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Microscopio óptico y microscopio de barrido.

Microscopio óptico y microscopio de barrido., Total: 481 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Microscopio óptico y microscopio de barrido. son: Metales no ferrosos, Equipo óptico, Ceras, materias bituminosas y otros productos petrolíferos, Medidas lineales y angulares., Química analítica, Vocabularios, Calidad del aire, Óptica y medidas ópticas., Sistemas de máquinas herramienta, Educación, Termodinámica y mediciones de temperatura., Calidad, Dispositivos de visualización electrónica., Equipo medico, Protección contra el crimen, Optoelectrónica. Equipo láser, Alambres y cables eléctricos., Tratamiento superficial y revestimiento., Materiales de construcción, Pruebas no destructivas, Pruebas mecánicas, Fotografía, Análisis del tamaño de partículas. tamizado, Microbiología, Pinturas y barnices, carbones, Productos de la industria textil., Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., Productos de hierro y acero., pruebas de metales, Cerámica, Física. Química, Sistemas de energía fluida, Dispositivos semiconductores, Circuitos integrados. Microelectrónica, Ingredientes de pintura.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Microscopio óptico y microscopio de barrido.

KS D 2714-2016(2021) Microscopio de sonda de barrido－Método para microscopio de fuerza lateral
KS D 2714-2016 Microscopio de sonda de barrido－Método para microscopio de fuerza lateral
KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS B ISO 8576-2006(2016) Óptica e instrumentos ópticos — Microscopios — Sistema de referencia de microscopía de luz polarizada
KS M 2617-2007(2017) Óptica e instrumentos ópticos－Microscopios－Aceite de inmersión para uso general en microscopía óptica.
KS B ISO 15227:2013 Óptica e instrumentos ópticos ― microscopios ― pruebas de microscopios estereoscópicos
KS B ISO 15227:2003 Óptica e instrumentos ópticos-Microscopios-Ensayos de microscopios estereoscópicos
KS B ISO 15227:2018 Óptica e instrumentos ópticos — Microscopios — Ensayos de microscopios estereoscópicos
KS M 2617-2007(2022) Óptica e instrumentos ópticos－Microscopios－Aceite de inmersión para uso general en microscopía óptica.
KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Vocabulario
KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS B ISO 8576:2006 Óptica e instrumentos ópticos－Microscopios－Sistema de referencia de microscopía de luz polarizada.
KS B ISO 10934-1:2004 Óptica e instrumentos ópticos－Vocabulario de microscopía－Parte 1：Microscopía óptica
KS B ISO 10934-1:2019 Óptica e instrumentos ópticos. Vocabulario de microscopía. Parte 1: Microscopía óptica.
KS B ISO 8576-2006(2021) Óptica e instrumentos ópticos — Microscopios — Sistema de referencia de microscopía de luz polarizada
KS D 2713-2016 Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
KS D 2713-2016(2021) Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
KS M 0044-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS I 0051-1999(2019) Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS B ISO 8036-1:2006 Óptica e instrumentos ópticos－Microscopios－Parte 1:Aceite de inmersión para uso general en microscopía óptica.
KS B ISO 8036-1:2008 Óptica e instrumentos ópticos－Microscopios－Parte 1:Aceite de inmersión para uso general en microscopía óptica.
KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
KS B ISO 10934-2-2011(2021) Óptica e instrumentos ópticos－Vocabulario para microscopía－Parte 2：Técnicas avanzadas en microscopía óptica
KS B ISO 10934-2-2011(2016) Óptica e instrumentos ópticos－Vocabulario para microscopía－Parte 2：Técnicas avanzadas en microscopía óptica
KS B ISO 10934-2:2011 Óptica e instrumentos ópticos－Vocabulario para microscopía－Parte 2：Técnicas avanzadas en microscopía óptica
KS B ISO 11884-2-2011(2016) Óptica y fotónica－Requisitos mínimos para microscopio estereoscópico－Parte 2: Microscopios de alto rendimiento
KS B ISO 11884-2-2011(2021) Óptica y fotónica－Requisitos mínimos para microscopio estereoscópico－Parte 2: Microscopios de alto rendimiento
KS B ISO 8578-2016(2021) Óptica e instrumentos ópticos－Microscopios－Marcado de objetivos y oculares
KS B ISO 11884-2:2011 Óptica y fotónica－Requisitos mínimos para microscopio estereoscópico－Parte 2: Microscopios de alto rendimiento
KS P ISO 10936-2:2020 Óptica y fotónica. Microscopios quirúrgicos. Parte 2: Peligro luminoso procedente de los microscopios quirúrgicos utilizados en cirugía ocular.
KS B ISO 8039:2006 Óptica e instrumentos ópticos Microscopios Aumentos
KS B ISO 8039-2016(2021) Óptica e instrumentos ópticos Microscopios Aumentos
KS B ISO 8039:2016 Óptica e instrumentos ópticos Microscopios Aumentos
KS D ISO 16700-2013(2018) Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS D 2714-2006 Microscopio de sonda de barrido-Método para microscopio de fuerza lateral
KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz－Microscopía electrónica de barrido－Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
KS B ISO 8040:2006 Óptica e instrumentos ópticos－Microscopios－Dimensiones de las conexiones del portaobjetos y de las ranuras del tubo
KS D ISO 9220:2009 Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2009(2022) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS D ISO 9220-2009(2017) Recubrimientos metálicos－Medición del espesor del recubrimiento－Método de microscopio electrónico de barrido
KS B ISO 12853:2006 Óptica e instrumentos ópticos-Microscopios-Información proporcionada al usuario
KS B ISO 12853-2016(2021) Óptica e instrumentos ópticos－Microscopios－Información proporcionada al usuario
KS B ISO 12853:2016 Óptica e instrumentos ópticos－Microscopios－Información proporcionada al usuario
KS B ISO 19012-1-2016(2021) Óptica y fotónica－Designación de objetivos del microscopio－Parte 1：Planitud del campo/Plano
KS B ISO 15362:2006 Óptica e instrumentos ópticos-Estereomicroscopios-Información proporcionada al usuario
KS B ISO 8040-2006(2021) Óptica y fotónica — Microscopios — Dimensiones de las conexiones de portaobjetos y ranuras para tubos
KS B ISO 15362-2016(2021) Óptica e instrumentos ópticos－Estereomicroscopios－Información proporcionada al usuario
KS B ISO 8478-2006(2016) Óptica y fotónica — Microscopios — Dimensiones de las conexiones de portaobjetos y ranuras para tubos
KS B ISO 8478-2006(2021) Óptica y fotónica — Microscopios — Dimensiones de las conexiones de portaobjetos y ranuras para tubos
KS B ISO 15362:2016 Óptica e instrumentos ópticos－Estereomicroscopios－Información proporcionada al usuario
KS B ISO 8040-2006(2016) Óptica y fotónica — Microscopios — Dimensiones de las conexiones de portaobjetos y ranuras para tubos
KS D 2713-2006 Evaluación de la resolución espacial de NSOM (microscopio óptico de barrido de campo cercano)
KS B ISO 8038-1:2006 Óptica e instrumentos ópticos－Microscopios－Roscas para objetivos y revólveres relacionados－Parte 1: Rosca tipo RMS (4/5 pulg. × 1/36 pulg.)
KS B ISO 8038-2:2006 Óptica e instrumentos ópticos－Roscas para objetivos de microscopio y revólveres relacionados－Parte 2: Rosca tipo M25×0,75 mm
KS B ISO 8038-2-2006(2016) Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios. Roscas de tornillos para objetivos y revólveres relacionados. Parte 2: Rosca de tornillo tipo M25 × 0,75 mm.
KS B ISO 8038-2-2006(2021) Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios. Roscas de tornillos para objetivos y revólveres relacionados. Parte 2: Rosca de tornillo tipo M25 × 0,75 mm.
KS B ISO 10936-1:2006 Óptica e instrumentos ópticos－Microscopios de operación－Parte 1: Requisitos y métodos de prueba
KS B ISO 10936-1-2006(2016) Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios operativos. Parte 1: Requisitos y métodos de prueba.
KS B ISO 10936-1-2006(2021) Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios operativos. Parte 1: Requisitos y métodos de prueba.
KS B ISO 14880-2:2013 Óptica y fotónica ― Conjuntos de microlentes ― Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda
KS B ISO 14880-2:2008 Óptica y fotónica-Arrays de microlentes-Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda
KS B ISO 8038-1-2006(2021) Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios. Roscas de tornillos para objetivos y revólveres relacionados. Parte 1: Rosca de tornillo tipo RMS (4/5 pulg. × 1/36 pulg.).
KS B ISO 8038-1-2006(2016) Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios. Roscas de tornillos para objetivos y revólveres relacionados. Parte 1: Rosca de tornillo tipo RMS (4/5 pulg. × 1/36 pulg.).
KS B ISO 9345-1-2016(2021) Óptica e instrumentos ópticos Microscopios. Distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos. Parte 1 Longitud del tubo 160 mm.
KS I ISO 4407:2017 Energía de fluido hidráulico－Contaminación de fluidos－Determinación de contaminación de partículas mediante el método de conteo utilizando un microscopio óptico
KS I ISO 4407-2017(2022) Energía de fluido hidráulico－Contaminación de fluidos－Determinación de contaminación de partículas mediante el método de conteo utilizando un microscopio óptico
KS B ISO 9345-1:2006 Óptica e instrumentos ópticos Microscopios. Distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos. Parte 1 Longitud del tubo 160 mm.
KS B ISO 9345-1:2016 Óptica e instrumentos ópticos Microscopios. Distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos. Parte 1 Longitud del tubo 160 mm.
KS B ISO 9345-1-2023 Distancia de imagen de microscopios ópticos y de instrumentos ópticos en relación con los planos de referencia mecánicos Parte 1: longitud del tubo de 160 mm
KS B ISO 9345-2-2016(2021) Óptica e instrumentos ópticos － Microscopios: distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos － Parte 2: Sistemas ópticos corregidos al infinito
KS B ISO 9345-2:2006 Óptica e instrumentos ópticos-Microscopios:Distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos-Parte 2:Sistemas ópticos corregidos al infinito
KS B ISO 9345-2:2016 Óptica e instrumentos ópticos － Microscopios: distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos － Parte 2: Sistemas ópticos corregidos al infinito
KS I ISO 8672:2006 Calidad del aire: Determinación de la concentración numérica de fibras inorgánicas en el aire mediante microscopía óptica de contraste de fases (método de filtro de membrana)

Professional Standard - Commodity Inspection, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

SN/T 4388-2015 Identificación del cuero. Microscopía electrónica de barrido y microscopía óptica.
SN/T 3798-2014 Determinación de amianto en materiales de construcción y automóviles. Microscopio de luz polarizada
SN/T 3129.2-2013
SN/T 2649.1-2010 Determinación de amianto en cosméticos para importación y exportación. Parte 1: Método de difracción de rayos X y microscopía electrónica de barrido.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Microscopio óptico y microscopio de barrido.

JIS K 2400:2010 Microscopios - Líquidos de inmersión para microscopía óptica
JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
JIS K 2400 AMD 1:2015 Microscopios - Líquidos de inmersión para microscopía óptica (Enmienda 1)
JIS K 3850-1:2006 Determinación de partículas fibrosas en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
JIS K 3850-1:2000 Método de medición de partículas fibrosas en suspensión en el aire. Parte 1: Método de microscopía óptica y método de microscopía electrónica de barrido.
JIS K 0149-1:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
JIS B 7144:1995 Microscopio - Conexión de condensadores para luz transmitida con casquillos de platina
JIS K 0147-2:2017 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido
JIS R 1633:1998 Método de preparación de muestras de cerámicas finas y polvos cerámicos finos para observación con microscopio electrónico de barrido.
JIS B 7132-2:2022 Microscopios - Distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos - Parte 2: Sistemas ópticos con corrección de infinito

International Organization for Standardization (ISO), Microscopio óptico y microscopio de barrido.

ISO 8036:2015
ISO 8036:2006 Óptica y fotónica - Microscopios - Líquidos de inmersión para microscopía óptica
ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano
ISO 21073:2019 Microscopios — Microscopios confocales — Datos ópticos de microscopios confocales de fluorescencia para imágenes biológicas
ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario
ISO 15227:2000 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Ensayos de microscopios estereoscópicos
ISO 8576:1996 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Sistema de referencia de microscopía de luz polarizada
ISO 10934-1:2002 Óptica e instrumentos ópticos - Vocabulario de microscopía - Parte 1: Microscopía óptica
ISO 10934:2020 Óptica e instrumentos ópticos. Vocabulario de microscopía. Parte 1: Microscopía óptica.
ISO 8038:1985 Óptica e instrumentos ópticos; Microscopios; Rosca para objetivos
ISO 10934-2:2007 Óptica e instrumentos ópticos - Vocabulario de microscopía - Parte 2: Técnicas avanzadas en microscopía óptica
ISO 11884-2:2007 Óptica y fotónica. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Parte 2: Microscopios de alto rendimiento.
ISO 9344:1996 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Retículas para oculares
ISO 11884-1:2006 Óptica y fotónica. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Parte 1: Microscopios estereoscópicos para uso general.
ISO 10937:2000 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Diámetro de oculares intercambiables
ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
ISO 11884-1:1998 Óptica e instrumentos ópticos. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Parte 1: Microscopios estereoscópicos para uso general.
ISO/WD TR 23683:2023 Análisis químico de superficies: microscopía con sonda de barrido. Directrices para la cuantificación experimental de la concentración de portadores en dispositivos semiconductores mediante microscopía con sonda de barrido eléctrica.
ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
ISO 11039:2012 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Medición de la tasa de deriva
ISO 18115-2:2021 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles utilizando un microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
ISO 8036-1:1986 Óptica e instrumentos ópticos; Microscopios; Parte 1: Aceite de inmersión para uso general en microscopía óptica.
ISO 8578:1997/Cor 1:2002 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Marcado de objetivos y oculares; Corrigendum técnico 1
ISO 8040:2001 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Dimensiones de las conexiones del portaobjetos y de las ranuras del tubo
ISO 8040:1986 Óptica e instrumentos ópticos; Microscopios; Dimensiones de conexión de guías para tubos y ranuras para tubos
ISO 10936-2:2001 Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios quirúrgicos. Parte 2: Peligro de luz procedente de los microscopios quirúrgicos utilizados en cirugía ocular.
ISO 10936-2:2010 Óptica y fotónica. Microscopios quirúrgicos. Parte 2: Peligro de luz procedente de los microscopios quirúrgicos utilizados en cirugía ocular.
ISO 28600:2011 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos para microscopía de sonda de barrido
ISO 8038-2:2001 Óptica e instrumentos ópticos. Roscas de tornillos para objetivos de microscopio y revólveres relacionados. Parte 2: Rosca de tornillo tipo M25 x 0,75 mm.
ISO 19012-2:2009 Óptica y fotónica - Designación de objetivos de microscopio - Parte 2: Corrección cromática
ISO/TR 14880-5:2010 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 5: Orientación sobre las pruebas
ISO 9220:1988 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; método de microscopio electrónico de barrido
ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método para evaluar dimensiones críticas mediante CD-SEM.
ISO 10935:1996 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Conexión de interfaz tipo C
ISO 11775:2015
ISO 19012-1:2007 Óptica y fotónica - Designación de objetivos de microscopio - Parte 1: Planitud del campo/Plano
ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
ISO 18115-2:2010 Analyse chimique des Surfaces — Vocabulaire — Partie 2: Termes utilisés en microscopie à sonde à balayage (Première édition)
ISO 11952:2019 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: calibración de sistemas de medición.
ISO 11952:2014 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: calibración de sistemas de medición
ISO 15362:1998 Óptica e instrumentos ópticos - Estereomicroscopios - Información proporcionada al usuario
ISO 18115-2:2013 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
ISO 10936-1:2017 Óptica y fotónica - Microscopios operativos - Parte 1: Requisitos y métodos de prueba
ISO 14880-1:2001/Cor 2:2005 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 1: Vocabulario; Corrigendum técnico 2
ISO 14880-1:2016 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 1: Vocabulario y propiedades generales
ISO 10936-1:2000 Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios operativos. Parte 1: Requisitos y métodos de prueba.
ISO 8037-1:1986 Óptica e instrumentos ópticos; Microscopios; Diapositivas; Parte 1: Dimensiones, propiedades ópticas y marcado.
ISO 14880-2:2006 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda
ISO 8255-1:2011 Microscopios - Cubreobjetos - Parte 1: Tolerancias dimensionales, espesores y propiedades ópticas
ISO 8255-1:2017 Microscopios - Cubreobjetos - Parte 1: Tolerancias dimensionales, espesores y propiedades ópticas
ISO 14880-4:2006 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 4: Métodos de prueba para propiedades geométricas
ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
ISO 8255-1:1986 Óptica e instrumentos ópticos; Microscopios; Cubre vasos; Parte 1: Tolerancias dimensionales, espesores y propiedades ópticas.
ISO/CD 4407 Potencia del fluido hidráulico. Contaminación del fluido. Determinación de la contaminación por partículas mediante el método de recuento utilizando un microscopio óptico.
ISO 14966:2002/cor 1:2007 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido; Corrigendum técnico 1
ISO 9345-1:1996 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos - Parte 1: Longitud del tubo 160 mm
ISO 4407:2002 Potencia del fluido hidráulico - Contaminación del fluido - Determinación de la contaminación por partículas mediante el método de conteo mediante microscopio óptico
ISO 18337:2015 Análisis químico de superficies - Caracterización de superficies - Medición de la resolución lateral de un microscopio de fluorescencia confocal
ISO 14880-3:2006 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 3: Métodos de prueba para propiedades ópticas distintas de las aberraciones del frente de onda.
ISO 9345-2:2003 Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios: distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos. Parte 2: Sistemas ópticos con corrección de infinito.
ISO 9345:2019 Microscopios. Distancias de visualización relacionadas con planos de referencia mecánicos. Parte 2: Sistemas ópticos con corrección de infinito.
ISO 8672:1993 Calidad del aire; determinación de la concentración numérica de fibras inorgánicas en el aire mediante microscopía óptica de contraste de fases; método de filtro de membrana
ISO 8672:2014 Calidad del aire - Determinación de la concentración numérica de fibras inorgánicas en el aire mediante microscopía óptica de contraste de fases - Método de filtro de membrana

British Standards Institution (BSI), Microscopio óptico y microscopio de barrido.

BS ISO 10934:2020 Microscopios. Vocabulario para microscopía óptica.
BS 7012-10.2:1997 Microscopios ópticos - Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos - Microscopios de alto rendimiento
BS 7012-12:1997 Microscopios ópticos. Sistema de referencia de microscopía de luz polarizada.
BS ISO 10934-1:2003 Óptica e instrumentos ópticos - Vocabulario de microscopía - Microscopía óptica
BS 7012-14:1997 Microscopios ópticos. Marcado de microscopios estereoscópicos.
19/30387825 DC BS ISO 10934. Microscopios. Vocabulario para microscopía óptica.
BS ISO 8036:2015 Cambios rastreados. Microscopios. Líquidos de inmersión para microscopía óptica.
BS ISO 27911:2011 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.
BS 7012-10.1:1998 Microscopios ópticos - Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos - Microscopios estereoscópicos para uso general
BS ISO 21073:2019 Microscopios. Microscopios confocales. Datos ópticos de microscopios confocales de fluorescencia para imágenes biológicas.
BS 7012-8:1997 Microscopios ópticos - Gratis para oculares
BS ISO 15227:2000 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Ensayos de microscopios estereoscópicos
BS 7012-1:1998 Microscopios ópticos: especificación para el poder de aumento de los componentes de imágenes de microscopios
BS ISO 8036:2006 Óptica y fotónica - Microscopios - Líquidos de inmersión para microscopía óptica
BS ISO 10934-2:2007 Óptica e instrumentos ópticos - Vocabulario de microscopía - Técnicas avanzadas en microscopía óptica
BS 7012-15:1997 Microscopios ópticos - Marcado de objetivos y oculares
18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
18/30339977 DC BS ISO 21073. Microscopios. Microscopios confocales. Datos ópticos de microscopios confocales de fluorescencia para imágenes biológicas.
BS ISO 11884-2:2007 Óptica y fotónica. Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos. Microscopios de alto rendimiento
BS ISO 11884-1:2006 Óptica y fotónica - Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos - Microscopios estereoscópicos de uso general
BS ISO 18115-2:2013 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
BS ISO 10936-2:2010 Óptica y fotónica - Microscopios operatorios - Peligro de luz procedente de microscopios operatorios utilizados en cirugía ocular
BS 7012-4.1:1998 Microscopios ópticos - Especificación para las roscas de los tornillos del objetivo y del revólver del microscopio - Tipo de rosca RMS (4/5 pulg. x 1/36 pulg.)
BS 7012-10.4:1998 Microscopios ópticos - Requisitos mínimos para microscopios estereoscópicos - Información proporcionada al usuario
BS 7012-6:1998 Microscopios ópticos. Especificación para filtros espectrales.
BS ISO 28600:2011 Análisis químico de superficies. Formato de transferencia de datos para microscopía con sonda de barrido.
BS EN ISO 14880-1:2005 Óptica y fotónica - Conjunto de microlentes - Vocabulario
BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
BS ISO 21466:2019 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas por CDSEM
BS ISO 18115-2:2021 Análisis químico de superficies. Vocabulario: términos utilizados en microscopía de sonda de barrido
BS ISO 8040:2001 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Dimensiones de las conexiones del portaobjetos y de las ranuras del tubo
BS EN ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
BS 7012-11:1998 Microscopios ópticos - Información proporcionada al usuario
BS 7012-0:1989 Microscopios ópticos: introducción general
BS ISO 21222:2020 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
19/30351707 DC BS ISO 21222. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Procedimiento para la determinación de módulos elásticos para materiales flexibles mediante microscopio de fuerza atómica y el método JKR de dos puntos.
BS ISO 18115-2:2010 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido
BS ISO 11775:2015 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de las constantes elásticas normales en voladizo.
BS 7012-3:1997 Microscopios ópticos: distancias de visualización relacionadas con planos de referencia mecánicos para una longitud de tubo de 160 mm
BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen
18/30344520 DC BS ISO 21466. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Método de evaluación de dimensiones críticas mediante CD-SEM
BS ISO 10936-1:2002 Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios de operación. Requisitos y métodos de prueba.
BS 7011 Sec.2.1:1989 Accesorios consumibles para microscopios ópticos. Diapositivas. Especificación de dimensiones y propiedades ópticas.
BS ISO 11039:2012 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Medición de la tasa de deriva
21/30394409 DC BS ENISO 9220. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
BS EN ISO 14880-1:2016 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Vocabulario y propiedades generales.
BS ISO 10936-1:2000 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios operativos - Requisitos y métodos de prueba
BS ISO 8255-1:2017 Cambios rastreados. Microscopios. Cubre vasos. Tolerancias dimensionales, espesores y propiedades ópticas.
BS ISO 19749:2021 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
BS EN ISO 9220:2022 Cambios rastreados. Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
BS EN ISO 14880-2:2007 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda
BS 7012-9:1997
BS ISO 8255-1:2011 Microscopios. Cubre vasos. Tolerancias dimensionales, espesores y propiedades ópticas.
BS EN ISO 14880-4:2006 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Métodos de prueba para propiedades geométricas
BS ISO 11952:2019 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: Calibración de sistemas de medida
BS EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
BS 7011-1-1.1:1998 Accesorios consumibles para microscopios ópticos - Aceites de inmersión - Especificación para aceites de inmersión de uso general
BS ISO 14966:2019 Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
BS ISO 10936-1:2017 Cambios rastreados. Óptica y fotónica. Microscopios de operación. Requisitos y métodos de prueba.
BS 7011-0:1989 Accesorios consumibles para microscopios ópticos. Introducción general
12/30265696 DC BS ISO 18115-2 AMD1. Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2. Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
18/30351679 DC BS ISO 19749. Nanotecnologías. Mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido.
BS EN ISO 14880-3:2006 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Métodos de prueba para propiedades ópticas distintas de las aberraciones del frente de onda
BS ISO 14966:2002 Aire ambiente - Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
18/30375050 DC BS ISO 14966. Aire ambiente. Determinación de la concentración numérica de partículas fibrosas inorgánicas. Método de microscopía electrónica de barrido.
DD ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
BS DD ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.
BS ISO 9345-2:2003 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos - Sistemas ópticos con corrección de infinito
BS 7011-2.2:1998 Accesorios consumibles para microscopios ópticos. Diapositivas. Especificación de materiales y calidad de acabado.
BS 7012-13:1997 Microscopios ópticos. Conexión de interfaz para cámaras fotográficas SLR de 35 mm (adaptación de rosca en T)
BS CECC 00013:1985 Sistema armonizado de evaluación de la calidad de componentes electrónicos: especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores
BS EN ISO 17751-2:2023 Textiles. Análisis cuantitativo de cachemira, lana y otras fibras animales especiales y sus mezclas: método de microscopía electrónica de barrido
BS ISO 9345-2:2014 Microscopios. Distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos. Sistemas ópticos con corrección de infinito
BS ISO 18337:2015 Análisis químico de superficies. Caracterización de superficies. Medición de la resolución lateral de un microscopio de fluorescencia confocal.
BS 7011-2.1:1989 Accesorios consumibles para microscopios ópticos - Portaobjetos - Especificación de dimensiones y propiedades ópticas
BS ISO 4407:2002 Potencia del fluido hidráulico - Contaminación del fluido - Determinación de la contaminación por partículas mediante el método de conteo mediante microscopio óptico

American Society for Testing and Materials (ASTM), Microscopio óptico y microscopio de barrido.

ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-97 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-04(2017) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
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ASTM F728-81(1997)e1 Práctica estándar para preparar un microscopio óptico para mediciones dimensionales
ASTM F72-95(2001) Especificación estándar para alambre de oro para unión de conductores de semiconductores
ASTM E986-04 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E986-04(2010) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
ASTM E766-98(2008)e1 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM C1723-16(2022) Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM C1723-10 Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
ASTM C1723-16
ASTM E1813-96e1 Práctica estándar para medir e informar la forma de la punta de la sonda en microscopía de sonda de barrido
ASTM E1813-96(2002) Práctica estándar para medir e informar la forma de la punta de la sonda en microscopía de sonda de barrido
ASTM E1813-96(2007) Práctica estándar para medir e informar la forma de la punta de la sonda en microscopía de sonda de barrido
ASTM E766-14(2019) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2090-00 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas por limpiadores de salas limpias mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
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ASTM E766-14e1
ASTM B748-90(2006) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM B748-90(1997) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2809-13 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X en exámenes de pintura forense
ASTM E1588-95(2001) Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
ASTM E1588-08 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E1588-10 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
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ASTM E2142-08(2015) Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM E2142-08 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope
ASTM D8075-16 Guía estándar para la categorización de características microestructurales y microtexturales observadas en micrografías ópticas de grafito
ASTM D8075-16(2021) Guía estándar para la categorización de características microestructurales y microtexturales observadas en micrografías ópticas de grafito
ASTM E1951-98 Guía estándar para calibrar retículas y ampliaciones de microscopios ópticos
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ASTM E1951-01 Guía estándar para calibrar retículas y ampliaciones de microscopios ópticos
ASTM E1951-14(2019) Guía estándar para calibrar retículas y ampliaciones de microscopios ópticos
ASTM B748-90(2010) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
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ASTM B748-90(2021) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2142-01 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
ASTM B748-90(2016) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E280-98(2004)e1 Radiografías de referencia estándar para piezas fundidas de acero de paredes pesadas (de 4 &189; a 12 pulgadas [114 a 305 mm])
ASTM E1588-07e1 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
ASTM E1588-07 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
ASTM E280-21 Radiografías de referencia estándar para piezas fundidas de acero de paredes pesadas (de 412 a 12 pulg. (114 a 305 mm))
ASTM E2809-22 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X de dispersión de energía (SEM/EDS) en exámenes forenses de polímeros
ASTM B748-90(2001) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
ASTM E2090-06 Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
ASTM E2090-12(2020) Método de prueba estándar para el recuento diferenciado por tamaño de partículas y fibras liberadas de limpiadores de salas blancas mediante microscopía óptica y electrónica de barrido
ASTM F1438-93(1999) Método de prueba estándar para la determinación de la rugosidad de la superficie mediante microscopía de túnel de barrido para componentes del sistema de distribución de gas
ASTM F1438-93(2020) Método de prueba estándar para la determinación de la rugosidad de la superficie mediante microscopía de túnel de barrido para componentes del sistema de distribución de gas
ASTM F1372-93(1999) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
ASTM F1372-93(2020) Método de prueba estándar para el análisis con microscopio electrónico de barrido (SEM) de la condición de la superficie metálica de los componentes del sistema de distribución de gas
ASTM F1438-93(2012)
ASTM D605-82(1996)e1 Especificación estándar para pigmento de silicato de magnesio (talco)
ASTM D6059-96(2011) Método de prueba estándar para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido

PT-IPQ, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

E E 15-1971 MICROSCOPIA ?PTICA POR REFLEX?O

Military Standards (MIL-STD), Microscopio óptico y microscopio de barrido.

DOD A-A-54970-1994 MICROSCOPIO ÓPTICO
DOD A-A-54868-1993 MICROSCOPIO ÓPTICO ESTEREOSCOPICO
DOD A-A-50852 A-1985 MICROSCOPIO ÓPTICO BINOCULAR
DOD A-A-51796 A-1991 MICROSCOPIO ÓPTICO (BINOCULAR)
DOD A-A-54386-1991 MICROSCOPIO ÓPTICO (BINOCULAR, CAMPO BRILLANTE)

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

GB/T 27668-2023 Terminología de microscopía óptica de microscopio
GB/T 26600-2011 Microscopios. Líquidos de inmersión para microscopía óptica.
GB/T 42659-2023 Análisis químico de superficies Microscopía de sonda de barrido Determinación de cantidades geométricas mediante microscopía de sonda de barrido: calibración del sistema de medición
GB/T 29190-2012 Métodos de medición de la tasa de deriva del microscopio de sonda de barrido.
GB/T 18295-2001 Método de análisis de muestras de arenisca de yacimientos de petróleo y gas mediante microscopio electrónico de barrido.
GB/T 19267.6-2003 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopía electrónica de barrido.
GB/T 17361-2013 Análisis de microhaces. Identificación de minerales arcillosos autigénicos en rocas sedimentarias mediante microscopio electrónico de barrido y espectrómetro de energía dispersiva.
GB/T 19267.6-2008 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopio electrónico de barrido/espectrometría de dispersión de energía de rayos X
GB/T 28873-2012 Guía general de microscopía electrónica de barrido ambiental para efectos biológicos sobre topografía inducidos por nanopartículas.
GB/T 17361-1998
GB/Z 26083-2010 Determinación de ftalocianina sustituida con octaacoxilo de cobre (Ⅱ) en una superficie de grafito (microscopio de efecto túnel)
GB/T 20082-2006 Potencia de fluido hidráulico-Contaminación de fluidos-Determinación de contaminación por partículas mediante el método de conteo mediante microscopio óptico

KR-KS, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

KS B ISO 15227-2018 Óptica e instrumentos ópticos — Microscopios — Ensayos de microscopios estereoscópicos
KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
KS B ISO 10934-1-2019 Óptica e instrumentos ópticos. Vocabulario de microscopía. Parte 1: Microscopía óptica.
KS B ISO 8576-2023 Óptica e instrumentos ópticos — Microscopios — Sistema de referencia de microscopía de luz polarizada
KS B ISO 8036-1-2006 Óptica e instrumentos ópticos－Microscopios－Parte 1:Aceite de inmersión para uso general en microscopía óptica.
KS B ISO 8578-2016 Óptica e instrumentos ópticos－Microscopios－Marcado de objetivos y oculares
KS B ISO 8039-2016 Óptica e instrumentos ópticos Microscopios Aumentos
KS P ISO 10936-2-2020 Óptica y fotónica. Microscopios quirúrgicos. Parte 2: Peligro luminoso procedente de los microscopios quirúrgicos utilizados en cirugía ocular.
KS B ISO 19012-1-2016 Óptica y fotónica－Designación de objetivos del microscopio－Parte 1：Planitud del campo/Plano
KS B ISO 12853-2016 Óptica e instrumentos ópticos－Microscopios－Información proporcionada al usuario
KS C ISO 19749-2023 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.
KS B ISO 15362-2016 Óptica e instrumentos ópticos－Estereomicroscopios－Información proporcionada al usuario
KS B ISO 8040-2023 Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios. Dimensiones de las conexiones del portaobjetos y de las ranuras del tubo.
KS K 5578-2023 Detección de fibras de plumas de aves terrestres en el plumaje. Método de microscopía óptica.
KS B ISO 10936-1-2023 Óptica y fotónica. Microscopios operativos. Parte 1: Requisitos y métodos de prueba.
KS B ISO 8038-2-2023 Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios. Roscas de tornillos para objetivos y revólveres relacionados. Parte 2: Tipo de rosca de tornillo M25 × 0,75 mm.
KS B ISO 8038-1-2023 Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios. Roscas de tornillos para objetivos y revólveres relacionados. Parte 1: Rosca de tornillo tipo RMS (4/5 pulg. × 1/36 pulg.).
KS I ISO 4407-2017 Energía de fluido hidráulico－Contaminación de fluidos－Determinación de contaminación de partículas mediante el método de conteo utilizando un microscopio óptico
KS B ISO 9345-2-2016 Óptica e instrumentos ópticos － Microscopios: distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos － Parte 2: Sistemas ópticos corregidos al infinito
KS B ISO 9345-2-2023 Microscopios. Distancias de visualización relacionadas con planos de referencia mecánicos. Parte 2: Sistemas ópticos con corrección de infinito.

German Institute for Standardization, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

DIN ISO 8576:2002-06 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Sistema de referencia de microscopía de luz polarizada (ISO 8576:1996)
DIN ISO 8577:2001 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Filtros espectrales (ISO 8577:1997)
DIN 58629-1:2006 Óptica e instrumentos ópticos - Vocabulario de microscopía - Parte 1: Microscopía óptica
DIN ISO 8576:2002 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Sistema de referencia de microscopía de luz polarizada (ISO 8576:1996)
DIN ISO 10937:2003 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Diámetro de oculares intercambiables (ISO 10937:2000)
DIN ISO 8040:2003 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Dimensiones de las conexiones del portaobjetos y de las ranuras del tubo (ISO 8040:2001)
DIN EN ISO 9220:2022-05 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022); Versión alemana EN ISO 9220:2022
DIN SPEC 52407:2015-03 Nanotecnologías - Métodos de preparación y evaluación para mediciones de partículas con microscopía de fuerza atómica (AFM) y microscopía electrónica de barrido de transmisión (TSEM)
DIN ISO 12853:2005 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Información proporcionada al usuario (ISO 12853:1997)
DIN EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021); Versión alemana e inglesa prEN ISO 9220:2021
DIN 58959-4:1997 Gestión de calidad en microbiología médica - Parte 4: Requisitos para investigaciones con microscopios ópticos
DIN ISO 8038-2:2006 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Roscas de tornillos para objetivos y revólveres relacionados - Parte 2: Rosca de tornillo tipo M 25 x 0,75 mm (ISO 8038-2:2001); versión en inglés de DIN ISO 8038-2:2006
DIN 58959-4:1997-06 Gestión de calidad en microbiología médica - Parte 4: Requisitos para investigaciones con microscopios ópticos / Nota: Será reemplazado por DIN 58959-6 Beiblatt 2 (2021-08, t).
DIN ISO 8038-1:2006 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios - Roscas de tornillos para objetivos y revólveres relacionados - Parte 1: Rosca de tornillo tipo RMS (4/5 in x 1/36 in) (ISO 8038-1:1997); versión en inglés de DIN ISO 8038-1 :2006
DIN ISO 8037-1:2003 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios; Diapositivas - Parte 1: Dimensiones, propiedades ópticas y marcado (ISO 8037-1:1986)
DIN EN ISO 19749:2023-07 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021); Versión alemana EN ISO 19749:2023
DIN EN ISO 14880-2:2007 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda (ISO 14880-2:2006); Versión en inglés de DIN EN ISO 14880-2:2007-03
DIN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988); Versión alemana EN ISO 9220:1994
DIN ISO 8037-1:2003-05 Óptica e instrumentos ópticos - Microscopios; Diapositivas - Parte 1: Dimensiones, propiedades ópticas y marcado (ISO 8037-1:1986)
DIN EN ISO 14880-4:2006 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 4: Métodos de ensayo para propiedades geométricas (ISO 14880-4:2006) Versión en inglés de DIN EN ISO 14880-4:2006-08.
DIN ISO 9345-2:2005 Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios. Distancias de imagen relacionadas con planos de referencia mecánicos. Parte 2: Sistemas ópticos con corrección de infinito (ISO 9345-2:2003)
DIN ISO 16000-27:2014-11 Aire interior. Parte 27: Determinación del polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo) (ISO 16000-27:2014)

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)
JJF 1351-2012 Especificación de calibración para microscopios de sonda de barrido

Professional Standard - Machinery, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas
JB/T 9333-1999 Microscopios.Aceite de inmersión para uso general en microscopía óptica.
JB/T 8230.1-1999 Microscopio óptico. Vocabulario
JB/T 7398.2-1994 Dimensiones de la conexión óptica del microscopio

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas
GB/T 36052-2018 Análisis químico de superficies: formato de transferencia de datos para microscopía de sonda de barrido

Defense Logistics Agency, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

DLA MIL-M-37869-1978 MICROSCOPIO ÓPTICO BINOCULAR
DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 3-2006 MICROSCOPIO ÓPTICO: MONOCULAR, ENFOQUE FIJO, TIPO BOLSILLO, AUMENTO ENTRE 40X Y 60X
DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 2-2001 MICROSCOPIO ÓPTICO: MONOCULAR, ENFOQUE FIJO, TIPO BOLSILLO, AUMENTO ENTRE 40X Y 60X
DLA A-A-50207 A VALID NOTICE 1-1993 MICROSCOPIO ÓPTICO: MONOCULAR, ENFOQUE FIJO, TIPO BOLSILLO, AUMENTO ENTRE 40X Y 60X
DLA A-A-50207 A-1988 MICROSCOPIO ÓPTICO: MONOCULAR, ENFOQUE FIJO, TIPO BOLSILLO, AUMENTO ENTRE 40X Y 60X

机械工业部, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

JB/T 8230.1-1995 Terminología de microscopía óptica

Association Francaise de Normalisation, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

NF S10-500*NF ISO 21073:2020 Microscopios - Microscopios confocales - Datos ópticos de microscopios confocales de fluorescencia para imágenes biológicas
NF ISO 21073:2020 Microscopios - Microscopios confocales - Datos ópticos de microscopios de fluorescencia confocales para imágenes biológicas
X11-660:1983 Análisis del tamaño de partículas mediante el método del microscopio óptico. Indicaciones generales sobre microscopio.
NF X11-660:1983 Tamaño de partícula - Análisis del tamaño de partícula mediante microscopía óptica - Información general sobre el microscopio.
NF S12-023:1988 ÓPTICA E INSTRUMENTOS ÓPTICOS. MICROSCOPIOS. DIMENSIONES DE CONEXIÓN DE CORREDERAS PARA TUBO Y RANURAS PARA TUBO.
NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Métodos de evaluación de la nitidez de la imagen
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NF X21-069-2:2010 Análisis químico de superficies - Vocabulario - Parte 2: términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
NF A91-108:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
NF A91-108*NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
NF EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método del microscopio electrónico de barrido
NF T16-403*NF ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido
NF T25-111-4:1991 Fibras de carbono- Textura y estructura- Parte 4: Fractografía mediante microscopio electrónico de barrido
NF X11-661:1990 Análisis del tamaño de partículas. Determinación del tamaño de partículas de polvos. Método del microscopio óptico.
NF EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: determinación del tamaño de partículas y distribución de formas mediante microscopía electrónica de barrido.
NF S12-024-1:1988 ÓPTICA E INSTRUMENTOS ÓPTICOS. MICROSCOPIOS. CUBRE VIDRIOS. PARTE 1: TOLERANCIAS DIMENSIONALES, ESPESORES Y PROPIEDADES ÓPTICAS.
NF S10-132-1:2016 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 1: vocabulario y propiedades generales
NF S12-021-1:1988 ÓPTICA E INSTRUMENTOS ÓPTICOS. MICROSCOPIOS. DIAPOSITIVAS. PARTE 1: DIMENSIONES, PROPIEDADES ÓPTICAS Y MARCADO.
NF S10-132-2*NF EN ISO 14880-2:2007 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 2: métodos de prueba para aberraciones del frente de onda
NF S10-132-4*NF EN ISO 14880-4:2006 Óptica y fonótica - Conjuntos de microlentes - Parte 4: métodos de prueba para propiedades geométricas.
FD T16-203:2011 Nanotecnologías: Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva
NF ISO 16000-27:2014 Aire interior - Parte 27: determinación del polvo fibroso depositado en las superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)

Professional Standard - Medicine, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

YY 1296-2016 Microscopios quirúrgicos ópticos y fotónicos Fotopeligros de los microscopios quirúrgicos oftálmicos

Professional Standard - Education, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

JY/T 0586-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía confocal de barrido láser.
JY/T 0582-2020 Reglas generales para los métodos analíticos de microscopía de sonda de barrido
JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.
JY/T 010-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de barrido analítica.

Group Standards of the People's Republic of China, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

T/QGCML 1940-2023

RO-ASRO, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

STAS 6851/2-1975 MICROSCOPIOS Dimensiones ópticas básicas
STAS 7353/4-1982 MICROSCOPIOS Dimensiones ópticas básicas
STAS 7353/5-1982 MICROSCOPIOS Parámetros ópticos básicos
STAS SR ISO 8040
STAS SR ISO 8037-1:1995 Óptica e instrumentos ópticos Microscopios - Portaobjetos Parte 1: Dimensiones, propiedades ópticas y marcado
STAS SR ISO 8255-1:1995 Óptica e instrumentos ópticos Microscopios. Cubreobjetos. Parte 1: Tolerancias dimensionales, espesores y propiedades ópticas.

RU-GOST R, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

GOST 4.451-1986 Sistema de índice de calidad del producto. Microscopios ópticos. Nomenclatura de índices
GOST 28489-1990 Microscopios ópticos. Términos y definiciones
GOST R ISO 27911-2015 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Definición y calibración de la resolución lateral de un microscopio óptico de campo cercano.
GOST R 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido
GOST 29214-1991 Óptica e instrumentos ópticos. Microscopios. Dimensiones de conexión de guías para tubos y ranuras para tubos
GOST R 8.636-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de calibración
GOST 8.594-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Método de verificación
GOST R 56169-2014 Óptica e instrumentos ópticos. Microscopio de operación. Requisitos y métodos de prueba.
GOST R 8.631-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de verificación
GOST 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
GOST R 8.630-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Métodos de verificación
GOST R 8.635-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de calibración
GOST R 8.593-2009 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios de sonda de barrido de fuerza atómica. Método de verificación
GOST 15114-1978 Sistema de telescopio para dispositivos ópticos. Método visual de determinación de límites de resolución.
GOST ISO 4407-2006 Limpieza industrial. Determinación de la contaminación de fluidos mediante el método de conteo utilizando un microscopio óptico.
GOST ISO 16000-27-2017 Aire interior. Parte 27. Determinación de polvo fibroso sedimentado en superficies mediante SEM (microscopía electrónica de barrido) (método directo)

PL-PKN, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

PN N53040-1988 Microscopios ópticos Dimensiones ópticas mecánicas.
PN H04951-1986
PN-ISO 4407-2021-03 P Potencia del fluido hidráulico - Contaminación del fluido - Determinación de la contaminación por partículas mediante el método de conteo mediante microscopio óptico

Professional Standard - Petroleum, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

DB31/T 297-2003 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de barrido.

国家能源局, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

DB32/T 3459-2018 Microscopía electrónica de barrido para medir la cobertura de microáreas de películas de grafeno

Professional Standard - Judicatory, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

SF/T 0139-2023

IN-BIS, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

IS 5258-1969 DETERMINACIÓN DEL TAMAÑO DE PARTÍCULA DE POLVO MEDIANTE EL MÉTODO DE MICROSCOPIO ÓPTICO

Professional Standard - Public Safety Standards, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

GA/T 1938-2021 Ciencia forense Inspección de metales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1937-2021 Ciencia forense Inspección de caucho Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1939-2021 Ciencias forenses Examen de puntos actuales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1522-2018 Ciencia forense Disparo Inspección de residuos Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1521-2018 Ciencia forense Plásticos Examen de composición elemental Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 1519-2018 Ciencia forense Tóner Composición elemental Inspección Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
GA/T 909-2010 Método de recolección y empaquetado de rastros de evidencia: residuos de disparos (examen SEM/EDS)
GA/T 1520-2018 Ciencia forense polvo negro, polvo pirotécnico inspección de composición de elementos microscopio electrónico de barrido/espectrometría de energía de rayos X
GA/T 823.3-2018 Métodos de examen de evidencia de pintura en ciencia forense Parte 3: Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X

Danish Standards Foundation, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

DS/ISO 10936-2:2010 Óptica y fotónica. Microscopios quirúrgicos. Parte 2: Peligro de luz procedente de los microscopios quirúrgicos utilizados en cirugía ocular.
DS/EN ISO 9220:1995
DS/ISO 19749:2021 Nanotecnologías: mediciones del tamaño de partículas y distribuciones de forma mediante microscopía electrónica de barrido.
DS/ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías: caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva

TIA - Telecommunications Industry Association, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

TIA-573C000-1998 Especificación seccional para microscopios ópticos portátiles de campo
TIA/EIA-573CA00-1998 Especificación detallada en blanco para microscopios ópticos portátiles de campo
EIA-546A000-1989 Especificación seccional para un microscopio óptico portátil de campo para la inspección de guías de ondas ópticas y dispositivos relacionados

SE-SIS, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

SIS SS-ISO 9220:1989
SIS SS CECC 00013-1985 Especificación básica: inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores

European Committee for Standardization (CEN), Microscopio óptico y microscopio de barrido.

EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
EN ISO 14880-1:2019 Óptica y fotónica. Conjuntos de microlentes. Parte 1: Vocabulario (ISO 14880-1:2019)
EN ISO 14880-1:2005 Óptica y fotónica - Conjunto de microlentes - Parte 1: Vocabulario
EN ISO 9220:1994 Recubrimientos metálicos - Medición del espesor del recubrimiento - Método de microscopio electrónico de barrido (ISO 9220: 1988)
EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías: mediciones de distribuciones de forma y tamaño de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021)
prEN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).
EN ISO 14880-2:2006 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 2: Métodos de prueba para aberraciones del frente de onda
EN ISO 14880-4:2006 Óptica y fotónica - Conjuntos de microlentes - Parte 4: Métodos de prueba para propiedades geométricas

American National Standards Institute （ANSI), Microscopio óptico y microscopio de barrido.

ANSI/TIA/EIA 573C000-1998 Especificación seccional para microscopios ópticos portátiles de campo
ANSI/TIA/EIA 573CA00-1998 Especificación detallada en blanco para microscopios ópticos portátiles de campo
ANSI/ASTM D6059:2001 Método de prueba para determinar la concentración de bigotes cerámicos monocristalinos en el aire en el entorno laboral mediante microscopía electrónica de barrido

工业和信息化部, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

SJ/T 11759-2020 Medición de la relación de aspecto de la línea de rejilla del electrodo de células fotovoltaicas Microscopía confocal de barrido láser

ES-UNE, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

UNE-EN ISO 9220:2022 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:2022).
UNE-EN ISO 19749:2023 Nanotecnologías - Mediciones de distribuciones de tamaño y forma de partículas mediante microscopía electrónica de barrido (ISO 19749:2021) (Ratificada por la Asociación Española de Normalización en mayo de 2023.)

未注明发布机构, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

JIS K 0182:2023 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Determinación de constantes elásticas normales en voladizo
BS CECC 13:1985(1999) Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos: Especificaciones básicas: Inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores.

Association of German Mechanical Engineers, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Determinación de cantidades geométricas mediante el uso de microscopios de sonda de barrido - Calibración de sistemas de medición
VDI 3861 Blatt 2-2008 Emisiones de fuentes estacionarias - Medición de partículas fibrosas inorgánicas en los gases de escape - Método de microscopía electrónica de barrido
DVS 2310-1-1984 Instrucción para la fabricación de secciones metalográficas y evaluación de capas pulverizadas térmicamente bajo el microscopio óptico.
VDI 3492-2004 Medición del aire interior - Medición del aire ambiente - Medición de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
VDI 3492-2013 Medición del aire interior - Medición del aire ambiente - Medición de partículas fibrosas inorgánicas - Método de microscopía electrónica de barrido
VDI/VDE 2655 Blatt 1.1-2008 Medición óptica y microtopografías - Calibración de microscopios de interferencia y estándares de medición de profundidad para medición de rugosidad
VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 Medición óptica de microtopografía: calibración de microscopios confocales y estándares de ajuste de profundidad para la medición de rugosidad.

Professional Standard - Aviation, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

HB/Z 110-1986 Instrucciones técnicas de la pantalla de observación del microscopio óptico de fractura de plexiglás

AENOR, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

UNE-EN ISO 9220:1996 RECUBRIMIENTOS METÁLICOS. MEDICIÓN DEL ESPESOR DEL RECUBRIMIENTO. MÉTODO DEL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO. (ISO 9220:1988).

Lithuanian Standards Office , Microscopio óptico y microscopio de barrido.

LST EN ISO 9220:2001 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).

Standard Association of Australia （SAA）, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

AS 2856.1:2000(R2013) Petrografía de carbón: preparación de muestras de carbón para microscopía de luz incidente.
AS 2856.1:2000 Petrografía de carbón: preparación de muestras de carbón para microscopía de luz incidente.

AT-ON, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

OENORM EN ISO 9220:2021 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO/DIS 9220:2021).

BE-NBN, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

NBN EN ISO 9220:1995 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido (ISO 9220:1988).

Indonesia Standards, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

SNI ISO 10936-1:2008 Microscopio para cirugía - Parte 1: Especificación y método de prueba.

ZA-SANS, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

SANS 6154:2006 Contenido de vidrio de escoria metalúrgica granulada (método de microscopía de luz transmitida)

GOSTR, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

PNST 508-2020 Nanotecnologías. Nanotubos de carbono de pared simple. Caracterización mediante microscopía electrónica de barrido y espectrometría de rayos X de energía dispersiva.

未注明发布机构, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

JIS K 0182:2023 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Determinación de constantes elásticas normales en voladizo
BS CECC 13:1985(1999) Sistema armonizado de evaluación de la calidad de los componentes electrónicos: Especificaciones básicas: Inspección con microscopio electrónico de barrido de dados semiconductores.

VN-TCVN, Microscopio óptico y microscopio de barrido.

TCVN 6504-1999 Calidad del aire. Determinación de la concentración numérica de fibras inorgánicas en el aire mediante microscopía óptica de contraste de fases. Método de filtro de membrana