1998 Dispositivos de visualización de cristal líquido y de estado sólido - Parte 3: Especificación seccional para celdas de visualización de cristal líquido (LCD)

Inner Mongolia Provincial Standard of the People's Republic of China, Policristalino y monocristal

DB15/T 2234-2021 Cuota de consumo de energía por unidad de producto de silicio monocristalino de Czochralski

ESDU - Engineering Sciences Data Unit, Policristalino y monocristal

ESDU 81027 A-1982 Estructuras reticulares. Parte 1: fuerzas medias de fluidos en marcos planos simples y múltiples.

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Policristalino y monocristal

GJB 6466-2008 Especificación para placas de fluoruro de magnesio policristalino prensadas en caliente para misiles
GJB 5907-2006 Especificación para materiales de cúpula de sulfuro de zinc policristalino para misiles

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Policristalino y monocristal

JJF 1256-2010 Especificación de calibración para equipos de orientación de monocristales de rayos X

Shaanxi Provincial Standard of the People's Republic of China, Policristalino y monocristal

DB61/T 512-2011 Normas de inspección para obleas de silicio monocristalino para células solares
DB61/T 511-2011 Normas de inspección para varillas de silicio monocristalino para células solares.

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Policristalino y monocristal

DB31/ 792-2014 Norma de consumo de energía por unidad de producto para silicio monocristalino y obleas de silicio.
DB31/T 792-2014 Cuota de consumo de energía por unidad de producto de monocristal de silicio y su oblea de silicio
DB31/ 792-2020 Cuota de consumo de energía por unidad de producto de monocristal de silicio y su oblea de silicio

Professional Standard - Aerospace, Policristalino y monocristal

QJ 2169-1991 Condiciones técnicas para carenado de fluoruro de magnesio policristalino de 300 mm de diámetro.